🇨🇿 Mitutoyo Česko s.r.o. PL

ČIA 2390 • Teplice, Česko • 18 kalibračních položek

Metrologie a kalibrace

Mitutoyo Česko s.r.o. je kalibrační laboratoř akreditovaná ČIA pod číslem 2390 (Teplice, Česko). Rozsah akreditace zahrnuje 18 kalibračních položek v oblastech: Metrologie a kalibrace. Kalibrují se mimo jiné: Kruhoměry, Přístroje na měření drsnosti povrchu, Přístroje na měření profilu povrchu, Souřadnicové měřicí stroje (CMM). Nejčastěji používané principy kalibrace: Měření laserovým interferometrem, Měření pomocí skleněného měřítka, Měření etalonem linearity UDT.

Ve zkratce

Číslo akreditace: ČIA 2390
Kalibračních položek v rozsahu: 18
Druhů kalibrovaných předmětů: 10
Používaných principů kalibrace: 11
Město: Teplice, Česko
Platí do: 21-11-2029

Číslo akreditace: 2390
Akreditační orgán: ČIA
Adresa: Dubská 1635, 415 01 Teplice
Město: Teplice, Česko
Útvar: Kalibrační laboratoř
Platí do: 21-11-2029

Co tato laboratoř kalibruje (10)

Kruhoměry — 3 kalibrační položky
Přístroje na měření drsnosti povrchu — 3 kalibrační položky
Přístroje na měření profilu povrchu — 3 kalibrační položky
Souřadnicové měřicí stroje (CMM) — 2 kalibrační položky
Souřadnicové měřicí stroje vybavené kamerovým systémem (VMM) — 2 kalibrační položky
1D měřicí přístroje (výškoměry) — 1 kalibrační položka
Chyba měření úhlu / Profilprojektory — 1 kalibrační položka
Chyba měření úhlu v rovině XZ / Přístroje na měření profilu povrchu — 1 kalibrační položka
Měřicí mikroskopy — 1 kalibrační položka
Profil projektory — 1 kalibrační položka

Principy kalibrace (11)

Měření laserovým interferometrem — 3 kalibrační položky
Měření pomocí skleněného měřítka — 3 kalibrační položky
Měření etalonem linearity UDT — 2 kalibrační položky
Měření etalonem optické roviny — 2 kalibrační položky
Měření pomocí koncových měrek — 2 kalibrační položky
Měření polohy skleněného měřítka otočením matnice o 360° — 1 kalibrační položka
Měření referenční koulí — 1 kalibrační položka
Měření referenční polokoulí — 1 kalibrační položka
Měření referenčním válcem — 1 kalibrační položka
Měření úhlové měrky 135° — 1 kalibrační položka
Porovnání s etalonem drsnosti — 1 kalibrační položka

Údaje o osvědčení

Datum osvědčení: 09.07.2025

Rozsah akreditace — kalibrační položky (18)

CMC — nejmenší uváděná rozšířená nejistota měření (ILAC-P14, EA-4/02 M); není-li uvedeno jinak, pravděpodobnost pokrytí je přibližně 95 % a hodnoty bez jednotky jsou relativní k měřené hodnotě. Nejistota konkrétní kalibrace může být vyšší.

Č.	Kalibrovaná veličina / předmět kalibrace	Jmenovitý rozsah / parametry / CMC	Princip kalibrace	Kalibrační postup
Kalibrační položky
1	Souřadnicové měřicí stroje (CMM)	Kalibrace – délka Prostorová délka — 0 m až 5 m · CMC (0,3L + 0,1) µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření laserovým interferometrem	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
2	Souřadnicové měřicí stroje (CMM)	Kalibrace – délka Chyba snímacího systému — -1 mm až 1 mm · CMC 0,2 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření referenční koulí	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
3	Souřadnicové měřicí stroje vybavené kamerovým systémem (VMM)	Kalibrace – délka 0 m až 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm osa X, Y — 0 m až 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření pomocí skleněného měřítka	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
4	Souřadnicové měřicí stroje vybavené kamerovým systémem (VMM)	Kalibrace – délka osa Z — 0 m až 0,3 m · CMC (3,1L + 0,3) µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření pomocí koncových měrek	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
5	Přístroje na měření drsnosti povrchu	Kalibrace – délka Ra — 0,1 µm až 50 µm · CMC 3,4 % Rz — 0,01 µm až 50 µm · CMC 2,4 % Rsm — 0,1 µm až 400 µm · CMC 0,6 % CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Porovnání s etalonem drsnosti	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
6	Přístroje na měření drsnosti povrchu	Kalibrace – délka Chyba měření linearity — -400 µm až 400 µm · CMC 4 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření etalonem linearity UDT	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
7	Přístroje na měření drsnosti povrchu	Kalibrace – délka Chyba měření přímosti — -15 µm až 15 µm · CMC 0,06 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření etalonem optické roviny	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
8	Přístroje na měření profilu povrchu	Kalibrace – délka osa X, Y — 0 mm až 200 mm · CMC (0,3L + 0,2) µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření laserovým interferometrem	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
9	Přístroje na měření profilu povrchu	Kalibrace – délka osa Z — 0 mm až 60 mm · CMC (0,3L + 0,2 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření pomocí koncových měrek	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
10	Přístroje na měření profilu povrchu	Kalibrace – délka Chyba při měření přímosti — -15 µm až 15 µm · CMC 0,06 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření etalonem optické roviny	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
11	Profil projektory	Kalibrace – délka 0 mm až 200 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm Rovnoběžnost PXY — -200 µm až 200 µm · CMC 1 µm Pozice nitkového kříže ECH — -200 µm až 200 µm · CMC 4 µm Chyba zvětšení — -1 % až 1 % · CMC 0,01 % (abs.) CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření pomocí skleněného měřítka	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
12	Měřicí mikroskopy	Kalibrace – délka 0 mm až 400 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm Rovnoběžnost PXY — -200 µm až 200 µm · CMC 1 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření pomocí skleněného měřítka	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
13	1D měřicí přístroje (výškoměry)	Kalibrace – délka 0 m až 1 m · CMC (0,23L + 0,05) µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření laserovým interferometrem	MCZ-PI-KL_SD15_KP04
14	Kruhoměry	Kalibrace – délka Chyba měření linearity snímače — -400 µm až 400 µm · CMC 4 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření etalonem linearity UDT	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
15	Kruhoměry	Kalibrace – délka Axiální házení vřetena — -200 µm až 200 µm · CMC 0,02 µm Radiální házení vřetena — -200 µm až 200 µm · CMC 0,04 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření referenční polokoulí	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
16	Kruhoměry	Kalibrace – délka Válcovitost — 0 µm až 200 µm · CMC 1,8 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Měření referenčním válcem	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
17	Chyba měření úhlu v rovině XZ / Přístroje na měření profilu povrchu	Kalibrace – rovinný úhel 135° · CMC 0,0034° CMC pro obor měřené veličiny: Rovinný úhel	Měření úhlové měrky 135°	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
18	Chyba měření úhlu / Profilprojektory	Kalibrace – rovinný úhel 360° · CMC 0,5´ CMC pro obor měřené veličiny: Rovinný úhel	Měření polohy skleněného měřítka otočením matnice o 360°	MCZ-PI-KL_SD15_KP03

Referenční normy (10)

MCZ-PI-KL_SD15_KP01

MCZ-PI-KL_SD15_KP02

MCZ-PI-KL_SD15_KP03

MCZ-PI-KL_SD15_KP04

MCZ-PI-KL_SD15_KP05

MCZ-PI-KL_SD15_KP06

ČSN EN ISO 10360-2

ČSN EN ISO 10360-5

ČSN EN ISO 12179

ČSN EN ISO 3274

Stejný rozsah jako data (JSON): https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2390