🇨🇿 Mitutoyo Česko s.r.o. PL

ČIA 2390 • Teplice, Tschechien • 18 Kalibrierpositionen

Metrologie

Mitutoyo Česko s.r.o. ist ein von ČIA unter der Nummer 2390 akkreditiertes Kalibrierlabor (Teplice, Tschechien). Der Akkreditierungsbereich umfasst 18 Kalibrierpositionen in den Bereichen: Metrologie. Kalibriert werden unter anderem: Profilmessgeräte für Oberflächen, Rauheitsmessgeräte, Rundheitsmessgeräte, Koordinatenmessgeräte (CMM). Am häufigsten eingesetzte Kalibrierprinzipien: Messung mit einem Glasmaßstab, Messung mit Laserinterferometer, Messung mit optischer Planglasplatte.

Auf einen Blick

Akkreditierungsnummer: ČIA 2390
Kalibrierpositionen im Geltungsbereich: 18
Arten kalibrierter Gegenstände: 10
Eingesetzte Kalibrierprinzipien: 11
Ort: Teplice, Tschechien
Gültig bis: 21-11-2029

Akkreditierungsnummer: 2390
Akkreditierungsstelle: ČIA
Adresse: Dubská 1635, 415 01 Teplice
Ort: Teplice, Tschechien
Abteilung: Kalibrierlabor
Gültig bis: 21-11-2029

Was dieses Labor kalibriert (10)

Profilmessgeräte für Oberflächen — 3 Kalibrierpositionen
Rauheitsmessgeräte — 3 Kalibrierpositionen
Rundheitsmessgeräte — 3 Kalibrierpositionen
Koordinatenmessgeräte (CMM) — 2 Kalibrierpositionen
Koordinatenmessgeräte mit Kamerasystem (VMM) — 2 Kalibrierpositionen
1D-Messgeräte (Höhenmessgeräte) — 1 Kalibrierposition
Messmikroskope — 1 Kalibrierposition
Profilprojektoren — 1 Kalibrierposition
Winkelmessabweichung / Profilprojektoren — 1 Kalibrierposition
Winkelmessabweichung in der XZ-Ebene / Oberflächenprofilmessgeräte — 1 Kalibrierposition

Kalibrierprinzipien (11)

Messung mit einem Glasmaßstab — 3 Kalibrierpositionen
Messung mit Laserinterferometer — 3 Kalibrierpositionen
Messung mit optischer Planglasplatte — 2 Kalibrierpositionen
Messung mit Parallelendmaßen — 2 Kalibrierpositionen
Messung mit UDT-Linearitätsnormal — 2 Kalibrierpositionen
Messung der Lage des Glasmaßstabs durch Drehung der Mattscheibe um 360° — 1 Kalibrierposition
Messung des 135°-Winkelendmaßes — 1 Kalibrierposition
Messung mit Bezugshalbkugel — 1 Kalibrierposition
Messung mit Bezugskugel — 1 Kalibrierposition
Messung mit Bezugszylinder — 1 Kalibrierposition
Vergleich mit Rauheitsnormal — 1 Kalibrierposition

Angaben zur Akkreditierungsurkunde

Datum der Urkunde: 09.07.2025

Akkreditierungsumfang — Kalibrierpositionen (18)

CMC — kleinste angegebene erweiterte Messunsicherheit (ILAC-P14, EA-4/02 M); sofern nicht anders angegeben, Überdeckungswahrscheinlichkeit von etwa 95 %, und Werte ohne Einheit beziehen sich auf den Messwert. Die Unsicherheit einer konkreten Kalibrierung kann größer sein.

Nr.	Kalibrierte Größe / Kalibriergegenstand	Nennbereich / Parameter / CMC	Kalibrierprinzip	Kalibrierverfahren
Kalibrierpositionen
1	Koordinatenmessgeräte (CMM)	Kalibrierung – Länge Räumliche Länge — von 0 m bis 5 m · CMC (0,3L + 0,1) µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Laserinterferometer	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
2	Koordinatenmessgeräte (CMM)	Kalibrierung – Länge Antastabweichung des Tastsystems — von -1 mm bis 1 mm · CMC 0,2 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Bezugskugel	MCZ-PI-KL_SD15_KP01 (ČSN EN ISO 10360-2, ČSN EN ISO 10360-5)
3	Koordinatenmessgeräte mit Kamerasystem (VMM)	Kalibrierung – Länge von 0 m bis 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm X-, Y-Achse — von 0 m bis 1 m · CMC (2,4L + 0,2) µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit einem Glasmaßstab	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
4	Koordinatenmessgeräte mit Kamerasystem (VMM)	Kalibrierung – Länge Z-Achse — von 0 m bis 0,3 m · CMC (3,1L + 0,3) µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Parallelendmaßen	MCZ-PI-KL_SD15_KP06
5	Rauheitsmessgeräte	Kalibrierung – Länge Ra — von 0,1 µm bis 50 µm · CMC 3,4 % Rz — von 0,01 µm bis 50 µm · CMC 2,4 % Rsm — von 0,1 µm bis 400 µm · CMC 0,6 % CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Vergleich mit Rauheitsnormal	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
6	Rauheitsmessgeräte	Kalibrierung – Länge Linearitätsmessabweichung — von -400 µm bis 400 µm · CMC 4 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit UDT-Linearitätsnormal	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
7	Rauheitsmessgeräte	Kalibrierung – Länge Geradheitsmessabweichung — von -15 µm bis 15 µm · CMC 0,06 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit optischer Planglasplatte	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
8	Profilmessgeräte für Oberflächen	Kalibrierung – Länge X-, Y-Achse — von 0 mm bis 200 mm · CMC (0,3L + 0,2) µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Laserinterferometer	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
9	Profilmessgeräte für Oberflächen	Kalibrierung – Länge Z-Achse — von 0 mm bis 60 mm · CMC (0,3L + 0,2 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Parallelendmaßen	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
10	Profilmessgeräte für Oberflächen	Kalibrierung – Länge Abweichung bei der Geradheitsmessung — von -15 µm bis 15 µm · CMC 0,06 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit optischer Planglasplatte	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
11	Profilprojektoren	Kalibrierung – Länge von 0 mm bis 200 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm Parallelität PXY — von -200 µm bis 200 µm · CMC 1 µm Lage des Fadenkreuzes ECH — von -200 µm bis 200 µm · CMC 4 µm Vergrößerungsabweichung — von -1 % bis 1 % · CMC 0,01 % (abs.) CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit einem Glasmaßstab	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
12	Messmikroskope	Kalibrierung – Länge von 0 mm bis 400 mm · CMC (8,9L + 1,2) µm Parallelität PXY — von -200 µm bis 200 µm · CMC 1 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit einem Glasmaßstab	MCZ-PI-KL_SD15_KP03
13	1D-Messgeräte (Höhenmessgeräte)	Kalibrierung – Länge von 0 m bis 1 m · CMC (0,23L + 0,05) µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Laserinterferometer	MCZ-PI-KL_SD15_KP04
14	Rundheitsmessgeräte	Kalibrierung – Länge Linearitätsmessabweichung des Messtasters — von -400 µm bis 400 µm · CMC 4 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit UDT-Linearitätsnormal	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
15	Rundheitsmessgeräte	Kalibrierung – Länge Axialschlag der Spindel — von -200 µm bis 200 µm · CMC 0,02 µm Radialschlag der Spindel — von -200 µm bis 200 µm · CMC 0,04 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Bezugshalbkugel	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
16	Rundheitsmessgeräte	Kalibrierung – Länge Zylindrizität — von 0 µm bis 200 µm · CMC 1,8 µm CMC für den Messgrößenbereich: Länge	Messung mit Bezugszylinder	MCZ-PI-KL_SD15_KP05
17	Winkelmessabweichung in der XZ-Ebene / Oberflächenprofilmessgeräte	Kalibrierung – ebener Winkel 135° · CMC 0,0034° CMC für den Messgrößenbereich: ebener Winkel	Messung des 135°-Winkelendmaßes	MCZ-PI-KL_SD15_KP02 (ČSN EN ISO 3274, ČSN EN ISO 12179)
18	Winkelmessabweichung / Profilprojektoren	Kalibrierung – ebener Winkel 360° · CMC 0,5´ CMC für den Messgrößenbereich: ebener Winkel	Messung der Lage des Glasmaßstabs durch Drehung der Mattscheibe um 360°	MCZ-PI-KL_SD15_KP03

Bezugsnormen (10)

MCZ-PI-KL_SD15_KP01

MCZ-PI-KL_SD15_KP02

MCZ-PI-KL_SD15_KP03

MCZ-PI-KL_SD15_KP04

MCZ-PI-KL_SD15_KP05

MCZ-PI-KL_SD15_KP06

ČSN EN ISO 10360-2

ČSN EN ISO 10360-5

ČSN EN ISO 12179

ČSN EN ISO 3274

Derselbe Geltungsbereich als Daten (JSON): https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2390