🇵🇱 Wavin Polska S.A. PL
计量与校准
Wavin Polska S.A. 是由 PCA 认可的校准实验室，认可编号 AP 167（Buk，波兰）。认可范围涵盖 6 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：内径π尺、分辨率 0,01 mm 的数字测微表、外径π尺、带深度尺的双面游标卡尺。最常用的校准原理：内部程序；与量块比较的直接法；在固定地点 (S)、内部程序；与直径标准器比较的直接法；在固定地点 (S)、内部程序；通过与千分尺测头比较的直接法；在固定场所（S）。
要点速览
- 认可编号: PCA AP 167
- 认可范围内校准项目数: 6
- 校准对象种类: 6
- 所用校准原理数: 3
- 城市: Buk, 波兰
- 有效期至: 27-12-2028
- 认可编号
- AP 167
- 认可机构
- PCA
- 地址
- ul. Dobieżyńska 43, 64-320 Buk
- 城市
- Buk, 波兰
- 部门
- 厂内实验室
- 有效期至
- 27-12-2028
该实验室校准什么 (6)
- 内径π尺 — 1 项校准
- 分辨率 0,01 mm 的数字测微表 — 1 项校准
- 外径π尺 — 1 项校准
- 带深度尺的双面游标卡尺 — 1 项校准
- 带球形测头的指示式测厚仪 — 1 项校准
- 测微头 — 1 项校准
校准原理 (3)
- 内部程序；与量块比较的直接法；在固定地点 (S) — 3 项校准
- 内部程序；与直径标准器比较的直接法；在固定地点 (S) — 2 项校准
- 内部程序；通过与千分尺测头比较的直接法；在固定场所（S） — 1 项校准
证书信息
- 签发日期
- 18.12.2024
- 版次
- 5
- 证书日期
- 21.02.2020
- 认可周期
- 18.12.2024 — 27.12.2028
- 批准人
- Tadeusz Matras
认可范围 — 校准项目 (6)
| 序号 | 校准量 / 校准对象 | 标称范围 / 参数 / CMC | 校准原理 | 校准程序 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 校准项目 | |||||
| 1 | 分辨率 0,01 mm 的数字测微表 | 校准 — 长度 0 mm 至 50 mm · CMC 7 μm 长度 |
内部程序；通过与千分尺测头比较的直接法；在固定场所（S） | LZ M – 3 | |
| 2 | 测微头 | 校准 — 长度 0 mm 至 50 mm · CMC 2,1 μm 长度 |
内部程序；与量块比较的直接法；在固定地点 (S) | LZ M – 2 | |
| 3 | 带球形测头的指示式测厚仪 | 校准 — 长度 0 mm 至 50 mm · CMC 15 μm 长度 |
内部程序；与量块比较的直接法；在固定地点 (S) | LZ M – 5 | |
| 4 | 带深度尺的双面游标卡尺 | 校准 — 长度 0 mm 至 200 mm · CMC 25 μm 长度 |
内部程序；与量块比较的直接法；在固定地点 (S) | LZ M – 1 | |
| 5 | 内径π尺 | 校准 — 长度 200 mm 至 400 mm · CMC 70 μm 400 mm 至 980 mm · CMC 110 μm 长度 |
内部程序；与直径标准器比较的直接法；在固定地点 (S) | LZ M – 4 | |
| 6 | 外径π尺 | 校准 — 长度 15 mm 至 400 mm · CMC 70 μm 400 mm 至 1100 mm · CMC 110 μm 长度 |
内部程序；与直径标准器比较的直接法；在固定地点 (S) | LZ M – 4 | |
引用标准 (5)
LZ M – 1
LZ M – 2
LZ M – 3
LZ M – 4
LZ M – 5