🇨🇿 TESTIMA, spol. s r.o. PL
计量与校准
TESTIMA, spol. s r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室,认可编号 2343(Brandýs nad Labem,捷克)。认可范围涵盖 23 项校准,涉及以下领域:计量与校准。校准对象包括:数字超声波探伤仪 – 上下限频率、数字超声波探伤仪 – 中心频率、数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间、数字超声波探伤仪 – 发射脉冲电压。最常用的校准原理:在显示屏刻度上显示信号、由测量值计算、用示波器测量发射信号。
要点速览
- 认可编号: ČIA 2343
- 认可范围内校准项目数: 23
- 校准对象种类: 23
- 所用校准原理数: 6
- 城市: Brandýs nad Labem, 捷克
- 有效期至: 07-07-2031
- 认可编号
- 2343
- 认可机构
- ČIA
- 地址
- Husova 353/6, 250 01 Brandýs nad Labem
- 城市
- Brandýs nad Labem, 捷克
- 部门
- Laboratorium wzorcujące TESTIMA
- 有效期至
- 07-07-2031
该实验室校准什么 (23)
- 数字超声波探伤仪 – 上下限频率 — 1 项校准
- 数字超声波探伤仪 – 中心频率 — 1 项校准
- 数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 — 1 项校准
- 数字超声波探伤仪 – 发射脉冲电压 — 1 项校准
- 数字超声波探伤仪 – 噪声电平 — 1 项校准
- 数字超声波探伤仪 – 增益线性 — 1 项校准
- 数字超声波探伤仪 – 带宽 — 1 项校准
- 数字超声波探伤仪 – 显示垂直线性 — 1 项校准
- 模拟和数字超声波探伤仪 – 分贝衰减器准确度 — 1 项校准
- 模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 — 1 项校准
- 模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲过冲 — 1 项校准
- 模拟和数字超声波探伤仪 – 垂直线性 — 1 项校准
- 模拟和数字超声波探伤仪 – 时基线性 — 1 项校准
- 模拟和数字超声波探伤仪 – 显示不稳定性 — 1 项校准
- 模拟和数字超声波探伤仪 – 模拟仪器时基线性 — 1 项校准
- 另有 8 项
校准原理 (6)
- 在显示屏刻度上显示信号 — 7 项校准
- 由测量值计算 — 6 项校准
- 用示波器测量发射信号 — 4 项校准
- 与标准器值比较 — 2 项校准
- 与标准器比较 — 2 项校准
- 电信号模拟 — 2 项校准
证书信息
- 证书日期
- 07.07.2026
认可范围 — 校准项目 (23)
| 序号 | 校准量 / 校准对象 | 标称范围 / 参数 / CMC | 校准原理 | 校准程序 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 校准项目 | |||||
| 1 | 超声波测厚仪 | 校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC 0,1 mm 10 mm 至 20 mm · CMC 0,2 mm 20 mm 至 40 mm · CMC 0,3 mm 40 mm 至 90 mm · CMC 0,5 mm 90 mm 至 101 mm · CMC 1,1 mm 被测量领域的CMC:长度 |
与标准器值比较 | KP 2 | |
| 2 | 涂层测厚仪 | 校准 – 长度 0 µm 至 20 µm · CMC 2,7 µm 20 µm 至 100 µm · CMC 2,9 µm 100 µm 至 200 µm · CMC 3,4 µm 200 µm 至 500 µm · CMC 6,1 µm 500 µm 至 1000 µm · CMC 11 µm 1000 µm 至 1500 µm · CMC 16 µm 1500 µm 至 10020 µm · CMC 100 µm 被测量领域的CMC:长度 |
与标准器值比较 | KP 3 | |
| 3 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 预热后稳定性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 5 % VS 至 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
在显示屏刻度上显示信号 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 4 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 显示不稳定性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 5 % VS 至 100 % VS · CMC 2(15.3/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS · CMC 2(15,3/ŠS mm) % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
在显示屏刻度上显示信号 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 5 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 电压波动时的稳定性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 5 % VS 至 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
在显示屏刻度上显示信号 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 6 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 垂直线性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 5 % VS 至 100 % VS · CMC 2,3 % VS 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
在显示屏刻度上显示信号 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 7 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 时基线性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 1 mm 至 9999 mm · CMC 0,05 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
电信号模拟 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 8 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 模拟仪器时基线性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 1 mm 至 9999 mm · CMC 2(18/ŠS mm) % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
电信号模拟 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 9 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 等效输入噪声电平 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 2 V/√Hz 至 100 V/√Hz · CMC 3,5 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 10 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲过冲 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 2 V 至 500 V · CMC 7,9 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量发射信号 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 11 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 3 ns 至 500 ns · CMC 7,9 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量发射信号 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 12 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器频率上下限 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
在显示屏刻度上显示信号 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 13 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器中心频率 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 3,3 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 14 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 分贝衰减器准确度 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0 dB 至 120 dB · CMC 0,2 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准器比较 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 15 | 模拟和数字超声波探伤仪 – 频率滤波器带宽 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算 | KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 16 | 数字超声波探伤仪 – 显示垂直线性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 5 % VS 至 100 % VS · CMC 2,3 % VS 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
在显示屏刻度上显示信号 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 17 | 数字超声波探伤仪 – 噪声电平 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 2 V/√Hz 至 100 V/√Hz · CMC 3,5 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 18 | 数字超声波探伤仪 – 发射脉冲电压 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 2 V 至 500 V · CMC 7,9 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量发射信号 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 19 | 数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 3 ns 至 500 ns · CMC 7,9 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
用示波器测量发射信号 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 20 | 数字超声波探伤仪 – 上下限频率 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
在显示屏刻度上显示信号 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 21 | 数字超声波探伤仪 – 中心频率 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 3,3 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 22 | 数字超声波探伤仪 – 增益线性 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0 dB 至 120 dB · CMC 0,2 dB 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
与标准器比较 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 23 | 数字超声波探伤仪 – 带宽 | 校准 – 材料性能和缺陷检测 0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 % 被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测 |
由测量值计算 | KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
引用标准 (6)
KP 1
KP 2
KP 3
KP 9
ČSN EN 12668-1:2010
ČSN EN ISO 22232-1