🇨🇿 Mitutoyo Česko s.r.o. EN

ČIA 2390 • Teplice, Czechy • 18 pozycji wzorcowania

Metrologia

Mitutoyo Česko s.r.o. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez ČIA pod numerem 2390 (Teplice, Czechy). Zakres akredytacji obejmuje 18 pozycji wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Okrągłościomierze, Przyrządy do pomiaru chropowatości powierzchni, Przyrządy do pomiaru profilu powierzchni, Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM). Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Pomiar interferometrem laserowym, Pomiar za pomocą liniału szklanego, Pomiar wzorcem liniowości UDT.

W skrócie

Numer akredytacji: ČIA 2390
Liczba pozycji wzorcowania: 18
Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 10
Zasad wzorcowania: 11
Miasto: Teplice, Czechy
Ważność do: 21-11-2029

Numer akredytacji: 2390
Jednostka akredytująca: ČIA
Adres: Dubská 1635, 415 01 Teplice
Miasto: Teplice, Czechy
Dział: Laboratorium wzorcujące
Ważność do: 21-11-2029

Co wzorcuje to laboratorium (10)

Okrągłościomierze — 3 pozycje wzorcowania
Przyrządy do pomiaru chropowatości powierzchni — 3 pozycje wzorcowania
Przyrządy do pomiaru profilu powierzchni — 3 pozycje wzorcowania
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) — 2 pozycje wzorcowania
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe z systemem kamerowym (VMM) — 2 pozycje wzorcowania
Błąd pomiaru kąta / Projektory profilowe — 1 pozycja wzorcowania
Błąd pomiaru kąta w płaszczyźnie XZ / Przyrządy do pomiaru profilu powierzchni — 1 pozycja wzorcowania
Mikroskopy pomiarowe — 1 pozycja wzorcowania
Projektory profilowe — 1 pozycja wzorcowania
Przyrządy pomiarowe 1D (wysokościomierze) — 1 pozycja wzorcowania

Zasady wzorcowania (11)

Pomiar interferometrem laserowym — 3 pozycje wzorcowania
Pomiar za pomocą liniału szklanego — 3 pozycje wzorcowania
Pomiar wzorcem liniowości UDT — 2 pozycje wzorcowania
Pomiar wzorcem płaszczyzny optycznej — 2 pozycje wzorcowania
Pomiar za pomocą płytek wzorcowych — 2 pozycje wzorcowania
Pomiar kulą odniesienia — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar płytki kątowej 135° — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar półkulą odniesienia — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar położenia liniału szklanego przez obrót matówki o 360° — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar walcem odniesienia — 1 pozycja wzorcowania
Porównanie z wzorcem chropowatości — 1 pozycja wzorcowania

Informacje o certyfikacie

Data certyfikatu: 09.07.2025

Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (18)

CMC — najmniejsza podawana rozszerzona niepewność pomiaru (ILAC-P14, EA-4/02 M); jeżeli nie podano inaczej, prawdopodobieństwo rozszerzenia ok. 95 %, a wartości bez jednostki są względne wobec wartości mierzonej. Niepewność konkretnego wzorcowania może być większa.

Lp.	Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania	Zakres nominalny / parametry / CMC	Zasada wzorcowania	Procedura wzorcowania
Pozycje wzorcowania
1	Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM)	Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 m do 5 m · CMC (0,3L + 0,1) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar interferometrem laserowym	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
2	Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM)	Wzorcowanie – długość Błąd układu stykowego — od -1 mm do 1 mm · CMC 0,2 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar kulą odniesienia	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
3	Współrzędnościowe maszyny pomiarowe z systemem kamerowym (VMM)	Wzorcowanie – długość od 0 m do 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm oś X, Y — od 0 m do 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar za pomocą liniału szklanego	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
4	Współrzędnościowe maszyny pomiarowe z systemem kamerowym (VMM)	Wzorcowanie – długość oś Z — od 0 m do 0,3 m · CMC (3,1L + 0,3) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar za pomocą płytek wzorcowych	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
5	Przyrządy do pomiaru chropowatości powierzchni	Wzorcowanie – długość Ra — od 0,1 µm do 50 µm · CMC 3,4 % Rz — od 0,01 µm do 50 µm · CMC 2,4 % Rsm — od 0,1 µm do 400 µm · CMC 0,6 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Porównanie z wzorcem chropowatości	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
6	Przyrządy do pomiaru chropowatości powierzchni	Wzorcowanie – długość Błąd pomiaru liniowości — od -400 µm do 400 µm · CMC 4 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar wzorcem liniowości UDT	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
7	Przyrządy do pomiaru chropowatości powierzchni	Wzorcowanie – długość Błąd pomiaru prostoliniowości — od -15 µm do 15 µm · CMC 0,06 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar wzorcem płaszczyzny optycznej	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
8	Przyrządy do pomiaru profilu powierzchni	Wzorcowanie – długość oś X, Y — od 0 mm do 200 mm · CMC (0,3L + 0,2) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar interferometrem laserowym	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
9	Przyrządy do pomiaru profilu powierzchni	Wzorcowanie – długość oś Z — od 0 mm do 60 mm · CMC (0,3L + 0,2 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar za pomocą płytek wzorcowych	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
10	Przyrządy do pomiaru profilu powierzchni	Wzorcowanie – długość Błąd przy pomiarze prostoliniowości — od -15 µm do 15 µm · CMC 0,06 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar wzorcem płaszczyzny optycznej	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
11	Projektory profilowe	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 200 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm Równoległość PXY — od -200 µm do 200 µm · CMC 1 µm Położenie krzyża nitkowego ECH — od -200 µm do 200 µm · CMC 4 µm Błąd powiększenia — od -1 % do 1 % · CMC 0,01 % (abs.) CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar za pomocą liniału szklanego	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
12	Mikroskopy pomiarowe	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 400 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm Równoległość PXY — od -200 µm do 200 µm · CMC 1 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar za pomocą liniału szklanego	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
13	Przyrządy pomiarowe 1D (wysokościomierze)	Wzorcowanie – długość od 0 m do 1 m · CMC (0,23L + 0,05) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar interferometrem laserowym	MCZ-PI-KL_SD15_KP04
14	Okrągłościomierze	Wzorcowanie – długość Błąd pomiaru liniowości czujnika — od -400 µm do 400 µm · CMC 4 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar wzorcem liniowości UDT	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
15	Okrągłościomierze	Wzorcowanie – długość Bicie osiowe wrzeciona — od -200 µm do 200 µm · CMC 0,02 µm Bicie promieniowe wrzeciona — od -200 µm do 200 µm · CMC 0,04 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar półkulą odniesienia	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
16	Okrągłościomierze	Wzorcowanie – długość Walcowość — od 0 µm do 200 µm · CMC 1,8 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar walcem odniesienia	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
17	Błąd pomiaru kąta w płaszczyźnie XZ / Przyrządy do pomiaru profilu powierzchni	Wzorcowanie – kąt płaski 135° · CMC 0,0034° CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski	Pomiar płytki kątowej 135°	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
18	Błąd pomiaru kąta / Projektory profilowe	Wzorcowanie – kąt płaski 360° · CMC 0,5´ CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski	Pomiar położenia liniału szklanego przez obrót matówki o 360°	MCZ-PI-KL_SD15_KP03

Normy referencyjne (10)

MCZ-PI-KL_SD15_KP01

MCZ-PI-KL_SD15_KP02

MCZ-PI-KL_SD15_KP03

MCZ-PI-KL_SD15_KP04

MCZ-PI-KL_SD15_KP05

MCZ-PI-KL_SD15_KP06

ČSN EN ISO 10360-2

ČSN EN ISO 10360-5

ČSN EN ISO 12179

ČSN EN ISO 3274

Ten sam zakres w postaci danych (JSON): https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2390