🇨🇿 Wabtec Inspection Technologies Czech s.r.o. PL
计量与校准
Wabtec Inspection Technologies Czech s.r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室,认可编号 2371(Praha 6,捷克)。认可范围涵盖 53 项校准,涉及以下领域:计量与校准。校准对象包括:Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪、Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法)、Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪、Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪。最常用的校准原理:仪器显示读数、用示波器测量、与标准衰减器比较。
要点速览
- 认可编号: ČIA 2371
- 认可范围内校准项目数: 53
- 校准对象种类: 12
- 所用校准原理数: 38
- 城市: Praha 6, 捷克
- 有效期至: 11-09-2030
- 认可编号
- 2371
- 认可机构
- ČIA
- 地址
- Evropská 16/176, Vokovice, 160 00 Praha 6
- 城市
- Praha 6, 捷克
- 部门
- Laboratorium wzorcujące NDT
- 有效期至
- 11-09-2030
该实验室校准什么 (12)
- Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 — 22 项校准
- Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) — 9 项校准
- Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 — 5 项校准
- Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 — 4 项校准
- Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 — 4 项校准
- Olympus/Evident 超声波测厚仪(自动法) — 3 项校准
- Magnamike 测厚仪 — 1 项校准
- 直流电压 / 直流电压源 — 1 项校准
- 直流电阻 — 1 项校准
- 超声波测厚仪 — 1 项校准
- 高频电压,峰峰值 / 峰峰值电压源 — 1 项校准
- 高频衰减 / 高频衰减器 — 1 项校准
校准原理 (38)
- 仪器显示读数 — 3 项校准
- 用示波器测量 — 3 项校准
- 与标准衰减器比较 — 2 项校准
- 与标准衰减器比较(ČSN EN 12668-1) — 2 项校准
- 与长度标准值比较 — 2 项校准
- 仪器显示读数(ČSN EN 12668-1) — 2 项校准
- 仪器显示读数(ČSN EN ISO 22232-1) — 2 项校准
- 用万用表测量 — 2 项校准
- 用万用表直接测量 — 2 项校准
- 用电信号模拟(ČSN EN 12668-1) — 2 项校准
- 用示波器测量(ČSN EN ISO 22232-1) — 2 项校准
- 由测量值计算(ČSN EN 12668-1) — 2 项校准
- 由测量值计算(ČSN EN ISO 22232-1) — 2 项校准
- 与标准比较 — 1 项校准
- 与标准比较(ČSN EN ISO 22232-1) — 1 项校准
- 另有 23 项
证书信息
- 证书日期
- 26.01.2026
认可范围 — 校准项目 (53)
| 序号 | 校准量 / 校准对象 | 标称范围 / 参数 / CMC | 校准原理 | 校准程序 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 校准项目 | |||||
| 1 | 超声波测厚仪 | 校准 – 长度 0,150 mm 至 5,100 mm · CMC 0,005 mm 5,100 mm 至 100,00 mm · CMC 0,01 mm 被测量领域的CMC:长度 |
与长度标准值比较 | DOC-23-00018 | |
| 2 | Magnamike 测厚仪 | 校准 – 长度 0,250 mm 至 25,340 mm · CMC 0,005 mm 被测量领域的CMC:长度 |
与长度标准值比较 | DOC-23-00018 | |
| 3 | Olympus/Evident 超声波测厚仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 脉冲重复频率 — 3 Hz 至 3 kHz · CMC 1 % 发射脉冲电压 — 2 V 至 500 V · CMC 2 % 脉冲拖尾 — 2 V 至 500 V · CMC 2 % 脉冲上升时间 — 2 ns 至 1200 ns · CMC 0,8 % 脉冲持续时间 — 2 ns 至 1200 ns · CMC 0,8 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量(ČSN EN 15317) | DOC-23-00018 | |
| 4 | Olympus/Evident 超声波测厚仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 电流工作范围 — 0,1 A 至 2 A · CMC 1,5 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
电源读数(ČSN EN 15317) | DOC-23-00018 | |
| 5 | Olympus/Evident 超声波测厚仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 精度和分辨率 — 0,25 mm 至 100 mm · CMC 0,15 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与长度标准值比较(ČSN EN 15317) | DOC-23-00018 | |
| 6 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 预热后稳定性,信号幅度 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,14 % SH 预热后稳定性,信号位置 — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,12 % SW 显示不稳定性,信号幅度 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,14 % SH 显示不稳定性,信号位置 — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,12 % SW 电压波动时的稳定性,信号幅度 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,14 % SH 电压波动时的稳定性,信号位置 — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,12 % SW 发射脉冲电压 — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲拖尾 — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲上升时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 脉冲持续时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 放大器频率响应 — 0,1 MHz 至 26,5 MHz · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 7 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 等效输入噪声电平 — 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz · CMC 7 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 8 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 已校衰减器准确度 — 0 dB 至 110 dB · CMC 0,7 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准衰减器比较(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 9 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 显示单元垂直线性 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 1 % SH 时基线性 — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,0004 % SW 时间分辨率 — 50 ns 至 150 ns · CMC 2 ns 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用电信号模拟(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 10 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 发射脉冲电压 — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲上升时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 脉冲持续时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 11 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 放大器频率响应 — 0,1 MHz 至 26,5 MHz · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 12 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 等效输入噪声电平 — 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz · CMC 7 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 13 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 已校衰减器准确度 — 0 dB 至 110 dB · CMC 0,7 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准比较(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 14 | Olympus/Evident 超声波探伤仪(自动法) | 校准 – 材料性能和缺陷检测 显示单元垂直线性 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 1 % SH 时基线性 — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,0004 % SW 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用电信号模拟(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 15 | Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器电流消耗 — 550 mA 至 850 mA · CMC 0,006 mA 仪器关机 — 7,0 V 至 8,0 V · CMC 0,06 V 仪器充电电流 — 1,0 A 至 1,7 A · CMC 0,5 mA 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
电源读数 | DOC-23-00021 | |
| 16 | Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 输出信号幅度 — 0,4 V 至 4,2 V · CMC 0,05 mV 仪器激励脉冲 — 8,20 Vp-p 至 10,27 Vp-p · CMC 0,06 Vp-p 仪器输出频率 — 0 Hz 至 100 Hz · CMC 0,1 Hz 仪器输出频率 — 0 MHz 至 12 MHz · CMC 12·10⁻⁶ MHz 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用万用表测量 | DOC-23-00021 | |
| 17 | Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 滤波器测试 — 2 Hz 至 8 Hz · CMC 0,057 Hz 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数 | DOC-23-00021 | |
| 18 | Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 扫描器输出频率,1200 RPM 时 — 0 Hz 至 20 Hz · CMC 0,02 Hz 扫描器输出频率,3000 RPM 时 — 0 Hz 至 50 Hz · CMC 0,05 Hz 附加输出 频率 1 号和 2 号 — 5 V · CMC 0,06 V 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量 | DOC-23-00021 | |
| 19 | Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器电导率 — 30 % IACS 至 60 % IACS · CMC 0,17 % IACS 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准比较 | DOC-23-00021 | |
| 20 | Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 激励频率 — 10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz · CMC 2 % 谐波失真 — 10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz · CMC 0,3 % 最大输出电压 — 1,8 Vp-p 至 2,2 Vp-p · CMC 0,3 % 最大允许输入电压 — 0,1 Vp-p 至 14,4 Vp-p · CMC 0,5 % 信号处理频率响应 — 0,1 kHz 至 2 kHz · CMC 0,1 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量(ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 21 | Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 相位线性 — 0° 至 360° · CMC 0,002° 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数(ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 22 | Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 增益设置准确度 — 0 dB 至 100 dB · CMC 0,07 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准衰减器比较(ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 23 | Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器最大噪声 — 1,8 µV 至 15,0 µV · CMC 0,5 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算(ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 24 | Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 激励频率 — 1 kHz 至 500 kHz · CMC 2 % 谐波失真 — 10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz · CMC 0,3 % TX 发生器(MIA、RESONANCE)和 HV 发生器(MIA)的最大输出电压 — 0,9 Vp-p 至 140 Vp-p · CMC 0,3 % 输入电压线性 — 0,01 % 至 0,75 % · CMC 0,5 % 信号处理频率响应 — 70 Hz 至 80 Hz · CMC 0,1 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量 | DOC-23-00021 | |
| 25 | Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 相位线性 — 0° 至 360° · CMC 0,002° 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数 | DOC-23-00021 | |
| 26 | Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 增益设置准确度 — 0 dB 至 100 dB · CMC 0,07 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准衰减器比较 | DOC-23-00021 | |
| 27 | Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器最大噪声 — 1,8 µV 至 15 µV · CMC 0,5 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算 | DOC-23-00021 | |
| 28 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 预热后稳定性 (mm),信号幅度 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,14 % SH 预热后稳定性 (mm),信号位置 — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,12 % SW 显示单元不稳定性,信号幅度 (mm) — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,14 % SH 显示单元不稳定性,信号位置 (mm) — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,12 % SW 电压变化时的稳定性,信号幅度 (mm) — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,14 % SH 电压变化时的稳定性,信号位置 (mm) — 5 % SW 至 100 % SW · CMC 0,12 % SW 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示信号读数(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 29 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 发射脉冲电压 — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲拖尾 — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲上升时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 脉冲持续时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 30 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 放大器频率响应 — 0,1 MHz 至 26,5 MHz · CMC 2 % 显示单元垂直线性 (mm) — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 1,0 % SH 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 31 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 等效输入噪声电平 — 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz · CMC 7 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 32 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 已校衰减器准确度 — 0 dB 至 110 dB · CMC 0,7 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准衰减器比较(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 33 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 时基线性 — 0 µs 至 5125 µs · CMC 0,004 µs 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用电信号模拟(ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 34 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 发射脉冲电压 (PA) — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲上升时间 (PA) — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 脉冲持续时间 (PA) — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 发射延迟 (PA) — 0 ns 至 5 ns · CMC 0,08 ns 仪器绝对增益 (PA) — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,23 % SH 发射脉冲电压 (UT) — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲上升时间 (UT) — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 脉冲持续时间 (UT) — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 仪器绝对增益 (UT) — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,23 % SH 仪器绝对增益 (ECA) — 0 V 至 1,5 V · CMC 0,01 V 发生器激励频率 (ECA) — 0,1 MHz 至 6,1 MHz · CMC 2,0 % 输出电压验证 (ECA),频率 — 1 Hz 至 20 Hz · CMC 2,0 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量 | DOC-23-00022 | |
| 35 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 带宽 (PA) — 0,2 MHz 至 26,5 MHz · CMC 2 % 显示线性 (PA) — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,23 % SH 带宽 (UT) — 0,2 MHz 至 26,5 MHz · CMC 2 % 显示线性 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,23 % SH 通道增益偏差 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,2 % SH 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数 | DOC-23-00022 | |
| 36 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 显示线性延迟 (PA) — 0,01 µs 至 10,01 µs · CMC 0,001 µs 显示线性延迟 — 0,01 µs 至 10,01 µs · CMC 0,001 µs 发射通道位置偏差 — 0 ns 至 5 ns · CMC 0,07 ns 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用电信号模拟 | DOC-23-00022 | |
| 37 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 发射脉冲电压 (UT) — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲上升时间 (UT) — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 脉冲持续时间 (UT) — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 38 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 放大器频率响应 — 0,2 MHz 至 26,5 MHz · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
信号产生(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 39 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 等效输入噪声电平 — 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz · CMC 7 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 40 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 已校衰减器准确度 — 0 dB 至 110 dB · CMC 0,7 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准衰减器比较(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 41 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 显示单元垂直线性 (mm) — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 1,0 % SH 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数(ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 42 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 发射脉冲电压 — 2 V 至 500 V · CMC 3 % 脉冲上升时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 脉冲持续时间 — 2 ns 至 1100 ns · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量(ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 43 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 时间延迟线性 — 0 ns 至 100 ns · CMC 0,07 ns 单个发射脉冲的线性 — 0 ns 至 55 ns · CMC 0,07 ns 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用电信号模拟(ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 44 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 放大器频率响应 — 0,2 MHz 至 29 MHz · CMC 2 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
信号产生(ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 45 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 通道增益偏差 — 5 % SH 至 100 % SH · CMC 0,2 % SH 垂直显示线性 (mm) — 5 % SH 至 800 % SH · CMC 1 % SH 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
仪器显示读数(ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 46 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 等效输入噪声电平 — 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz · CMC 7 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算(ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 47 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 已校衰减器准确度 — 0 dB 至 110 dB · CMC 0,7 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准衰减器比较(ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 48 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 增益线性 (ECA) — 0,1 % 至 3,0 % · CMC 0,7 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准衰减器比较 | DOC-23-00022 | |
| 49 | Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 输出电压验证 (ECA),电压 — 1 V 至 10 V · CMC 0,7 % 一般测试 (ECA),连接器电压 — 0 V 至 12 V · CMC 0,08 V 一般测试 (ECA),BNC 连接器电压 — 0 V 至 12 V · CMC 0,08 V 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用万用表测量 | DOC-23-00022 | |
| 50 | 直流电压 / 直流电压源 | 校准 – 电学量 0 mV 至 10 mV · CMC 8 µV 10 mV 至 100 mV · CMC 17 µV 100 mV 至 1 V · CMC 88 µV 1 V 至 10 V · CMC 0,8 mV 10 V 至 100 V · CMC 10 mV 100 至 1000 V · CMC 65 mV 被测量领域的CMC:电学量 |
用万用表直接测量 | DOC-25-00057 | |
| 51 | 直流电阻 | 校准 – 电学量 0 Ω 至 10 Ω · CMC 10 mΩ 10 Ω 至 100 Ω · CMC 29 mΩ 100 Ω 至 1 kΩ · CMC 0,2 Ω 1 kΩ 至 10 kΩ · CMC 2 Ω 10 kΩ 至 100 kΩ · CMC 20 Ω 100 kΩ 至 1 MΩ · CMC 0,2 kΩ 1 MΩ 至 10 MΩ · CMC 8 kΩ 10 MΩ 至 100 MΩ · CMC 0,9 MΩ 被测量领域的CMC:电学量 |
用万用表直接测量 | DOC-25-00057 | |
| 52 | 高频电压,峰峰值 / 峰峰值电压源 | 校准 – 电学量 0,1 MHz 至 100 MHz — 2 mV 至 40 V · CMC 3 % + 0,1 mV 被测量领域的CMC:电学量 |
用带 50 Ω 外部负载的示波器测量 | DOC-25-00057 | |
| 53 | 高频衰减 / 高频衰减器 | 校准 – 电学量 0,25 MHz 至 100 MHz — 0 dB 至 50 dB · CMC 0,17 dB 0,25 MHz 至 100 MHz — 50 dB 至 60 dB · CMC 0,21 dB 0,25 MHz 至 100 MHz — 60 dB 至 70 dB · CMC 0,28 dB 0,25 MHz 至 100 MHz — 70 dB 至 80 dB · CMC 0,37 dB 0,25 MHz 至 100 MHz — 80 dB 至 90 dB · CMC 0,57 dB 被测量领域的CMC:电学量 |
用矢量分析仪测量 | DOC-25-00057 | |
引用标准 (5)
DOC-23-00018
DOC-23-00019
DOC-23-00021
DOC-23-00022
DOC-25-00057