🇨🇿 OPTOKON, a.s. PL
计量与校准
OPTOKON, a.s. 是由 ČIA 认可的校准实验室，认可编号 2315（Jihlava，捷克）。认可范围涵盖 23 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：SMF光纤光学长度 / OTDR光时域反射仪、SMF光纤光衰减 / OTDR光时域反射仪、光功率 / 光功率计、光功率 / 光谱分析仪。最常用的校准原理：基于光纤延迟线的方法、与标准光功率计比较、与标准波长计比较。
要点速览
- 认可编号: ČIA 2315
- 认可范围内校准项目数: 23
- 校准对象种类: 13
- 所用校准原理数: 12
- 城市: Jihlava, 捷克
- 有效期至: 26-06-2031
- 认可编号
- 2315
- 认可机构
- ČIA
- 地址
- Červený Kříž 250, 586 01 Jihlava
- 城市
- Jihlava, 捷克
- 部门
- Laboratorium wzorcujące OPTOKON
- 有效期至
- 26-06-2031
该实验室校准什么 (13)
- SMF光纤光学长度 / OTDR光时域反射仪 — 2 项校准
- SMF光纤光衰减 / OTDR光时域反射仪 — 2 项校准
- 光功率 / 光功率计 — 2 项校准
- 光功率 / 光谱分析仪 — 2 项校准
- 光回波损耗 / 光回波损耗测量仪 — 2 项校准
- 光衰减 / 光衰减器 — 2 项校准
- 光谱响应度 / 光辐射探测器 – Newport 818-xx 光电二极管 — 2 项校准
- 波长 / 光纤用光源 — 2 项校准
- 波长 / 光谱分析仪 — 2 项校准
- 线性 / 光谱分析仪 — 2 项校准
- MMF光纤光学长度 / 光反射仪 — 1 项校准
- 指示式（直读式）温度计 — 1 项校准
- 指示式（直读式）湿度计 — 1 项校准
校准原理 (12)
- 基于光纤延迟线的方法 — 3 项校准
- 与标准光功率计比较 — 2 项校准
- 与标准波长计比较 — 2 项校准
- 借助光衰减器与标准光功率计比较 — 2 项校准
- 测量光功率和电流 — 2 项校准
- 测量光回波损耗并与参考值比较 — 2 项校准
- 测量衰减器各设置的插入损耗 — 2 项校准
- 用光谱分析仪（OSA）测量光纤中光辐射的波长 — 2 项校准
- 用比较法将光功率计探测器对光纤中光辐射功率的测量与标准光功率计比较 — 2 项校准
- 针对不同功率电平和不同距离的OTDR衰减测量 — 2 项校准
- 在气候箱中与标准温度计比较 — 1 项校准
- 在气候箱中与标准湿度计比较 — 1 项校准
实验室部门 (2)
- OPTOKON 伊赫拉瓦 — 13 项校准
- OPTOKON 马来西亚 — 10 项校准
实验室地点
- OPTOKON Jihlava — Červený Kříž 250
- OPTOKON Malezja — 303-4-25, Krystal Point, Jalan Sultan Azlan Shah
证书信息
- 证书日期
- 26.06.2026
认可范围 — 校准项目 (23)
| 序号 | 校准量 / 校准对象 | 标称范围 / 参数 / CMC | 校准原理 | 校准程序 | |
|---|---|---|---|---|---|
| OPTOKON 伊赫拉瓦 | |||||
| 1 | 指示式（直读式）温度计 | 校准 – 温度 -40 °C 至 140 °C · CMC 0,41 °C 被测量领域的CMC：温度 |
在气候箱中与标准温度计比较 | PPKL 2.8 | |
| 2 | 指示式（直读式）湿度计 | 校准 – 空气湿度 (21 至 25) °C — 30 % RH 至 90 % RH · CMC 3,7 % RH 被测量领域的CMC：空气湿度 |
在气候箱中与标准湿度计比较 | PPKL 2.9 | |
| 3 | 光功率 / 光功率计 | 校准 – 光学量 635 nm 至 980 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 4,5 % 635 nm 至 980 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 3,2 % 635 nm 至 980 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 3,0 % 1270 nm 至 1610 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 4,2 % 1270 nm 至 1610 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 2,7 % 1270 nm 至 1610 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 2,5 % 1625 nm 至 1650 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 4,6 % 1625 nm 至 1650 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 3,2 % 1625 nm 至 1650 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 3,0 % 被测量领域的CMC：光学量 |
用比较法将光功率计探测器对光纤中光辐射功率的测量与标准光功率计比较 | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 4 | 光衰减 / 光衰减器 | 校准 – 光学量 1270 nm 至 1650 nm — 0 dB 至 40 dB · CMC 0,26 dB 1270 nm 至 1650 nm — 40 dB 至 65 dB · CMC 0,30 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
测量衰减器各设置的插入损耗 | PPKL 2.2 (ČSN EN 61300-3-4 ed. 2) | |
| 5 | 波长 / 光纤用光源 | 校准 – 光学量 中心波长 — 600 nm 至 1700 nm · CMC 0,33 nm 最大强度 — 600 nm 至 1700 nm · CMC 0,33 nm 被测量领域的CMC：光学量 |
用光谱分析仪（OSA）测量光纤中光辐射的波长 | PPKL 2.3 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 6 | 光回波损耗 / 光回波损耗测量仪 | 校准 – 光学量 1000 nm 至 1700 nm — 3 dB 至 32 dB · CMC 0,5 dB 1000 nm 至 1700 nm — 32 dB 至 42 dB · CMC 0,7 dB 1000 nm 至 1700 nm — 42 dB 至 52 dB · CMC 1,0 dB 1000 nm 至 1700 nm — 52 dB 至 61 dB · CMC 1,5 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
测量光回波损耗并与参考值比较 | PPKL 2.4 (ČSN EN 61300-3-6 ed. 2) | |
| 7 | SMF光纤光学长度 / OTDR光时域反射仪 | 校准 – 光学量 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — 0 km 至 50 km · CMC 0,40 m 被测量领域的CMC：光学量 |
基于光纤延迟线的方法 | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 8 | MMF光纤光学长度 / 光反射仪 | 校准 – 光学量 850 nm, 1300 nm — 0 km 至 5 km · CMC 0,20 m 被测量领域的CMC：光学量 |
基于光纤延迟线的方法 | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-2) | |
| 9 | SMF光纤光衰减 / OTDR光时域反射仪 | 校准 – 光学量 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — 0 dB 至 20 dB · CMC 0,02 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
针对不同功率电平和不同距离的OTDR衰减测量 | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 10 | 光谱响应度 / 光辐射探测器 – Newport 818-xx 光电二极管 | 校准 – 光学量 635 nm 至 940 nm、1625 nm、1650 nm，光功率 -10 dBm 至 -20 dBm — 0 至 1 · CMC 3 % 1270 nm 至 1610 nm，光功率 -10 dBm 至 -20 dBm — 0 至 1 · CMC 2,6 % 被测量领域的CMC：光学量 |
测量光功率和电流 | PPKL 2.7 | |
| 11 | 波长 / 光谱分析仪 | 校准 – 光学量 1250 nm 至 1650 nm · CMC 0,2 nm 被测量领域的CMC：光学量 |
与标准波长计比较 | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
| 12 | 光功率 / 光谱分析仪 | 校准 – 光学量 1250 nm 至 1650 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 2,5 % 被测量领域的CMC：光学量 |
与标准光功率计比较 | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 2) | |
| 13 | 线性 / 光谱分析仪 | 校准 – 光学量 1310 nm, 1550 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 0,24 dB 1310 nm, 1550 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 0,09 dB 1310 nm, 1550 nm — -40 dBm 至 0 dBm · CMC 0,05 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
借助光衰减器与标准光功率计比较 | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
| OPTOKON 马来西亚 | |||||
| 14 | 光功率 / 光功率计 | 校准 – 光学量 635 nm 至 980 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 4,5 % 635 nm 至 980 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 3,2 % 635 nm 至 980 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 3,0 % 1270 nm 至 1610 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 4,2 % 1270 nm 至 1610 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 2,7 % 1270 nm 至 1610 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 2,5 % 1625 nm 至 1650 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 4,6 % 1625 nm 至 1650 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 3,2 % 1625 nm 至 1650 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 3,0 % 被测量领域的CMC：光学量 |
用比较法将光功率计探测器对光纤中光辐射功率的测量与标准光功率计比较 | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 15 | 光衰减 / 光衰减器 | 校准 – 光学量 1270 nm 至 1650 nm — 0 dB 至 40 dB · CMC 0,26 dB 1270 nm 至 1650 nm — 40 dB 至 65 dB · CMC 0,30 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
测量衰减器各设置的插入损耗 | PPKL 2.2 (ČSN EN 61300-3-4 ed. 2) | |
| 16 | 波长 / 光纤用光源 | 校准 – 光学量 中心波长 — 600 nm 至 1700 nm · CMC 0,33 nm 最大强度 — 600 nm 至 1700 nm · CMC 0,33 nm 被测量领域的CMC：光学量 |
用光谱分析仪（OSA）测量光纤中光辐射的波长 | PPKL 2.3 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 17 | 光回波损耗 / 光回波损耗测量仪 | 校准 – 光学量 1000 nm 至 1700 nm — 3 dB 至 32 dB · CMC 0,5 dB 1000 nm 至 1700 nm — 32 dB 至 42 dB · CMC 0,7 dB 1000 nm 至 1700 nm — 42 dB 至 52 dB · CMC 1,0 dB 1000 nm 至 1700 nm — 52 dB 至 61 dB · CMC 1,5 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
测量光回波损耗并与参考值比较 | PPKL 2.4 (ČSN EN 61300-3-6 ed. 2) | |
| 18 | SMF光纤光学长度 / OTDR光时域反射仪 | 校准 – 光学量 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — 0 km 至 50 km · CMC 0,40 m 被测量领域的CMC：光学量 |
基于光纤延迟线的方法 | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 19 | SMF光纤光衰减 / OTDR光时域反射仪 | 校准 – 光学量 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — 0 dB 至 20 dB · CMC 0,02 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
针对不同功率电平和不同距离的OTDR衰减测量 | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 20 | 光谱响应度 / 光辐射探测器 – Newport 818-xx 光电二极管 | 校准 – 光学量 635 nm 至 940 nm、1625 nm、1650 nm，光功率 -10 dBm 至 -20 dBm — 0 至 1 · CMC 3 % 1270 nm 至 1610 nm，光功率 -10 dBm 至 -20 dBm — 0 至 1 · CMC 2,6 % 被测量领域的CMC：光学量 |
测量光功率和电流 | PPKL 2.7 | |
| 21 | 波长 / 光谱分析仪 | 校准 – 光学量 1250 nm 至 1650 nm · CMC 0,2 nm 被测量领域的CMC：光学量 |
与标准波长计比较 | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
| 22 | 光功率 / 光谱分析仪 | 校准 – 光学量 1250 nm 至 1650 nm — -40 dBm 至 +10 dBm · CMC 2,5 % 被测量领域的CMC：光学量 |
与标准光功率计比较 | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 2) | |
| 23 | 线性 / 光谱分析仪 | 校准 – 光学量 1310 nm, 1550 nm — -60 dBm 至 -50 dBm · CMC 0,24 dB 1310 nm, 1550 nm — -50 dBm 至 -40 dBm · CMC 0,09 dB 1310 nm, 1550 nm — -40 dBm 至 0 dBm · CMC 0,05 dB 被测量领域的CMC：光学量 |
借助光衰减器与标准光功率计比较 | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
引用标准 (16)
PPKL 2.1
PPKL 2.2
PPKL 2.3
PPKL 2.4
PPKL 2.5
PPKL 2.6
PPKL 2.7
PPKL 2.8
PPKL 2.9
ČSN EN 61300-3-4 ed. 2
ČSN EN 61300-3-6 ed. 2
ČSN EN 61315 ed. 2
ČSN EN 61315 ed. 3
ČSN EN 61746-1
ČSN EN 61746-2
ČSN EN 62129-1