{"lab":{"_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","address":"Husova 353/6, 250 01 Brandýs nad Labem","categories":["metrology"],"city":"Brandýs nad Labem","imported_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","lab_kind":"calibration","location":{"type":"Point","coordinates":[14.6689744,50.1835208]},"map_coord":[50.1835208,14.6689744],"map_geo":"cai-mapa","methods_count":23,"name":"TESTIMA, spol. s r.o.","parse_status":"parsed","parse_version":5,"pdf_files":[],"scope_summary":"Wzorcowanie w dziedzinach: długość oraz badania właściwości i wad materiałów, w zakresie określonym w załączniku do świadectwa.","search_text":"testima, spol. s r.o. husova 353/6, 250 01 brandýs nad labem 2343","source_page_url":"https://www.cai.cz/?subjekt=2343-testima-spol-s-r-o","status":"active","updated_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","valid_from":"","valid_until":"07-07-2031","website":"www.testima.cz","certificate_date":"07.07.2026","certificate_no":"330/2026","certificate_replaces":"557/2022 z 21.11.2022","en_official":true,"fields_of_testing":[{"codes":"","pl":"Wzorcowanie w dziedzinach: długość oraz badania właściwości i wad materiałów, w zakresie określonym w załączniku do świadectwa.","en":"Calibration in the field of length and testing of material properties and defects to the extent as specified in the appendix to this Certificate.","zh":"长度以及材料性能和缺陷检测领域的校准，范围见本证书附件。","cs":"Kalibrace v oborech délka a zkoušky vlastností a vad materiálů, vymezené přílohou tohoto osvědčení."}],"flexible_scope":false,"flexible_scope_url":null,"has_en":true,"has_zh":true,"lab_division":"Laboratorium wzorcujące TESTIMA","lab_division_cs":"Kalibrační laboratoř TESTIMA","lab_division_en":"TESTIMA Calibration Laboratory","lab_division_zh":"TESTIMA 校准实验室","parse_date":"2026-09-28T12:00:00.000Z","parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3","parsed_at":"2026-09-28T12:00:00.000Z","scope_legend":[{"abbr":"VS","pl":"wysokość skali na wyświetlaczu wzorcowanego defektoskopu w mm","en":"scale height on the display of the calibrated flaw detector in mm (SH in the ČIA English version)","zh":"被校探伤仪显示屏刻度高度（mm）","cs":"výška stupnice na displeji kalibrovaného defektoskopu v mm"},{"abbr":"ŠS","pl":"szerokość skali monitora na wyświetlaczu wzorcowanego defektoskopu w mm","en":"scale width of the monitor on the display of the calibrated flaw detector in mm (SW in the ČIA English version)","zh":"被校探伤仪显示屏监视器刻度宽度（mm）","cs":"šířka stupnice monitoru na displeji kalibrovaného defektoskopu v mm"}],"scope_notes":[],"source_lang":"cs","source_pdf_sha256":"7f4164992c0d24065d362325e854f053074b21364b91fe7a374958b4784d3013","source_pdf_url":"https://www.cai.cz/OA/pdf/330_2026_CS.pdf","source_pdf_url_en":"https://www.cai.cz/OA/pdf/330_2026_EN.pdf"},"methods":[{"_id":"397a85745496940aeaeddd97","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Grubościomierze ultradźwiękowe","test_object_en":"Ultrasonic thickness gauges","test_object_zh":"超声波测厚仪","test_object_cs":"Ultrazvukové tloušťkoměry","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 10 mm","cmc":"0,1 mm"},{"name":"","range":"od 10 mm do 20 mm","cmc":"0,2 mm"},{"name":"","range":"od 20 mm do 40 mm","cmc":"0,3 mm"},{"name":"","range":"od 40 mm do 90 mm","cmc":"0,5 mm"},{"name":"","range":"od 90 mm do 101 mm","cmc":"1,1 mm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 10 mm","cmc":"0,1 mm"},{"name":"","range":"10 mm to 20 mm","cmc":"0,2 mm"},{"name":"","range":"20 mm to 40 mm","cmc":"0,3 mm"},{"name":"","range":"40 mm to 90 mm","cmc":"0,5 mm"},{"name":"","range":"90 mm to 101 mm","cmc":"1,1 mm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 10 mm","cmc":"0,1 mm"},{"name":"","range":"10 mm 至 20 mm","cmc":"0,2 mm"},{"name":"","range":"20 mm 至 40 mm","cmc":"0,3 mm"},{"name":"","range":"40 mm 至 90 mm","cmc":"0,5 mm"},{"name":"","range":"90 mm 至 101 mm","cmc":"1,1 mm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 10 mm","cmc":"0,1 mm"},{"name":"","range":"10 mm až 20 mm","cmc":"0,2 mm"},{"name":"","range":"20 mm až 40 mm","cmc":"0,3 mm"},{"name":"","range":"40 mm až 90 mm","cmc":"0,5 mm"},{"name":"","range":"90 mm až 101 mm","cmc":"1,1 mm"}],"technique":"Porównanie z wartością wzorca","technique_en":"Comparison with the value of the standard","technique_zh":"与标准器值比较","technique_cs":"Porovnávání s hodnotou etalonu","techniques":["Porównanie z wartością wzorca"],"techniques_en":["Comparison with the value of the standard"],"techniques_zh":["与标准器值比较"],"techniques_cs":["Porovnávání s hodnotou etalonu"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nZakres:\nod 0 mm do 10 mm CMC 0,1 mm\nod 10 mm do 20 mm CMC 0,2 mm\nod 20 mm do 40 mm CMC 0,3 mm\nod 40 mm do 90 mm CMC 0,5 mm\nod 90 mm do 101 mm CMC 1,1 mm\nPorównanie z wartością wzorca","reference":"KP 2","norm_bases":["KP 2"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Grubościomierze ultradźwiękowe Wzorcowanie – długość Porównanie z wartością wzorca od 0 mm do 10 mm CMC 0,1 mm od 10 mm do 20 mm CMC 0,2 mm od 20 mm do 40 mm CMC 0,3 mm od 40 mm do 90 mm CMC 0,5 mm od 90 mm do 101 mm CMC 1,1 mm Ultrazvukové tloušťkoměry Kalibrace – délka Porovnávání s hodnotou etalonu 0 mm až 10 mm CMC 0,1 mm 10 mm až 20 mm CMC 0,2 mm 20 mm až 40 mm CMC 0,3 mm 40 mm až 90 mm CMC 0,5 mm 90 mm až 101 mm CMC 1,1 mm KP 2 Grubosciomierze ultradzwiekowe Wzorcowanie – dlugosc Porownanie z wartoscia wzorca od 0 mm do 10 mm CMC 0,1 mm od 10 mm do 20 mm CMC 0,2 mm od 20 mm do 40 mm CMC 0,3 mm od 40 mm do 90 mm CMC 0,5 mm od 90 mm do 101 mm CMC 1,1 mm Ultrazvukove tloustkomery Kalibrace – delka Porovnavani s hodnotou etalonu 0 mm az 10 mm CMC 0,1 mm 10 mm az 20 mm CMC 0,2 mm 20 mm az 40 mm CMC 0,3 mm 40 mm az 90 mm CMC 0,5 mm 90 mm az 101 mm CMC 1,1 mm KP 2","search_en":"Ultrasonic thickness gauges Calibration – length Comparison with the value of the standard 0 mm to 10 mm CMC 0,1 mm 10 mm to 20 mm CMC 0,2 mm 20 mm to 40 mm CMC 0,3 mm 40 mm to 90 mm CMC 0,5 mm 90 mm to 101 mm CMC 1,1 mm KP 2","search_zh":"超声波测厚仪 校准 – 长度 与标准器值比较 0 mm 至 10 mm CMC 0,1 mm 10 mm 至 20 mm CMC 0,2 mm 20 mm 至 40 mm CMC 0,3 mm 40 mm 至 90 mm CMC 0,5 mm 90 mm 至 101 mm CMC 1,1 mm KP 2","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":0,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"b6056d28a7b4dc5bcaa21393","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Grubościomierze do pomiaru powłok","test_object_en":"Layer thickness gauges","test_object_zh":"涂层测厚仪","test_object_cs":"Tloušťkoměry na měření vrstev","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 µm do 20 µm","cmc":"2,7 µm"},{"name":"","range":"od 20 µm do 100 µm","cmc":"2,9 µm"},{"name":"","range":"od 100 µm do 200 µm","cmc":"3,4 µm"},{"name":"","range":"od 200 µm do 500 µm","cmc":"6,1 µm"},{"name":"","range":"od 500 µm do 1000 µm","cmc":"11 µm"},{"name":"","range":"od 1000 µm do 1500 µm","cmc":"16 µm"},{"name":"","range":"od 1500 µm do 10020 µm","cmc":"100 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 µm to 20 µm","cmc":"2,7 µm"},{"name":"","range":"20 µm to 100 µm","cmc":"2,9 µm"},{"name":"","range":"100 µm to 200 µm","cmc":"3,4 µm"},{"name":"","range":"200 µm to 500 µm","cmc":"6,1 µm"},{"name":"","range":"500 µm to 1000 µm","cmc":"11 µm"},{"name":"","range":"1000 µm to 1500 µm","cmc":"16 µm"},{"name":"","range":"1500 µm to 10020 µm","cmc":"100 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 µm 至 20 µm","cmc":"2,7 µm"},{"name":"","range":"20 µm 至 100 µm","cmc":"2,9 µm"},{"name":"","range":"100 µm 至 200 µm","cmc":"3,4 µm"},{"name":"","range":"200 µm 至 500 µm","cmc":"6,1 µm"},{"name":"","range":"500 µm 至 1000 µm","cmc":"11 µm"},{"name":"","range":"1000 µm 至 1500 µm","cmc":"16 µm"},{"name":"","range":"1500 µm 至 10020 µm","cmc":"100 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 µm až 20 µm","cmc":"2,7 µm"},{"name":"","range":"20 µm až 100 µm","cmc":"2,9 µm"},{"name":"","range":"100 µm až 200 µm","cmc":"3,4 µm"},{"name":"","range":"200 µm až 500 µm","cmc":"6,1 µm"},{"name":"","range":"500 µm až 1000 µm","cmc":"11 µm"},{"name":"","range":"1000 µm až 1500 µm","cmc":"16 µm"},{"name":"","range":"1500 µm až 10020 µm","cmc":"100 µm"}],"technique":"Porównanie z wartością wzorca","technique_en":"Comparison with the value of the standard","technique_zh":"与标准器值比较","technique_cs":"Porovnávání s hodnotou etalonu","techniques":["Porównanie z wartością wzorca"],"techniques_en":["Comparison with the value of the standard"],"techniques_zh":["与标准器值比较"],"techniques_cs":["Porovnávání s hodnotou etalonu"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nZakres:\nod 0 µm do 20 µm CMC 2,7 µm\nod 20 µm do 100 µm CMC 2,9 µm\nod 100 µm do 200 µm CMC 3,4 µm\nod 200 µm do 500 µm CMC 6,1 µm\nod 500 µm do 1000 µm CMC 11 µm\nod 1000 µm do 1500 µm CMC 16 µm\nod 1500 µm do 10020 µm CMC 100 µm\nPorównanie z wartością wzorca","reference":"KP 3","norm_bases":["KP 3"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Grubościomierze do pomiaru powłok Wzorcowanie – długość Porównanie z wartością wzorca od 0 µm do 20 µm CMC 2,7 µm od 20 µm do 100 µm CMC 2,9 µm od 100 µm do 200 µm CMC 3,4 µm od 200 µm do 500 µm CMC 6,1 µm od 500 µm do 1000 µm CMC 11 µm od 1000 µm do 1500 µm CMC 16 µm od 1500 µm do 10020 µm CMC 100 µm Tloušťkoměry na měření vrstev Kalibrace – délka Porovnávání s hodnotou etalonu 0 µm až 20 µm CMC 2,7 µm 20 µm až 100 µm CMC 2,9 µm 100 µm až 200 µm CMC 3,4 µm 200 µm až 500 µm CMC 6,1 µm 500 µm až 1000 µm CMC 11 µm 1000 µm až 1500 µm CMC 16 µm 1500 µm až 10020 µm CMC 100 µm KP 3 Grubosciomierze do pomiaru powlok Wzorcowanie – dlugosc Porownanie z wartoscia wzorca od 0 µm do 20 µm CMC 2,7 µm od 20 µm do 100 µm CMC 2,9 µm od 100 µm do 200 µm CMC 3,4 µm od 200 µm do 500 µm CMC 6,1 µm od 500 µm do 1000 µm CMC 11 µm od 1000 µm do 1500 µm CMC 16 µm od 1500 µm do 10020 µm CMC 100 µm Tloustkomery na mereni vrstev Kalibrace – delka Porovnavani s hodnotou etalonu 0 µm az 20 µm CMC 2,7 µm 20 µm az 100 µm CMC 2,9 µm 100 µm az 200 µm CMC 3,4 µm 200 µm az 500 µm CMC 6,1 µm 500 µm az 1000 µm CMC 11 µm 1000 µm az 1500 µm CMC 16 µm 1500 µm az 10020 µm CMC 100 µm KP 3","search_en":"Layer thickness gauges Calibration – length Comparison with the value of the standard 0 µm to 20 µm CMC 2,7 µm 20 µm to 100 µm CMC 2,9 µm 100 µm to 200 µm CMC 3,4 µm 200 µm to 500 µm CMC 6,1 µm 500 µm to 1000 µm CMC 11 µm 1000 µm to 1500 µm CMC 16 µm 1500 µm to 10020 µm CMC 100 µm KP 3","search_zh":"涂层测厚仪 校准 – 长度 与标准器值比较 0 µm 至 20 µm CMC 2,7 µm 20 µm 至 100 µm CMC 2,9 µm 100 µm 至 200 µm CMC 3,4 µm 200 µm 至 500 µm CMC 6,1 µm 500 µm 至 1000 µm CMC 11 µm 1000 µm 至 1500 µm CMC 16 µm 1500 µm 至 10020 µm CMC 100 µm KP 3","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":1,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"96eeb4b4e158888fb31144b4","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność po nagrzaniu","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – stability after warm-up","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 预热后稳定性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita po zahřátí","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 5 % VS do 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"od 5 % ŠS do 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"5 % VS to 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS to 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"5 % VS 至 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS 至 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"5 % VS až 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS až 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"technique":"Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","technique_en":"Signal display on the display scale","technique_zh":"在显示屏刻度上显示信号","technique_cs":"Zobrazení signálu na stupnici displeje","techniques":["Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza"],"techniques_en":["Signal display on the display scale"],"techniques_zh":["在显示屏刻度上显示信号"],"techniques_cs":["Zobrazení signálu na stupnici displeje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nod 5 % VS do 100 % VS CMC 2(16/VS mm) %\nod 5 % ŠS do 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) %\nZobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność po nagrzaniu Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % od 5 % ŠS do 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita po zahřátí Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Zobrazení signálu na stupnici displeje 5 % VS až 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS až 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – stabilnosc po nagrzaniu Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Zobrazenie sygnalu na skali wyswietlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % od 5 % SS do 100 % SS CMC 2(16/SS mm) % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Stabilita po zahrati Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Zobrazeni signalu na stupnici displeje 5 % VS az 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % SS az 100 % SS CMC 2(16/SS mm) % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – stability after warm-up Calibration – testing of properties and defects of materials Signal display on the display scale 5 % VS to 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS to 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 预热后稳定性 校准 – 材料性能和缺陷检测 在显示屏刻度上显示信号 5 % VS 至 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":2,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"c92dd1128311212c9f39d1aa","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – niestabilność zobrazowania","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – display instability","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 显示不稳定性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Nestabilita zobrazení","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 5 % VS do 100 % VS","cmc":"2(15.3/VS mm) %"},{"name":"","range":"od 5 % ŠS do 100 % ŠS","cmc":"2(15,3/ŠS mm) %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"5 % VS to 100 % VS","cmc":"2(15.3/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS to 100 % ŠS","cmc":"2(15,3/ŠS mm) %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"5 % VS 至 100 % VS","cmc":"2(15.3/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS 至 100 % ŠS","cmc":"2(15,3/ŠS mm) %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"5 % VS až 100 % VS","cmc":"2(15.3/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS až 100 % ŠS","cmc":"2(15,3/ŠS mm) %"}],"technique":"Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","technique_en":"Signal display on the display scale","technique_zh":"在显示屏刻度上显示信号","technique_cs":"Zobrazení signálu na stupnici displeje","techniques":["Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza"],"techniques_en":["Signal display on the display scale"],"techniques_zh":["在显示屏刻度上显示信号"],"techniques_cs":["Zobrazení signálu na stupnici displeje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nod 5 % VS do 100 % VS CMC 2(15.3/VS mm) %\nod 5 % ŠS do 100 % ŠS CMC 2(15,3/ŠS mm) %\nZobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – niestabilność zobrazowania Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2(15.3/VS mm) % od 5 % ŠS do 100 % ŠS CMC 2(15,3/ŠS mm) % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Nestabilita zobrazení Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Zobrazení signálu na stupnici displeje 5 % VS až 100 % VS CMC 2(15.3/VS mm) % 5 % ŠS až 100 % ŠS CMC 2(15,3/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – niestabilnosc zobrazowania Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Zobrazenie sygnalu na skali wyswietlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2(15.3/VS mm) % od 5 % SS do 100 % SS CMC 2(15,3/SS mm) % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Nestabilita zobrazeni Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Zobrazeni signalu na stupnici displeje 5 % VS az 100 % VS CMC 2(15.3/VS mm) % 5 % SS az 100 % SS CMC 2(15,3/SS mm) % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – display instability Calibration – testing of properties and defects of materials Signal display on the display scale 5 % VS to 100 % VS CMC 2(15.3/VS mm) % 5 % ŠS to 100 % ŠS CMC 2(15,3/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 显示不稳定性 校准 – 材料性能和缺陷检测 在显示屏刻度上显示信号 5 % VS 至 100 % VS CMC 2(15.3/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS CMC 2(15,3/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":3,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"106ec26959bb4e02d1524da7","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność przy wahaniach napięcia","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – stability at voltage fluctuation","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 电压波动时的稳定性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita při kolísání napětí","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 5 % VS do 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"od 5 % ŠS do 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"5 % VS to 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS to 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"5 % VS 至 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS 至 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"5 % VS až 100 % VS","cmc":"2(16/VS mm) %"},{"name":"","range":"5 % ŠS až 100 % ŠS","cmc":"2(16/ŠS mm) %"}],"technique":"Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","technique_en":"Signal display on the display scale","technique_zh":"在显示屏刻度上显示信号","technique_cs":"Zobrazení signálu na stupnici displeje","techniques":["Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza"],"techniques_en":["Signal display on the display scale"],"techniques_zh":["在显示屏刻度上显示信号"],"techniques_cs":["Zobrazení signálu na stupnici displeje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nod 5 % VS do 100 % VS CMC 2(16/VS mm) %\nod 5 % ŠS do 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) %\nZobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność przy wahaniach napięcia Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % od 5 % ŠS do 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Stabilita při kolísání napětí Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Zobrazení signálu na stupnici displeje 5 % VS až 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS až 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – stabilnosc przy wahaniach napiecia Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Zobrazenie sygnalu na skali wyswietlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % od 5 % SS do 100 % SS CMC 2(16/SS mm) % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Stabilita pri kolisani napeti Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Zobrazeni signalu na stupnici displeje 5 % VS az 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % SS az 100 % SS CMC 2(16/SS mm) % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – stability at voltage fluctuation Calibration – testing of properties and defects of materials Signal display on the display scale 5 % VS to 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS to 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 电压波动时的稳定性 校准 – 材料性能和缺陷检测 在显示屏刻度上显示信号 5 % VS 至 100 % VS CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS CMC 2(16/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":4,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"6edf877a330486ba2578af47","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość pionowa","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – vertical linearity","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 垂直线性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Vertikální linearita","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 5 % VS do 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"5 % VS to 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"5 % VS 至 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"5 % VS až 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"technique":"Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","technique_en":"Signal display on the display scale","technique_zh":"在显示屏刻度上显示信号","technique_cs":"Zobrazení signálu na stupnici displeje","techniques":["Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza"],"techniques_en":["Signal display on the display scale"],"techniques_zh":["在显示屏刻度上显示信号"],"techniques_cs":["Zobrazení signálu na stupnici displeje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 5 % VS do 100 % VS CMC 2,3 % VS\nZobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość pionowa Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2,3 % VS Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Vertikální linearita Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Zobrazení signálu na stupnici displeje 5 % VS až 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – liniowosc pionowa Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Zobrazenie sygnalu na skali wyswietlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2,3 % VS Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Vertikalni linearita Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Zobrazeni signalu na stupnici displeje 5 % VS az 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – vertical linearity Calibration – testing of properties and defects of materials Signal display on the display scale 5 % VS to 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 垂直线性 校准 – 材料性能和缺陷检测 在显示屏刻度上显示信号 5 % VS 至 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":5,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"5061dc03880d7e8c0996aa8e","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – time base linearity","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 时基线性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 1 mm do 9999 mm","cmc":"0,05 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"1 mm to 9999 mm","cmc":"0,05 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"1 mm 至 9999 mm","cmc":"0,05 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"1 mm až 9999 mm","cmc":"0,05 %"}],"technique":"Symulacja sygnałem elektrycznym","technique_en":"Electrical signal simulation","technique_zh":"电信号模拟","technique_cs":"Simulace elektrickým signálem","techniques":["Symulacja sygnałem elektrycznym"],"techniques_en":["Electrical signal simulation"],"techniques_zh":["电信号模拟"],"techniques_cs":["Simulace elektrickým signálem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 1 mm do 9999 mm CMC 0,05 %\nSymulacja sygnałem elektrycznym","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Symulacja sygnałem elektrycznym od 1 mm do 9999 mm CMC 0,05 % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Simulace elektrickým signálem 1 mm až 9999 mm CMC 0,05 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – liniowosc podstawy czasu Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Symulacja sygnalem elektrycznym od 1 mm do 9999 mm CMC 0,05 % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Linearita casove zakladny Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Simulace elektrickym signalem 1 mm az 9999 mm CMC 0,05 % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – time base linearity Calibration – testing of properties and defects of materials Electrical signal simulation 1 mm to 9999 mm CMC 0,05 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 时基线性 校准 – 材料性能和缺陷检测 电信号模拟 1 mm 至 9999 mm CMC 0,05 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":6,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"075b5192fab4dfeff1374127","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu przyrządów analogowych","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – time base linearity of analog. instruments","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 模拟仪器时基线性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny analog. přístrojů","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 1 mm do 9999 mm","cmc":"2(18/ŠS mm) %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"1 mm to 9999 mm","cmc":"2(18/ŠS mm) %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"1 mm 至 9999 mm","cmc":"2(18/ŠS mm) %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"1 mm až 9999 mm","cmc":"2(18/ŠS mm) %"}],"technique":"Symulacja sygnałem elektrycznym","technique_en":"Electrical signal simulation","technique_zh":"电信号模拟","technique_cs":"Simulace elektrickým signálem","techniques":["Symulacja sygnałem elektrycznym"],"techniques_en":["Electrical signal simulation"],"techniques_zh":["电信号模拟"],"techniques_cs":["Simulace elektrickým signálem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 1 mm do 9999 mm CMC 2(18/ŠS mm) %\nSymulacja sygnałem elektrycznym","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu przyrządów analogowych Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Symulacja sygnałem elektrycznym od 1 mm do 9999 mm CMC 2(18/ŠS mm) % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Linearita časové základny analog. přístrojů Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Simulace elektrickým signálem 1 mm až 9999 mm CMC 2(18/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – liniowosc podstawy czasu przyrzadow analogowych Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Symulacja sygnalem elektrycznym od 1 mm do 9999 mm CMC 2(18/SS mm) % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Linearita casove zakladny analog. pristroju Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Simulace elektrickym signalem 1 mm az 9999 mm CMC 2(18/SS mm) % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – time base linearity of analog. instruments Calibration – testing of properties and defects of materials Electrical signal simulation 1 mm to 9999 mm CMC 2(18/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 模拟仪器时基线性 校准 – 材料性能和缺陷检测 电信号模拟 1 mm 至 9999 mm CMC 2(18/ŠS mm) % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":7,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"381faf718b8a90913506a506","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – równoważny poziom szumu na wejściu","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – equivalent input noise level","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 等效输入噪声电平","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"2 V/√Hz to 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"2 V/√Hz 至 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"2 V/√Hz až 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych","technique_en":"Calculation from measured values","technique_zh":"由测量值计算","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych"],"techniques_en":["Calculation from measured values"],"techniques_zh":["由测量值计算"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 2 V/√Hz do 100 V/√Hz CMC 3,5 %\nObliczenie z wartości zmierzonych","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – równoważny poziom szumu na wejściu Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz CMC 3,5 % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot 2 V/√Hz až 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – rownowazny poziom szumu na wejsciu Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz CMC 3,5 % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Ekvivalentni uroven sumu na vstupu Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot 2 V/√Hz az 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – equivalent input noise level Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values 2 V/√Hz to 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 等效输入噪声电平 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算 2 V/√Hz 至 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":8,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"7fcc32a17da0bfd300686826","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – przerzut impulsu nadawczego","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – transmit pulse overshoot","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲过冲","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Překmit vysílacího impulsu","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"7,9 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"2 V to 500 V","cmc":"7,9 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"2 V 至 500 V","cmc":"7,9 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"2 V až 500 V","cmc":"7,9 %"}],"technique":"Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","technique_en":"Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope","technique_zh":"用示波器测量发射信号","technique_cs":"Měření vysílaného signálu osciloskopem","techniques":["Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem"],"techniques_en":["Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope"],"techniques_zh":["用示波器测量发射信号"],"techniques_cs":["Měření vysílaného signálu osciloskopem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 2 V do 500 V CMC 7,9 %\nPomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – przerzut impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem od 2 V do 500 V CMC 7,9 % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Překmit vysílacího impulsu Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření vysílaného signálu osciloskopem 2 V až 500 V CMC 7,9 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – przerzut impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar sygnalu nadawanego oscyloskopem od 2 V do 500 V CMC 7,9 % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Prekmit vysilaciho impulsu Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni vysilaneho signalu osciloskopem 2 V az 500 V CMC 7,9 % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – transmit pulse overshoot Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope 2 V to 500 V CMC 7,9 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲过冲 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量发射信号 2 V 至 500 V CMC 7,9 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":9,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"5195e6e9083553654309008d","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – transmitting pulse rise time, duration","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 3 ns do 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"3 ns to 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"3 ns 至 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"3 ns až 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"technique":"Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","technique_en":"Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope","technique_zh":"用示波器测量发射信号","technique_cs":"Měření vysílaného signálu osciloskopem","techniques":["Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem"],"techniques_en":["Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope"],"techniques_zh":["用示波器测量发射信号"],"techniques_cs":["Měření vysílaného signálu osciloskopem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 3 ns do 500 ns CMC 7,9 %\nPomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem od 3 ns do 500 ns CMC 7,9 % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření vysílaného signálu osciloskopem 3 ns až 500 ns CMC 7,9 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar sygnalu nadawanego oscyloskopem od 3 ns do 500 ns CMC 7,9 % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Doba nabehu, doba trvani vysilaciho impulsu Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni vysilaneho signalu osciloskopem 3 ns az 500 ns CMC 7,9 % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – transmitting pulse rise time, duration Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope 3 ns to 500 ns CMC 7,9 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量发射信号 3 ns 至 500 ns CMC 7,9 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":10,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"88722de793e67ec4cac59e09","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – górna i dolna granica częstotliwości filtru","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – filter frequency upper and lower limit","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器频率上下限","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Horní a dolní mez frekvence filtru","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0,2 MHz do 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,2 MHz to 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,2 MHz 至 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,2 MHz až 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"technique":"Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","technique_en":"Signal display on the display scale","technique_zh":"在显示屏刻度上显示信号","technique_cs":"Zobrazení signálu na stupnici displeje","techniques":["Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza"],"techniques_en":["Signal display on the display scale"],"techniques_zh":["在显示屏刻度上显示信号"],"techniques_cs":["Zobrazení signálu na stupnici displeje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 %\nZobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – górna i dolna granica częstotliwości filtru Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Horní a dolní mez frekvence filtru Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Zobrazení signálu na stupnici displeje 0,2 MHz až 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – gorna i dolna granica czestotliwosci filtru Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Zobrazenie sygnalu na skali wyswietlacza od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Horni a dolni mez frekvence filtru Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Zobrazeni signalu na stupnici displeje 0,2 MHz az 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – filter frequency upper and lower limit Calibration – testing of properties and defects of materials Signal display on the display scale 0,2 MHz to 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器频率上下限 校准 – 材料性能和缺陷检测 在显示屏刻度上显示信号 0,2 MHz 至 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":11,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"96b329ee187515abef970d58","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – częstotliwość środkowa filtru","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – filter centre frequency","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器中心频率","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Střední frekvence filtru","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0,2 MHz do 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,2 MHz to 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,2 MHz 至 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,2 MHz až 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych","technique_en":"Calculation from measured values","technique_zh":"由测量值计算","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych"],"techniques_en":["Calculation from measured values"],"techniques_zh":["由测量值计算"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0,2 MHz do 30 MHz CMC 3,3 %\nObliczenie z wartości zmierzonych","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – częstotliwość środkowa filtru Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 3,3 % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Střední frekvence filtru Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot 0,2 MHz až 30 MHz CMC 3,3 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – czestotliwosc srodkowa filtru Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 3,3 % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Stredni frekvence filtru Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot 0,2 MHz az 30 MHz CMC 3,3 % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – filter centre frequency Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values 0,2 MHz to 30 MHz CMC 3,3 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器中心频率 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算 0,2 MHz 至 30 MHz CMC 3,3 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":12,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"d5d76dac0110c30526013abc","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – dokładność dzielnika decybelowego","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – decibel attenuator accuracy","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 分贝衰减器准确度","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Přesnost decibelového děliče","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0 dB do 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 dB to 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 dB 至 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 dB až 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcem","technique_en":"Comparison with a reference standard","technique_zh":"与标准器比较","technique_cs":"Porovnání s etalonem","techniques":["Porównanie z wzorcem"],"techniques_en":["Comparison with a reference standard"],"techniques_zh":["与标准器比较"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0 dB do 120 dB CMC 0,2 dB\nPorównanie z wzorcem","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – dokładność dzielnika decybelowego Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcem od 0 dB do 120 dB CMC 0,2 dB Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Přesnost decibelového děliče Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonem 0 dB až 120 dB CMC 0,2 dB KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – dokladnosc dzielnika decybelowego Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcem od 0 dB do 120 dB CMC 0,2 dB Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Presnost decibeloveho delice Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonem 0 dB az 120 dB CMC 0,2 dB KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – decibel attenuator accuracy Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference standard 0 dB to 120 dB CMC 0,2 dB KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 分贝衰减器准确度 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准器比较 0 dB 至 120 dB CMC 0,2 dB KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":13,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"039ac5bdacfd298b15ec902f","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – szerokość pasma filtru częstotliwości","test_object_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – frequency filter bandwidth","test_object_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 频率滤波器带宽","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Šířka pásma frekvenčního filtru","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0,2 MHz do 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,2 MHz to 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,2 MHz 至 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,2 MHz až 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych","technique_en":"Calculation from measured values","technique_zh":"由测量值计算","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych"],"techniques_en":["Calculation from measured values"],"techniques_zh":["由测量值计算"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 %\nObliczenie z wartości zmierzonych","reference":"KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","norm_bases":["KP 1","ČSN EN 12668-1:2010"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – szerokość pasma filtru częstotliwości Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukové defektoskopy analogové a digitální – Šířka pásma frekvenčního filtru Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot 0,2 MHz až 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) Defektoskopy ultradzwiekowe analogowe i cyfrowe – szerokosc pasma filtru czestotliwosci Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukove defektoskopy analogove a digitalni – Sirka pasma frekvencniho filtru Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot 0,2 MHz az 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (CSN EN 12668-1:2010)","search_en":"Analogue and digital ultrasonic flaw detectors – frequency filter bandwidth Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values 0,2 MHz to 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","search_zh":"模拟和数字超声波探伤仪 – 频率滤波器带宽 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算 0,2 MHz 至 30 MHz CMC 2,8 % KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":14,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"21a5f9915aebc1ffafa7cca4","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – liniowość pionowa zobrazowania","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – display vertical linearity","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 显示垂直线性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Vertikální linearita zobrazení","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 5 % VS do 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"5 % VS to 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"5 % VS 至 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"5 % VS až 100 % VS","cmc":"2,3 % VS"}],"technique":"Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","technique_en":"Signal display on the display scale","technique_zh":"在显示屏刻度上显示信号","technique_cs":"Zobrazení signálu na stupnici displeje","techniques":["Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza"],"techniques_en":["Signal display on the display scale"],"techniques_zh":["在显示屏刻度上显示信号"],"techniques_cs":["Zobrazení signálu na stupnici displeje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 5 % VS do 100 % VS CMC 2,3 % VS\nZobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – liniowość pionowa zobrazowania Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2,3 % VS Ultrazvukové defektoskopy digitální – Vertikální linearita zobrazení Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Zobrazení signálu na stupnici displeje 5 % VS až 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – liniowosc pionowa zobrazowania Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Zobrazenie sygnalu na skali wyswietlacza od 5 % VS do 100 % VS CMC 2,3 % VS Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Vertikalni linearita zobrazeni Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Zobrazeni signalu na stupnici displeje 5 % VS az 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – display vertical linearity Calibration – testing of properties and defects of materials Signal display on the display scale 5 % VS to 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 显示垂直线性 校准 – 材料性能和缺陷检测 在显示屏刻度上显示信号 5 % VS 至 100 % VS CMC 2,3 % VS KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":15,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"14ecf68afb382179c5879de8","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – poziom szumu","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – noise level","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 噪声电平","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Úroveň šumu","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"2 V/√Hz to 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"2 V/√Hz 至 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"2 V/√Hz až 100 V/√Hz","cmc":"3,5 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych","technique_en":"Calculation from measured values","technique_zh":"由测量值计算","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych"],"techniques_en":["Calculation from measured values"],"techniques_zh":["由测量值计算"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 2 V/√Hz do 100 V/√Hz CMC 3,5 %\nObliczenie z wartości zmierzonych","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – poziom szumu Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz CMC 3,5 % Ultrazvukové defektoskopy digitální – Úroveň šumu Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot 2 V/√Hz až 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – poziom szumu Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz CMC 3,5 % Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Uroven sumu Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot 2 V/√Hz az 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – noise level Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values 2 V/√Hz to 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 噪声电平 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算 2 V/√Hz 至 100 V/√Hz CMC 3,5 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":16,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"fd2595a200430e5e095f3cf7","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – napięcie impulsu nadawczego","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – transmit pulse voltage","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 发射脉冲电压","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Napětí vysílacího impulsu","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"7,9 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"2 V to 500 V","cmc":"7,9 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"2 V 至 500 V","cmc":"7,9 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"2 V až 500 V","cmc":"7,9 %"}],"technique":"Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","technique_en":"Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope","technique_zh":"用示波器测量发射信号","technique_cs":"Měření vysílaného signálu osciloskopem","techniques":["Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem"],"techniques_en":["Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope"],"techniques_zh":["用示波器测量发射信号"],"techniques_cs":["Měření vysílaného signálu osciloskopem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 2 V do 500 V CMC 7,9 %\nPomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – napięcie impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem od 2 V do 500 V CMC 7,9 % Ultrazvukové defektoskopy digitální – Napětí vysílacího impulsu Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření vysílaného signálu osciloskopem 2 V až 500 V CMC 7,9 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – napiecie impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar sygnalu nadawanego oscyloskopem od 2 V do 500 V CMC 7,9 % Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Napeti vysilaciho impulsu Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni vysilaneho signalu osciloskopem 2 V az 500 V CMC 7,9 % KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – transmit pulse voltage Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope 2 V to 500 V CMC 7,9 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 发射脉冲电压 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量发射信号 2 V 至 500 V CMC 7,9 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":17,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"40f72d30bfe1baca2e73c7dd","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – transmitting pulse rise time, duration","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 3 ns do 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"3 ns to 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"3 ns 至 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"3 ns až 500 ns","cmc":"7,9 %"}],"technique":"Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","technique_en":"Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope","technique_zh":"用示波器测量发射信号","technique_cs":"Měření vysílaného signálu osciloskopem","techniques":["Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem"],"techniques_en":["Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope"],"techniques_zh":["用示波器测量发射信号"],"techniques_cs":["Měření vysílaného signálu osciloskopem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 3 ns do 500 ns CMC 7,9 %\nPomiar sygnału nadawanego oscyloskopem","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem od 3 ns do 500 ns CMC 7,9 % Ultrazvukové defektoskopy digitální – Doba náběhu, doba trvání vysílacího impulsu Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření vysílaného signálu osciloskopem 3 ns až 500 ns CMC 7,9 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar sygnalu nadawanego oscyloskopem od 3 ns do 500 ns CMC 7,9 % Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Doba nabehu, doba trvani vysilaciho impulsu Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni vysilaneho signalu osciloskopem 3 ns az 500 ns CMC 7,9 % KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – transmitting pulse rise time, duration Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement of the transmitted signal by an oscilloscope 3 ns to 500 ns CMC 7,9 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量发射信号 3 ns 至 500 ns CMC 7,9 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":18,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"ec296a4aa59518959e35f866","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – górna i dolna częstotliwość graniczna","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – upper and lower limit frequency","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 上下限频率","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Horní a dolní mezní frekvence","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0,2 MHz do 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,2 MHz to 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,2 MHz 至 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,2 MHz až 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"technique":"Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","technique_en":"Signal display on the display scale","technique_zh":"在显示屏刻度上显示信号","technique_cs":"Zobrazení signálu na stupnici displeje","techniques":["Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza"],"techniques_en":["Signal display on the display scale"],"techniques_zh":["在显示屏刻度上显示信号"],"techniques_cs":["Zobrazení signálu na stupnici displeje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 %\nZobrazenie sygnału na skali wyświetlacza","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – górna i dolna częstotliwość graniczna Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukové defektoskopy digitální – Horní a dolní mezní frekvence Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Zobrazení signálu na stupnici displeje 0,2 MHz až 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – gorna i dolna czestotliwosc graniczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Zobrazenie sygnalu na skali wyswietlacza od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Horni a dolni mezni frekvence Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Zobrazeni signalu na stupnici displeje 0,2 MHz az 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – upper and lower limit frequency Calibration – testing of properties and defects of materials Signal display on the display scale 0,2 MHz to 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 上下限频率 校准 – 材料性能和缺陷检测 在显示屏刻度上显示信号 0,2 MHz 至 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":19,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"b436f99b358288c676c72e92","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – częstotliwość środkowa","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – centre frequency","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 中心频率","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Střední frekvence","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0,2 MHz do 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,2 MHz to 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,2 MHz 至 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,2 MHz až 30 MHz","cmc":"3,3 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych","technique_en":"Calculation from measured values","technique_zh":"由测量值计算","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych"],"techniques_en":["Calculation from measured values"],"techniques_zh":["由测量值计算"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0,2 MHz do 30 MHz CMC 3,3 %\nObliczenie z wartości zmierzonych","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – częstotliwość środkowa Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 3,3 % Ultrazvukové defektoskopy digitální – Střední frekvence Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot 0,2 MHz až 30 MHz CMC 3,3 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – czestotliwosc srodkowa Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 3,3 % Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Stredni frekvence Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot 0,2 MHz az 30 MHz CMC 3,3 % KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – centre frequency Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values 0,2 MHz to 30 MHz CMC 3,3 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 中心频率 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算 0,2 MHz 至 30 MHz CMC 3,3 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":20,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"e573ee1372c58785df3aeb1e","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – liniowość wzmocnienia","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – gain linearity","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 增益线性","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Linearita zesílení","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0 dB do 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 dB to 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 dB 至 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 dB až 120 dB","cmc":"0,2 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcem","technique_en":"Comparison with a reference standard","technique_zh":"与标准器比较","technique_cs":"Porovnání s etalonem","techniques":["Porównanie z wzorcem"],"techniques_en":["Comparison with a reference standard"],"techniques_zh":["与标准器比较"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0 dB do 120 dB CMC 0,2 dB\nPorównanie z wzorcem","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – liniowość wzmocnienia Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcem od 0 dB do 120 dB CMC 0,2 dB Ultrazvukové defektoskopy digitální – Linearita zesílení Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonem 0 dB až 120 dB CMC 0,2 dB KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – liniowosc wzmocnienia Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcem od 0 dB do 120 dB CMC 0,2 dB Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Linearita zesileni Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonem 0 dB az 120 dB CMC 0,2 dB KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – gain linearity Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference standard 0 dB to 120 dB CMC 0,2 dB KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 增益线性 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准器比较 0 dB 至 120 dB CMC 0,2 dB KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":21,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"b8c283d49bab4baf506a9afb","lab_id":"6acfffe8ff06824761705e15","country":"CZ","accr_number":"2343","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – szerokość pasma","test_object_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – bandwidth","test_object_zh":"数字超声波探伤仪 – 带宽","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy digitální – Šířka pásma","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"","range":"od 0,2 MHz do 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,2 MHz to 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,2 MHz 至 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,2 MHz až 30 MHz","cmc":"2,8 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych","technique_en":"Calculation from measured values","technique_zh":"由测量值计算","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych"],"techniques_en":["Calculation from measured values"],"techniques_zh":["由测量值计算"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nod 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 %\nObliczenie z wartości zmierzonych","reference":"KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","norm_bases":["KP 9","ČSN EN ISO 22232-1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – szerokość pasma Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukové defektoskopy digitální – Šířka pásma Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot 0,2 MHz až 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) Defektoskopy ultradzwiekowe cyfrowe – szerokosc pasma Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych od 0,2 MHz do 30 MHz CMC 2,8 % Ultrazvukove defektoskopy digitalni – Sirka pasma Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot 0,2 MHz az 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (CSN EN ISO 22232-1)","search_en":"Digital ultrasonic flaw detectors – bandwidth Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values 0,2 MHz to 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","search_zh":"数字超声波探伤仪 – 带宽 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算 0,2 MHz 至 30 MHz CMC 2,8 % KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":22,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"}],"has_pdf":true}