{"lab":{"_id":"6ade8b3dff06824761708126","accr_number":"2371","country":"CZ","accr_body":"ČIA","address":"Evropská 16/176, Vokovice, 160 00 Praha 6","categories":["metrology"],"city":"Praha 6","imported_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","lab_kind":"calibration","location":{"type":"Point","coordinates":[14.3414871,50.0952066]},"map_coord":[50.0952066,14.3414871],"map_geo":"cai-mapa","methods_count":53,"name":"Wabtec Inspection Technologies Czech s.r.o.","parse_status":"parsed","parse_version":5,"pdf_files":[],"scope_summary":"Wzorcowanie w dziedzinach: długość, badania właściwości i wad materiału oraz wielkości elektryczne dla defektoskopów i grubościomierzy Evident/Olympus, w zakresie określonym w załączniku do świadectwa.","search_text":"wabtec inspection technologies czech s.r.o. evropská 16/176, vokovice, 160 00 praha 6 2371","source_page_url":"https://www.cai.cz/?subjekt=2371-wabtec-inspection-technologies-czech-s-r-o","status":"active","updated_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","valid_from":"","valid_until":"11-09-2030","website":"","certificate_date":"26.01.2026","certificate_no":"39/2026","certificate_replaces":"455/2025 z 11.09.2025","en_official":true,"fields_of_testing":[{"codes":"","pl":"Wzorcowanie w dziedzinach: długość, badania właściwości i wad materiału oraz wielkości elektryczne dla defektoskopów i grubościomierzy Evident/Olympus, w zakresie określonym w załączniku do świadectwa.","en":"Calibration in the fields of length, testing of material properties and defects, and electrical quantities for Evident/Olympus flaw detectors and thickness gauges to the extent as specified in the appendix to this Certificate.","zh":"Evident/Olympus 探伤仪和测厚仪的长度、材料性能和缺陷检测以及电学量领域的校准，范围见本证书附件。","cs":"Kalibrace v oborech délka, zkoušení vlastností a vad materiálu a elektrické veličiny pro defektoskopy a tloušťkoměry Evident/Olympus, vymezené přílohou tohoto osvědčení."}],"flexible_scope":false,"flexible_scope_url":null,"has_en":true,"has_zh":true,"lab_division":"Laboratorium wzorcujące NDT","lab_division_cs":"Kalibrační laboratoř NDT","lab_division_en":"NDT Calibration Laboratory","lab_division_zh":"NDT 校准实验室","parse_date":"2026-09-28T12:00:00.000Z","parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3","parsed_at":"2026-09-28T12:00:00.000Z","scope_legend":[{"abbr":"IACS","pl":"znormalizowana stała określająca przewodność elektryczną miękkiej miedzi","en":"International Annealed Copper Standard","zh":"表示软铜电导率的标准化常数（国际退火铜标准）","cs":"standardizovaná konstanta, udávající elektrickou vodivost měkké mědi"},{"abbr":"RPM","pl":"obroty na minutę","en":"Revolutions per minute","zh":"每分钟转数","cs":"otáčky za minutu"},{"abbr":"SH","pl":"wysokość ekranu","en":"Screen Height","zh":"屏幕高度","cs":"výška obrazovky"},{"abbr":"SW","pl":"szerokość ekranu","en":"Screen Width","zh":"屏幕宽度","cs":"šířka obrazovky"}],"scope_notes":[],"source_lang":"cs","source_pdf_sha256":"ac1b0d60ad477b2099a0a21c830c183c1de2d95fd921bfe020f6bf88bd0e76c1","source_pdf_url":"https://www.cai.cz/OA/pdf/39_2026_CS.pdf","source_pdf_url_en":"https://www.cai.cz/OA/pdf/39_2026_EN.pdf"},"methods":[{"_id":"b37b2e9b692a296f1c11d69a","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Grubościomierze ultradźwiękowe","test_object_en":"Ultrasonic thickness gauges","test_object_zh":"超声波测厚仪","test_object_cs":"Ultrazvukové tloušťkoměry","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0,150 mm do 5,100 mm","cmc":"0,005 mm"},{"name":"","range":"od 5,100 mm do 100,00 mm","cmc":"0,01 mm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,150 mm to 5,100 mm","cmc":"0,005 mm"},{"name":"","range":"5,100 mm to 100,00 mm","cmc":"0,01 mm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,150 mm 至 5,100 mm","cmc":"0,005 mm"},{"name":"","range":"5,100 mm 至 100,00 mm","cmc":"0,01 mm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,150 mm až 5,100 mm","cmc":"0,005 mm"},{"name":"","range":"5,100 mm až 100,00 mm","cmc":"0,01 mm"}],"technique":"Porównanie z wartością wzorca długości","technique_en":"Comparison with a length standard value","technique_zh":"与长度标准值比较","technique_cs":"Porovnání s hodnotou etalonu délky","techniques":["Porównanie z wartością wzorca długości"],"techniques_en":["Comparison with a length standard value"],"techniques_zh":["与长度标准值比较"],"techniques_cs":["Porovnání s hodnotou etalonu délky"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nZakres:\nod 0,150 mm do 5,100 mm CMC 0,005 mm\nod 5,100 mm do 100,00 mm CMC 0,01 mm\nPorównanie z wartością wzorca długości","reference":"DOC-23-00018","norm_bases":["DOC-23-00018"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Grubościomierze ultradźwiękowe Wzorcowanie – długość Porównanie z wartością wzorca długości od 0,150 mm do 5,100 mm CMC 0,005 mm od 5,100 mm do 100,00 mm CMC 0,01 mm Ultrazvukové tloušťkoměry Kalibrace – délka Porovnání s hodnotou etalonu délky 0,150 mm až 5,100 mm CMC 0,005 mm 5,100 mm až 100,00 mm CMC 0,01 mm DOC-23-00018 Grubosciomierze ultradzwiekowe Wzorcowanie – dlugosc Porownanie z wartoscia wzorca dlugosci od 0,150 mm do 5,100 mm CMC 0,005 mm od 5,100 mm do 100,00 mm CMC 0,01 mm Ultrazvukove tloustkomery Kalibrace – delka Porovnani s hodnotou etalonu delky 0,150 mm az 5,100 mm CMC 0,005 mm 5,100 mm az 100,00 mm CMC 0,01 mm DOC-23-00018","search_en":"Ultrasonic thickness gauges Calibration – length Comparison with a length standard value 0,150 mm to 5,100 mm CMC 0,005 mm 5,100 mm to 100,00 mm CMC 0,01 mm DOC-23-00018","search_zh":"超声波测厚仪 校准 – 长度 与长度标准值比较 0,150 mm 至 5,100 mm CMC 0,005 mm 5,100 mm 至 100,00 mm CMC 0,01 mm DOC-23-00018","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":0,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"75440f3022d655406395f248","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Grubościomierze Magnamike","test_object_en":"Magnamike thickness gauges","test_object_zh":"Magnamike 测厚仪","test_object_cs":"Tloušťkoměry Magnamike","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0,250 mm do 25,340 mm","cmc":"0,005 mm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0,250 mm to 25,340 mm","cmc":"0,005 mm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0,250 mm 至 25,340 mm","cmc":"0,005 mm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0,250 mm až 25,340 mm","cmc":"0,005 mm"}],"technique":"Porównanie z wartością wzorca długości","technique_en":"Comparison with a length standard value","technique_zh":"与长度标准值比较","technique_cs":"Porovnání s hodnotou etalonu délky","techniques":["Porównanie z wartością wzorca długości"],"techniques_en":["Comparison with a length standard value"],"techniques_zh":["与长度标准值比较"],"techniques_cs":["Porovnání s hodnotou etalonu délky"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0,250 mm do 25,340 mm CMC 0,005 mm\nPorównanie z wartością wzorca długości","reference":"DOC-23-00018","norm_bases":["DOC-23-00018"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Grubościomierze Magnamike Wzorcowanie – długość Porównanie z wartością wzorca długości od 0,250 mm do 25,340 mm CMC 0,005 mm Tloušťkoměry Magnamike Kalibrace – délka Porovnání s hodnotou etalonu délky 0,250 mm až 25,340 mm CMC 0,005 mm DOC-23-00018 Grubosciomierze Magnamike Wzorcowanie – dlugosc Porownanie z wartoscia wzorca dlugosci od 0,250 mm do 25,340 mm CMC 0,005 mm Tloustkomery Magnamike Kalibrace – delka Porovnani s hodnotou etalonu delky 0,250 mm az 25,340 mm CMC 0,005 mm DOC-23-00018","search_en":"Magnamike thickness gauges Calibration – length Comparison with a length standard value 0,250 mm to 25,340 mm CMC 0,005 mm DOC-23-00018","search_zh":"Magnamike 测厚仪 校准 – 长度 与长度标准值比较 0,250 mm 至 25,340 mm CMC 0,005 mm DOC-23-00018","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":1,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"a7a4f9caa22fc55fb8e06aa4","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic thickness gauges by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波测厚仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové tloušťkoměry Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Częstotliwość powtarzania","range":"od 3 Hz do 3 kHz","cmc":"1 %"},{"name":"Napięcie impulsu nadawczego","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"Wybrzmiewanie impulsu","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"Czas narastania impulsu","range":"od 2 ns do 1200 ns","cmc":"0,8 %"},{"name":"Czas trwania impulsu","range":"od 2 ns do 1200 ns","cmc":"0,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"Pulse repetition frequency","range":"3 Hz to 3 kHz","cmc":"1 %"},{"name":"Transmit pulse voltage","range":"2 V to 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse tail","range":"2 V to 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse rise time","range":"2 ns to 1200 ns","cmc":"0,8 %"},{"name":"Pulse duration","range":"2 ns to 1200 ns","cmc":"0,8 %"}],"parameters_zh":[{"name":"脉冲重复频率","range":"3 Hz 至 3 kHz","cmc":"1 %"},{"name":"发射脉冲电压","range":"2 V 至 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲拖尾","range":"2 V 至 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲上升时间","range":"2 ns 至 1200 ns","cmc":"0,8 %"},{"name":"脉冲持续时间","range":"2 ns 至 1200 ns","cmc":"0,8 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Opakovací frekvence","range":"3 Hz až 3 kHz","cmc":"1 %"},{"name":"Napětí vysílacího impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"Dokmit impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"2 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu","range":"2 ns až 1200 ns","cmc":"0,8 %"},{"name":"Doba trvání impulzu","range":"2 ns až 1200 ns","cmc":"0,8 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 15317)","technique_en":"Measurement with an oscilloscope (ČSN EN 15317)","technique_zh":"用示波器测量（ČSN EN 15317）","technique_cs":"Měření osciloskopem (ČSN EN 15317)","techniques":["Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 15317)"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope (ČSN EN 15317)"],"techniques_zh":["用示波器测量（ČSN EN 15317）"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem (ČSN EN 15317)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nCzęstotliwość powtarzania od 3 Hz do 3 kHz CMC 1 %\nNapięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 2 %\nWybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 2 %\nCzas narastania impulsu od 2 ns do 1200 ns CMC 0,8 %\nCzas trwania impulsu od 2 ns do 1200 ns CMC 0,8 %\nPomiar oscyloskopem (ČSN EN 15317)","reference":"DOC-23-00018","norm_bases":["DOC-23-00018"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 15317) Częstotliwość powtarzania od 3 Hz do 3 kHz CMC 1 % Napięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 2 % Wybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 2 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1200 ns CMC 0,8 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1200 ns CMC 0,8 % Ultrazvukové tloušťkoměry Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem (ČSN EN 15317) Opakovací frekvence 3 Hz až 3 kHz CMC 1 % Napětí vysílacího impulzu 2 V až 500 V CMC 2 % Dokmit impulzu 2 V až 500 V CMC 2 % Doba náběhu impulzu 2 ns až 1200 ns CMC 0,8 % Doba trvání impulzu 2 ns až 1200 ns CMC 0,8 % DOC-23-00018 Grubosciomierze ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem (CSN EN 15317) Czestotliwosc powtarzania od 3 Hz do 3 kHz CMC 1 % Napiecie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 2 % Wybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 2 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1200 ns CMC 0,8 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1200 ns CMC 0,8 % Ultrazvukove tloustkomery Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem (CSN EN 15317) Opakovaci frekvence 3 Hz az 3 kHz CMC 1 % Napeti vysilaciho impulzu 2 V az 500 V CMC 2 % Dokmit impulzu 2 V az 500 V CMC 2 % Doba nabehu impulzu 2 ns az 1200 ns CMC 0,8 % Doba trvani impulzu 2 ns az 1200 ns CMC 0,8 % DOC-23-00018","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic thickness gauges by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope (ČSN EN 15317) Pulse repetition frequency 3 Hz to 3 kHz CMC 1 % Transmit pulse voltage 2 V to 500 V CMC 2 % Pulse tail 2 V to 500 V CMC 2 % Pulse rise time 2 ns to 1200 ns CMC 0,8 % Pulse duration 2 ns to 1200 ns CMC 0,8 % DOC-23-00018","search_zh":"Olympus/Evident 超声波测厚仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量（ČSN EN 15317） 脉冲重复频率 3 Hz 至 3 kHz CMC 1 % 发射脉冲电压 2 V 至 500 V CMC 2 % 脉冲拖尾 2 V 至 500 V CMC 2 % 脉冲上升时间 2 ns 至 1200 ns CMC 0,8 % 脉冲持续时间 2 ns 至 1200 ns CMC 0,8 % DOC-23-00018","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":2,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"bead36fc32203d4b54f4380e","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic thickness gauges by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波测厚仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové tloušťkoměry Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Zakres roboczy prądu","range":"od 0,1 A do 2 A","cmc":"1,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"Current operating range","range":"0,1 A to 2 A","cmc":"1,5 %"}],"parameters_zh":[{"name":"电流工作范围","range":"0,1 A 至 2 A","cmc":"1,5 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Pracovní rozsah proudu","range":"0,1 A až 2 A","cmc":"1,5 %"}],"technique":"Odczyt z zasilacza (ČSN EN 15317)","technique_en":"Power supply reading (ČSN EN 15317)","technique_zh":"电源读数（ČSN EN 15317）","technique_cs":"Odečet z napájecího zdroje (ČSN EN 15317)","techniques":["Odczyt z zasilacza (ČSN EN 15317)"],"techniques_en":["Power supply reading (ČSN EN 15317)"],"techniques_zh":["电源读数（ČSN EN 15317）"],"techniques_cs":["Odečet z napájecího zdroje (ČSN EN 15317)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres roboczy prądu od 0,1 A do 2 A CMC 1,5 %\nOdczyt z zasilacza (ČSN EN 15317)","reference":"DOC-23-00018","norm_bases":["DOC-23-00018"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z zasilacza (ČSN EN 15317) Zakres roboczy prądu od 0,1 A do 2 A CMC 1,5 % Ultrazvukové tloušťkoměry Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z napájecího zdroje (ČSN EN 15317) Pracovní rozsah proudu 0,1 A až 2 A CMC 1,5 % DOC-23-00018 Grubosciomierze ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z zasilacza (CSN EN 15317) Zakres roboczy pradu od 0,1 A do 2 A CMC 1,5 % Ultrazvukove tloustkomery Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z napajeciho zdroje (CSN EN 15317) Pracovni rozsah proudu 0,1 A az 2 A CMC 1,5 % DOC-23-00018","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic thickness gauges by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Power supply reading (ČSN EN 15317) Current operating range 0,1 A to 2 A CMC 1,5 % DOC-23-00018","search_zh":"Olympus/Evident 超声波测厚仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 电源读数（ČSN EN 15317） 电流工作范围 0,1 A 至 2 A CMC 1,5 % DOC-23-00018","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":3,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"086cafa6c9b3321d288880f1","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic thickness gauges by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波测厚仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové tloušťkoměry Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność i rozdzielczość","range":"od 0,25 mm do 100 mm","cmc":"0,15 %"}],"parameters_en":[{"name":"Precision and resolution","range":"0,25 mm to 100 mm","cmc":"0,15 %"}],"parameters_zh":[{"name":"精度和分辨率","range":"0,25 mm 至 100 mm","cmc":"0,15 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost a rozlišovací schopnost","range":"0,25 mm až 100 mm","cmc":"0,15 %"}],"technique":"Porównanie z wartością wzorca długości (ČSN EN 15317)","technique_en":"Comparison with a length standard value (ČSN EN 15317)","technique_zh":"与长度标准值比较（ČSN EN 15317）","technique_cs":"Porovnání s hodnotou etalonu délky (ČSN EN 15317)","techniques":["Porównanie z wartością wzorca długości (ČSN EN 15317)"],"techniques_en":["Comparison with a length standard value (ČSN EN 15317)"],"techniques_zh":["与长度标准值比较（ČSN EN 15317）"],"techniques_cs":["Porovnání s hodnotou etalonu délky (ČSN EN 15317)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność i rozdzielczość od 0,25 mm do 100 mm CMC 0,15 %\nPorównanie z wartością wzorca długości (ČSN EN 15317)","reference":"DOC-23-00018","norm_bases":["DOC-23-00018"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Grubościomierze ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wartością wzorca długości (ČSN EN 15317) Dokładność i rozdzielczość od 0,25 mm do 100 mm CMC 0,15 % Ultrazvukové tloušťkoměry Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s hodnotou etalonu délky (ČSN EN 15317) Přesnost a rozlišovací schopnost 0,25 mm až 100 mm CMC 0,15 % DOC-23-00018 Grubosciomierze ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wartoscia wzorca dlugosci (CSN EN 15317) Dokladnosc i rozdzielczosc od 0,25 mm do 100 mm CMC 0,15 % Ultrazvukove tloustkomery Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s hodnotou etalonu delky (CSN EN 15317) Presnost a rozlisovaci schopnost 0,25 mm az 100 mm CMC 0,15 % DOC-23-00018","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic thickness gauges by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a length standard value (ČSN EN 15317) Precision and resolution 0,25 mm to 100 mm CMC 0,15 % DOC-23-00018","search_zh":"Olympus/Evident 超声波测厚仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 与长度标准值比较（ČSN EN 15317） 精度和分辨率 0,25 mm 至 100 mm CMC 0,15 % DOC-23-00018","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":4,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"92f44bcbd6f97cdcbbe25d89","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Stabilność po nagrzaniu, amplituda sygnału","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilność po nagrzaniu, położenie sygnału","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Niestabilność zobrazowania, amplituda sygnału","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Niestabilność zobrazowania, położenie sygnału","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Stabilność przy wahaniach napięcia, amplituda sygnału","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilność przy wahaniach napięcia, położenie sygnału","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Napięcie impulsu nadawczego","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Wybrzmiewanie impulsu","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Czas narastania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Czas trwania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza","range":"od 0,1 MHz do 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Stability after heating, signal amplitude","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stability after heating, signal position","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Display instability, signal amplitude","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Display instability, signal position","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Stability at voltage fluctuation, signal amplitude","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stability at voltage fluctuation, signal position","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Transmit pulse voltage","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse tail","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse rise time","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse duration","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Amplifier frequency response","range":"0,1 MHz to 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"预热后稳定性，信号幅度","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"预热后稳定性，信号位置","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"显示不稳定性，信号幅度","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"显示不稳定性，信号位置","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"电压波动时的稳定性，信号幅度","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"电压波动时的稳定性，信号位置","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"发射脉冲电压","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲拖尾","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲上升时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲持续时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"放大器频率响应","range":"0,1 MHz 至 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Stabilita po zahřátí, amplituda signálu","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilita po zahřátí, poloha signálu","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Nestabilita zobrazení, amplituda signálu","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Nestabilita zobrazení, poloha signálu","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Stabilita při kolísání napětí, amplituda signálu","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilita při kolísání napětí, poloha signálu","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Napětí vysílacího impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Dokmit impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Doba trvání impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Frekvenční odezva zesilovače","range":"0,1 MHz až 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Instrument display reading (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"仪器显示读数（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Instrument display reading (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["仪器显示读数（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nStabilność po nagrzaniu, amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH\nStabilność po nagrzaniu, położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW\nNiestabilność zobrazowania, amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH\nNiestabilność zobrazowania, położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW\nStabilność przy wahaniach napięcia, amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH\nStabilność przy wahaniach napięcia, położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW\nNapięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 %\nWybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 3 %\nCzas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCzas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCharakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 %\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1) Stabilność po nagrzaniu, amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilność po nagrzaniu, położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Niestabilność zobrazowania, amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Niestabilność zobrazowania, położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilność przy wahaniach napięcia, amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilność przy wahaniach napięcia, położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Napięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Wybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1) Stabilita po zahřátí, amplituda signálu 5 % SH až 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita po zahřátí, poloha signálu 5 % SW až 100 % SW CMC 0,12 % SW Nestabilita zobrazení, amplituda signálu 5 % SH až 100 % SH CMC 0,14 % SH Nestabilita zobrazení, poloha signálu 5 % SW až 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilita při kolísání napětí, amplituda signálu 5 % SH až 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita při kolísání napětí, poloha signálu 5 % SW až 100 % SW CMC 0,12 % SW Napětí vysílacího impulzu 2 V až 500 V CMC 3 % Dokmit impulzu 2 V až 500 V CMC 3 % Doba náběhu impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Doba trvání impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Frekvenční odezva zesilovače 0,1 MHz až 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu (CSN EN 12668-1) Stabilnosc po nagrzaniu, amplituda sygnalu od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilnosc po nagrzaniu, polozenie sygnalu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Niestabilnosc zobrazowania, amplituda sygnalu od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Niestabilnosc zobrazowania, polozenie sygnalu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilnosc przy wahaniach napiecia, amplituda sygnalu od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilnosc przy wahaniach napiecia, polozenie sygnalu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Napiecie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Wybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Charakterystyka czestotliwosciowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje (CSN EN 12668-1) Stabilita po zahrati, amplituda signalu 5 % SH az 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita po zahrati, poloha signalu 5 % SW az 100 % SW CMC 0,12 % SW Nestabilita zobrazeni, amplituda signalu 5 % SH az 100 % SH CMC 0,14 % SH Nestabilita zobrazeni, poloha signalu 5 % SW az 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilita pri kolisani napeti, amplituda signalu 5 % SH az 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita pri kolisani napeti, poloha signalu 5 % SW az 100 % SW CMC 0,12 % SW Napeti vysilaciho impulzu 2 V az 500 V CMC 3 % Dokmit impulzu 2 V az 500 V CMC 3 % Doba nabehu impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Doba trvani impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Frekvencni odezva zesilovace 0,1 MHz az 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading (ČSN EN 12668-1) Stability after heating, signal amplitude 5 % SH to 100 % SH CMC 0,14 % SH Stability after heating, signal position 5 % SW to 100 % SW CMC 0,12 % SW Display instability, signal amplitude 5 % SH to 100 % SH CMC 0,14 % SH Display instability, signal position 5 % SW to 100 % SW CMC 0,12 % SW Stability at voltage fluctuation, signal amplitude 5 % SH to 100 % SH CMC 0,14 % SH Stability at voltage fluctuation, signal position 5 % SW to 100 % SW CMC 0,12 % SW Transmit pulse voltage 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse tail 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse rise time 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Pulse duration 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Amplifier frequency response 0,1 MHz to 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数（ČSN EN 12668-1） 预热后稳定性，信号幅度 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,14 % SH 预热后稳定性，信号位置 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,12 % SW 显示不稳定性，信号幅度 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,14 % SH 显示不稳定性，信号位置 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,12 % SW 电压波动时的稳定性，信号幅度 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,14 % SH 电压波动时的稳定性，信号位置 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,12 % SW 发射脉冲电压 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲拖尾 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲上升时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 脉冲持续时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 放大器频率响应 0,1 MHz 至 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":5,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"310b9b077a13c518b7a89c99","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Równoważny poziom szumów na wejściu","range":"od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_en":[{"name":"Equivalent input noise level","range":"1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_zh":[{"name":"等效输入噪声电平","range":"1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu","range":"1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Calculation from measured values (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"由测量值计算（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Calculation from measured values (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["由测量值计算（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nRównoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 %\nObliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1) Równoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN 12668-1) Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu 1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych (CSN EN 12668-1) Rownowazny poziom szumow na wejsciu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot (CSN EN 12668-1) Ekvivalentni uroven sumu na vstupu 1 nV/√Hz az 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values (ČSN EN 12668-1) Equivalent input noise level 1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算（ČSN EN 12668-1） 等效输入噪声电平 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":6,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"2be5ae6213c249d861aa4636","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność wzorcowanego tłumika","range":"od 0 dB do 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_en":[{"name":"Calibrated attenuator accuracy","range":"0 dB to 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"已校衰减器准确度","range":"0 dB 至 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost kalibrovaného atenuátoru","range":"0 dB až 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Comparison with a reference attenuator (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"与标准衰减器比较（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Comparison with a reference attenuator (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["与标准衰减器比较（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB\nPorównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1) Dokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN 12668-1) Přesnost kalibrovaného atenuátoru 0 dB až 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcowym tlumikiem (CSN EN 12668-1) Dokladnosc wzorcowanego tlumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonovym atenuatorem (CSN EN 12668-1) Presnost kalibrovaneho atenuatoru 0 dB az 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference attenuator (ČSN EN 12668-1) Calibrated attenuator accuracy 0 dB to 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准衰减器比较（ČSN EN 12668-1） 已校衰减器准确度 0 dB 至 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":7,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"6b4175b1bd30bc497ab264b8","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość pionowa jednostki zobrazującej","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"Liniowość podstawy czasu","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"},{"name":"Rozdzielczość czasowa","range":"od 50 ns do 150 ns","cmc":"2 ns"}],"parameters_en":[{"name":"Display unit vertical linearity","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"Time base linearity","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"},{"name":"Time resolution","range":"50 ns to 150 ns","cmc":"2 ns"}],"parameters_zh":[{"name":"显示单元垂直线性","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"时基线性","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"},{"name":"时间分辨率","range":"50 ns 至 150 ns","cmc":"2 ns"}],"parameters_cs":[{"name":"Vertikální linearita zobrazovací jednotky","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"Linearita časové základny","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"},{"name":"Časová rozlišovací schopnost","range":"50 ns až 150 ns","cmc":"2 ns"}],"technique":"Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Simulation by el. signal (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"用电信号模拟（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Simulace el. signálem (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Simulation by el. signal (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["用电信号模拟（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Simulace el. signálem (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nLiniowość pionowa jednostki zobrazującej od 5 % SH do 100 % SH CMC 1 % SH\nLiniowość podstawy czasu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,0004 % SW\nRozdzielczość czasowa od 50 ns do 150 ns CMC 2 ns\nSymulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1) Liniowość pionowa jednostki zobrazującej od 5 % SH do 100 % SH CMC 1 % SH Liniowość podstawy czasu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,0004 % SW Rozdzielczość czasowa od 50 ns do 150 ns CMC 2 ns Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Simulace el. signálem (ČSN EN 12668-1) Vertikální linearita zobrazovací jednotky 5 % SH až 100 % SH CMC 1 % SH Linearita časové základny 5 % SW až 100 % SW CMC 0,0004 % SW Časová rozlišovací schopnost 50 ns až 150 ns CMC 2 ns DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Symulacja sygnalem elektrycznym (CSN EN 12668-1) Liniowosc pionowa jednostki zobrazujacej od 5 % SH do 100 % SH CMC 1 % SH Liniowosc podstawy czasu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,0004 % SW Rozdzielczosc czasowa od 50 ns do 150 ns CMC 2 ns Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Simulace el. signalem (CSN EN 12668-1) Vertikalni linearita zobrazovaci jednotky 5 % SH az 100 % SH CMC 1 % SH Linearita casove zakladny 5 % SW az 100 % SW CMC 0,0004 % SW Casova rozlisovaci schopnost 50 ns az 150 ns CMC 2 ns DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Simulation by el. signal (ČSN EN 12668-1) Display unit vertical linearity 5 % SH to 100 % SH CMC 1 % SH Time base linearity 5 % SW to 100 % SW CMC 0,0004 % SW Time resolution 50 ns to 150 ns CMC 2 ns DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 用电信号模拟（ČSN EN 12668-1） 显示单元垂直线性 5 % SH 至 100 % SH CMC 1 % SH 时基线性 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,0004 % SW 时间分辨率 50 ns 至 150 ns CMC 2 ns DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":8,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"e47c74afd64febd7dfa5d3ba","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Napięcie impulsu nadawczego","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Czas narastania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Czas trwania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Transmit pulse voltage","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse rise time","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse duration","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"发射脉冲电压","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲上升时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲持续时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Napětí vysílacího impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Doba trvání impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"用示波器测量（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["用示波器测量（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nNapięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 %\nCzas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCzas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nPomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1) Napięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 22232-1) Napětí vysílacího impulzu 2 V až 500 V CMC 3 % Doba náběhu impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Doba trvání impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem (CSN EN ISO 22232-1) Napiecie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem (CSN EN ISO 22232-1) Napeti vysilaciho impulzu 2 V az 500 V CMC 3 % Doba nabehu impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Doba trvani impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 22232-1) Transmit pulse voltage 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse rise time 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Pulse duration 2 ns to 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量（ČSN EN ISO 22232-1） 发射脉冲电压 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲上升时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 脉冲持续时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":9,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"20e25d3cbfa7094688db9fcb","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza","range":"od 0,1 MHz do 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Amplifier frequency response","range":"0,1 MHz to 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"放大器频率响应","range":"0,1 MHz 至 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Frekvenční odezva zesilovače","range":"0,1 MHz až 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Instrument display reading (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"仪器显示读数（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Instrument display reading (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["仪器显示读数（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nCharakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 %\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1) Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 22232-1) Frekvenční odezva zesilovače 0,1 MHz až 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu (CSN EN ISO 22232-1) Charakterystyka czestotliwosciowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje (CSN EN ISO 22232-1) Frekvencni odezva zesilovace 0,1 MHz az 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading (ČSN EN ISO 22232-1) Amplifier frequency response 0,1 MHz to 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数（ČSN EN ISO 22232-1） 放大器频率响应 0,1 MHz 至 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":10,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"7a3210197e4846914537151a","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Równoważny poziom szumów na wejściu","range":"od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_en":[{"name":"Equivalent input noise level","range":"1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_zh":[{"name":"等效输入噪声电平","range":"1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu","range":"1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Calculation from measured values (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"由测量值计算（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Calculation from measured values (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["由测量值计算（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nRównoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 %\nObliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1) Równoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 22232-1) Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu 1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych (CSN EN ISO 22232-1) Rownowazny poziom szumow na wejsciu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot (CSN EN ISO 22232-1) Ekvivalentni uroven sumu na vstupu 1 nV/√Hz az 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values (ČSN EN ISO 22232-1) Equivalent input noise level 1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算（ČSN EN ISO 22232-1） 等效输入噪声电平 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":11,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"6598cb092365327ed872af82","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność wzorcowanego tłumika","range":"od 0 dB do 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_en":[{"name":"Calibrated attenuator accuracy","range":"0 dB to 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"已校衰减器准确度","range":"0 dB 至 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost kalibrovaného atenuátoru","range":"0 dB až 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcem (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Comparison with a reference standard (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"与标准比较（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Porovnání s etalonem (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Porównanie z wzorcem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Comparison with a reference standard (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["与标准比较（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB\nPorównanie z wzorcem (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcem (ČSN EN ISO 22232-1) Dokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonem (ČSN EN ISO 22232-1) Přesnost kalibrovaného atenuátoru 0 dB až 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcem (CSN EN ISO 22232-1) Dokladnosc wzorcowanego tlumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonem (CSN EN ISO 22232-1) Presnost kalibrovaneho atenuatoru 0 dB az 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference standard (ČSN EN ISO 22232-1) Calibrated attenuator accuracy 0 dB to 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准比较（ČSN EN ISO 22232-1） 已校衰减器准确度 0 dB 至 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":12,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"d7416de103a48553ec1e46be","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną","test_object_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method","test_object_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法）","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość pionowa jednostki zobrazującej","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"Liniowość podstawy czasu","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"}],"parameters_en":[{"name":"Display unit vertical linearity","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"Time base linearity","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"}],"parameters_zh":[{"name":"显示单元垂直线性","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"时基线性","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"}],"parameters_cs":[{"name":"Vertikální linearita zobrazovací jednotky","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"1 % SH"},{"name":"Linearita časové základny","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,0004 % SW"}],"technique":"Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Simulation by el. signal (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"用电信号模拟（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Simulace el. signálem (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Simulation by el. signal (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["用电信号模拟（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Simulace el. signálem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nLiniowość pionowa jednostki zobrazującej od 5 % SH do 100 % SH CMC 1 % SH\nLiniowość podstawy czasu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,0004 % SW\nSymulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00019","norm_bases":["DOC-23-00019"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident metodą automatyczną Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 22232-1) Liniowość pionowa jednostki zobrazującej od 5 % SH do 100 % SH CMC 1 % SH Liniowość podstawy czasu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,0004 % SW Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Simulace el. signálem (ČSN EN ISO 22232-1) Vertikální linearita zobrazovací jednotky 5 % SH až 100 % SH CMC 1 % SH Linearita časové základny 5 % SW až 100 % SW CMC 0,0004 % SW DOC-23-00019 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident metoda automatyczna Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Symulacja sygnalem elektrycznym (CSN EN ISO 22232-1) Liniowosc pionowa jednostki zobrazujacej od 5 % SH do 100 % SH CMC 1 % SH Liniowosc podstawy czasu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,0004 % SW Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident automatickou metodou Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Simulace el. signalem (CSN EN ISO 22232-1) Vertikalni linearita zobrazovaci jednotky 5 % SH az 100 % SH CMC 1 % SH Linearita casove zakladny 5 % SW az 100 % SW CMC 0,0004 % SW DOC-23-00019","search_en":"Olympus/Evident ultrasonic flaw detectors by automatic method Calibration – testing of properties and defects of materials Simulation by el. signal (ČSN EN ISO 22232-1) Display unit vertical linearity 5 % SH to 100 % SH CMC 1 % SH Time base linearity 5 % SW to 100 % SW CMC 0,0004 % SW DOC-23-00019","search_zh":"Olympus/Evident 超声波探伤仪（自动法） 校准 – 材料性能和缺陷检测 用电信号模拟（ČSN EN ISO 22232-1） 显示单元垂直线性 5 % SH 至 100 % SH CMC 1 % SH 时基线性 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,0004 % SW DOC-23-00019","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":13,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"cb600fab5bac67387976e32e","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Pobór prądu przyrządu","range":"od 550 mA do 850 mA","cmc":"0,006 mA"},{"name":"Wyłączenie przyrządu","range":"od 7,0 V do 8,0 V","cmc":"0,06 V"},{"name":"Prąd ładowania przyrządu","range":"od 1,0 A do 1,7 A","cmc":"0,5 mA"}],"parameters_en":[{"name":"Instrument current demand","range":"550 mA to 850 mA","cmc":"0,006 mA"},{"name":"Instrument switching-off","range":"7,0 V to 8,0 V","cmc":"0,06 V"},{"name":"Instrument charging current","range":"1,0 A to 1,7 A","cmc":"0,5 mA"}],"parameters_zh":[{"name":"仪器电流消耗","range":"550 mA 至 850 mA","cmc":"0,006 mA"},{"name":"仪器关机","range":"7,0 V 至 8,0 V","cmc":"0,06 V"},{"name":"仪器充电电流","range":"1,0 A 至 1,7 A","cmc":"0,5 mA"}],"parameters_cs":[{"name":"Odběr proudu přístroje","range":"550 mA až 850 mA","cmc":"0,006 mA"},{"name":"Vypnutí přístroje","range":"7,0 V až 8,0 V","cmc":"0,06 V"},{"name":"Nabíjecí proud přístroje","range":"1,0 A až 1,7 A","cmc":"0,5 mA"}],"technique":"Odczyt z zasilacza","technique_en":"Power supply reading","technique_zh":"电源读数","technique_cs":"Odečet z napájecího zdroje","techniques":["Odczyt z zasilacza"],"techniques_en":["Power supply reading"],"techniques_zh":["电源读数"],"techniques_cs":["Odečet z napájecího zdroje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nPobór prądu przyrządu od 550 mA do 850 mA CMC 0,006 mA\nWyłączenie przyrządu od 7,0 V do 8,0 V CMC 0,06 V\nPrąd ładowania przyrządu od 1,0 A do 1,7 A CMC 0,5 mA\nOdczyt z zasilacza","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z zasilacza Pobór prądu przyrządu od 550 mA do 850 mA CMC 0,006 mA Wyłączenie przyrządu od 7,0 V do 8,0 V CMC 0,06 V Prąd ładowania przyrządu od 1,0 A do 1,7 A CMC 0,5 mA Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z napájecího zdroje Odběr proudu přístroje 550 mA až 850 mA CMC 0,006 mA Vypnutí přístroje 7,0 V až 8,0 V CMC 0,06 V Nabíjecí proud přístroje 1,0 A až 1,7 A CMC 0,5 mA DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z zasilacza Pobor pradu przyrzadu od 550 mA do 850 mA CMC 0,006 mA Wylaczenie przyrzadu od 7,0 V do 8,0 V CMC 0,06 V Prad ladowania przyrzadu od 1,0 A do 1,7 A CMC 0,5 mA Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 500 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z napajeciho zdroje Odber proudu pristroje 550 mA az 850 mA CMC 0,006 mA Vypnuti pristroje 7,0 V az 8,0 V CMC 0,06 V Nabijeci proud pristroje 1,0 A az 1,7 A CMC 0,5 mA DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Power supply reading Instrument current demand 550 mA to 850 mA CMC 0,006 mA Instrument switching-off 7,0 V to 8,0 V CMC 0,06 V Instrument charging current 1,0 A to 1,7 A CMC 0,5 mA DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 电源读数 仪器电流消耗 550 mA 至 850 mA CMC 0,006 mA 仪器关机 7,0 V 至 8,0 V CMC 0,06 V 仪器充电电流 1,0 A 至 1,7 A CMC 0,5 mA DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":14,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"af57dd27868f2d234e82d9f6","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Amplituda sygnału wyjściowego","range":"od 0,4 V do 4,2 V","cmc":"0,05 mV"},{"name":"Impuls wzbudzający przyrządu","range":"od 8,20 Vp-p do 10,27 Vp-p","cmc":"0,06 Vp-p"},{"name":"Częstotliwość wyjściowa przyrządu","range":"od 0 Hz do 100 Hz","cmc":"0,1 Hz"},{"name":"Częstotliwość wyjściowa przyrządu","range":"od 0 MHz do 12 MHz","cmc":"12·10⁻⁶ MHz"}],"parameters_en":[{"name":"Output signal amplitude","range":"0,4 V to 4,2 V","cmc":"0,05 mV"},{"name":"Instrument driving pulse","range":"8,20 Vp-p to 10,27 Vp-p","cmc":"0,06 Vp-p"},{"name":"Instrument output frequency","range":"0 Hz to 100 Hz","cmc":"0,1 Hz"},{"name":"Instrument output frequency","range":"0 MHz to 12 MHz","cmc":"12·10⁻⁶ MHz"}],"parameters_zh":[{"name":"输出信号幅度","range":"0,4 V 至 4,2 V","cmc":"0,05 mV"},{"name":"仪器激励脉冲","range":"8,20 Vp-p 至 10,27 Vp-p","cmc":"0,06 Vp-p"},{"name":"仪器输出频率","range":"0 Hz 至 100 Hz","cmc":"0,1 Hz"},{"name":"仪器输出频率","range":"0 MHz 至 12 MHz","cmc":"12·10⁻⁶ MHz"}],"parameters_cs":[{"name":"Amplituda výstupního signálu","range":"0,4 V až 4,2 V","cmc":"0,05 mV"},{"name":"Budící puls přístroje","range":"8,20 Vp-p až 10,27 Vp-p","cmc":"0,06 Vp-p"},{"name":"Výstupní frekvence přístroje","range":"0 Hz až 100 Hz","cmc":"0,1 Hz"},{"name":"Výstupní frekvence přístroje","range":"0 MHz až 12 MHz","cmc":"12·10⁻⁶ MHz"}],"technique":"Pomiar multimetrem","technique_en":"Measurement by a multimeter","technique_zh":"用万用表测量","technique_cs":"Měření multimetrem","techniques":["Pomiar multimetrem"],"techniques_en":["Measurement by a multimeter"],"techniques_zh":["用万用表测量"],"techniques_cs":["Měření multimetrem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nAmplituda sygnału wyjściowego od 0,4 V do 4,2 V CMC 0,05 mV\nImpuls wzbudzający przyrządu od 8,20 Vp-p do 10,27 Vp-p CMC 0,06 Vp-p\nCzęstotliwość wyjściowa przyrządu od 0 Hz do 100 Hz CMC 0,1 Hz\nCzęstotliwość wyjściowa przyrządu od 0 MHz do 12 MHz CMC 12·10⁻⁶ MHz\nPomiar multimetrem","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar multimetrem Amplituda sygnału wyjściowego od 0,4 V do 4,2 V CMC 0,05 mV Impuls wzbudzający przyrządu od 8,20 Vp-p do 10,27 Vp-p CMC 0,06 Vp-p Częstotliwość wyjściowa przyrządu od 0 Hz do 100 Hz CMC 0,1 Hz Częstotliwość wyjściowa przyrządu od 0 MHz do 12 MHz CMC 12·10⁻⁶ MHz Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření multimetrem Amplituda výstupního signálu 0,4 V až 4,2 V CMC 0,05 mV Budící puls přístroje 8,20 Vp-p až 10,27 Vp-p CMC 0,06 Vp-p Výstupní frekvence přístroje 0 Hz až 100 Hz CMC 0,1 Hz Výstupní frekvence přístroje 0 MHz až 12 MHz CMC 12·10⁻⁶ MHz DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar multimetrem Amplituda sygnalu wyjsciowego od 0,4 V do 4,2 V CMC 0,05 mV Impuls wzbudzajacy przyrzadu od 8,20 Vp-p do 10,27 Vp-p CMC 0,06 Vp-p Czestotliwosc wyjsciowa przyrzadu od 0 Hz do 100 Hz CMC 0,1 Hz Czestotliwosc wyjsciowa przyrzadu od 0 MHz do 12 MHz CMC 12·10⁻⁶ MHz Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 500 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni multimetrem Amplituda vystupniho signalu 0,4 V az 4,2 V CMC 0,05 mV Budici puls pristroje 8,20 Vp-p az 10,27 Vp-p CMC 0,06 Vp-p Vystupni frekvence pristroje 0 Hz az 100 Hz CMC 0,1 Hz Vystupni frekvence pristroje 0 MHz az 12 MHz CMC 12·10⁻⁶ MHz DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement by a multimeter Output signal amplitude 0,4 V to 4,2 V CMC 0,05 mV Instrument driving pulse 8,20 Vp-p to 10,27 Vp-p CMC 0,06 Vp-p Instrument output frequency 0 Hz to 100 Hz CMC 0,1 Hz Instrument output frequency 0 MHz to 12 MHz CMC 12·10⁻⁶ MHz DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用万用表测量 输出信号幅度 0,4 V 至 4,2 V CMC 0,05 mV 仪器激励脉冲 8,20 Vp-p 至 10,27 Vp-p CMC 0,06 Vp-p 仪器输出频率 0 Hz 至 100 Hz CMC 0,1 Hz 仪器输出频率 0 MHz 至 12 MHz CMC 12·10⁻⁶ MHz DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":15,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"81be81898bfa1d5755e4349e","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Test filtra","range":"od 2 Hz do 8 Hz","cmc":"0,057 Hz"}],"parameters_en":[{"name":"Filter test","range":"2 Hz to 8 Hz","cmc":"0,057 Hz"}],"parameters_zh":[{"name":"滤波器测试","range":"2 Hz 至 8 Hz","cmc":"0,057 Hz"}],"parameters_cs":[{"name":"Test filtru","range":"2 Hz až 8 Hz","cmc":"0,057 Hz"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu","technique_en":"Instrument display reading","technique_zh":"仪器显示读数","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu"],"techniques_en":["Instrument display reading"],"techniques_zh":["仪器显示读数"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nTest filtra od 2 Hz do 8 Hz CMC 0,057 Hz\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu Test filtra od 2 Hz do 8 Hz CMC 0,057 Hz Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje Test filtru 2 Hz až 8 Hz CMC 0,057 Hz DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu Test filtra od 2 Hz do 8 Hz CMC 0,057 Hz Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 500 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje Test filtru 2 Hz az 8 Hz CMC 0,057 Hz DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading Filter test 2 Hz to 8 Hz CMC 0,057 Hz DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数 滤波器测试 2 Hz 至 8 Hz CMC 0,057 Hz DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":16,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"a49b36b63fee0cf60353ffd0","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Częstotliwość wyjściowa skanera, dla 1200 (RPM)","range":"od 0 Hz do 20 Hz","cmc":"0,02 Hz"},{"name":"Częstotliwość wyjściowa skanera, dla 3000 (RPM)","range":"od 0 Hz do 50 Hz","cmc":"0,05 Hz"},{"name":"Wyjścia dodatkowe Częstotliwość nr 1 i nr 2","range":"5 V","cmc":"0,06 V"}],"parameters_en":[{"name":"Scanner output frequency, for 1200 RPM","range":"0 Hz to 20 Hz","cmc":"0,02 Hz"},{"name":"Scanner output frequency, for 3000 RPM","range":"0 Hz to 50 Hz","cmc":"0,05 Hz"},{"name":"Additional outputs Frequency No. 1 & No. 2","range":"5 V","cmc":"0,06 V"}],"parameters_zh":[{"name":"扫描器输出频率，1200 RPM 时","range":"0 Hz 至 20 Hz","cmc":"0,02 Hz"},{"name":"扫描器输出频率，3000 RPM 时","range":"0 Hz 至 50 Hz","cmc":"0,05 Hz"},{"name":"附加输出 频率 1 号和 2 号","range":"5 V","cmc":"0,06 V"}],"parameters_cs":[{"name":"Výstupní frekvence scanneru, pro 1200 (RPM)","range":"0 Hz až 20 Hz","cmc":"0,02 Hz"},{"name":"Výstupní frekvence scanneru, pro 3000 (RPM)","range":"0 Hz až 50 Hz","cmc":"0,05 Hz"},{"name":"Přídavné výstupy Frekvence č. 1 & č. 2","range":"5 V","cmc":"0,06 V"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem","technique_en":"Measurement with an oscilloscope","technique_zh":"用示波器测量","technique_cs":"Měření osciloskopem","techniques":["Pomiar oscyloskopem"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope"],"techniques_zh":["用示波器测量"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nCzęstotliwość wyjściowa skanera, dla 1200 (RPM) od 0 Hz do 20 Hz CMC 0,02 Hz\nCzęstotliwość wyjściowa skanera, dla 3000 (RPM) od 0 Hz do 50 Hz CMC 0,05 Hz\nWyjścia dodatkowe Częstotliwość nr 1 i nr 2 5 V CMC 0,06 V\nPomiar oscyloskopem","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem Częstotliwość wyjściowa skanera, dla 1200 (RPM) od 0 Hz do 20 Hz CMC 0,02 Hz Częstotliwość wyjściowa skanera, dla 3000 (RPM) od 0 Hz do 50 Hz CMC 0,05 Hz Wyjścia dodatkowe Częstotliwość nr 1 i nr 2 5 V CMC 0,06 V Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem Výstupní frekvence scanneru, pro 1200 (RPM) 0 Hz až 20 Hz CMC 0,02 Hz Výstupní frekvence scanneru, pro 3000 (RPM) 0 Hz až 50 Hz CMC 0,05 Hz Přídavné výstupy Frekvence č. 1 & č. 2 5 V CMC 0,06 V DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem Czestotliwosc wyjsciowa skanera, dla 1200 (RPM) od 0 Hz do 20 Hz CMC 0,02 Hz Czestotliwosc wyjsciowa skanera, dla 3000 (RPM) od 0 Hz do 50 Hz CMC 0,05 Hz Wyjscia dodatkowe Czestotliwosc nr 1 i nr 2 5 V CMC 0,06 V Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 500 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem Vystupni frekvence scanneru, pro 1200 (RPM) 0 Hz az 20 Hz CMC 0,02 Hz Vystupni frekvence scanneru, pro 3000 (RPM) 0 Hz az 50 Hz CMC 0,05 Hz Pridavne vystupy Frekvence c. 1 & c. 2 5 V CMC 0,06 V DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope Scanner output frequency, for 1200 RPM 0 Hz to 20 Hz CMC 0,02 Hz Scanner output frequency, for 3000 RPM 0 Hz to 50 Hz CMC 0,05 Hz Additional outputs Frequency No. 1 & No. 2 5 V CMC 0,06 V DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量 扫描器输出频率，1200 RPM 时 0 Hz 至 20 Hz CMC 0,02 Hz 扫描器输出频率，3000 RPM 时 0 Hz 至 50 Hz CMC 0,05 Hz 附加输出 频率 1 号和 2 号 5 V CMC 0,06 V DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":17,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"93c443a5c4f1ded6e69330ee","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Przewodność przyrządu","range":"od 30 % IACS do 60 % IACS","cmc":"0,17 % IACS"}],"parameters_en":[{"name":"Instrument conductivity","range":"30 % IACS to 60 % IACS","cmc":"0,17 % IACS"}],"parameters_zh":[{"name":"仪器电导率","range":"30 % IACS 至 60 % IACS","cmc":"0,17 % IACS"}],"parameters_cs":[{"name":"Vodivost přístroje","range":"30 % IACS až 60 % IACS","cmc":"0,17 % IACS"}],"technique":"Porównanie z wzorcem","technique_en":"Comparison with a reference standard","technique_zh":"与标准比较","technique_cs":"Porovnání s etalonem","techniques":["Porównanie z wzorcem"],"techniques_en":["Comparison with a reference standard"],"techniques_zh":["与标准比较"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nPrzewodność przyrządu od 30 % IACS do 60 % IACS CMC 0,17 % IACS\nPorównanie z wzorcem","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcem Przewodność przyrządu od 30 % IACS do 60 % IACS CMC 0,17 % IACS Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 500 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonem Vodivost přístroje 30 % IACS až 60 % IACS CMC 0,17 % IACS DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 500 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcem Przewodnosc przyrzadu od 30 % IACS do 60 % IACS CMC 0,17 % IACS Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 500 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonem Vodivost pristroje 30 % IACS az 60 % IACS CMC 0,17 % IACS DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 500 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference standard Instrument conductivity 30 % IACS to 60 % IACS CMC 0,17 % IACS DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 500 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准比较 仪器电导率 30 % IACS 至 60 % IACS CMC 0,17 % IACS DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":18,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"7d812c2820ca6fb08d4ac235","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"4","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Częstotliwość wzbudzenia","range":"od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Zniekształcenia harmoniczne","range":"od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maksymalne napięcie wyjściowe","range":"od 1,8 Vp-p do 2,2 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maksymalne dopuszczalne napięcie wejściowe","range":"od 0,1 Vp-p do 14,4 Vp-p","cmc":"0,5 %"},{"name":"Charakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału","range":"od 0,1 kHz do 2 kHz","cmc":"0,1 %"}],"parameters_en":[{"name":"Excitation frequency","range":"10·10⁻⁶ MHz to 10 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Harmonic distortion","range":"10·10⁻⁶ MHz to 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maximum output voltage","range":"1,8 Vp-p to 2,2 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maximum permissible input voltage","range":"0,1 Vp-p to 14,4 Vp-p","cmc":"0,5 %"},{"name":"Signal processing frequency response","range":"0,1 kHz to 2 kHz","cmc":"0,1 %"}],"parameters_zh":[{"name":"激励频率","range":"10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"谐波失真","range":"10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"最大输出电压","range":"1,8 Vp-p 至 2,2 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"最大允许输入电压","range":"0,1 Vp-p 至 14,4 Vp-p","cmc":"0,5 %"},{"name":"信号处理频率响应","range":"0,1 kHz 至 2 kHz","cmc":"0,1 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Budící frekvence","range":"10·10⁻⁶ MHz až 10 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Harmonické zkreslení","range":"10·10⁻⁶ MHz až 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maximální výstupní napětí","range":"1,8 Vp-p až 2,2 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maximální dovolené vstupní napětí","range":"0,1 Vp-p až 14,4 Vp-p","cmc":"0,5 %"},{"name":"Frekvenční odezva zpracování signálu","range":"0,1 kHz až 2 kHz","cmc":"0,1 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_en":"Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_zh":"用示波器测量（ČSN EN ISO 15548-1）","technique_cs":"Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 15548-1)","techniques":["Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_zh":["用示波器测量（ČSN EN ISO 15548-1）"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 15548-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nCzęstotliwość wzbudzenia od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 2 %\nZniekształcenia harmoniczne od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 0,3 %\nMaksymalne napięcie wyjściowe od 1,8 Vp-p do 2,2 Vp-p CMC 0,3 %\nMaksymalne dopuszczalne napięcie wejściowe od 0,1 Vp-p do 14,4 Vp-p CMC 0,5 %\nCharakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału od 0,1 kHz do 2 kHz CMC 0,1 %\nPomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 15548-1)","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 15548-1) Częstotliwość wzbudzenia od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 2 % Zniekształcenia harmoniczne od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 0,3 % Maksymalne napięcie wyjściowe od 1,8 Vp-p do 2,2 Vp-p CMC 0,3 % Maksymalne dopuszczalne napięcie wejściowe od 0,1 Vp-p do 14,4 Vp-p CMC 0,5 % Charakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału od 0,1 kHz do 2 kHz CMC 0,1 % Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 15548-1) Budící frekvence 10·10⁻⁶ MHz až 10 MHz CMC 2 % Harmonické zkreslení 10·10⁻⁶ MHz až 10 MHz CMC 0,3 % Maximální výstupní napětí 1,8 Vp-p až 2,2 Vp-p CMC 0,3 % Maximální dovolené vstupní napětí 0,1 Vp-p až 14,4 Vp-p CMC 0,5 % Frekvenční odezva zpracování signálu 0,1 kHz až 2 kHz CMC 0,1 % DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem (CSN EN ISO 15548-1) Czestotliwosc wzbudzenia od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 2 % Znieksztalcenia harmoniczne od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 0,3 % Maksymalne napiecie wyjsciowe od 1,8 Vp-p do 2,2 Vp-p CMC 0,3 % Maksymalne dopuszczalne napiecie wejsciowe od 0,1 Vp-p do 14,4 Vp-p CMC 0,5 % Charakterystyka czestotliwosciowa przetwarzania sygnalu od 0,1 kHz do 2 kHz CMC 0,1 % Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem (CSN EN ISO 15548-1) Budici frekvence 10·10⁻⁶ MHz az 10 MHz CMC 2 % Harmonicke zkresleni 10·10⁻⁶ MHz az 10 MHz CMC 0,3 % Maximalni vystupni napeti 1,8 Vp-p az 2,2 Vp-p CMC 0,3 % Maximalni dovolene vstupni napeti 0,1 Vp-p az 14,4 Vp-p CMC 0,5 % Frekvencni odezva zpracovani signalu 0,1 kHz az 2 kHz CMC 0,1 % DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 15548-1) Excitation frequency 10·10⁻⁶ MHz to 10 MHz CMC 2 % Harmonic distortion 10·10⁻⁶ MHz to 10 MHz CMC 0,3 % Maximum output voltage 1,8 Vp-p to 2,2 Vp-p CMC 0,3 % Maximum permissible input voltage 0,1 Vp-p to 14,4 Vp-p CMC 0,5 % Signal processing frequency response 0,1 kHz to 2 kHz CMC 0,1 % DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量（ČSN EN ISO 15548-1） 激励频率 10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz CMC 2 % 谐波失真 10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz CMC 0,3 % 最大输出电压 1,8 Vp-p 至 2,2 Vp-p CMC 0,3 % 最大允许输入电压 0,1 Vp-p 至 14,4 Vp-p CMC 0,5 % 信号处理频率响应 0,1 kHz 至 2 kHz CMC 0,1 % DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":19,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"e6dafd9880217822e408c8b0","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"4","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość fazowa","range":"od 0° do 360°","cmc":"0,002°"}],"parameters_en":[{"name":"Phase linearity","range":"0° to 360°","cmc":"0,002°"}],"parameters_zh":[{"name":"相位线性","range":"0° 至 360°","cmc":"0,002°"}],"parameters_cs":[{"name":"Fázová linearita","range":"0° až 360°","cmc":"0,002°"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_en":"Instrument display reading (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_zh":"仪器显示读数（ČSN EN ISO 15548-1）","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 15548-1)","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_en":["Instrument display reading (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_zh":["仪器显示读数（ČSN EN ISO 15548-1）"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 15548-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nLiniowość fazowa od 0° do 360° CMC 0,002°\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 15548-1)","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 15548-1) Liniowość fazowa od 0° do 360° CMC 0,002° Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 15548-1) Fázová linearita 0° až 360° CMC 0,002° DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu (CSN EN ISO 15548-1) Liniowosc fazowa od 0° do 360° CMC 0,002° Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje (CSN EN ISO 15548-1) Fazova linearita 0° az 360° CMC 0,002° DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading (ČSN EN ISO 15548-1) Phase linearity 0° to 360° CMC 0,002° DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数（ČSN EN ISO 15548-1） 相位线性 0° 至 360° CMC 0,002° DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":20,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"9759fe6bf1edbaf366d42125","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"4","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność nastawienia wzmocnienia","range":"od 0 dB do 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"parameters_en":[{"name":"Gain setting accuracy","range":"0 dB to 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"增益设置准确度","range":"0 dB 至 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost nastavení zesílení","range":"0 dB až 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_en":"Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_zh":"与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 15548-1）","technique_cs":"Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 15548-1)","techniques":["Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_en":["Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_zh":["与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 15548-1）"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 15548-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność nastawienia wzmocnienia od 0 dB do 100 dB CMC 0,07 dB\nPorównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 15548-1)","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 15548-1) Dokładność nastawienia wzmocnienia od 0 dB do 100 dB CMC 0,07 dB Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 15548-1) Přesnost nastavení zesílení 0 dB až 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcowym tlumikiem (CSN EN ISO 15548-1) Dokladnosc nastawienia wzmocnienia od 0 dB do 100 dB CMC 0,07 dB Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonovym atenuatorem (CSN EN ISO 15548-1) Presnost nastaveni zesileni 0 dB az 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 15548-1) Gain setting accuracy 0 dB to 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 15548-1） 增益设置准确度 0 dB 至 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":21,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"2caa558c54fd95b8376c2bd5","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"4","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600","test_object_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Maksymalny szum przyrządu","range":"od 1,8 µV do 15,0 µV","cmc":"0,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"Instrument maximum noise","range":"1,8 µV to 15,0 µV","cmc":"0,5 %"}],"parameters_zh":[{"name":"仪器最大噪声","range":"1,8 µV 至 15,0 µV","cmc":"0,5 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Maximální šum přístroje","range":"1,8 µV až 15,0 µV","cmc":"0,5 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_en":"Calculation from measured values (ČSN EN ISO 15548-1)","technique_zh":"由测量值计算（ČSN EN ISO 15548-1）","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 15548-1)","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_en":["Calculation from measured values (ČSN EN ISO 15548-1)"],"techniques_zh":["由测量值计算（ČSN EN ISO 15548-1）"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 15548-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nMaksymalny szum przyrządu od 1,8 µV do 15,0 µV CMC 0,5 %\nObliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 15548-1)","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 15548-1) Maksymalny szum przyrządu od 1,8 µV do 15,0 µV CMC 0,5 % Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady Nortec 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 15548-1) Maximální šum přístroje 1,8 µV až 15,0 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii Nortec 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych (CSN EN ISO 15548-1) Maksymalny szum przyrzadu od 1,8 µV do 15,0 µV CMC 0,5 % Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady Nortec 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot (CSN EN ISO 15548-1) Maximalni sum pristroje 1,8 µV az 15,0 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident Nortec 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values (ČSN EN ISO 15548-1) Instrument maximum noise 1,8 µV to 15,0 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident Nortec 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算（ČSN EN ISO 15548-1） 仪器最大噪声 1,8 µV 至 15,0 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":22,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"c7478712951f7ca01a4ce883","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"5","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600","test_object_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Częstotliwość wzbudzenia","range":"od 1 kHz do 500 kHz","cmc":"2 %"},{"name":"Zniekształcenia harmoniczne","range":"od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maksymalne napięcie wyjściowe generatora TX (MIA, RESONANCE) i generatora HV (MIA)","range":"od 0,9 Vp-p do 140 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"Liniowość napięcia wejściowego","range":"od 0,01 % do 0,75 %","cmc":"0,5 %"},{"name":"Charakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału","range":"od 70 Hz do 80 Hz","cmc":"0,1 %"}],"parameters_en":[{"name":"Excitation frequency","range":"1 kHz to 500 kHz","cmc":"2 %"},{"name":"Harmonic distortion","range":"10·10⁻⁶ MHz to 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maximum output voltage of TX generator (MIA, RESONANCE) and HV generator (MIA)","range":"0,9 Vp-p to 140 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"Input voltage linearity","range":"0,01 % to 0,75 %","cmc":"0,5 %"},{"name":"Signal processing frequency response","range":"70 Hz to 80 Hz","cmc":"0,1 %"}],"parameters_zh":[{"name":"激励频率","range":"1 kHz 至 500 kHz","cmc":"2 %"},{"name":"谐波失真","range":"10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"TX 发生器（MIA、RESONANCE）和 HV 发生器（MIA）的最大输出电压","range":"0,9 Vp-p 至 140 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"输入电压线性","range":"0,01 % 至 0,75 %","cmc":"0,5 %"},{"name":"信号处理频率响应","range":"70 Hz 至 80 Hz","cmc":"0,1 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Budící frekvence","range":"1 kHz až 500 kHz","cmc":"2 %"},{"name":"Harmonické zkreslení","range":"10·10⁻⁶ MHz až 10 MHz","cmc":"0,3 %"},{"name":"Maximální výstupní napětí TX generátoru (MIA, RESONANCE) a HV generátoru (MIA)","range":"0,9 Vp-p až 140 Vp-p","cmc":"0,3 %"},{"name":"Linearita vstupního napětí","range":"0,01 % až 0,75 %","cmc":"0,5 %"},{"name":"Frekvenční odezva zpracování signálu","range":"70 Hz až 80 Hz","cmc":"0,1 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem","technique_en":"Measurement with an oscilloscope","technique_zh":"用示波器测量","technique_cs":"Měření osciloskopem","techniques":["Pomiar oscyloskopem"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope"],"techniques_zh":["用示波器测量"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nCzęstotliwość wzbudzenia od 1 kHz do 500 kHz CMC 2 %\nZniekształcenia harmoniczne od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 0,3 %\nMaksymalne napięcie wyjściowe generatora TX (MIA, RESONANCE) i generatora HV (MIA) od 0,9 Vp-p do 140 Vp-p CMC 0,3 %\nLiniowość napięcia wejściowego od 0,01 % do 0,75 % CMC 0,5 %\nCharakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału od 70 Hz do 80 Hz CMC 0,1 %\nPomiar oscyloskopem","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem Częstotliwość wzbudzenia od 1 kHz do 500 kHz CMC 2 % Zniekształcenia harmoniczne od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 0,3 % Maksymalne napięcie wyjściowe generatora TX (MIA, RESONANCE) i generatora HV (MIA) od 0,9 Vp-p do 140 Vp-p CMC 0,3 % Liniowość napięcia wejściowego od 0,01 % do 0,75 % CMC 0,5 % Charakterystyka częstotliwościowa przetwarzania sygnału od 70 Hz do 80 Hz CMC 0,1 % Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem Budící frekvence 1 kHz až 500 kHz CMC 2 % Harmonické zkreslení 10·10⁻⁶ MHz až 10 MHz CMC 0,3 % Maximální výstupní napětí TX generátoru (MIA, RESONANCE) a HV generátoru (MIA) 0,9 Vp-p až 140 Vp-p CMC 0,3 % Linearita vstupního napětí 0,01 % až 0,75 % CMC 0,5 % Frekvenční odezva zpracování signálu 70 Hz až 80 Hz CMC 0,1 % DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem Czestotliwosc wzbudzenia od 1 kHz do 500 kHz CMC 2 % Znieksztalcenia harmoniczne od 10·10⁻⁶ MHz do 10 MHz CMC 0,3 % Maksymalne napiecie wyjsciowe generatora TX (MIA, RESONANCE) i generatora HV (MIA) od 0,9 Vp-p do 140 Vp-p CMC 0,3 % Liniowosc napiecia wejsciowego od 0,01 % do 0,75 % CMC 0,5 % Charakterystyka czestotliwosciowa przetwarzania sygnalu od 70 Hz do 80 Hz CMC 0,1 % Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady BondMaster 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem Budici frekvence 1 kHz az 500 kHz CMC 2 % Harmonicke zkresleni 10·10⁻⁶ MHz az 10 MHz CMC 0,3 % Maximalni vystupni napeti TX generatoru (MIA, RESONANCE) a HV generatoru (MIA) 0,9 Vp-p az 140 Vp-p CMC 0,3 % Linearita vstupniho napeti 0,01 % az 0,75 % CMC 0,5 % Frekvencni odezva zpracovani signalu 70 Hz az 80 Hz CMC 0,1 % DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope Excitation frequency 1 kHz to 500 kHz CMC 2 % Harmonic distortion 10·10⁻⁶ MHz to 10 MHz CMC 0,3 % Maximum output voltage of TX generator (MIA, RESONANCE) and HV generator (MIA) 0,9 Vp-p to 140 Vp-p CMC 0,3 % Input voltage linearity 0,01 % to 0,75 % CMC 0,5 % Signal processing frequency response 70 Hz to 80 Hz CMC 0,1 % DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量 激励频率 1 kHz 至 500 kHz CMC 2 % 谐波失真 10·10⁻⁶ MHz 至 10 MHz CMC 0,3 % TX 发生器（MIA、RESONANCE）和 HV 发生器（MIA）的最大输出电压 0,9 Vp-p 至 140 Vp-p CMC 0,3 % 输入电压线性 0,01 % 至 0,75 % CMC 0,5 % 信号处理频率响应 70 Hz 至 80 Hz CMC 0,1 % DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":23,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"cb1e005833d8077409783e05","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"5","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600","test_object_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość fazowa","range":"od 0° do 360°","cmc":"0,002°"}],"parameters_en":[{"name":"Phase linearity","range":"0° to 360°","cmc":"0,002°"}],"parameters_zh":[{"name":"相位线性","range":"0° 至 360°","cmc":"0,002°"}],"parameters_cs":[{"name":"Fázová linearita","range":"0° až 360°","cmc":"0,002°"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu","technique_en":"Instrument display reading","technique_zh":"仪器显示读数","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu"],"techniques_en":["Instrument display reading"],"techniques_zh":["仪器显示读数"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nLiniowość fazowa od 0° do 360° CMC 0,002°\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu Liniowość fazowa od 0° do 360° CMC 0,002° Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje Fázová linearita 0° až 360° CMC 0,002° DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu Liniowosc fazowa od 0° do 360° CMC 0,002° Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady BondMaster 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje Fazova linearita 0° az 360° CMC 0,002° DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading Phase linearity 0° to 360° CMC 0,002° DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数 相位线性 0° 至 360° CMC 0,002° DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":24,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"ba435afd60f1cb188d838f2d","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"5","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600","test_object_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność nastawienia wzmocnienia","range":"od 0 dB do 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"parameters_en":[{"name":"Gain setting accuracy","range":"0 dB to 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"增益设置准确度","range":"0 dB 至 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost nastavení zesílení","range":"0 dB až 100 dB","cmc":"0,07 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcowym tłumikiem","technique_en":"Comparison with a reference attenuator","technique_zh":"与标准衰减器比较","technique_cs":"Porovnání s etalonovým atenuátorem","techniques":["Porównanie z wzorcowym tłumikiem"],"techniques_en":["Comparison with a reference attenuator"],"techniques_zh":["与标准衰减器比较"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonovým atenuátorem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność nastawienia wzmocnienia od 0 dB do 100 dB CMC 0,07 dB\nPorównanie z wzorcowym tłumikiem","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcowym tłumikiem Dokładność nastawienia wzmocnienia od 0 dB do 100 dB CMC 0,07 dB Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonovým atenuátorem Přesnost nastavení zesílení 0 dB až 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcowym tlumikiem Dokladnosc nastawienia wzmocnienia od 0 dB do 100 dB CMC 0,07 dB Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady BondMaster 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonovym atenuatorem Presnost nastaveni zesileni 0 dB az 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference attenuator Gain setting accuracy 0 dB to 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准衰减器比较 增益设置准确度 0 dB 至 100 dB CMC 0,07 dB DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":25,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"8b163ed41a86f5504458dccd","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"5","test_object":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600","test_object_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪","test_object_cs":"Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Maksymalny szum przyrządu","range":"od 1,8 µV do 15 µV","cmc":"0,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"Instrument maximum noise","range":"1,8 µV to 15 µV","cmc":"0,5 %"}],"parameters_zh":[{"name":"仪器最大噪声","range":"1,8 µV 至 15 µV","cmc":"0,5 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Maximální šum přístroje","range":"1,8 µV až 15 µV","cmc":"0,5 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych","technique_en":"Calculation from measured values","technique_zh":"由测量值计算","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych"],"techniques_en":["Calculation from measured values"],"techniques_zh":["由测量值计算"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nMaksymalny szum przyrządu od 1,8 µV do 15 µV CMC 0,5 %\nObliczenie z wartości zmierzonych","reference":"DOC-23-00021","norm_bases":["DOC-23-00021"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy wiroprądowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych Maksymalny szum przyrządu od 1,8 µV do 15 µV CMC 0,5 % Vířivoproudé defektoskopy Olympus/Evident řady BondMaster 600 Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot Maximální šum přístroje 1,8 µV až 15 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021 Defektoskopy wiropradowe Olympus/Evident serii BondMaster 600 Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych Maksymalny szum przyrzadu od 1,8 µV do 15 µV CMC 0,5 % Virivoproude defektoskopy Olympus/Evident rady BondMaster 600 Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot Maximalni sum pristroje 1,8 µV az 15 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021","search_en":"Olympus/Evident BondMaster 600 series eddy current flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values Instrument maximum noise 1,8 µV to 15 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021","search_zh":"Olympus/Evident BondMaster 600 系列涡流探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算 仪器最大噪声 1,8 µV 至 15 µV CMC 0,5 % DOC-23-00021","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":26,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"fe673df41b0e79bcf38c54e2","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Stabilność po nagrzaniu (mm), amplituda sygnału","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilność po nagrzaniu (mm), położenie sygnału","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Niestabilność jednostki zobrazującej, amplituda sygnału (mm)","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Niestabilność jednostki zobrazującej, położenie sygnału (mm)","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Stabilność przy zmianach napięcia, amplituda sygnału (mm)","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilność przy zmianach napięcia, położenie sygnału (mm)","range":"od 5 % SW do 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"}],"parameters_en":[{"name":"Stability after heating (mm), signal amplitude","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stability after heating (mm), signal position","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Display unit instability, signal amplitude (mm)","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Display unit instability, signal position (mm)","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Stability at voltage variations, signal amplitude (mm)","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stability at voltage variations, signal position (mm)","range":"5 % SW to 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"}],"parameters_zh":[{"name":"预热后稳定性 (mm)，信号幅度","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"预热后稳定性 (mm)，信号位置","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"显示单元不稳定性，信号幅度 (mm)","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"显示单元不稳定性，信号位置 (mm)","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"电压变化时的稳定性，信号幅度 (mm)","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"电压变化时的稳定性，信号位置 (mm)","range":"5 % SW 至 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"}],"parameters_cs":[{"name":"Stabilita po zahřátí (mm), amplituda signálu","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilita po zahřátí (mm), poloha signálu","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Nestabilita zobrazovací jednotky, amplituda signálu (mm)","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Nestabilita zobrazovací jednotky, poloha signálu (mm)","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"},{"name":"Stabilita při změnách napětí, amplituda signálu (mm)","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,14 % SH"},{"name":"Stabilita při změnách napětí, poloha signálu (mm)","range":"5 % SW až 100 % SW","cmc":"0,12 % SW"}],"technique":"Odczyt sygnału z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Instrument display signal reading (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"仪器显示信号读数（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Odečet signálu z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Odczyt sygnału z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Instrument display signal reading (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["仪器显示信号读数（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Odečet signálu z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nStabilność po nagrzaniu (mm), amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH\nStabilność po nagrzaniu (mm), położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW\nNiestabilność jednostki zobrazującej, amplituda sygnału (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH\nNiestabilność jednostki zobrazującej, położenie sygnału (mm) od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW\nStabilność przy zmianach napięcia, amplituda sygnału (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH\nStabilność przy zmianach napięcia, położenie sygnału (mm) od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW\nOdczyt sygnału z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt sygnału z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1) Stabilność po nagrzaniu (mm), amplituda sygnału od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilność po nagrzaniu (mm), położenie sygnału od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Niestabilność jednostki zobrazującej, amplituda sygnału (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Niestabilność jednostki zobrazującej, położenie sygnału (mm) od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilność przy zmianach napięcia, amplituda sygnału (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilność przy zmianach napięcia, położenie sygnału (mm) od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet signálu z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1) Stabilita po zahřátí (mm), amplituda signálu 5 % SH až 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita po zahřátí (mm), poloha signálu 5 % SW až 100 % SW CMC 0,12 % SW Nestabilita zobrazovací jednotky, amplituda signálu (mm) 5 % SH až 100 % SH CMC 0,14 % SH Nestabilita zobrazovací jednotky, poloha signálu (mm) 5 % SW až 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilita při změnách napětí, amplituda signálu (mm) 5 % SH až 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita při změnách napětí, poloha signálu (mm) 5 % SW až 100 % SW CMC 0,12 % SW DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt sygnalu z wyswietlacza przyrzadu (CSN EN 12668-1) Stabilnosc po nagrzaniu (mm), amplituda sygnalu od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilnosc po nagrzaniu (mm), polozenie sygnalu od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Niestabilnosc jednostki zobrazujacej, amplituda sygnalu (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Niestabilnosc jednostki zobrazujacej, polozenie sygnalu (mm) od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilnosc przy zmianach napiecia, amplituda sygnalu (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilnosc przy zmianach napiecia, polozenie sygnalu (mm) od 5 % SW do 100 % SW CMC 0,12 % SW Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet signalu z displeje pristroje (CSN EN 12668-1) Stabilita po zahrati (mm), amplituda signalu 5 % SH az 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita po zahrati (mm), poloha signalu 5 % SW az 100 % SW CMC 0,12 % SW Nestabilita zobrazovaci jednotky, amplituda signalu (mm) 5 % SH az 100 % SH CMC 0,14 % SH Nestabilita zobrazovaci jednotky, poloha signalu (mm) 5 % SW az 100 % SW CMC 0,12 % SW Stabilita pri zmenach napeti, amplituda signalu (mm) 5 % SH az 100 % SH CMC 0,14 % SH Stabilita pri zmenach napeti, poloha signalu (mm) 5 % SW az 100 % SW CMC 0,12 % SW DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display signal reading (ČSN EN 12668-1) Stability after heating (mm), signal amplitude 5 % SH to 100 % SH CMC 0,14 % SH Stability after heating (mm), signal position 5 % SW to 100 % SW CMC 0,12 % SW Display unit instability, signal amplitude (mm) 5 % SH to 100 % SH CMC 0,14 % SH Display unit instability, signal position (mm) 5 % SW to 100 % SW CMC 0,12 % SW Stability at voltage variations, signal amplitude (mm) 5 % SH to 100 % SH CMC 0,14 % SH Stability at voltage variations, signal position (mm) 5 % SW to 100 % SW CMC 0,12 % SW DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示信号读数（ČSN EN 12668-1） 预热后稳定性 (mm)，信号幅度 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,14 % SH 预热后稳定性 (mm)，信号位置 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,12 % SW 显示单元不稳定性，信号幅度 (mm) 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,14 % SH 显示单元不稳定性，信号位置 (mm) 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,12 % SW 电压变化时的稳定性，信号幅度 (mm) 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,14 % SH 电压变化时的稳定性，信号位置 (mm) 5 % SW 至 100 % SW CMC 0,12 % SW DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":27,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"627b349dac456c5e47d75374","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Napięcie impulsu nadawczego","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Wybrzmiewanie impulsu","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Czas narastania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Czas trwania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Transmit pulse voltage","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse tail","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse rise time","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse duration","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"发射脉冲电压","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲拖尾","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲上升时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲持续时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Napětí vysílacího impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Dokmit impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Doba trvání impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Measurement with an oscilloscope (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"用示波器测量（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Měření osciloskopem (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["用示波器测量（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nNapięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 %\nWybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 3 %\nCzas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCzas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nPomiar oscyloskopem (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem (ČSN EN 12668-1) Napięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Wybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem (ČSN EN 12668-1) Napětí vysílacího impulzu 2 V až 500 V CMC 3 % Dokmit impulzu 2 V až 500 V CMC 3 % Doba náběhu impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Doba trvání impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem (CSN EN 12668-1) Napiecie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Wybrzmiewanie impulsu od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem (CSN EN 12668-1) Napeti vysilaciho impulzu 2 V az 500 V CMC 3 % Dokmit impulzu 2 V az 500 V CMC 3 % Doba nabehu impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Doba trvani impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope (ČSN EN 12668-1) Transmit pulse voltage 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse tail 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse rise time 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Pulse duration 2 ns to 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量（ČSN EN 12668-1） 发射脉冲电压 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲拖尾 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲上升时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 脉冲持续时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":28,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"19fbc74df671fd868f7ea46e","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza","range":"od 0,1 MHz do 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Liniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm)","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"parameters_en":[{"name":"Amplifier frequency response","range":"0,1 MHz to 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Display unit vertical linearity (mm)","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"parameters_zh":[{"name":"放大器频率响应","range":"0,1 MHz 至 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"显示单元垂直线性 (mm)","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"parameters_cs":[{"name":"Frekvenční odezva zesilovače","range":"0,1 MHz až 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Vertikální linearita zobrazovací jednotky (mm)","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Instrument display reading (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"仪器显示读数（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Instrument display reading (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["仪器显示读数（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nCharakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 %\nLiniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 1,0 % SH\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN 12668-1) Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Liniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 1,0 % SH Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje (ČSN EN 12668-1) Frekvenční odezva zesilovače 0,1 MHz až 26,5 MHz CMC 2 % Vertikální linearita zobrazovací jednotky (mm) 5 % SH až 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu (CSN EN 12668-1) Charakterystyka czestotliwosciowa wzmacniacza od 0,1 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Liniowosc pionowa jednostki zobrazujacej (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 1,0 % SH Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje (CSN EN 12668-1) Frekvencni odezva zesilovace 0,1 MHz az 26,5 MHz CMC 2 % Vertikalni linearita zobrazovaci jednotky (mm) 5 % SH az 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading (ČSN EN 12668-1) Amplifier frequency response 0,1 MHz to 26,5 MHz CMC 2 % Display unit vertical linearity (mm) 5 % SH to 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数（ČSN EN 12668-1） 放大器频率响应 0,1 MHz 至 26,5 MHz CMC 2 % 显示单元垂直线性 (mm) 5 % SH 至 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":29,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"99e2eebe347eb2a16c14b270","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Równoważny poziom szumów na wejściu","range":"od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_en":[{"name":"Equivalent input noise level","range":"1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_zh":[{"name":"等效输入噪声电平","range":"1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu","range":"1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Calculation from measured values (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"由测量值计算（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Calculation from measured values (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["由测量值计算（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nRównoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 %\nObliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN 12668-1) Równoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN 12668-1) Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu 1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych (CSN EN 12668-1) Rownowazny poziom szumow na wejsciu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot (CSN EN 12668-1) Ekvivalentni uroven sumu na vstupu 1 nV/√Hz az 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values (ČSN EN 12668-1) Equivalent input noise level 1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算（ČSN EN 12668-1） 等效输入噪声电平 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":30,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"60caa67a8d3bcf414dd7cd9b","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność wzorcowanego tłumika","range":"od 0 dB do 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_en":[{"name":"Calibrated attenuator accuracy","range":"0 dB to 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"已校衰减器准确度","range":"0 dB 至 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost kalibrovaného atenuátoru","range":"0 dB až 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Comparison with a reference attenuator (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"与标准衰减器比较（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Comparison with a reference attenuator (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["与标准衰减器比较（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB\nPorównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN 12668-1) Dokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN 12668-1) Přesnost kalibrovaného atenuátoru 0 dB až 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcowym tlumikiem (CSN EN 12668-1) Dokladnosc wzorcowanego tlumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonovym atenuatorem (CSN EN 12668-1) Presnost kalibrovaneho atenuatoru 0 dB az 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference attenuator (ČSN EN 12668-1) Calibrated attenuator accuracy 0 dB to 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准衰减器比较（ČSN EN 12668-1） 已校衰减器准确度 0 dB 至 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":31,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"1478a38fc5a09a8d8b9eec93","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość podstawy czasu","range":"od 0 µs do 5125 µs","cmc":"0,004 µs"}],"parameters_en":[{"name":"Time base linearity","range":"0 µs to 5125 µs","cmc":"0,004 µs"}],"parameters_zh":[{"name":"时基线性","range":"0 µs 至 5125 µs","cmc":"0,004 µs"}],"parameters_cs":[{"name":"Linearita časové základny","range":"0 µs až 5125 µs","cmc":"0,004 µs"}],"technique":"Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1)","technique_en":"Simulation by el. signal (ČSN EN 12668-1)","technique_zh":"用电信号模拟（ČSN EN 12668-1）","technique_cs":"Simulace el. signálem (ČSN EN 12668-1)","techniques":["Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_en":["Simulation by el. signal (ČSN EN 12668-1)"],"techniques_zh":["用电信号模拟（ČSN EN 12668-1）"],"techniques_cs":["Simulace el. signálem (ČSN EN 12668-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nLiniowość podstawy czasu od 0 µs do 5125 µs CMC 0,004 µs\nSymulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN 12668-1) Liniowość podstawy czasu od 0 µs do 5125 µs CMC 0,004 µs Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Simulace el. signálem (ČSN EN 12668-1) Linearita časové základny 0 µs až 5125 µs CMC 0,004 µs DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Symulacja sygnalem elektrycznym (CSN EN 12668-1) Liniowosc podstawy czasu od 0 µs do 5125 µs CMC 0,004 µs Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Simulace el. signalem (CSN EN 12668-1) Linearita casove zakladny 0 µs az 5125 µs CMC 0,004 µs DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Simulation by el. signal (ČSN EN 12668-1) Time base linearity 0 µs to 5125 µs CMC 0,004 µs DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用电信号模拟（ČSN EN 12668-1） 时基线性 0 µs 至 5125 µs CMC 0,004 µs DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":32,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"0f9e61b6c77b6e622f3f1f69","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Napięcie impulsu nadawczego (PA)","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Czas narastania impulsu (PA)","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Czas trwania impulsu (PA)","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Opóźnienie emisji (PA)","range":"od 0 ns do 5 ns","cmc":"0,08 ns"},{"name":"Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (PA)","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Napięcie impulsu nadawczego (UT)","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Czas narastania impulsu (UT)","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Czas trwania impulsu (UT)","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (UT)","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (ECA)","range":"od 0 V do 1,5 V","cmc":"0,01 V"},{"name":"Częstotliwość wzbudzenia generatora (ECA)","range":"od 0,1 MHz do 6,1 MHz","cmc":"2,0 %"},{"name":"Weryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), częstotliwość","range":"od 1 Hz do 20 Hz","cmc":"2,0 %"}],"parameters_en":[{"name":"Transmit pulse voltage (PA)","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse rise time (PA)","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse duration (PA)","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Emission delay (PA)","range":"0 ns to 5 ns","cmc":"0,08 ns"},{"name":"Instrument absolute gain (PA)","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Transmit pulse voltage (UT)","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse rise time (UT)","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse duration (UT)","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Instrument absolute gain (UT)","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Instrument absolute gain (ECA)","range":"0 V to 1,5 V","cmc":"0,01 V"},{"name":"Generator excitation frequency (ECA)","range":"0,1 MHz to 6,1 MHz","cmc":"2,0 %"},{"name":"Output voltage verification (ECA), frequency","range":"1 Hz to 20 Hz","cmc":"2,0 %"}],"parameters_zh":[{"name":"发射脉冲电压 (PA)","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲上升时间 (PA)","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲持续时间 (PA)","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"发射延迟 (PA)","range":"0 ns 至 5 ns","cmc":"0,08 ns"},{"name":"仪器绝对增益 (PA)","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"发射脉冲电压 (UT)","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲上升时间 (UT)","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲持续时间 (UT)","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"仪器绝对增益 (UT)","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"仪器绝对增益 (ECA)","range":"0 V 至 1,5 V","cmc":"0,01 V"},{"name":"发生器激励频率 (ECA)","range":"0,1 MHz 至 6,1 MHz","cmc":"2,0 %"},{"name":"输出电压验证 (ECA)，频率","range":"1 Hz 至 20 Hz","cmc":"2,0 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Napětí vysílacího impulzu (PA)","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu (PA)","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Doba trvání impulzu (PA)","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Emisní zpoždění (PA)","range":"0 ns až 5 ns","cmc":"0,08 ns"},{"name":"Absolutní zesílení přístroje (PA)","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Napětí vysílacího impulzu (UT)","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu (UT)","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Doba trvání impulzu (UT)","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Absolutní zesílení přístroje (UT)","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Absolutní zesílení přístroje (ECA)","range":"0 V až 1,5 V","cmc":"0,01 V"},{"name":"Budící frekvence generátoru (ECA)","range":"0,1 MHz až 6,1 MHz","cmc":"2,0 %"},{"name":"Ověření napětí na výstupu (ECA), frekvence","range":"1 Hz až 20 Hz","cmc":"2,0 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem","technique_en":"Measurement with an oscilloscope","technique_zh":"用示波器测量","technique_cs":"Měření osciloskopem","techniques":["Pomiar oscyloskopem"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope"],"techniques_zh":["用示波器测量"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nNapięcie impulsu nadawczego (PA) od 2 V do 500 V CMC 3 %\nCzas narastania impulsu (PA) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCzas trwania impulsu (PA) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nOpóźnienie emisji (PA) od 0 ns do 5 ns CMC 0,08 ns\nWzmocnienie bezwzględne przyrządu (PA) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH\nNapięcie impulsu nadawczego (UT) od 2 V do 500 V CMC 3 %\nCzas narastania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCzas trwania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nWzmocnienie bezwzględne przyrządu (UT) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH\nWzmocnienie bezwzględne przyrządu (ECA) od 0 V do 1,5 V CMC 0,01 V\nCzęstotliwość wzbudzenia generatora (ECA) od 0,1 MHz do 6,1 MHz CMC 2,0 %\nWeryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), częstotliwość od 1 Hz do 20 Hz CMC 2,0 %\nPomiar oscyloskopem","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem Napięcie impulsu nadawczego (PA) od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu (PA) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu (PA) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Opóźnienie emisji (PA) od 0 ns do 5 ns CMC 0,08 ns Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (PA) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Napięcie impulsu nadawczego (UT) od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (UT) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Wzmocnienie bezwzględne przyrządu (ECA) od 0 V do 1,5 V CMC 0,01 V Częstotliwość wzbudzenia generatora (ECA) od 0,1 MHz do 6,1 MHz CMC 2,0 % Weryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), częstotliwość od 1 Hz do 20 Hz CMC 2,0 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem Napětí vysílacího impulzu (PA) 2 V až 500 V CMC 3 % Doba náběhu impulzu (PA) 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Doba trvání impulzu (PA) 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Emisní zpoždění (PA) 0 ns až 5 ns CMC 0,08 ns Absolutní zesílení přístroje (PA) 5 % SH až 100 % SH CMC 0,23 % SH Napětí vysílacího impulzu (UT) 2 V až 500 V CMC 3 % Doba náběhu impulzu (UT) 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Doba trvání impulzu (UT) 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Absolutní zesílení přístroje (UT) 5 % SH až 100 % SH CMC 0,23 % SH Absolutní zesílení přístroje (ECA) 0 V až 1,5 V CMC 0,01 V Budící frekvence generátoru (ECA) 0,1 MHz až 6,1 MHz CMC 2,0 % Ověření napětí na výstupu (ECA), frekvence 1 Hz až 20 Hz CMC 2,0 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem Napiecie impulsu nadawczego (PA) od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu (PA) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu (PA) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Opoznienie emisji (PA) od 0 ns do 5 ns CMC 0,08 ns Wzmocnienie bezwzgledne przyrzadu (PA) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Napiecie impulsu nadawczego (UT) od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Wzmocnienie bezwzgledne przyrzadu (UT) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Wzmocnienie bezwzgledne przyrzadu (ECA) od 0 V do 1,5 V CMC 0,01 V Czestotliwosc wzbudzenia generatora (ECA) od 0,1 MHz do 6,1 MHz CMC 2,0 % Weryfikacja napiecia na wyjsciu (ECA), czestotliwosc od 1 Hz do 20 Hz CMC 2,0 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem Napeti vysilaciho impulzu (PA) 2 V az 500 V CMC 3 % Doba nabehu impulzu (PA) 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Doba trvani impulzu (PA) 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Emisni zpozdeni (PA) 0 ns az 5 ns CMC 0,08 ns Absolutni zesileni pristroje (PA) 5 % SH az 100 % SH CMC 0,23 % SH Napeti vysilaciho impulzu (UT) 2 V az 500 V CMC 3 % Doba nabehu impulzu (UT) 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Doba trvani impulzu (UT) 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Absolutni zesileni pristroje (UT) 5 % SH az 100 % SH CMC 0,23 % SH Absolutni zesileni pristroje (ECA) 0 V az 1,5 V CMC 0,01 V Budici frekvence generatoru (ECA) 0,1 MHz az 6,1 MHz CMC 2,0 % Overeni napeti na vystupu (ECA), frekvence 1 Hz az 20 Hz CMC 2,0 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope Transmit pulse voltage (PA) 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse rise time (PA) 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Pulse duration (PA) 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Emission delay (PA) 0 ns to 5 ns CMC 0,08 ns Instrument absolute gain (PA) 5 % SH to 100 % SH CMC 0,23 % SH Transmit pulse voltage (UT) 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse rise time (UT) 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Pulse duration (UT) 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Instrument absolute gain (UT) 5 % SH to 100 % SH CMC 0,23 % SH Instrument absolute gain (ECA) 0 V to 1,5 V CMC 0,01 V Generator excitation frequency (ECA) 0,1 MHz to 6,1 MHz CMC 2,0 % Output voltage verification (ECA), frequency 1 Hz to 20 Hz CMC 2,0 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量 发射脉冲电压 (PA) 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲上升时间 (PA) 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 脉冲持续时间 (PA) 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 发射延迟 (PA) 0 ns 至 5 ns CMC 0,08 ns 仪器绝对增益 (PA) 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,23 % SH 发射脉冲电压 (UT) 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲上升时间 (UT) 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 脉冲持续时间 (UT) 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 仪器绝对增益 (UT) 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,23 % SH 仪器绝对增益 (ECA) 0 V 至 1,5 V CMC 0,01 V 发生器激励频率 (ECA) 0,1 MHz 至 6,1 MHz CMC 2,0 % 输出电压验证 (ECA)，频率 1 Hz 至 20 Hz CMC 2,0 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":33,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"da24d157808b9f1db5446bc1","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Szerokość pasma (PA)","range":"od 0,2 MHz do 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Liniowość zobrazowania (PA)","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Szerokość pasma (UT)","range":"od 0,2 MHz do 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Liniowość zobrazowania","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Odchyłka wzmocnienia kanałów","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"}],"parameters_en":[{"name":"Bandwidth (PA)","range":"0,2 MHz to 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Display linearity (PA)","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Bandwidth (UT)","range":"0,2 MHz to 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Display linearity","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Channel gain deviation","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"}],"parameters_zh":[{"name":"带宽 (PA)","range":"0,2 MHz 至 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"显示线性 (PA)","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"带宽 (UT)","range":"0,2 MHz 至 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"显示线性","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"通道增益偏差","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"}],"parameters_cs":[{"name":"Šířka pásma (PA)","range":"0,2 MHz až 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Linearita zobrazení (PA)","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Šířka pásma (UT)","range":"0,2 MHz až 26,5 MHz","cmc":"2 %"},{"name":"Linearita zobrazení","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,23 % SH"},{"name":"Odchylka zesílení kanálů","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu","technique_en":"Instrument display reading","technique_zh":"仪器显示读数","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu"],"techniques_en":["Instrument display reading"],"techniques_zh":["仪器显示读数"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nSzerokość pasma (PA) od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 %\nLiniowość zobrazowania (PA) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH\nSzerokość pasma (UT) od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 %\nLiniowość zobrazowania od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH\nOdchyłka wzmocnienia kanałów od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,2 % SH\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu Szerokość pasma (PA) od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Liniowość zobrazowania (PA) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Szerokość pasma (UT) od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Liniowość zobrazowania od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Odchyłka wzmocnienia kanałów od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,2 % SH Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje Šířka pásma (PA) 0,2 MHz až 26,5 MHz CMC 2 % Linearita zobrazení (PA) 5 % SH až 100 % SH CMC 0,23 % SH Šířka pásma (UT) 0,2 MHz až 26,5 MHz CMC 2 % Linearita zobrazení 5 % SH až 100 % SH CMC 0,23 % SH Odchylka zesílení kanálů 5 % SH až 100 % SH CMC 0,2 % SH DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu Szerokosc pasma (PA) od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Liniowosc zobrazowania (PA) od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Szerokosc pasma (UT) od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Liniowosc zobrazowania od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,23 % SH Odchylka wzmocnienia kanalow od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,2 % SH Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje Sirka pasma (PA) 0,2 MHz az 26,5 MHz CMC 2 % Linearita zobrazeni (PA) 5 % SH az 100 % SH CMC 0,23 % SH Sirka pasma (UT) 0,2 MHz az 26,5 MHz CMC 2 % Linearita zobrazeni 5 % SH az 100 % SH CMC 0,23 % SH Odchylka zesileni kanalu 5 % SH az 100 % SH CMC 0,2 % SH DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading Bandwidth (PA) 0,2 MHz to 26,5 MHz CMC 2 % Display linearity (PA) 5 % SH to 100 % SH CMC 0,23 % SH Bandwidth (UT) 0,2 MHz to 26,5 MHz CMC 2 % Display linearity 5 % SH to 100 % SH CMC 0,23 % SH Channel gain deviation 5 % SH to 100 % SH CMC 0,2 % SH DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数 带宽 (PA) 0,2 MHz 至 26,5 MHz CMC 2 % 显示线性 (PA) 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,23 % SH 带宽 (UT) 0,2 MHz 至 26,5 MHz CMC 2 % 显示线性 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,23 % SH 通道增益偏差 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,2 % SH DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":34,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"2ae648c5ee0d404549ca11f3","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Opóźnienie liniowości zobrazowania (PA)","range":"od 0,01 µs do 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"Opóźnienie liniowości zobrazowania","range":"od 0,01 µs do 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"Odchyłka położenia kanałów nadawczych","range":"od 0 ns do 5 ns","cmc":"0,07 ns"}],"parameters_en":[{"name":"Display linearity delay (PA)","range":"0,01 µs to 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"Display linearity delay","range":"0,01 µs to 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"Transmit channel position deviation","range":"0 ns to 5 ns","cmc":"0,07 ns"}],"parameters_zh":[{"name":"显示线性延迟 (PA)","range":"0,01 µs 至 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"显示线性延迟","range":"0,01 µs 至 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"发射通道位置偏差","range":"0 ns 至 5 ns","cmc":"0,07 ns"}],"parameters_cs":[{"name":"Zpoždění linearity zobrazení (PA)","range":"0,01 µs až 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"Zpoždění linearity zobrazení","range":"0,01 µs až 10,01 µs","cmc":"0,001 µs"},{"name":"Odchylka pozice vysílacích kanálů","range":"0 ns až 5 ns","cmc":"0,07 ns"}],"technique":"Symulacja sygnałem elektrycznym","technique_en":"Simulation by el. signal","technique_zh":"用电信号模拟","technique_cs":"Simulace el. signálem","techniques":["Symulacja sygnałem elektrycznym"],"techniques_en":["Simulation by el. signal"],"techniques_zh":["用电信号模拟"],"techniques_cs":["Simulace el. signálem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nOpóźnienie liniowości zobrazowania (PA) od 0,01 µs do 10,01 µs CMC 0,001 µs\nOpóźnienie liniowości zobrazowania od 0,01 µs do 10,01 µs CMC 0,001 µs\nOdchyłka położenia kanałów nadawczych od 0 ns do 5 ns CMC 0,07 ns\nSymulacja sygnałem elektrycznym","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Symulacja sygnałem elektrycznym Opóźnienie liniowości zobrazowania (PA) od 0,01 µs do 10,01 µs CMC 0,001 µs Opóźnienie liniowości zobrazowania od 0,01 µs do 10,01 µs CMC 0,001 µs Odchyłka położenia kanałów nadawczych od 0 ns do 5 ns CMC 0,07 ns Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Simulace el. signálem Zpoždění linearity zobrazení (PA) 0,01 µs až 10,01 µs CMC 0,001 µs Zpoždění linearity zobrazení 0,01 µs až 10,01 µs CMC 0,001 µs Odchylka pozice vysílacích kanálů 0 ns až 5 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Symulacja sygnalem elektrycznym Opoznienie liniowosci zobrazowania (PA) od 0,01 µs do 10,01 µs CMC 0,001 µs Opoznienie liniowosci zobrazowania od 0,01 µs do 10,01 µs CMC 0,001 µs Odchylka polozenia kanalow nadawczych od 0 ns do 5 ns CMC 0,07 ns Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Simulace el. signalem Zpozdeni linearity zobrazeni (PA) 0,01 µs az 10,01 µs CMC 0,001 µs Zpozdeni linearity zobrazeni 0,01 µs az 10,01 µs CMC 0,001 µs Odchylka pozice vysilacich kanalu 0 ns az 5 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Simulation by el. signal Display linearity delay (PA) 0,01 µs to 10,01 µs CMC 0,001 µs Display linearity delay 0,01 µs to 10,01 µs CMC 0,001 µs Transmit channel position deviation 0 ns to 5 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用电信号模拟 显示线性延迟 (PA) 0,01 µs 至 10,01 µs CMC 0,001 µs 显示线性延迟 0,01 µs 至 10,01 µs CMC 0,001 µs 发射通道位置偏差 0 ns 至 5 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":35,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"ccff7ef46b78f1f750c98251","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Napięcie impulsu nadawczego (UT)","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Czas narastania impulsu (UT)","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Czas trwania impulsu (UT)","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Transmit pulse voltage (UT)","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse rise time (UT)","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse duration (UT)","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"发射脉冲电压 (UT)","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲上升时间 (UT)","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲持续时间 (UT)","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Napětí vysílacího impulzu (UT)","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu (UT)","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Doba trvání impulzu (UT)","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"用示波器测量（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["用示波器测量（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nNapięcie impulsu nadawczego (UT) od 2 V do 500 V CMC 3 %\nCzas narastania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCzas trwania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nPomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 22232-1) Napięcie impulsu nadawczego (UT) od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 22232-1) Napětí vysílacího impulzu (UT) 2 V až 500 V CMC 3 % Doba náběhu impulzu (UT) 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Doba trvání impulzu (UT) 2 ns až 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem (CSN EN ISO 22232-1) Napiecie impulsu nadawczego (UT) od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu (UT) od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem (CSN EN ISO 22232-1) Napeti vysilaciho impulzu (UT) 2 V az 500 V CMC 3 % Doba nabehu impulzu (UT) 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Doba trvani impulzu (UT) 2 ns az 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 22232-1) Transmit pulse voltage (UT) 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse rise time (UT) 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Pulse duration (UT) 2 ns to 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量（ČSN EN ISO 22232-1） 发射脉冲电压 (UT) 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲上升时间 (UT) 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 脉冲持续时间 (UT) 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":36,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"fe6ebda2eb70209445c09714","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza","range":"od 0,2 MHz do 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Amplifier frequency response","range":"0,2 MHz to 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"放大器频率响应","range":"0,2 MHz 至 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Frekvenční odezva zesilovače","range":"0,2 MHz až 26,5 MHz","cmc":"2 %"}],"technique":"Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Signal generation (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"信号产生（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Generování signálu (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Signal generation (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["信号产生（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Generování signálu (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nCharakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 %\nGenerowanie sygnału (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 22232-1) Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Generování signálu (ČSN EN ISO 22232-1) Frekvenční odezva zesilovače 0,2 MHz až 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Generowanie sygnalu (CSN EN ISO 22232-1) Charakterystyka czestotliwosciowa wzmacniacza od 0,2 MHz do 26,5 MHz CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Generovani signalu (CSN EN ISO 22232-1) Frekvencni odezva zesilovace 0,2 MHz az 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Signal generation (ČSN EN ISO 22232-1) Amplifier frequency response 0,2 MHz to 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 信号产生（ČSN EN ISO 22232-1） 放大器频率响应 0,2 MHz 至 26,5 MHz CMC 2 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":37,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"8171aef729d70d71df401fe4","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Równoważny poziom szumów na wejściu","range":"od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_en":[{"name":"Equivalent input noise level","range":"1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_zh":[{"name":"等效输入噪声电平","range":"1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Ekvivaletní úroveň šumu na vstupu","range":"1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Calculation from measured values (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"由测量值计算（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Calculation from measured values (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["由测量值计算（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nRównoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 %\nObliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 22232-1) Równoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 22232-1) Ekvivaletní úroveň šumu na vstupu 1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych (CSN EN ISO 22232-1) Rownowazny poziom szumow na wejsciu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot (CSN EN ISO 22232-1) Ekvivaletni uroven sumu na vstupu 1 nV/√Hz az 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values (ČSN EN ISO 22232-1) Equivalent input noise level 1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算（ČSN EN ISO 22232-1） 等效输入噪声电平 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":38,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"588cb0404dd54fbc1e0cfae7","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność wzorcowanego tłumika","range":"od 0 dB do 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_en":[{"name":"Calibrated attenuator accuracy","range":"0 dB to 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"已校衰减器准确度","range":"0 dB 至 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost kalibrovaného atenuátoru","range":"0 dB až 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB\nPorównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 22232-1) Dokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 22232-1) Přesnost kalibrovaného atenuátoru 0 dB až 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcowym tlumikiem (CSN EN ISO 22232-1) Dokladnosc wzorcowanego tlumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonovym atenuatorem (CSN EN ISO 22232-1) Presnost kalibrovaneho atenuatoru 0 dB az 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 22232-1) Calibrated attenuator accuracy 0 dB to 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 22232-1） 已校衰减器准确度 0 dB 至 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":39,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"6653ab96843eee40b7602746","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm)","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"parameters_en":[{"name":"Display unit vertical linearity (mm)","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"parameters_zh":[{"name":"显示单元垂直线性 (mm)","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"parameters_cs":[{"name":"Vertikální linearita zobrazovací jednotky (mm)","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"1,0 % SH"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_en":"Instrument display reading (ČSN EN ISO 22232-1)","technique_zh":"仪器显示读数（ČSN EN ISO 22232-1）","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 22232-1)","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_en":["Instrument display reading (ČSN EN ISO 22232-1)"],"techniques_zh":["仪器显示读数（ČSN EN ISO 22232-1）"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 22232-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nLiniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 1,0 % SH\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 22232-1) Liniowość pionowa jednostki zobrazującej (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 1,0 % SH Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 22232-1) Vertikální linearita zobrazovací jednotky (mm) 5 % SH až 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu (CSN EN ISO 22232-1) Liniowosc pionowa jednostki zobrazujacej (mm) od 5 % SH do 100 % SH CMC 1,0 % SH Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje (CSN EN ISO 22232-1) Vertikalni linearita zobrazovaci jednotky (mm) 5 % SH az 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading (ČSN EN ISO 22232-1) Display unit vertical linearity (mm) 5 % SH to 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数（ČSN EN ISO 22232-1） 显示单元垂直线性 (mm) 5 % SH 至 100 % SH CMC 1,0 % SH DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":40,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"5da5ce20c5e800e825472a5e","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Napięcie impulsu nadawczego","range":"od 2 V do 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Czas narastania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Czas trwania impulsu","range":"od 2 ns do 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Transmit pulse voltage","range":"2 V to 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Pulse rise time","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Pulse duration","range":"2 ns to 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"发射脉冲电压","range":"2 V 至 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"脉冲上升时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"脉冲持续时间","range":"2 ns 至 1100 ns","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Napětí vysílacího impulzu","range":"2 V až 500 V","cmc":"3 %"},{"name":"Doba náběhu impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"},{"name":"Doba trvání impulzu","range":"2 ns až 1100 ns","cmc":"2 %"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_en":"Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_zh":"用示波器测量（ČSN EN ISO 18563-1）","technique_cs":"Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 18563-1)","techniques":["Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_zh":["用示波器测量（ČSN EN ISO 18563-1）"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 18563-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nNapięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 %\nCzas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nCzas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 %\nPomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 18563-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar oscyloskopem (ČSN EN ISO 18563-1) Napięcie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření osciloskopem (ČSN EN ISO 18563-1) Napětí vysílacího impulzu 2 V až 500 V CMC 3 % Doba náběhu impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % Doba trvání impulzu 2 ns až 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar oscyloskopem (CSN EN ISO 18563-1) Napiecie impulsu nadawczego od 2 V do 500 V CMC 3 % Czas narastania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Czas trwania impulsu od 2 ns do 1100 ns CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni osciloskopem (CSN EN ISO 18563-1) Napeti vysilaciho impulzu 2 V az 500 V CMC 3 % Doba nabehu impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % Doba trvani impulzu 2 ns az 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement with an oscilloscope (ČSN EN ISO 18563-1) Transmit pulse voltage 2 V to 500 V CMC 3 % Pulse rise time 2 ns to 1100 ns CMC 2 % Pulse duration 2 ns to 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用示波器测量（ČSN EN ISO 18563-1） 发射脉冲电压 2 V 至 500 V CMC 3 % 脉冲上升时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % 脉冲持续时间 2 ns 至 1100 ns CMC 2 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":41,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"91b1fe05fe092be470015048","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość opóźnień czasowych","range":"od 0 ns do 100 ns","cmc":"0,07 ns"},{"name":"Liniowość nadawanych pojedynczych impulsów","range":"od 0 ns do 55 ns","cmc":"0,07 ns"}],"parameters_en":[{"name":"Delay linearity","range":"0 ns to 100 ns","cmc":"0,07 ns"},{"name":"Linearity of individual transmit pulses","range":"0 ns to 55 ns","cmc":"0,07 ns"}],"parameters_zh":[{"name":"时间延迟线性","range":"0 ns 至 100 ns","cmc":"0,07 ns"},{"name":"单个发射脉冲的线性","range":"0 ns 至 55 ns","cmc":"0,07 ns"}],"parameters_cs":[{"name":"Linearita časových zpoždění","range":"0 ns až 100 ns","cmc":"0,07 ns"},{"name":"Linearita vysílaných jednotlivých impulzů","range":"0 ns až 55 ns","cmc":"0,07 ns"}],"technique":"Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_en":"Simulation by el. signal (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_zh":"用电信号模拟（ČSN EN ISO 18563-1）","technique_cs":"Simulace el. signálem (ČSN EN ISO 18563-1)","techniques":["Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_en":["Simulation by el. signal (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_zh":["用电信号模拟（ČSN EN ISO 18563-1）"],"techniques_cs":["Simulace el. signálem (ČSN EN ISO 18563-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nLiniowość opóźnień czasowych od 0 ns do 100 ns CMC 0,07 ns\nLiniowość nadawanych pojedynczych impulsów od 0 ns do 55 ns CMC 0,07 ns\nSymulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 18563-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Symulacja sygnałem elektrycznym (ČSN EN ISO 18563-1) Liniowość opóźnień czasowych od 0 ns do 100 ns CMC 0,07 ns Liniowość nadawanych pojedynczych impulsów od 0 ns do 55 ns CMC 0,07 ns Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Simulace el. signálem (ČSN EN ISO 18563-1) Linearita časových zpoždění 0 ns až 100 ns CMC 0,07 ns Linearita vysílaných jednotlivých impulzů 0 ns až 55 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Symulacja sygnalem elektrycznym (CSN EN ISO 18563-1) Liniowosc opoznien czasowych od 0 ns do 100 ns CMC 0,07 ns Liniowosc nadawanych pojedynczych impulsow od 0 ns do 55 ns CMC 0,07 ns Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Simulace el. signalem (CSN EN ISO 18563-1) Linearita casovych zpozdeni 0 ns az 100 ns CMC 0,07 ns Linearita vysilanych jednotlivych impulzu 0 ns az 55 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Simulation by el. signal (ČSN EN ISO 18563-1) Delay linearity 0 ns to 100 ns CMC 0,07 ns Linearity of individual transmit pulses 0 ns to 55 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用电信号模拟（ČSN EN ISO 18563-1） 时间延迟线性 0 ns 至 100 ns CMC 0,07 ns 单个发射脉冲的线性 0 ns 至 55 ns CMC 0,07 ns DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":42,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"1c7f8221d61331cbfc83b922","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza","range":"od 0,2 MHz do 29 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_en":[{"name":"Amplifier frequency response","range":"0,2 MHz to 29 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_zh":[{"name":"放大器频率响应","range":"0,2 MHz 至 29 MHz","cmc":"2 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Frekvenční odezva zesilovače","range":"0,2 MHz až 29 MHz","cmc":"2 %"}],"technique":"Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_en":"Signal generation (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_zh":"信号产生（ČSN EN ISO 18563-1）","technique_cs":"Generování signálu (ČSN EN ISO 18563-1)","techniques":["Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_en":["Signal generation (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_zh":["信号产生（ČSN EN ISO 18563-1）"],"techniques_cs":["Generování signálu (ČSN EN ISO 18563-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nCharakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,2 MHz do 29 MHz CMC 2 %\nGenerowanie sygnału (ČSN EN ISO 18563-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Generowanie sygnału (ČSN EN ISO 18563-1) Charakterystyka częstotliwościowa wzmacniacza od 0,2 MHz do 29 MHz CMC 2 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Generování signálu (ČSN EN ISO 18563-1) Frekvenční odezva zesilovače 0,2 MHz až 29 MHz CMC 2 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Generowanie sygnalu (CSN EN ISO 18563-1) Charakterystyka czestotliwosciowa wzmacniacza od 0,2 MHz do 29 MHz CMC 2 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Generovani signalu (CSN EN ISO 18563-1) Frekvencni odezva zesilovace 0,2 MHz az 29 MHz CMC 2 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Signal generation (ČSN EN ISO 18563-1) Amplifier frequency response 0,2 MHz to 29 MHz CMC 2 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 信号产生（ČSN EN ISO 18563-1） 放大器频率响应 0,2 MHz 至 29 MHz CMC 2 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":43,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"3b7bd107c675810582fc7bfd","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Odchyłka wzmocnienia kanałów","range":"od 5 % SH do 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"},{"name":"Liniowość pionowa zobrazowania (mm)","range":"od 5 % SH do 800 % SH","cmc":"1 % SH"}],"parameters_en":[{"name":"Channel gain deviation","range":"5 % SH to 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"},{"name":"Vertical display linearity (mm)","range":"5 % SH to 800 % SH","cmc":"1 % SH"}],"parameters_zh":[{"name":"通道增益偏差","range":"5 % SH 至 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"},{"name":"垂直显示线性 (mm)","range":"5 % SH 至 800 % SH","cmc":"1 % SH"}],"parameters_cs":[{"name":"Odchylka zesílení kanálů","range":"5 % SH až 100 % SH","cmc":"0,2 % SH"},{"name":"Linearita vertikálního zobrazení (mm)","range":"5 % SH až 800 % SH","cmc":"1 % SH"}],"technique":"Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_en":"Instrument display reading (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_zh":"仪器显示读数（ČSN EN ISO 18563-1）","technique_cs":"Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 18563-1)","techniques":["Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_en":["Instrument display reading (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_zh":["仪器显示读数（ČSN EN ISO 18563-1）"],"techniques_cs":["Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 18563-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nOdchyłka wzmocnienia kanałów od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,2 % SH\nLiniowość pionowa zobrazowania (mm) od 5 % SH do 800 % SH CMC 1 % SH\nOdczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 18563-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odczyt z wyświetlacza przyrządu (ČSN EN ISO 18563-1) Odchyłka wzmocnienia kanałów od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,2 % SH Liniowość pionowa zobrazowania (mm) od 5 % SH do 800 % SH CMC 1 % SH Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Odečet z displeje přístroje (ČSN EN ISO 18563-1) Odchylka zesílení kanálů 5 % SH až 100 % SH CMC 0,2 % SH Linearita vertikálního zobrazení (mm) 5 % SH až 800 % SH CMC 1 % SH DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Odczyt z wyswietlacza przyrzadu (CSN EN ISO 18563-1) Odchylka wzmocnienia kanalow od 5 % SH do 100 % SH CMC 0,2 % SH Liniowosc pionowa zobrazowania (mm) od 5 % SH do 800 % SH CMC 1 % SH Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Odecet z displeje pristroje (CSN EN ISO 18563-1) Odchylka zesileni kanalu 5 % SH az 100 % SH CMC 0,2 % SH Linearita vertikalniho zobrazeni (mm) 5 % SH az 800 % SH CMC 1 % SH DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Instrument display reading (ČSN EN ISO 18563-1) Channel gain deviation 5 % SH to 100 % SH CMC 0,2 % SH Vertical display linearity (mm) 5 % SH to 800 % SH CMC 1 % SH DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 仪器显示读数（ČSN EN ISO 18563-1） 通道增益偏差 5 % SH 至 100 % SH CMC 0,2 % SH 垂直显示线性 (mm) 5 % SH 至 800 % SH CMC 1 % SH DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":44,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"94516a4deb53695ffd2ae74c","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Równoważny poziom szumów na wejściu","range":"od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_en":[{"name":"Equivalent input noise level","range":"1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_zh":[{"name":"等效输入噪声电平","range":"1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu","range":"1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz","cmc":"7 %"}],"technique":"Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_en":"Calculation from measured values (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_zh":"由测量值计算（ČSN EN ISO 18563-1）","technique_cs":"Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 18563-1)","techniques":["Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_en":["Calculation from measured values (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_zh":["由测量值计算（ČSN EN ISO 18563-1）"],"techniques_cs":["Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 18563-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nRównoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 %\nObliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 18563-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Obliczenie z wartości zmierzonych (ČSN EN ISO 18563-1) Równoważny poziom szumów na wejściu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Výpočet z měřených hodnot (ČSN EN ISO 18563-1) Ekvivalentní úroveň šumu na vstupu 1 nV/√Hz až 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Obliczenie z wartosci zmierzonych (CSN EN ISO 18563-1) Rownowazny poziom szumow na wejsciu od 1 nV/√Hz do 80 nV/√Hz CMC 7 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Vypocet z merenych hodnot (CSN EN ISO 18563-1) Ekvivalentni uroven sumu na vstupu 1 nV/√Hz az 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Calculation from measured values (ČSN EN ISO 18563-1) Equivalent input noise level 1 nV/√Hz to 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 由测量值计算（ČSN EN ISO 18563-1） 等效输入噪声电平 1 nV/√Hz 至 80 nV/√Hz CMC 7 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":45,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"f290e5db68c6fc3c96f101b9","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Dokładność wzorcowanego tłumika","range":"od 0 dB do 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_en":[{"name":"Calibrated attenuator accuracy","range":"0 dB to 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"已校衰减器准确度","range":"0 dB 至 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"Přesnost kalibrovaného atenuátoru","range":"0 dB až 110 dB","cmc":"0,7 dB"}],"technique":"Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_en":"Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 18563-1)","technique_zh":"与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 18563-1）","technique_cs":"Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 18563-1)","techniques":["Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_en":["Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 18563-1)"],"techniques_zh":["与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 18563-1）"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 18563-1)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nDokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB\nPorównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 18563-1)","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcowym tłumikiem (ČSN EN ISO 18563-1) Dokładność wzorcowanego tłumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonovým atenuátorem (ČSN EN ISO 18563-1) Přesnost kalibrovaného atenuátoru 0 dB až 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcowym tlumikiem (CSN EN ISO 18563-1) Dokladnosc wzorcowanego tlumika od 0 dB do 110 dB CMC 0,7 dB Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonovym atenuatorem (CSN EN ISO 18563-1) Presnost kalibrovaneho atenuatoru 0 dB az 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference attenuator (ČSN EN ISO 18563-1) Calibrated attenuator accuracy 0 dB to 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准衰减器比较（ČSN EN ISO 18563-1） 已校衰减器准确度 0 dB 至 110 dB CMC 0,7 dB DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":46,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"b33a65cb507d4e74eed87583","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Liniowość wzmocnienia (ECA)","range":"od 0,1 % do 3,0 %","cmc":"0,7 %"}],"parameters_en":[{"name":"Gain linearity (ECA)","range":"0,1 % to 3,0 %","cmc":"0,7 %"}],"parameters_zh":[{"name":"增益线性 (ECA)","range":"0,1 % 至 3,0 %","cmc":"0,7 %"}],"parameters_cs":[{"name":"Linearita zesílení (ECA)","range":"0,1 % až 3,0 %","cmc":"0,7 %"}],"technique":"Porównanie z wzorcowym tłumikiem","technique_en":"Comparison with a reference attenuator","technique_zh":"与标准衰减器比较","technique_cs":"Porovnání s etalonovým atenuátorem","techniques":["Porównanie z wzorcowym tłumikiem"],"techniques_en":["Comparison with a reference attenuator"],"techniques_zh":["与标准衰减器比较"],"techniques_cs":["Porovnání s etalonovým atenuátorem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nLiniowość wzmocnienia (ECA) od 0,1 % do 3,0 % CMC 0,7 %\nPorównanie z wzorcowym tłumikiem","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Porównanie z wzorcowym tłumikiem Liniowość wzmocnienia (ECA) od 0,1 % do 3,0 % CMC 0,7 % Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Porovnání s etalonovým atenuátorem Linearita zesílení (ECA) 0,1 % až 3,0 % CMC 0,7 % DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Porownanie z wzorcowym tlumikiem Liniowosc wzmocnienia (ECA) od 0,1 % do 3,0 % CMC 0,7 % Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Porovnani s etalonovym atenuatorem Linearita zesileni (ECA) 0,1 % az 3,0 % CMC 0,7 % DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Comparison with a reference attenuator Gain linearity (ECA) 0,1 % to 3,0 % CMC 0,7 % DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 与标准衰减器比较 增益线性 (ECA) 0,1 % 至 3,0 % CMC 0,7 % DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":47,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"d7c987c72ca10c1a9642b3c4","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan","test_object_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors","test_object_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪","test_object_cs":"Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan","methodology":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów","methodology_en":"Calibration – testing of properties and defects of materials","methodology_zh":"校准 – 材料性能和缺陷检测","methodology_cs":"Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů","parameters":[{"name":"Weryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), napięcie","range":"od 1 V do 10 V","cmc":"0,7 %"},{"name":"Test ogólny (ECA), napięcie na złączu","range":"od 0 V do 12 V","cmc":"0,08 V"},{"name":"Test ogólny (ECA), napięcie na złączu BNC","range":"od 0 V do 12 V","cmc":"0,08 V"}],"parameters_en":[{"name":"Output voltage verification (ECA), voltage","range":"1 V to 10 V","cmc":"0,7 %"},{"name":"General test (ECA), voltage on a connector","range":"0 V to 12 V","cmc":"0,08 V"},{"name":"General test (ECA), voltage on a BNC connector","range":"0 V to 12 V","cmc":"0,08 V"}],"parameters_zh":[{"name":"输出电压验证 (ECA)，电压","range":"1 V 至 10 V","cmc":"0,7 %"},{"name":"一般测试 (ECA)，连接器电压","range":"0 V 至 12 V","cmc":"0,08 V"},{"name":"一般测试 (ECA)，BNC 连接器电压","range":"0 V 至 12 V","cmc":"0,08 V"}],"parameters_cs":[{"name":"Ověření napětí na výstupu (ECA), napětí","range":"1 V až 10 V","cmc":"0,7 %"},{"name":"Obecný test (ECA), napětí na konektoru","range":"0 V až 12 V","cmc":"0,08 V"},{"name":"Obecný test (ECA), napětí na BNC konektoru","range":"0 V až 12 V","cmc":"0,08 V"}],"technique":"Pomiar multimetrem","technique_en":"Measurement by a multimeter","technique_zh":"用万用表测量","technique_cs":"Měření multimetrem","techniques":["Pomiar multimetrem"],"techniques_en":["Measurement by a multimeter"],"techniques_zh":["用万用表测量"],"techniques_cs":["Měření multimetrem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów\nZakres:\nWeryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), napięcie od 1 V do 10 V CMC 0,7 %\nTest ogólny (ECA), napięcie na złączu od 0 V do 12 V CMC 0,08 V\nTest ogólny (ECA), napięcie na złączu BNC od 0 V do 12 V CMC 0,08 V\nPomiar multimetrem","reference":"DOC-23-00022","norm_bases":["DOC-23-00022"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Testing of properties and defects of materials","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：材料性能和缺陷检测","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Zkoušky vlastností a vad materiálů","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Defektoskopy ultradźwiękowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Pomiar multimetrem Weryfikacja napięcia na wyjściu (ECA), napięcie od 1 V do 10 V CMC 0,7 % Test ogólny (ECA), napięcie na złączu od 0 V do 12 V CMC 0,08 V Test ogólny (ECA), napięcie na złączu BNC od 0 V do 12 V CMC 0,08 V Ultrazvukové defektoskopy Olympus/Evident řady Omniscan Kalibrace – zkoušky vlastností a vad materiálů Měření multimetrem Ověření napětí na výstupu (ECA), napětí 1 V až 10 V CMC 0,7 % Obecný test (ECA), napětí na konektoru 0 V až 12 V CMC 0,08 V Obecný test (ECA), napětí na BNC konektoru 0 V až 12 V CMC 0,08 V DOC-23-00022 Defektoskopy ultradzwiekowe Olympus/Evident serii Omniscan Wzorcowanie – badania wlasciwosci i wad materialow Pomiar multimetrem Weryfikacja napiecia na wyjsciu (ECA), napiecie od 1 V do 10 V CMC 0,7 % Test ogolny (ECA), napiecie na zlaczu od 0 V do 12 V CMC 0,08 V Test ogolny (ECA), napiecie na zlaczu BNC od 0 V do 12 V CMC 0,08 V Ultrazvukove defektoskopy Olympus/Evident rady Omniscan Kalibrace – zkousky vlastnosti a vad materialu Mereni multimetrem Overeni napeti na vystupu (ECA), napeti 1 V az 10 V CMC 0,7 % Obecny test (ECA), napeti na konektoru 0 V az 12 V CMC 0,08 V Obecny test (ECA), napeti na BNC konektoru 0 V az 12 V CMC 0,08 V DOC-23-00022","search_en":"Olympus/Evident Omniscan series ultrasonic flaw detectors Calibration – testing of properties and defects of materials Measurement by a multimeter Output voltage verification (ECA), voltage 1 V to 10 V CMC 0,7 % General test (ECA), voltage on a connector 0 V to 12 V CMC 0,08 V General test (ECA), voltage on a BNC connector 0 V to 12 V CMC 0,08 V DOC-23-00022","search_zh":"Olympus/Evident Omniscan 系列超声波探伤仪 校准 – 材料性能和缺陷检测 用万用表测量 输出电压验证 (ECA)，电压 1 V 至 10 V CMC 0,7 % 一般测试 (ECA)，连接器电压 0 V 至 12 V CMC 0,08 V 一般测试 (ECA)，BNC 连接器电压 0 V 至 12 V CMC 0,08 V DOC-23-00022","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":48,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"d56b2490ae9cd5a749078c9f","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Napięcie stałe / Źródła napięcia stałego","test_object_en":"DC voltage / DC voltage sources","test_object_zh":"直流电压 / 直流电压源","test_object_cs":"Stejnosměrné napětí / Zdroje stejnosměrného napětí","methodology":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne","methodology_en":"Calibration – electrical quantities","methodology_zh":"校准 – 电学量","methodology_cs":"Kalibrace – elektrické veličiny","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mV do 10 mV","cmc":"8 µV"},{"name":"","range":"od 10 mV do 100 mV","cmc":"17 µV"},{"name":"","range":"od 100 mV do 1 V","cmc":"88 µV"},{"name":"","range":"od 1 V do 10 V","cmc":"0,8 mV"},{"name":"","range":"od 10 V do 100 V","cmc":"10 mV"},{"name":"","range":"od 100 do 1000 V","cmc":"65 mV"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mV to 10 mV","cmc":"8 µV"},{"name":"","range":"10 mV to 100 mV","cmc":"17 µV"},{"name":"","range":"100 mV to 1 V","cmc":"88 µV"},{"name":"","range":"1 V to 10 V","cmc":"0,8 mV"},{"name":"","range":"10 V to 100 V","cmc":"10 mV"},{"name":"","range":"100 to 1000 V","cmc":"65 mV"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mV 至 10 mV","cmc":"8 µV"},{"name":"","range":"10 mV 至 100 mV","cmc":"17 µV"},{"name":"","range":"100 mV 至 1 V","cmc":"88 µV"},{"name":"","range":"1 V 至 10 V","cmc":"0,8 mV"},{"name":"","range":"10 V 至 100 V","cmc":"10 mV"},{"name":"","range":"100 至 1000 V","cmc":"65 mV"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mV až 10 mV","cmc":"8 µV"},{"name":"","range":"10 mV až 100 mV","cmc":"17 µV"},{"name":"","range":"100 mV až 1 V","cmc":"88 µV"},{"name":"","range":"1 V až 10 V","cmc":"0,8 mV"},{"name":"","range":"10 V až 100 V","cmc":"10 mV"},{"name":"","range":"100 až 1000 V","cmc":"65 mV"}],"technique":"Bezpośredni pomiar multimetrem","technique_en":"Direct measurement by a multimeter","technique_zh":"用万用表直接测量","technique_cs":"Přímé měření multimetrem","techniques":["Bezpośredni pomiar multimetrem"],"techniques_en":["Direct measurement by a multimeter"],"techniques_zh":["用万用表直接测量"],"techniques_cs":["Přímé měření multimetrem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne\nZakres:\nod 0 mV do 10 mV CMC 8 µV\nod 10 mV do 100 mV CMC 17 µV\nod 100 mV do 1 V CMC 88 µV\nod 1 V do 10 V CMC 0,8 mV\nod 10 V do 100 V CMC 10 mV\nod 100 do 1000 V CMC 65 mV\nBezpośredni pomiar multimetrem","reference":"DOC-25-00057","norm_bases":["DOC-25-00057"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Electrical quantities","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：电学量","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Elektrické veličiny","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Napięcie stałe / Źródła napięcia stałego Wzorcowanie – wielkości elektryczne Bezpośredni pomiar multimetrem od 0 mV do 10 mV CMC 8 µV od 10 mV do 100 mV CMC 17 µV od 100 mV do 1 V CMC 88 µV od 1 V do 10 V CMC 0,8 mV od 10 V do 100 V CMC 10 mV od 100 do 1000 V CMC 65 mV Stejnosměrné napětí / Zdroje stejnosměrného napětí Kalibrace – elektrické veličiny Přímé měření multimetrem 0 mV až 10 mV CMC 8 µV 10 mV až 100 mV CMC 17 µV 100 mV až 1 V CMC 88 µV 1 V až 10 V CMC 0,8 mV 10 V až 100 V CMC 10 mV 100 až 1000 V CMC 65 mV DOC-25-00057 Napiecie stale / Zrodla napiecia stalego Wzorcowanie – wielkosci elektryczne Bezposredni pomiar multimetrem od 0 mV do 10 mV CMC 8 µV od 10 mV do 100 mV CMC 17 µV od 100 mV do 1 V CMC 88 µV od 1 V do 10 V CMC 0,8 mV od 10 V do 100 V CMC 10 mV od 100 do 1000 V CMC 65 mV Stejnosmerne napeti / Zdroje stejnosmerneho napeti Kalibrace – elektricke veliciny Prime mereni multimetrem 0 mV az 10 mV CMC 8 µV 10 mV az 100 mV CMC 17 µV 100 mV az 1 V CMC 88 µV 1 V az 10 V CMC 0,8 mV 10 V az 100 V CMC 10 mV 100 az 1000 V CMC 65 mV DOC-25-00057","search_en":"DC voltage / DC voltage sources Calibration – electrical quantities Direct measurement by a multimeter 0 mV to 10 mV CMC 8 µV 10 mV to 100 mV CMC 17 µV 100 mV to 1 V CMC 88 µV 1 V to 10 V CMC 0,8 mV 10 V to 100 V CMC 10 mV 100 to 1000 V CMC 65 mV DOC-25-00057","search_zh":"直流电压 / 直流电压源 校准 – 电学量 用万用表直接测量 0 mV 至 10 mV CMC 8 µV 10 mV 至 100 mV CMC 17 µV 100 mV 至 1 V CMC 88 µV 1 V 至 10 V CMC 0,8 mV 10 V 至 100 V CMC 10 mV 100 至 1000 V CMC 65 mV DOC-25-00057","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":49,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"5798798751d28ca4ecf824e7","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Rezystancja (prąd stały)","test_object_en":"DC resistance","test_object_zh":"直流电阻","test_object_cs":"Stejnosměrný odpor","methodology":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne","methodology_en":"Calibration – electrical quantities","methodology_zh":"校准 – 电学量","methodology_cs":"Kalibrace – elektrické veličiny","parameters":[{"name":"","range":"od 0 Ω do 10 Ω","cmc":"10 mΩ"},{"name":"","range":"od 10 Ω do 100 Ω","cmc":"29 mΩ"},{"name":"","range":"od 100 Ω do 1 kΩ","cmc":"0,2 Ω"},{"name":"","range":"od 1 kΩ do 10 kΩ","cmc":"2 Ω"},{"name":"","range":"od 10 kΩ do 100 kΩ","cmc":"20 Ω"},{"name":"","range":"od 100 kΩ do 1 MΩ","cmc":"0,2 kΩ"},{"name":"","range":"od 1 MΩ do 10 MΩ","cmc":"8 kΩ"},{"name":"","range":"od 10 MΩ do 100 MΩ","cmc":"0,9 MΩ"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 Ω to 10 Ω","cmc":"10 mΩ"},{"name":"","range":"10 Ω to 100 Ω","cmc":"29 mΩ"},{"name":"","range":"100 Ω to 1 kΩ","cmc":"0,2 Ω"},{"name":"","range":"1 kΩ to 10 kΩ","cmc":"2 Ω"},{"name":"","range":"10 kΩ to 100 kΩ","cmc":"20 Ω"},{"name":"","range":"100 kΩ to 1 MΩ","cmc":"0,2 kΩ"},{"name":"","range":"1 MΩ to 10 MΩ","cmc":"8 kΩ"},{"name":"","range":"10 MΩ to 100 MΩ","cmc":"0,9 MΩ"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 Ω 至 10 Ω","cmc":"10 mΩ"},{"name":"","range":"10 Ω 至 100 Ω","cmc":"29 mΩ"},{"name":"","range":"100 Ω 至 1 kΩ","cmc":"0,2 Ω"},{"name":"","range":"1 kΩ 至 10 kΩ","cmc":"2 Ω"},{"name":"","range":"10 kΩ 至 100 kΩ","cmc":"20 Ω"},{"name":"","range":"100 kΩ 至 1 MΩ","cmc":"0,2 kΩ"},{"name":"","range":"1 MΩ 至 10 MΩ","cmc":"8 kΩ"},{"name":"","range":"10 MΩ 至 100 MΩ","cmc":"0,9 MΩ"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 Ω až 10 Ω","cmc":"10 mΩ"},{"name":"","range":"10 Ω až 100 Ω","cmc":"29 mΩ"},{"name":"","range":"100 Ω až 1 kΩ","cmc":"0,2 Ω"},{"name":"","range":"1 kΩ až 10 kΩ","cmc":"2 Ω"},{"name":"","range":"10 kΩ až 100 kΩ","cmc":"20 Ω"},{"name":"","range":"100 kΩ až 1 MΩ","cmc":"0,2 kΩ"},{"name":"","range":"1 MΩ až 10 MΩ","cmc":"8 kΩ"},{"name":"","range":"10 MΩ až 100 MΩ","cmc":"0,9 MΩ"}],"technique":"Bezpośredni pomiar multimetrem","technique_en":"Direct measurement by a multimeter","technique_zh":"用万用表直接测量","technique_cs":"Přímé měření multimetrem","techniques":["Bezpośredni pomiar multimetrem"],"techniques_en":["Direct measurement by a multimeter"],"techniques_zh":["用万用表直接测量"],"techniques_cs":["Přímé měření multimetrem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne\nZakres:\nod 0 Ω do 10 Ω CMC 10 mΩ\nod 10 Ω do 100 Ω CMC 29 mΩ\nod 100 Ω do 1 kΩ CMC 0,2 Ω\nod 1 kΩ do 10 kΩ CMC 2 Ω\nod 10 kΩ do 100 kΩ CMC 20 Ω\nod 100 kΩ do 1 MΩ CMC 0,2 kΩ\nod 1 MΩ do 10 MΩ CMC 8 kΩ\nod 10 MΩ do 100 MΩ CMC 0,9 MΩ\nBezpośredni pomiar multimetrem","reference":"DOC-25-00057","norm_bases":["DOC-25-00057"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Electrical quantities","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：电学量","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Elektrické veličiny","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Rezystancja (prąd stały) Wzorcowanie – wielkości elektryczne Bezpośredni pomiar multimetrem od 0 Ω do 10 Ω CMC 10 mΩ od 10 Ω do 100 Ω CMC 29 mΩ od 100 Ω do 1 kΩ CMC 0,2 Ω od 1 kΩ do 10 kΩ CMC 2 Ω od 10 kΩ do 100 kΩ CMC 20 Ω od 100 kΩ do 1 MΩ CMC 0,2 kΩ od 1 MΩ do 10 MΩ CMC 8 kΩ od 10 MΩ do 100 MΩ CMC 0,9 MΩ Stejnosměrný odpor Kalibrace – elektrické veličiny Přímé měření multimetrem 0 Ω až 10 Ω CMC 10 mΩ 10 Ω až 100 Ω CMC 29 mΩ 100 Ω až 1 kΩ CMC 0,2 Ω 1 kΩ až 10 kΩ CMC 2 Ω 10 kΩ až 100 kΩ CMC 20 Ω 100 kΩ až 1 MΩ CMC 0,2 kΩ 1 MΩ až 10 MΩ CMC 8 kΩ 10 MΩ až 100 MΩ CMC 0,9 MΩ DOC-25-00057 Rezystancja (prad staly) Wzorcowanie – wielkosci elektryczne Bezposredni pomiar multimetrem od 0 Ω do 10 Ω CMC 10 mΩ od 10 Ω do 100 Ω CMC 29 mΩ od 100 Ω do 1 kΩ CMC 0,2 Ω od 1 kΩ do 10 kΩ CMC 2 Ω od 10 kΩ do 100 kΩ CMC 20 Ω od 100 kΩ do 1 MΩ CMC 0,2 kΩ od 1 MΩ do 10 MΩ CMC 8 kΩ od 10 MΩ do 100 MΩ CMC 0,9 MΩ Stejnosmerny odpor Kalibrace – elektricke veliciny Prime mereni multimetrem 0 Ω az 10 Ω CMC 10 mΩ 10 Ω az 100 Ω CMC 29 mΩ 100 Ω az 1 kΩ CMC 0,2 Ω 1 kΩ az 10 kΩ CMC 2 Ω 10 kΩ az 100 kΩ CMC 20 Ω 100 kΩ az 1 MΩ CMC 0,2 kΩ 1 MΩ az 10 MΩ CMC 8 kΩ 10 MΩ az 100 MΩ CMC 0,9 MΩ DOC-25-00057","search_en":"DC resistance Calibration – electrical quantities Direct measurement by a multimeter 0 Ω to 10 Ω CMC 10 mΩ 10 Ω to 100 Ω CMC 29 mΩ 100 Ω to 1 kΩ CMC 0,2 Ω 1 kΩ to 10 kΩ CMC 2 Ω 10 kΩ to 100 kΩ CMC 20 Ω 100 kΩ to 1 MΩ CMC 0,2 kΩ 1 MΩ to 10 MΩ CMC 8 kΩ 10 MΩ to 100 MΩ CMC 0,9 MΩ DOC-25-00057","search_zh":"直流电阻 校准 – 电学量 用万用表直接测量 0 Ω 至 10 Ω CMC 10 mΩ 10 Ω 至 100 Ω CMC 29 mΩ 100 Ω 至 1 kΩ CMC 0,2 Ω 1 kΩ 至 10 kΩ CMC 2 Ω 10 kΩ 至 100 kΩ CMC 20 Ω 100 kΩ 至 1 MΩ CMC 0,2 kΩ 1 MΩ 至 10 MΩ CMC 8 kΩ 10 MΩ 至 100 MΩ CMC 0,9 MΩ DOC-25-00057","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":50,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"bbfdd542770ce00e6702d727","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Napięcie w.cz., wartość międzyszczytowa / Źródła napięcia międzyszczytowego","test_object_en":"HF voltage, peak-to-peak value / Sources of peak-to-peak voltage","test_object_zh":"高频电压，峰峰值 / 峰峰值电压源","test_object_cs":"VF napětí, mezivrcholová hodnota / Zdroje mezivrcholového napětí","methodology":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne","methodology_en":"Calibration – electrical quantities","methodology_zh":"校准 – 电学量","methodology_cs":"Kalibrace – elektrické veličiny","parameters":[{"name":"0,1 MHz do 100 MHz","range":"od 2 mV do 40 V","cmc":"3 % + 0,1 mV"}],"parameters_en":[{"name":"0,1 MHz to 100 MHz","range":"2 mV to 40 V","cmc":"3 % + 0,1 mV"}],"parameters_zh":[{"name":"0,1 MHz 至 100 MHz","range":"2 mV 至 40 V","cmc":"3 % + 0,1 mV"}],"parameters_cs":[{"name":"0,1 MHz až 100 MHz","range":"2 mV až 40 V","cmc":"3 % + 0,1 mV"}],"technique":"Pomiar oscyloskopem z zewnętrznym obciążeniem 50 Ω","technique_en":"Measurement with an oscilloscope with 50 Ω external load","technique_zh":"用带 50 Ω 外部负载的示波器测量","technique_cs":"Měření osciloskopem s externí zátěží 50 Ω","techniques":["Pomiar oscyloskopem z zewnętrznym obciążeniem 50 Ω"],"techniques_en":["Measurement with an oscilloscope with 50 Ω external load"],"techniques_zh":["用带 50 Ω 外部负载的示波器测量"],"techniques_cs":["Měření osciloskopem s externí zátěží 50 Ω"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne\n0,1 MHz do 100 MHz od 2 mV do 40 V CMC 3 % + 0,1 mV\nPomiar oscyloskopem z zewnętrznym obciążeniem 50 Ω","reference":"DOC-25-00057","norm_bases":["DOC-25-00057"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Electrical quantities","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：电学量","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Elektrické veličiny","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Napięcie w.cz., wartość międzyszczytowa / Źródła napięcia międzyszczytowego Wzorcowanie – wielkości elektryczne Pomiar oscyloskopem z zewnętrznym obciążeniem 50 Ω 0,1 MHz do 100 MHz od 2 mV do 40 V CMC 3 % + 0,1 mV VF napětí, mezivrcholová hodnota / Zdroje mezivrcholového napětí Kalibrace – elektrické veličiny Měření osciloskopem s externí zátěží 50 Ω 0,1 MHz až 100 MHz 2 mV až 40 V CMC 3 % + 0,1 mV DOC-25-00057 Napiecie w.cz., wartosc miedzyszczytowa / Zrodla napiecia miedzyszczytowego Wzorcowanie – wielkosci elektryczne Pomiar oscyloskopem z zewnetrznym obciazeniem 50 Ω 0,1 MHz do 100 MHz od 2 mV do 40 V CMC 3 % + 0,1 mV VF napeti, mezivrcholova hodnota / Zdroje mezivrcholoveho napeti Kalibrace – elektricke veliciny Mereni osciloskopem s externi zatezi 50 Ω 0,1 MHz az 100 MHz 2 mV az 40 V CMC 3 % + 0,1 mV DOC-25-00057","search_en":"HF voltage, peak-to-peak value / Sources of peak-to-peak voltage Calibration – electrical quantities Measurement with an oscilloscope with 50 Ω external load 0,1 MHz to 100 MHz 2 mV to 40 V CMC 3 % + 0,1 mV DOC-25-00057","search_zh":"高频电压，峰峰值 / 峰峰值电压源 校准 – 电学量 用带 50 Ω 外部负载的示波器测量 0,1 MHz 至 100 MHz 2 mV 至 40 V CMC 3 % + 0,1 mV DOC-25-00057","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":51,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"ea8d0216577500bbba2fc619","lab_id":"6ade8b3dff06824761708126","country":"CZ","accr_number":"2371","accr_body":"ČIA","row_label":"4","test_object":"Tłumienie w.cz. / Tłumik w.cz.","test_object_en":"HF attenuation / HF attenuator","test_object_zh":"高频衰减 / 高频衰减器","test_object_cs":"VF zeslabení / VF zeslabovač","methodology":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne","methodology_en":"Calibration – electrical quantities","methodology_zh":"校准 – 电学量","methodology_cs":"Kalibrace – elektrické veličiny","parameters":[{"name":"0,25 MHz do 100 MHz","range":"od 0 dB do 50 dB","cmc":"0,17 dB"},{"name":"0,25 MHz do 100 MHz","range":"od 50 dB do 60 dB","cmc":"0,21 dB"},{"name":"0,25 MHz do 100 MHz","range":"od 60 dB do 70 dB","cmc":"0,28 dB"},{"name":"0,25 MHz do 100 MHz","range":"od 70 dB do 80 dB","cmc":"0,37 dB"},{"name":"0,25 MHz do 100 MHz","range":"od 80 dB do 90 dB","cmc":"0,57 dB"}],"parameters_en":[{"name":"0,25 MHz to 100 MHz","range":"0 dB to 50 dB","cmc":"0,17 dB"},{"name":"0,25 MHz to 100 MHz","range":"50 dB to 60 dB","cmc":"0,21 dB"},{"name":"0,25 MHz to 100 MHz","range":"60 dB to 70 dB","cmc":"0,28 dB"},{"name":"0,25 MHz to 100 MHz","range":"70 dB to 80 dB","cmc":"0,37 dB"},{"name":"0,25 MHz to 100 MHz","range":"80 dB to 90 dB","cmc":"0,57 dB"}],"parameters_zh":[{"name":"0,25 MHz 至 100 MHz","range":"0 dB 至 50 dB","cmc":"0,17 dB"},{"name":"0,25 MHz 至 100 MHz","range":"50 dB 至 60 dB","cmc":"0,21 dB"},{"name":"0,25 MHz 至 100 MHz","range":"60 dB 至 70 dB","cmc":"0,28 dB"},{"name":"0,25 MHz 至 100 MHz","range":"70 dB 至 80 dB","cmc":"0,37 dB"},{"name":"0,25 MHz 至 100 MHz","range":"80 dB 至 90 dB","cmc":"0,57 dB"}],"parameters_cs":[{"name":"0,25 MHz až do 100 MHz","range":"0 dB až 50 dB","cmc":"0,17 dB"},{"name":"0,25 MHz až do 100 MHz","range":"50 dB až 60 dB","cmc":"0,21 dB"},{"name":"0,25 MHz až do 100 MHz","range":"60 dB až 70 dB","cmc":"0,28 dB"},{"name":"0,25 MHz až do 100 MHz","range":"70 dB až 80 dB","cmc":"0,37 dB"},{"name":"0,25 MHz až do 100 MHz","range":"80 dB až 90 dB","cmc":"0,57 dB"}],"technique":"Pomiar analizatorem wektorowym","technique_en":"Measurement by a vector analyzer","technique_zh":"用矢量分析仪测量","technique_cs":"Měření vektorovým analyzátorem","techniques":["Pomiar analizatorem wektorowym"],"techniques_en":["Measurement by a vector analyzer"],"techniques_zh":["用矢量分析仪测量"],"techniques_cs":["Měření vektorovým analyzátorem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – wielkości elektryczne\nZakres:\n0,25 MHz do 100 MHz od 0 dB do 50 dB CMC 0,17 dB\n0,25 MHz do 100 MHz od 50 dB do 60 dB CMC 0,21 dB\n0,25 MHz do 100 MHz od 60 dB do 70 dB CMC 0,28 dB\n0,25 MHz do 100 MHz od 70 dB do 80 dB CMC 0,37 dB\n0,25 MHz do 100 MHz od 80 dB do 90 dB CMC 0,57 dB\nPomiar analizatorem wektorowym","reference":"DOC-25-00057","norm_bases":["DOC-25-00057"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości elektryczne","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Electrical quantities","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：电学量","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Elektrické veličiny","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Tłumienie w.cz. / Tłumik w.cz. Wzorcowanie – wielkości elektryczne Pomiar analizatorem wektorowym 0,25 MHz do 100 MHz od 0 dB do 50 dB CMC 0,17 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 50 dB do 60 dB CMC 0,21 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 60 dB do 70 dB CMC 0,28 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 70 dB do 80 dB CMC 0,37 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 80 dB do 90 dB CMC 0,57 dB VF zeslabení / VF zeslabovač Kalibrace – elektrické veličiny Měření vektorovým analyzátorem 0,25 MHz až do 100 MHz 0 dB až 50 dB CMC 0,17 dB 0,25 MHz až do 100 MHz 50 dB až 60 dB CMC 0,21 dB 0,25 MHz až do 100 MHz 60 dB až 70 dB CMC 0,28 dB 0,25 MHz až do 100 MHz 70 dB až 80 dB CMC 0,37 dB 0,25 MHz až do 100 MHz 80 dB až 90 dB CMC 0,57 dB DOC-25-00057 Tlumienie w.cz. / Tlumik w.cz. Wzorcowanie – wielkosci elektryczne Pomiar analizatorem wektorowym 0,25 MHz do 100 MHz od 0 dB do 50 dB CMC 0,17 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 50 dB do 60 dB CMC 0,21 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 60 dB do 70 dB CMC 0,28 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 70 dB do 80 dB CMC 0,37 dB 0,25 MHz do 100 MHz od 80 dB do 90 dB CMC 0,57 dB VF zeslabeni / VF zeslabovac Kalibrace – elektricke veliciny Mereni vektorovym analyzatorem 0,25 MHz az do 100 MHz 0 dB az 50 dB CMC 0,17 dB 0,25 MHz az do 100 MHz 50 dB az 60 dB CMC 0,21 dB 0,25 MHz az do 100 MHz 60 dB az 70 dB CMC 0,28 dB 0,25 MHz az do 100 MHz 70 dB az 80 dB CMC 0,37 dB 0,25 MHz az do 100 MHz 80 dB az 90 dB CMC 0,57 dB DOC-25-00057","search_en":"HF attenuation / HF attenuator Calibration – electrical quantities Measurement by a vector analyzer 0,25 MHz to 100 MHz 0 dB to 50 dB CMC 0,17 dB 0,25 MHz to 100 MHz 50 dB to 60 dB CMC 0,21 dB 0,25 MHz to 100 MHz 60 dB to 70 dB CMC 0,28 dB 0,25 MHz to 100 MHz 70 dB to 80 dB CMC 0,37 dB 0,25 MHz to 100 MHz 80 dB to 90 dB CMC 0,57 dB DOC-25-00057","search_zh":"高频衰减 / 高频衰减器 校准 – 电学量 用矢量分析仪测量 0,25 MHz 至 100 MHz 0 dB 至 50 dB CMC 0,17 dB 0,25 MHz 至 100 MHz 50 dB 至 60 dB CMC 0,21 dB 0,25 MHz 至 100 MHz 60 dB 至 70 dB CMC 0,28 dB 0,25 MHz 至 100 MHz 70 dB 至 80 dB CMC 0,37 dB 0,25 MHz 至 100 MHz 80 dB 至 90 dB CMC 0,57 dB DOC-25-00057","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":52,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"}],"has_pdf":true}