🇨🇿 OPTOKON, a.s. EN
Metrologia
OPTOKON, a.s. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez ČIA pod numerem 2315 (Jihlava, Czechy). Zakres akredytacji obejmuje 23 pozycje wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Czułość widmowa / detektory promieniowania optycznego – fotodiody N…, Długość fali / optyczne analizatory widma, Długość fali / źródło promieniowania optycznego do światłowodów, Długość optyczna włókna SMF / reflektometry optyczne OTDR. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Metoda oparta na światłowodowej linii opóźniającej, Pomiar długości fali promieniowania optycznego we włóknie optycznym…, Pomiar mocy optycznej i prądu.
W skrócie
- Numer akredytacji: ČIA 2315
- Liczba pozycji wzorcowania: 23
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 13
- Zasad wzorcowania: 12
- Miasto: Jihlava, Czechy
- Ważność do: 26-06-2031
- Numer akredytacji
- 2315
- Jednostka akredytująca
- ČIA
- Adres
- Červený Kříž 250, 586 01 Jihlava
- Miasto
- Jihlava, Czechy
- Dział
- Laboratorium wzorcujące OPTOKON
- Ważność do
- 26-06-2031
Co wzorcuje to laboratorium (13)
- Czułość widmowa / detektory promieniowania optycznego – fotodiody Newport 818-xx — 2 pozycje wzorcowania
- Długość fali / optyczne analizatory widma — 2 pozycje wzorcowania
- Długość fali / źródło promieniowania optycznego do światłowodów — 2 pozycje wzorcowania
- Długość optyczna włókna SMF / reflektometry optyczne OTDR — 2 pozycje wzorcowania
- Liniowość / optyczne analizatory widma — 2 pozycje wzorcowania
- Moc optyczna / mierniki mocy optycznej — 2 pozycje wzorcowania
- Moc optyczna / optyczne analizatory widma — 2 pozycje wzorcowania
- Tłumienie odbiciowe / miernik tłumienia odbiciowego — 2 pozycje wzorcowania
- Tłumienie optyczne / tłumik optyczny — 2 pozycje wzorcowania
- Tłumienie optyczne włókna SMF / reflektometry optyczne OTDR — 2 pozycje wzorcowania
- Długość optyczna włókna MMF / reflektometry optyczne — 1 pozycja wzorcowania
- Termometry wskazujące (bezpośrednio wskazujące) — 1 pozycja wzorcowania
- Wilgotnościomierze wskazujące (bezpośrednio wskazujące) — 1 pozycja wzorcowania
Zasady wzorcowania (12)
- Metoda oparta na światłowodowej linii opóźniającej — 3 pozycje wzorcowania
- Pomiar długości fali promieniowania optycznego we włóknie optycznym analizatorem widma (OSA) — 2 pozycje wzorcowania
- Pomiar mocy optycznej i prądu — 2 pozycje wzorcowania
- Pomiar tłumienia odbiciowego i porównanie z wartością odniesienia — 2 pozycje wzorcowania
- Pomiar tłumienia OTDR dla różnych poziomów mocy i różnych odległości — 2 pozycje wzorcowania
- Pomiar tłumienia wtrąceniowego dla poszczególnych nastaw tłumika — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie pomiaru mocy promieniowania optycznego we włóknie detektorem miernika mocy optycznej z wzorcowym miernikiem mocy optycznej metodą porównawczą — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z wzorcowym miernikiem długości fali — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z wzorcowym miernikiem mocy optycznej — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z wzorcowym miernikiem mocy optycznej z użyciem tłumika optycznego — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z termometrem wzorcowym w komorze klimatycznej — 1 pozycja wzorcowania
- Porównanie z wilgotnościomierzem wzorcowym w komorze klimatycznej — 1 pozycja wzorcowania
Pracownie (2)
- OPTOKON Jihlava — 13 pozycji wzorcowania
- OPTOKON Malezja — 10 pozycji wzorcowania
Lokalizacje laboratorium
- OPTOKON Jihlava — Červený Kříž 250
- OPTOKON Malezja — 303-4-25, Krystal Point, Jalan Sultan Azlan Shah
Informacje o certyfikacie
- Data certyfikatu
- 26.06.2026
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (23)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| OPTOKON Jihlava | |||||
| 1 | Termometry wskazujące (bezpośrednio wskazujące) | Wzorcowanie – temperatura od -40 °C do 140 °C · CMC 0,41 °C CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: temperatura |
Porównanie z termometrem wzorcowym w komorze klimatycznej | PPKL 2.8 | |
| 2 | Wilgotnościomierze wskazujące (bezpośrednio wskazujące) | Wzorcowanie – wilgotność powietrza (21 do 25) °C — od 30 % RH do 90 % RH · CMC 3,7 % RH CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wilgotność powietrza |
Porównanie z wilgotnościomierzem wzorcowym w komorze klimatycznej | PPKL 2.9 | |
| 3 | Moc optyczna / mierniki mocy optycznej | Wzorcowanie – wielkości optyczne 635 nm do 980 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 4,5 % 635 nm do 980 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 3,2 % 635 nm do 980 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 3,0 % 1270 nm do 1610 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 4,2 % 1270 nm do 1610 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 2,7 % 1270 nm do 1610 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 2,5 % 1625 nm do 1650 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 4,6 % 1625 nm do 1650 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 3,2 % 1625 nm do 1650 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 3,0 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie pomiaru mocy promieniowania optycznego we włóknie detektorem miernika mocy optycznej z wzorcowym miernikiem mocy optycznej metodą porównawczą | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 4 | Tłumienie optyczne / tłumik optyczny | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1270 nm do 1650 nm — od 0 dB do 40 dB · CMC 0,26 dB 1270 nm do 1650 nm — od 40 dB do 65 dB · CMC 0,30 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar tłumienia wtrąceniowego dla poszczególnych nastaw tłumika | PPKL 2.2 (ČSN EN 61300-3-4 ed. 2) | |
| 5 | Długość fali / źródło promieniowania optycznego do światłowodów | Wzorcowanie – wielkości optyczne średnia długość fali — od 600 nm do 1700 nm · CMC 0,33 nm maksimum natężenia — od 600 nm do 1700 nm · CMC 0,33 nm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar długości fali promieniowania optycznego we włóknie optycznym analizatorem widma (OSA) | PPKL 2.3 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 6 | Tłumienie odbiciowe / miernik tłumienia odbiciowego | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1000 nm do 1700 nm — od 3 dB do 32 dB · CMC 0,5 dB 1000 nm do 1700 nm — od 32 dB do 42 dB · CMC 0,7 dB 1000 nm do 1700 nm — od 42 dB do 52 dB · CMC 1,0 dB 1000 nm do 1700 nm — od 52 dB do 61 dB · CMC 1,5 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar tłumienia odbiciowego i porównanie z wartością odniesienia | PPKL 2.4 (ČSN EN 61300-3-6 ed. 2) | |
| 7 | Długość optyczna włókna SMF / reflektometry optyczne OTDR | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — od 0 km do 50 km · CMC 0,40 m CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Metoda oparta na światłowodowej linii opóźniającej | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 8 | Długość optyczna włókna MMF / reflektometry optyczne | Wzorcowanie – wielkości optyczne 850 nm, 1300 nm — od 0 km do 5 km · CMC 0,20 m CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Metoda oparta na światłowodowej linii opóźniającej | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-2) | |
| 9 | Tłumienie optyczne włókna SMF / reflektometry optyczne OTDR | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — od 0 dB do 20 dB · CMC 0,02 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar tłumienia OTDR dla różnych poziomów mocy i różnych odległości | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 10 | Czułość widmowa / detektory promieniowania optycznego – fotodiody Newport 818-xx | Wzorcowanie – wielkości optyczne 635 nm do 940 nm, 1625 nm, 1650 nm przy mocy optycznej -10 dBm do -20 dBm — od 0 do 1 · CMC 3 % 1270 nm do 1610 nm przy mocy optycznej -10 dBm do -20 dBm — od 0 do 1 · CMC 2,6 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar mocy optycznej i prądu | PPKL 2.7 | |
| 11 | Długość fali / optyczne analizatory widma | Wzorcowanie – wielkości optyczne od 1250 nm do 1650 nm · CMC 0,2 nm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie z wzorcowym miernikiem długości fali | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
| 12 | Moc optyczna / optyczne analizatory widma | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1250 nm do 1650 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 2,5 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie z wzorcowym miernikiem mocy optycznej | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 2) | |
| 13 | Liniowość / optyczne analizatory widma | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1310 nm, 1550 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 0,24 dB 1310 nm, 1550 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 0,09 dB 1310 nm, 1550 nm — od -40 dBm do 0 dBm · CMC 0,05 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie z wzorcowym miernikiem mocy optycznej z użyciem tłumika optycznego | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
| OPTOKON Malezja | |||||
| 14 | Moc optyczna / mierniki mocy optycznej | Wzorcowanie – wielkości optyczne 635 nm do 980 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 4,5 % 635 nm do 980 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 3,2 % 635 nm do 980 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 3,0 % 1270 nm do 1610 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 4,2 % 1270 nm do 1610 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 2,7 % 1270 nm do 1610 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 2,5 % 1625 nm do 1650 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 4,6 % 1625 nm do 1650 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 3,2 % 1625 nm do 1650 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 3,0 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie pomiaru mocy promieniowania optycznego we włóknie detektorem miernika mocy optycznej z wzorcowym miernikiem mocy optycznej metodą porównawczą | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 15 | Tłumienie optyczne / tłumik optyczny | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1270 nm do 1650 nm — od 0 dB do 40 dB · CMC 0,26 dB 1270 nm do 1650 nm — od 40 dB do 65 dB · CMC 0,30 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar tłumienia wtrąceniowego dla poszczególnych nastaw tłumika | PPKL 2.2 (ČSN EN 61300-3-4 ed. 2) | |
| 16 | Długość fali / źródło promieniowania optycznego do światłowodów | Wzorcowanie – wielkości optyczne średnia długość fali — od 600 nm do 1700 nm · CMC 0,33 nm maksimum natężenia — od 600 nm do 1700 nm · CMC 0,33 nm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar długości fali promieniowania optycznego we włóknie optycznym analizatorem widma (OSA) | PPKL 2.3 (ČSN EN 61315 ed. 3) | |
| 17 | Tłumienie odbiciowe / miernik tłumienia odbiciowego | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1000 nm do 1700 nm — od 3 dB do 32 dB · CMC 0,5 dB 1000 nm do 1700 nm — od 32 dB do 42 dB · CMC 0,7 dB 1000 nm do 1700 nm — od 42 dB do 52 dB · CMC 1,0 dB 1000 nm do 1700 nm — od 52 dB do 61 dB · CMC 1,5 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar tłumienia odbiciowego i porównanie z wartością odniesienia | PPKL 2.4 (ČSN EN 61300-3-6 ed. 2) | |
| 18 | Długość optyczna włókna SMF / reflektometry optyczne OTDR | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — od 0 km do 50 km · CMC 0,40 m CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Metoda oparta na światłowodowej linii opóźniającej | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 19 | Tłumienie optyczne włókna SMF / reflektometry optyczne OTDR | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1310 nm, 1550 nm, 1625 nm — od 0 dB do 20 dB · CMC 0,02 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar tłumienia OTDR dla różnych poziomów mocy i różnych odległości | PPKL 2.5 (ČSN EN 61746-1) | |
| 20 | Czułość widmowa / detektory promieniowania optycznego – fotodiody Newport 818-xx | Wzorcowanie – wielkości optyczne 635 nm do 940 nm, 1625 nm, 1650 nm przy mocy optycznej -10 dBm do -20 dBm — od 0 do 1 · CMC 3 % 1270 nm do 1610 nm przy mocy optycznej -10 dBm do -20 dBm — od 0 do 1 · CMC 2,6 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Pomiar mocy optycznej i prądu | PPKL 2.7 | |
| 21 | Długość fali / optyczne analizatory widma | Wzorcowanie – wielkości optyczne od 1250 nm do 1650 nm · CMC 0,2 nm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie z wzorcowym miernikiem długości fali | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
| 22 | Moc optyczna / optyczne analizatory widma | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1250 nm do 1650 nm — od -40 dBm do +10 dBm · CMC 2,5 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie z wzorcowym miernikiem mocy optycznej | PPKL 2.1 (ČSN EN 61315 ed. 2) | |
| 23 | Liniowość / optyczne analizatory widma | Wzorcowanie – wielkości optyczne 1310 nm, 1550 nm — od -60 dBm do -50 dBm · CMC 0,24 dB 1310 nm, 1550 nm — od -50 dBm do -40 dBm · CMC 0,09 dB 1310 nm, 1550 nm — od -40 dBm do 0 dBm · CMC 0,05 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: wielkości optyczne |
Porównanie z wzorcowym miernikiem mocy optycznej z użyciem tłumika optycznego | PPKL 2.6 (ČSN EN 62129-1) | |
Normy referencyjne (16)
PPKL 2.1
PPKL 2.2
PPKL 2.3
PPKL 2.4
PPKL 2.5
PPKL 2.6
PPKL 2.7
PPKL 2.8
PPKL 2.9
ČSN EN 61300-3-4 ed. 2
ČSN EN 61300-3-6 ed. 2
ČSN EN 61315 ed. 2
ČSN EN 61315 ed. 3
ČSN EN 61746-1
ČSN EN 61746-2
ČSN EN 62129-1