🇨🇿 DEOM s.r.o. PL
计量与校准
DEOM s.r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室,认可编号 2407(Praha 5,捷克)。认可范围涵盖 4 项校准,涉及以下领域:计量与校准。校准对象包括:光学坐标测量机、光学坐标测量机的多传感器配置。最常用的校准原理:用量块测量、用校准球测量、用玻璃尺测量。
要点速览
- 认可编号: ČIA 2407
- 认可范围内校准项目数: 4
- 校准对象种类: 2
- 所用校准原理数: 3
- 城市: Praha 5, 捷克
- 有效期至: 28-06-2027
- 认可编号
- 2407
- 认可机构
- ČIA
- 地址
- Jinonická 804/80, Košíře, 158 00 Praha 5
- 城市
- Praha 5, 捷克
- 部门
- Laboratorium wzorcujące
- 有效期至
- 28-06-2027
该实验室校准什么 (2)
- 光学坐标测量机 — 2 项校准
- 光学坐标测量机的多传感器配置 — 2 项校准
校准原理 (3)
- 用量块测量 — 2 项校准
- 用校准球测量 — 1 项校准
- 用玻璃尺测量 — 1 项校准
证书信息
- 证书日期
- 27.01.2025
认可范围 — 校准项目 (4)
| 序号 | 校准量 / 校准对象 | 标称范围 / 参数 / CMC | 校准原理 | 校准程序 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 校准项目 | |||||
| 1 | 光学坐标测量机 | 校准 – 长度 X 轴和 Y 轴 — 0 mm 至 2500 mm · CMC (L/660 + 0,6) µm 被测量领域的CMC:长度 |
用玻璃尺测量 | KP1 | |
| 2 | 光学坐标测量机 | 校准 – 长度 Z 轴 — 0 mm 至 400 mm · CMC (L/420 + 1,0) µm 被测量领域的CMC:长度 |
用量块测量 | KP1 | |
| 3 | 光学坐标测量机的多传感器配置 | 校准 – 长度 接触式测头 — 0 mm 至 12 mm · CMC 0,4 µm 被测量领域的CMC:长度 |
用校准球测量 | KP2 | |
| 4 | 光学坐标测量机的多传感器配置 | 校准 – 长度 光学距离传感器 — 0 mm 至 24 mm · CMC 0,1 µm 被测量领域的CMC:长度 |
用量块测量 | KP2 | |
引用标准 (2)
KP1
KP2