🇨🇿 TESTIMA, spol. s r.o. PL

ČIA 2343 • Brandýs nad Labem, 捷克 • 23 项校准

计量与校准

TESTIMA, spol. s r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室,认可编号 2343(Brandýs nad Labem,捷克)。认可范围涵盖 23 项校准,涉及以下领域:计量与校准。校准对象包括:数字超声波探伤仪 – 上下限频率、数字超声波探伤仪 – 中心频率、数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间、数字超声波探伤仪 – 发射脉冲电压。最常用的校准原理:在显示屏刻度上显示信号、由测量值计算、用示波器测量发射信号。

要点速览

  • 认可编号: ČIA 2343
  • 认可范围内校准项目数: 23
  • 校准对象种类: 23
  • 所用校准原理数: 6
  • 城市: Brandýs nad Labem, 捷克
  • 有效期至: 07-07-2031
认可编号
2343
认可机构
ČIA
地址
Husova 353/6, 250 01 Brandýs nad Labem
城市
Brandýs nad Labem, 捷克
部门
Laboratorium wzorcujące TESTIMA
有效期至
07-07-2031

该实验室校准什么 (23)

校准原理 (6)

证书信息

证书日期
07.07.2026

认可范围 — 校准项目 (23)

CMC — 给出的最小扩展测量不确定度(ILAC-P14、EA-4/02 M);除非另有说明,包含概率约为95%,不带单位的数值为相对于测量值的相对值。具体校准的不确定度可能更高。

序号 校准量 / 校准对象 标称范围 / 参数 / CMC 校准原理 校准程序
校准项目
1 超声波测厚仪 校准 – 长度
0 mm 至 10 mm · CMC 0,1 mm 10 mm 至 20 mm · CMC 0,2 mm 20 mm 至 40 mm · CMC 0,3 mm 40 mm 至 90 mm · CMC 0,5 mm 90 mm 至 101 mm · CMC 1,1 mm
被测量领域的CMC:长度
与标准器值比较 KP 2
2 涂层测厚仪 校准 – 长度
0 µm 至 20 µm · CMC 2,7 µm 20 µm 至 100 µm · CMC 2,9 µm 100 µm 至 200 µm · CMC 3,4 µm 200 µm 至 500 µm · CMC 6,1 µm 500 µm 至 1000 µm · CMC 11 µm 1000 µm 至 1500 µm · CMC 16 µm 1500 µm 至 10020 µm · CMC 100 µm
被测量领域的CMC:长度
与标准器值比较 KP 3
3 模拟和数字超声波探伤仪 – 预热后稳定性 校准 – 材料性能和缺陷检测
5 % VS 至 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
在显示屏刻度上显示信号 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
4 模拟和数字超声波探伤仪 – 显示不稳定性 校准 – 材料性能和缺陷检测
5 % VS 至 100 % VS · CMC 2(15.3/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS · CMC 2(15,3/ŠS mm) %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
在显示屏刻度上显示信号 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
5 模拟和数字超声波探伤仪 – 电压波动时的稳定性 校准 – 材料性能和缺陷检测
5 % VS 至 100 % VS · CMC 2(16/VS mm) % 5 % ŠS 至 100 % ŠS · CMC 2(16/ŠS mm) %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
在显示屏刻度上显示信号 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
6 模拟和数字超声波探伤仪 – 垂直线性 校准 – 材料性能和缺陷检测
5 % VS 至 100 % VS · CMC 2,3 % VS
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
在显示屏刻度上显示信号 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
7 模拟和数字超声波探伤仪 – 时基线性 校准 – 材料性能和缺陷检测
1 mm 至 9999 mm · CMC 0,05 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
电信号模拟 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
8 模拟和数字超声波探伤仪 – 模拟仪器时基线性 校准 – 材料性能和缺陷检测
1 mm 至 9999 mm · CMC 2(18/ŠS mm) %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
电信号模拟 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
9 模拟和数字超声波探伤仪 – 等效输入噪声电平 校准 – 材料性能和缺陷检测
2 V/√Hz 至 100 V/√Hz · CMC 3,5 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
由测量值计算 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
10 模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲过冲 校准 – 材料性能和缺陷检测
2 V 至 500 V · CMC 7,9 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
用示波器测量发射信号 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
11 模拟和数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 校准 – 材料性能和缺陷检测
3 ns 至 500 ns · CMC 7,9 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
用示波器测量发射信号 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
12 模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器频率上下限 校准 – 材料性能和缺陷检测
0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
在显示屏刻度上显示信号 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
13 模拟和数字超声波探伤仪 – 滤波器中心频率 校准 – 材料性能和缺陷检测
0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 3,3 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
由测量值计算 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
14 模拟和数字超声波探伤仪 – 分贝衰减器准确度 校准 – 材料性能和缺陷检测
0 dB 至 120 dB · CMC 0,2 dB
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
与标准器比较 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
15 模拟和数字超声波探伤仪 – 频率滤波器带宽 校准 – 材料性能和缺陷检测
0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
由测量值计算 KP 1 (ČSN EN 12668-1:2010)
16 数字超声波探伤仪 – 显示垂直线性 校准 – 材料性能和缺陷检测
5 % VS 至 100 % VS · CMC 2,3 % VS
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
在显示屏刻度上显示信号 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
17 数字超声波探伤仪 – 噪声电平 校准 – 材料性能和缺陷检测
2 V/√Hz 至 100 V/√Hz · CMC 3,5 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
由测量值计算 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
18 数字超声波探伤仪 – 发射脉冲电压 校准 – 材料性能和缺陷检测
2 V 至 500 V · CMC 7,9 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
用示波器测量发射信号 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
19 数字超声波探伤仪 – 发射脉冲上升时间、持续时间 校准 – 材料性能和缺陷检测
3 ns 至 500 ns · CMC 7,9 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
用示波器测量发射信号 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
20 数字超声波探伤仪 – 上下限频率 校准 – 材料性能和缺陷检测
0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
在显示屏刻度上显示信号 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
21 数字超声波探伤仪 – 中心频率 校准 – 材料性能和缺陷检测
0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 3,3 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
由测量值计算 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
22 数字超声波探伤仪 – 增益线性 校准 – 材料性能和缺陷检测
0 dB 至 120 dB · CMC 0,2 dB
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
与标准器比较 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)
23 数字超声波探伤仪 – 带宽 校准 – 材料性能和缺陷检测
0,2 MHz 至 30 MHz · CMC 2,8 %
被测量领域的CMC:材料性能和缺陷检测
由测量值计算 KP 9 (ČSN EN ISO 22232-1)

引用标准 (6)

KP 1
KP 2
KP 3
KP 9
ČSN EN 12668-1:2010
ČSN EN ISO 22232-1

同一认可范围的数据格式(JSON):https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2343