🇨🇿 Wabtec Inspection Technologies Czech s.r.o. EN
Metrologia
Wabtec Inspection Technologies Czech s.r.o. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez ČIA pod numerem 2371 (Praha 6, Czechy). Zakres akredytacji obejmuje 53 pozycje wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan, Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną, Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500, Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Odczyt z wyświetlacza przyrządu, Pomiar oscyloskopem, Bezpośredni pomiar multimetrem.
W skrócie
- Numer akredytacji: ČIA 2371
- Liczba pozycji wzorcowania: 53
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 12
- Zasad wzorcowania: 38
- Miasto: Praha 6, Czechy
- Ważność do: 11-09-2030
- Numer akredytacji
- 2371
- Jednostka akredytująca
- ČIA
- Adres
- Evropská 16/176, Vokovice, 160 00 Praha 6
- Miasto
- Praha 6, Czechy
- Dział
- Laboratorium wzorcujące NDT
- Ważność do
- 11-09-2030
Co wzorcuje to laboratorium (12)
- Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan — 22 pozycje wzorcowania
- Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną — 9 pozycji wzorcowania
- Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 — 5 pozycji wzorcowania
- Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 — 4 pozycje wzorcowania
- Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 — 4 pozycje wzorcowania
- Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną — 3 pozycje wzorcowania
- Grubościomierze Magnamike — 1 pozycja wzorcowania
- Grubościomierze ultradźwiękowe — 1 pozycja wzorcowania
- Napięcie stałe / Źródła napięcia stałego — 1 pozycja wzorcowania
- Napięcie w.cz., wartość międzyszczytowa / Źródła napięcia międzyszczytowego — 1 pozycja wzorcowania
- Rezystancja (prąd stały) — 1 pozycja wzorcowania
- Tłumienie w.cz. / Tłumik w.cz. — 1 pozycja wzorcowania
Zasady wzorcowania (38)
- Odczyt z wyświetlacza przyrządu — 3 pozycje wzorcowania
- Pomiar oscyloskopem — 3 pozycje wzorcowania
- Bezpośredni pomiar multimetrem — 2 pozycje wzorcowania
- Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1) — 2 pozycje wzorcowania
- Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1) — 2 pozycje wzorcowania
- Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1) — 2 pozycje wzorcowania
- Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1) — 2 pozycje wzorcowania
- Pomiar multimetrem — 2 pozycje wzorcowania
- Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1) — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z wartością wzorca długości — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z wzorcowym tłumikiem — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1) — 2 pozycje wzorcowania
- Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1) — 2 pozycje wzorcowania
- Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 18563-1) — 1 pozycja wzorcowania
- Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 22232-1) — 1 pozycja wzorcowania
- i 23 więcej
Informacje o certyfikacie
- Data certyfikatu
- 26.01.2026
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (53)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| Pozycje wzorcowania | |||||
| 1 | Grubościomierze ultradźwiękowe | Wzorcowanie – długość od 0,150 mm do 5,100 mm · CMC 0,005 mm od 5,100 mm do 100,00 mm · CMC 0,01 mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Porównanie z wartością wzorca długości | DOC-23-00018 | |
| 2 | Grubościomierze Magnamike | Wzorcowanie – długość od 0,250 mm do 25,340 mm · CMC 0,005 mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Porównanie z wartością wzorca długości | DOC-23-00018 | |
| 3 | Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Częstotliwość powtarzania — od 3 Hz do 3 kHz · CMC 1 % Napięcie impulsu nadawczego — od 2 V do 500 V · CMC 2 % Wybrzmiewanie impulsu — od 2 V do 500 V · CMC 2 % Czas narastania impulsu — od 2 ns do 1200 ns · CMC 0,8 % Czas trwania impulsu — od 2 ns do 1200 ns · CMC 0,8 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 15317) | DOC-23-00018 | |
| 4 | Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Zakres roboczy prądu — od 0,1 A do 2 A · CMC 1,5 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z zasilacza (ČSN EN 15317) | DOC-23-00018 | |
| 5 | Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność i rozdzielczość — od 0,25 mm do 100 mm · CMC 0,15 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wartością wzorca długości (ČSN EN 15317) | DOC-23-00018 | |
| 6 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Stabilność po nagrzaniu, amplituda sygnału — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,14 % SH Stabilność po nagrzaniu, położenie sygnału — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,12 % SW Niestabilność zobrazowania, amplituda sygnału — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,14 % SH Niestabilność zobrazowania, położenie sygnału — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,12 % SW Stabilność przy wahaniach napięcia, amplituda sygnału — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,14 % SH Stabilność przy wahaniach napięcia, położenie sygnału — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,12 % SW Napięcie impulsu nadawczego — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Wybrzmiewanie impulsu — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Czas narastania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Czas trwania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza — od 0,1 MHz do 26,5 MHz · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 7 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Równoważny poziom szumów na wejściu — od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz · CMC 7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 8 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność wzorcowanego tłumika — od 0 dB do 110 dB · CMC 0,7 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 9 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość pionowa jednostki zobrazującej — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 1 % SH Liniowość podstawy czasu — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,0004 % SW Rozdzielczość czasowa — od 50 ns do 150 ns · CMC 2 ns CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00019 | |
| 10 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Napięcie impulsu nadawczego — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Czas narastania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Czas trwania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 11 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza — od 0,1 MHz do 26,5 MHz · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 12 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Równoważny poziom szumów na wejściu — od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz · CMC 7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 13 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność wzorcowanego tłumika — od 0 dB do 110 dB · CMC 0,7 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcem (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 14 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość pionowa jednostki zobrazującej — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 1 % SH Liniowość podstawy czasu — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,0004 % SW CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00019 | |
| 15 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pobór prądu przyrządu — od 550 mA do 850 mA · CMC 0,006 mA Wyłączenie przyrządu — od 7,0 V do 8,0 V · CMC 0,06 V Prąd ładowania przyrządu — od 1,0 A do 1,7 A · CMC 0,5 mA CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z zasilacza | DOC-23-00021 | |
| 16 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Amplituda sygnału wyjściowego — od 0,4 V do 4,2 V · CMC 0,05 mV Impuls wzbudzający przyrządu — od 8,20 Vp-p do 10,27 Vp-p · CMC 0,06 Vp-p Częstotliwość wyjściowa przyrządu — od 0 Hz do 100 Hz · CMC 0,1 Hz Częstotliwość wyjściowa przyrządu — od 0 MHz do 12 MHz · CMC 12·10⁻⁶ MHz CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar multimetrem | DOC-23-00021 | |
| 17 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Test filtra — od 2 Hz do 8 Hz · CMC 0,057 Hz CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu | DOC-23-00021 | |
| 18 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Częstotliwość wyjściowa skanera, dla 1200 (RPM) — od 0 Hz do 20 Hz · CMC 0,02 Hz Częstotliwość wyjściowa skanera, dla 3000 (RPM) — od 0 Hz do 50 Hz · CMC 0,05 Hz Wyjścia dodatkowe Częstotliwość nr 1 i nr 2 — 5 V · CMC 0,06 V CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem | DOC-23-00021 | |
| 19 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Przewodność przyrządu — od 30 % IACS do 60 % IACS · CMC 0,17 % IACS CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcem | DOC-23-00021 | |
| 20 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Częstotliwość wzbudzenia — od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz · CMC 2 % Zniekształcenia harmoniczne — od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz · CMC 0,3 % Maksymalne napięcie wyjściowe — od 1,8 Vp-p do 2,2 Vp-p · CMC 0,3 % Maksymalne dopuszczalne napięcie wejściowe — od 0,1 Vp-p do 14,4 Vp-p · CMC 0,5 % Charakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału — od 0,1 kHz do 2 kHz · CMC 0,1 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 21 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość fazowa — od 0° do 360° · CMC 0,002° CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 22 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność nastawienia wzmocnienia — od 0 dB do 100 dB · CMC 0,07 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 23 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Maksymalny szum przyrządu — od 1,8 µV do 15,0 µV · CMC 0,5 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 15548-1) | DOC-23-00021 | |
| 24 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Częstotliwość wzbudzenia — od 1 kHz do 500 kHz · CMC 2 % Zniekształcenia harmoniczne — od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz · CMC 0,3 % Maksymalne napięcie wyjściowe generatora TX (MIA, RESONANCE) i generatora HV (MIA) — od 0,9 Vp-p do 140 Vp-p · CMC 0,3 % Liniowość napięcia wejściowego — od 0,01 % do 0,75 % · CMC 0,5 % Charakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału — od 70 Hz do 80 Hz · CMC 0,1 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem | DOC-23-00021 | |
| 25 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość fazowa — od 0° do 360° · CMC 0,002° CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu | DOC-23-00021 | |
| 26 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność nastawienia wzmocnienia — od 0 dB do 100 dB · CMC 0,07 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem | DOC-23-00021 | |
| 27 | Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Maksymalny szum przyrządu — od 1,8 µV do 15 µV · CMC 0,5 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Obliczenie z wartości zmierzonych | DOC-23-00021 | |
| 28 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Stabilność po nagrzaniu (mm), amplituda sygnału — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,14 % SH Stabilność po nagrzaniu (mm), położenie sygnału — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,12 % SW Niestabilność jednostki zobrazującej, amplituda sygnału (mm) — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,14 % SH Niestabilność jednostki zobrazującej, położenie sygnału (mm) — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,12 % SW Stabilność przy zmianach napięcia, amplituda sygnału (mm) — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,14 % SH Stabilność przy zmianach napięcia, położenie sygnału (mm) — od 5 % SW do 100 % SW · CMC 0,12 % SW CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt sygnału z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 29 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Napięcie impulsu nadawczego — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Wybrzmiewanie impulsu — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Czas narastania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Czas trwania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 30 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza — od 0,1 MHz do 26,5 MHz · CMC 2 % Liniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm) — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 1,0 % SH CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 31 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Równoważny poziom szumów na wejściu — od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz · CMC 7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 32 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność wzorcowanego tłumika — od 0 dB do 110 dB · CMC 0,7 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 33 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość podstawy czasu — od 0 µs do 5125 µs · CMC 0,004 µs CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1) | DOC-23-00022 | |
| 34 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Napięcie impulsu nadawczego (PA) — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Czas narastania impulsu (PA) — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Czas trwania impulsu (PA) — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Opóźnienie emisji (PA) — od 0 ns do 5 ns · CMC 0,08 ns Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (PA) — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,23 % SH Napięcie impulsu nadawczego (UT) — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Czas narastania impulsu (UT) — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Czas trwania impulsu (UT) — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (UT) — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,23 % SH Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (ECA) — od 0 V do 1,5 V · CMC 0,01 V Częstotliwość wzbudzenia generatora (ECA) — od 0,1 MHz do 6,1 MHz · CMC 2,0 % Weryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), częstotliwość — od 1 Hz do 20 Hz · CMC 2,0 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem | DOC-23-00022 | |
| 35 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Szerokość pasma (PA) — od 0,2 MHz do 26,5 MHz · CMC 2 % Liniowość zobrazowania (PA) — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,23 % SH Szerokość pasma (UT) — od 0,2 MHz do 26,5 MHz · CMC 2 % Liniowość zobrazowania — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,23 % SH Odchyłka wzmocnienia kanałów — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,2 % SH CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu | DOC-23-00022 | |
| 36 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Opóźnienie liniowości zobrazowania (PA) — od 0,01 µs do 10,01 µs · CMC 0,001 µs Opóźnienie liniowości zobrazowania — od 0,01 µs do 10,01 µs · CMC 0,001 µs Odchyłka położenia kanałów nadawczych — od 0 ns do 5 ns · CMC 0,07 ns CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Symulacja sygnałem elektrycznym | DOC-23-00022 | |
| 37 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Napięcie impulsu nadawczego (UT) — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Czas narastania impulsu (UT) — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Czas trwania impulsu (UT) — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 38 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza — od 0,2 MHz do 26,5 MHz · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 39 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Równoważny poziom szumów na wejściu — od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz · CMC 7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 40 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność wzorcowanego tłumika — od 0 dB do 110 dB · CMC 0,7 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 41 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm) — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 1,0 % SH CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1) | DOC-23-00022 | |
| 42 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Napięcie impulsu nadawczego — od 2 V do 500 V · CMC 3 % Czas narastania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % Czas trwania impulsu — od 2 ns do 1100 ns · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 43 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość opóźnień czasowych — od 0 ns do 100 ns · CMC 0,07 ns Liniowość nadawanych pojedynczych impulsów — od 0 ns do 55 ns · CMC 0,07 ns CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 44 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza — od 0,2 MHz do 29 MHz · CMC 2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 45 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odchyłka wzmocnienia kanałów — od 5 % SH do 100 % SH · CMC 0,2 % SH Liniowość pionowa zobrazowania (mm) — od 5 % SH do 800 % SH · CMC 1 % SH CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 46 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Równoważny poziom szumów na wejściu — od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz · CMC 7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 47 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Dokładność wzorcowanego tłumika — od 0 dB do 110 dB · CMC 0,7 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 18563-1) | DOC-23-00022 | |
| 48 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Liniowość wzmocnienia (ECA) — od 0,1 % do 3,0 % · CMC 0,7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem | DOC-23-00022 | |
| 49 | Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Weryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), napięcie — od 1 V do 10 V · CMC 0,7 % Test ogólny (ECA), napięcie na złączu — od 0 V do 12 V · CMC 0,08 V Test ogólny (ECA), napięcie na złączu BNC — od 0 V do 12 V · CMC 0,08 V CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar multimetrem | DOC-23-00022 | |
| 50 | Napięcie stałe / Źródła napięcia stałego | Wzorcowanie – wielkości elektryczne od 0 mV do 10 mV · CMC 8 µV od 10 mV do 100 mV · CMC 17 µV od 100 mV do 1 V · CMC 88 µV od 1 V do 10 V · CMC 0,8 mV od 10 V do 100 V · CMC 10 mV od 100 do 1000 V · CMC 65 mV CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne |
Bezpośredni pomiar multimetrem | DOC-25-00057 | |
| 51 | Rezystancja (prąd stały) | Wzorcowanie – wielkości elektryczne od 0 Ω do 10 Ω · CMC 10 mΩ od 10 Ω do 100 Ω · CMC 29 mΩ od 100 Ω do 1 kΩ · CMC 0,2 Ω od 1 kΩ do 10 kΩ · CMC 2 Ω od 10 kΩ do 100 kΩ · CMC 20 Ω od 100 kΩ do 1 MΩ · CMC 0,2 kΩ od 1 MΩ do 10 MΩ · CMC 8 kΩ od 10 MΩ do 100 MΩ · CMC 0,9 MΩ CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne |
Bezpośredni pomiar multimetrem | DOC-25-00057 | |
| 52 | Napięcie w.cz., wartość międzyszczytowa / Źródła napięcia międzyszczytowego | Wzorcowanie – wielkości elektryczne 0,1 MHz do 100 MHz — od 2 mV do 40 V · CMC 3 % + 0,1 mV CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne |
Pomiar oscyloskopem z zewnętrznym obciążeniem 50 Ω | DOC-25-00057 | |
| 53 | Tłumienie w.cz. / Tłumik w.cz. | Wzorcowanie – wielkości elektryczne 0,25 MHz do 100 MHz — od 0 dB do 50 dB · CMC 0,17 dB 0,25 MHz do 100 MHz — od 50 dB do 60 dB · CMC 0,21 dB 0,25 MHz do 100 MHz — od 60 dB do 70 dB · CMC 0,28 dB 0,25 MHz do 100 MHz — od 70 dB do 80 dB · CMC 0,37 dB 0,25 MHz do 100 MHz — od 80 dB do 90 dB · CMC 0,57 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne |
Pomiar analizatorem wektorowym | DOC-25-00057 | |
Normy referencyjne (5)
DOC-23-00018
DOC-23-00019
DOC-23-00021
DOC-23-00022
DOC-25-00057