🇵🇱 Wavin Polska S.A. EN
Metrologia
Wavin Polska S.A. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez PCA pod numerem AP 167 (Buk, Polska). Zakres akredytacji obejmuje 6 pozycji wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm, Głowice mikrometryczne, Grubościomierze czujnikowe z kulistymi końcówkami pomiarowymi, Średnicówki taśmowe wewnętrzne. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z płytka…, Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z wzorca…, Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z głowic….
W skrócie
- Numer akredytacji: PCA AP 167
- Liczba pozycji wzorcowania: 6
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 6
- Zasad wzorcowania: 3
- Miasto: Buk, Polska
- Ważność do: 27-12-2028
- Numer akredytacji
- AP 167
- Jednostka akredytująca
- PCA
- Adres
- ul. Dobieżyńska 43, 64-320 Buk
- Miasto
- Buk, Polska
- Dział
- Laboratorium Zakładowe
- Ważność do
- 27-12-2028
Co wzorcuje to laboratorium (6)
- Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm — 1 pozycja wzorcowania
- Głowice mikrometryczne — 1 pozycja wzorcowania
- Grubościomierze czujnikowe z kulistymi końcówkami pomiarowymi — 1 pozycja wzorcowania
- Średnicówki taśmowe wewnętrzne — 1 pozycja wzorcowania
- Średnicówki taśmowe zewnętrzne — 1 pozycja wzorcowania
- Suwmiarki dwustronne z głębokościomierzem — 1 pozycja wzorcowania
Zasady wzorcowania (3)
- Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z płytkami wzorcowymi; W stałej lokalizacji (S) — 3 pozycje wzorcowania
- Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z wzorcami średnicy; W stałej lokalizacji (S) — 2 pozycje wzorcowania
- Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z głowicą mikrometryczną; W stałej lokalizacji (S) — 1 pozycja wzorcowania
Informacje o certyfikacie
- Data wydania
- 18.12.2024
- Wydanie nr
- 5
- Data certyfikatu
- 21.02.2020
- Cykl akredytacji
- 18.12.2024 — 27.12.2028
- Zatwierdzający
- Tadeusz Matras
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (6)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| Pozycje wzorcowania | |||||
| 1 | Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm | Wzorcowanie — Długość 0 mm do 50 mm · CMC 7 μm Długość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z głowicą mikrometryczną; W stałej lokalizacji (S) | LZ M – 3 | |
| 2 | Głowice mikrometryczne | Wzorcowanie — Długość 0 mm do 50 mm · CMC 2,1 μm Długość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z płytkami wzorcowymi; W stałej lokalizacji (S) | LZ M – 2 | |
| 3 | Grubościomierze czujnikowe z kulistymi końcówkami pomiarowymi | Wzorcowanie — Długość 0 mm do 50 mm · CMC 15 μm Długość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z płytkami wzorcowymi; W stałej lokalizacji (S) | LZ M – 5 | |
| 4 | Suwmiarki dwustronne z głębokościomierzem | Wzorcowanie — Długość 0 mm do 200 mm · CMC 25 μm Długość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z płytkami wzorcowymi; W stałej lokalizacji (S) | LZ M – 1 | |
| 5 | Średnicówki taśmowe wewnętrzne | Wzorcowanie — Długość 200 mm do 400 mm · CMC 70 μm 400 mm do 980 mm · CMC 110 μm Długość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z wzorcami średnicy; W stałej lokalizacji (S) | LZ M – 4 | |
| 6 | Średnicówki taśmowe zewnętrzne | Wzorcowanie — Długość 15 mm do 400 mm · CMC 70 μm 400 mm do 1100 mm · CMC 110 μm Długość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia przez porównanie z wzorcami średnicy; W stałej lokalizacji (S) | LZ M – 4 | |
Normy referencyjne (5)
LZ M – 1
LZ M – 2
LZ M – 3
LZ M – 4
LZ M – 5