🇨🇿 Mitutoyo Česko s.r.o. PL

ČIA 2390 • Teplice, 捷克 • 18 项校准

计量与校准

Mitutoyo Česko s.r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室，认可编号 2390（Teplice，捷克）。认可范围涵盖 18 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：圆度仪、表面粗糙度测量仪、表面轮廓测量仪、坐标测量机（CMM）。最常用的校准原理：使用玻璃尺测量、用激光干涉仪测量、使用量块测量。

要点速览

认可编号: ČIA 2390
认可范围内校准项目数: 18
校准对象种类: 10
所用校准原理数: 11
城市: Teplice, 捷克
有效期至: 21-11-2029

认可编号: 2390
认可机构: ČIA
地址: Dubská 1635, 415 01 Teplice
城市: Teplice, 捷克
部门: Laboratorium wzorcujące
有效期至: 21-11-2029

该实验室校准什么 (10)

圆度仪 — 3 项校准
表面粗糙度测量仪 — 3 项校准
表面轮廓测量仪 — 3 项校准
坐标测量机（CMM） — 2 项校准
带摄像系统的坐标测量机（VMM） — 2 项校准
XZ 平面角度测量误差 / 表面轮廓测量仪 — 1 项校准
一维测量仪器（高度尺） — 1 项校准
测量显微镜 — 1 项校准
角度测量误差 / 轮廓投影仪 — 1 项校准
轮廓投影仪 — 1 项校准

校准原理 (11)

使用玻璃尺测量 — 3 项校准
用激光干涉仪测量 — 3 项校准
使用量块测量 — 2 项校准
用 UDT 线性标准测量 — 2 项校准
用光学平面标准测量 — 2 项校准
与粗糙度标准比较 — 1 项校准
测量 135° 角度块 — 1 项校准
用参考半球测量 — 1 项校准
用参考圆柱测量 — 1 项校准
用参考球测量 — 1 项校准
通过将投影屏旋转 360° 测量玻璃尺位置 — 1 项校准

证书信息

证书日期: 09.07.2025

认可范围 — 校准项目 (18)

CMC — 给出的最小扩展测量不确定度（ILAC-P14、EA-4/02 M）；除非另有说明，包含概率约为95%，不带单位的数值为相对于测量值的相对值。具体校准的不确定度可能更高。

序号	校准量 / 校准对象	标称范围 / 参数 / CMC	校准原理	校准程序
校准项目
1	坐标测量机（CMM）	校准 – 长度空间长度 — 0 m 至 5 m · CMC (0,3L + 0,1) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
2	坐标测量机（CMM）	校准 – 长度测头系统误差 — -1 mm 至 1 mm · CMC 0,2 µm 被测量领域的CMC：长度	用参考球测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
3	带摄像系统的坐标测量机（VMM）	校准 – 长度 0 m 至 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm X、Y 轴 — 0 m 至 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	使用玻璃尺测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
4	带摄像系统的坐标测量机（VMM）	校准 – 长度 Z 轴 — 0 m 至 0,3 m · CMC (3,1L + 0,3) µm 被测量领域的CMC：长度	使用量块测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
5	表面粗糙度测量仪	校准 – 长度 Ra 参数 — 0,1 µm 至 50 µm · CMC 3,4 % Rz 参数 — 0,01 µm 至 50 µm · CMC 2,4 % Rsm 参数 — 0,1 µm 至 400 µm · CMC 0,6 % 被测量领域的CMC：长度	与粗糙度标准比较	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
6	表面粗糙度测量仪	校准 – 长度线性测量误差 — -400 µm 至 400 µm · CMC 4 µm 被测量领域的CMC：长度	用 UDT 线性标准测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
7	表面粗糙度测量仪	校准 – 长度直线度测量误差 — -15 µm 至 15 µm · CMC 0,06 µm 被测量领域的CMC：长度	用光学平面标准测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
8	表面轮廓测量仪	校准 – 长度 X、Y 轴 — 0 mm 至 200 mm · CMC (0,3L + 0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
9	表面轮廓测量仪	校准 – 长度 Z 轴 — 0 mm 至 60 mm · CMC (0,3L + 0,2 µm 被测量领域的CMC：长度	使用量块测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
10	表面轮廓测量仪	校准 – 长度直线度测量误差 — -15 µm 至 15 µm · CMC 0,06 µm 被测量领域的CMC：长度	用光学平面标准测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
11	轮廓投影仪	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm 平行度 PXY — -200 µm 至 200 µm · CMC 1 µm 十字线位置 ECH — -200 µm 至 200 µm · CMC 4 µm 放大倍率误差 — -1 % 至 1 % · CMC 0,01 % (abs.) 被测量领域的CMC：长度	使用玻璃尺测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
12	测量显微镜	校准 – 长度 0 mm 至 400 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm 平行度 PXY — -200 µm 至 200 µm · CMC 1 µm 被测量领域的CMC：长度	使用玻璃尺测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
13	一维测量仪器（高度尺）	校准 – 长度 0 m 至 1 m · CMC (0,23L + 0,05) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP04
14	圆度仪	校准 – 长度传感器线性测量误差 — -400 µm 至 400 µm · CMC 4 µm 被测量领域的CMC：长度	用 UDT 线性标准测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
15	圆度仪	校准 – 长度主轴轴向跳动 — -200 µm 至 200 µm · CMC 0,02 µm 主轴径向跳动 — -200 µm 至 200 µm · CMC 0,04 µm 被测量领域的CMC：长度	用参考半球测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
16	圆度仪	校准 – 长度圆柱度 — 0 µm 至 200 µm · CMC 1,8 µm 被测量领域的CMC：长度	用参考圆柱测量	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
17	XZ 平面角度测量误差 / 表面轮廓测量仪	校准 – 平面角 135° · CMC 0,0034° 被测量领域的CMC：平面角	测量 135° 角度块	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
18	角度测量误差 / 轮廓投影仪	校准 – 平面角 360° · CMC 0,5´ 被测量领域的CMC：平面角	通过将投影屏旋转 360° 测量玻璃尺位置	MCZ-PI-KL_SD15_KP03

引用标准 (10)

MCZ-PI-KL_SD15_KP01

MCZ-PI-KL_SD15_KP02

MCZ-PI-KL_SD15_KP03

MCZ-PI-KL_SD15_KP04

MCZ-PI-KL_SD15_KP05

MCZ-PI-KL_SD15_KP06

ČSN EN ISO 10360-2

ČSN EN ISO 10360-5

ČSN EN ISO 12179

ČSN EN ISO 3274

同一认可范围的数据格式（JSON）：https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2390