🇨🇿 TESTIMA, spol. s r.o. PL

ČIA 2343 • Brandýs nad Labem, Česko • 23 kalibračních položek

Metrologie a kalibrace

TESTIMA, spol. s r.o. je kalibrační laboratoř akreditovaná ČIA pod číslem 2343 (Brandýs nad Labem, Česko). Rozsah akreditace zahrnuje 23 kalibračních položek v oblastech: Metrologie a kalibrace. Kalibrují se mimo jiné: Tloušťkoměry na měření vrstev, Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Doba náběhu, doba…, Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Ekvivalentní úrov…, Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Horní a dolní mez…. Nejčastěji používané principy kalibrace: Zobrazení signálu na stupnici displeje, Výpočet z měřených hodnot, Měření vysílaného signálu osciloskopem.

Ve zkratce

Číslo akreditace: ČIA 2343
Kalibračních položek v rozsahu: 23
Druhů kalibrovaných předmětů: 23
Používaných principů kalibrace: 6
Město: Brandýs nad Labem, Česko
Platí do: 07-07-2031

Číslo akreditace: 2343
Akreditační orgán: ČIA
Adresa: Husova 353/6, 250 01 Brandýs nad Labem
Město: Brandýs nad Labem, Česko
Útvar: Kalibrační laboratoř TESTIMA
Platí do: 07-07-2031

Co tato laboratoř kalibruje (23)

Tloušťkoměry na měření vrstev — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Horní a dolní mez frekvence filtru — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny analog. přístrojů — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Nestabilita zobrazení — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Překmit vysílacího impulsu — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Přesnost decibelového děliče — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Šířka pásma frekvenčního filtru — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita po zahřátí — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita při kolísání napětí — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Střední frekvence filtru — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Vertikální linearita — 1 kalibrační položka
Ultrazvukové defektoskopy digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu — 1 kalibrační položka
a 8 dalších

Principy kalibrace (6)

Zobrazení signálu na stupnici displeje — 7 kalibračních položek
Výpočet z měřených hodnot — 6 kalibračních položek
Měření vysílaného signálu osciloskopem — 4 kalibrační položky
Porovnání s etalonem — 2 kalibrační položky
Porovnávání s hodnotou etalonu — 2 kalibrační položky
Simulace elektrickým signálem — 2 kalibrační položky

Údaje o osvědčení

Datum osvědčení: 07.07.2026

Rozsah akreditace — kalibrační položky (23)

CMC — nejmenší uváděná rozšířená nejistota měření (ILAC-P14, EA-4/02 M); není-li uvedeno jinak, pravděpodobnost pokrytí je přibližně 95 % a hodnoty bez jednotky jsou relativní k měřené hodnotě. Nejistota konkrétní kalibrace může být vyšší.

Č.	Kalibrovaná veličina / předmět kalibrace	Jmenovitý rozsah / parametry / CMC	Princip kalibrace	Kalibrační postup
Kalibrační položky
1	Ultrazvukové tloušťkoměry	Kalibrace – délka 0 mm až 10 mm · CMC 0,1 mm 10 mm až 20 mm · CMC 0,2 mm 20 mm až 40 mm · CMC 0,3 mm 40 mm až 90 mm · CMC 0,5 mm 90 mm až 101 mm · CMC 1,1 mm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Porovnávání s hodnotou etalonu	KP 2
2	Tloušťkoměry na měření vrstev	Kalibrace – délka 0 µm až 20 µm · CMC 2,7 µm 20 µm až 100 µm · CMC 2,9 µm 100 µm až 200 µm · CMC 3,4 µm 200 µm až 500 µm · CMC 6,1 µm 500 µm až 1000 µm · CMC 11 µm 1000 µm až 1500 µm · CMC 16 µm 1500 µm až 10020 µm · CMC 100 µm CMC pro obor měřené veličiny: Délka	Porovnávání s hodnotou etalonu	KP 3
3	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita po zahřátí	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 5 % VS až 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS až 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Zobrazení signálu na stupnici displeje	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
4	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Nestabilita zobrazení	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 5 % VS až 100 % VS · CMC 2(15.3/VS mm) % 5 % ŠS až 100 % ŠS · CMC 2(15,3/ŠS mm) % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Zobrazení signálu na stupnici displeje	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
5	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita při kolísání napětí	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 5 % VS až 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS až 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Zobrazení signálu na stupnici displeje	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
6	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Vertikální linearita	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 5 % VS až 100 % VS · CMC 2,3 % VS CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Zobrazení signálu na stupnici displeje	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
7	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 1 mm až 9999 mm · CMC 0,05 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Simulace elektrickým signálem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
8	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny analog. přístrojů	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 1 mm až 9999 mm · CMC 2(18/ŠS mm) % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Simulace elektrickým signálem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
9	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 2 V/√Hz až 100 V/√Hz · CMC 3,5 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Výpočet z měřených hodnot	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
10	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Překmit vysílacího impulsu	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 2 V až 500 V · CMC 7,9 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Měření vysílaného signálu osciloskopem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
11	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 3 ns až 500 ns · CMC 7,9 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Měření vysílaného signálu osciloskopem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
12	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Horní a dolní mez frekvence filtru	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0,2 MHz až 30 MHz · CMC 2,8 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Zobrazení signálu na stupnici displeje	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
13	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Střední frekvence filtru	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0,2 MHz až 30 MHz · CMC 3,3 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Výpočet z měřených hodnot	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
14	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Přesnost decibelového děliče	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0 dB až 120 dB · CMC 0,2 dB CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Porovnání s etalonem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
15	Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Šířka pásma frekvenčního filtru	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0,2 MHz až 30 MHz · CMC 2,8 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Výpočet z měřených hodnot	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
16	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Vertikální linearita zobrazení	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 5 % VS až 100 % VS · CMC 2,3 % VS CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Zobrazení signálu na stupnici displeje	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
17	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Úroveň šumu	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 2 V/√Hz až 100 V/√Hz · CMC 3,5 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Výpočet z měřených hodnot	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
18	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Napětí vysílacího impulsu	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 2 V až 500 V · CMC 7,9 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Měření vysílaného signálu osciloskopem	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
19	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 3 ns až 500 ns · CMC 7,9 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Měření vysílaného signálu osciloskopem	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
20	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Horní a dolní mezní frekvence	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0,2 MHz až 30 MHz · CMC 2,8 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Zobrazení signálu na stupnici displeje	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
21	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Střední frekvence	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0,2 MHz až 30 MHz · CMC 3,3 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Výpočet z měřených hodnot	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
22	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Linearita zesílení	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0 dB až 120 dB · CMC 0,2 dB CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Porovnání s etalonem	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
23	Ultrazvukové defektoskopy digitální – Šířka pásma	Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů 0,2 MHz až 30 MHz · CMC 2,8 % CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů	Výpočet z měřených hodnot	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)

Referenční normy (6)

KP 1

KP 2

KP 3

KP 9

ČSN EN 12668-1:2010

ČSN EN ISO 22232-1

Stejný rozsah jako data (JSON): https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2343