🇨🇿 TESTIMA, spol. s r.o. EN

ČIA 2343 • Brandýs nad Labem, Czechy • 23 pozycji wzorcowania

Metrologia

TESTIMA, spol. s r.o. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez ČIA pod numerem 2343 (Brandýs nad Labem, Czechy). Zakres akredytacji obejmuje 23 pozycje wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – czas narastania,…, Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – częstotliwość śro…, Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – dokładność dzieln…, Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – górna i dolna gra…. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza, Obliczenie z wartości zmierzonych, Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem.

W skrócie

Numer akredytacji: ČIA 2343
Liczba pozycji wzorcowania: 23
Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 23
Zasad wzorcowania: 6
Miasto: Brandýs nad Labem, Czechy
Ważność do: 07-07-2031

Numer akredytacji: 2343
Jednostka akredytująca: ČIA
Adres: Husova 353/6, 250 01 Brandýs nad Labem
Miasto: Brandýs nad Labem, Czechy
Dział: Laboratorium wzorcujące TESTIMA
Ważność do: 07-07-2031

Co wzorcuje to laboratorium (23)

Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – częstotliwość środkowa filtru — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – dokładność dzielnika decybelowego — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – górna i dolna granica częstotliwości filtru — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość pionowa — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu przyrządów analogowych — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – niestabilność zobrazowania — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – przerzut impulsu nadawczego — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – równoważny poziom szumu na wejściu — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność po nagrzaniu — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność przy wahaniach napięcia — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – szerokość pasma filtru częstotliwości — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego — 1 pozycja wzorcowania
Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – częstotliwość środkowa — 1 pozycja wzorcowania
i 8 więcej

Zasady wzorcowania (6)

Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza — 7 pozycji wzorcowania
Obliczenie z wartości zmierzonych — 6 pozycji wzorcowania
Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem — 4 pozycje wzorcowania
Porównanie z wartością wzorca — 2 pozycje wzorcowania
Porównanie z wzorcem — 2 pozycje wzorcowania
Symulacja sygnałem elektrycznym — 2 pozycje wzorcowania

Informacje o certyfikacie

Data certyfikatu: 07.07.2026

Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (23)

CMC — najmniejsza podawana rozszerzona niepewność pomiaru (ILAC-P14, EA-4/02 M); jeżeli nie podano inaczej, prawdopodobieństwo rozszerzenia ok. 95 %, a wartości bez jednostki są względne wobec wartości mierzonej. Niepewność konkretnego wzorcowania może być większa.

Lp.	Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania	Zakres nominalny / parametry / CMC	Zasada wzorcowania	Procedura wzorcowania
Pozycje wzorcowania
1	Grubościomierze ultradźwiękowe	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 10 mm · CMC 0,1 mm od 10 mm do 20 mm · CMC 0,2 mm od 20 mm do 40 mm · CMC 0,3 mm od 40 mm do 90 mm · CMC 0,5 mm od 90 mm do 101 mm · CMC 1,1 mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Porównanie z wartością wzorca	KP 2
2	Grubościomierze do pomiaru powłok	Wzorcowanie – długość od 0 µm do 20 µm · CMC 2,7 µm od 20 µm do 100 µm · CMC 2,9 µm od 100 µm do 200 µm · CMC 3,4 µm od 200 µm do 500 µm · CMC 6,1 µm od 500 µm do 1000 µm · CMC 11 µm od 1000 µm do 1500 µm · CMC 16 µm od 1500 µm do 10020 µm · CMC 100 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Porównanie z wartością wzorca	KP 3
3	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność po nagrzaniu	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 5 % VS do 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % od 5 % ŠS do 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
4	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – niestabilność zobrazowania	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 5 % VS do 100 % VS · CMC 2(15.3/VS mm) % od 5 % ŠS do 100 % ŠS · CMC 2(15,3/ŠS mm) % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
5	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – stabilność przy wahaniach napięcia	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 5 % VS do 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % od 5 % ŠS do 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
6	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość pionowa	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 5 % VS do 100 % VS · CMC 2,3 % VS CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
7	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 1 mm do 9999 mm · CMC 0,05 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Symulacja sygnałem elektrycznym	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
8	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – liniowość podstawy czasu przyrządów analogowych	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 1 mm do 9999 mm · CMC 2(18/ŠS mm) % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Symulacja sygnałem elektrycznym	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
9	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – równoważny poziom szumu na wejściu	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz · CMC 3,5 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Obliczenie z wartości zmierzonych	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
10	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – przerzut impulsu nadawczego	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 2 V do 500 V · CMC 7,9 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
11	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 3 ns do 500 ns · CMC 7,9 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
12	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – górna i dolna granica częstotliwości filtru	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0,2 MHz do 30 MHz · CMC 2,8 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
13	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – częstotliwość środkowa filtru	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0,2 MHz do 30 MHz · CMC 3,3 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Obliczenie z wartości zmierzonych	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
14	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – dokładność dzielnika decybelowego	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0 dB do 120 dB · CMC 0,2 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Porównanie z wzorcem	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
15	Defektoskopy ultradźwiękowe analogowe i cyfrowe – szerokość pasma filtru częstotliwości	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0,2 MHz do 30 MHz · CMC 2,8 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Obliczenie z wartości zmierzonych	KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
16	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – liniowość pionowa zobrazowania	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 5 % VS do 100 % VS · CMC 2,3 % VS CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
17	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – poziom szumu	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 2 V/√Hz do 100 V/√Hz · CMC 3,5 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Obliczenie z wartości zmierzonych	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
18	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – napięcie impulsu nadawczego	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 2 V do 500 V · CMC 7,9 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
19	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – czas narastania, czas trwania impulsu nadawczego	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 3 ns do 500 ns · CMC 7,9 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Pomiar sygnału nadawanego oscyloskopem	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
20	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – górna i dolna częstotliwość graniczna	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0,2 MHz do 30 MHz · CMC 2,8 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Zobrazenie sygnału na skali wyświetlacza	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
21	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – częstotliwość środkowa	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0,2 MHz do 30 MHz · CMC 3,3 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Obliczenie z wartości zmierzonych	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
22	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – liniowość wzmocnienia	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0 dB do 120 dB · CMC 0,2 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Porównanie z wzorcem	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
23	Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe – szerokość pasma	Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów od 0,2 MHz do 30 MHz · CMC 2,8 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów	Obliczenie z wartości zmierzonych	KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)

Normy referencyjne (6)

KP 1

KP 2

KP 3

KP 9

ČSN EN 12668-1:2010

ČSN EN ISO 22232-1

Ten sam zakres w postaci danych (JSON): https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2343