{"lab":{"_id":"6ade8b53ff06824761708143","accr_number":"2407","country":"CZ","accr_body":"ČIA","address":"Jinonická 804/80, Košíře, 158 00 Praha 5","categories":["metrology"],"city":"Praha 5","imported_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","lab_kind":"calibration","location":{"type":"Point","coordinates":[14.3747489,50.0615539]},"map_coord":[50.0615539,14.3747489],"map_geo":"cai-mapa","methods_count":4,"name":"DEOM s.r.o.","parse_status":"parsed","parse_version":5,"pdf_files":[],"scope_summary":"Wzorcowanie w dziedzinie długości.","search_text":"deom s.r.o. jinonická 804/80, košíře, 158 00 praha 5 2407","source_page_url":"https://www.cai.cz/?subjekt=2407-deom-s-r-o","status":"active","updated_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","valid_from":"","valid_until":"28-06-2027","website":"www.deom.cz","certificate_date":"27.01.2025","certificate_no":"38/2025","certificate_replaces":"","en_official":true,"fields_of_testing":[{"codes":"","pl":"Wzorcowanie w dziedzinie długości.","en":"Calibration in the field of length.","zh":"长度领域的校准。","cs":"Kalibrace v oboru délka."}],"flexible_scope":false,"flexible_scope_url":null,"has_en":true,"has_zh":true,"lab_division":"Laboratorium wzorcujące","lab_division_cs":"Kalibrační laboratoř","lab_division_en":"Calibration Laboratory","lab_division_zh":"校准实验室","parse_date":"2026-09-28T12:00:00.000Z","parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3","parsed_at":"2026-09-28T12:00:00.000Z","scope_legend":[{"abbr":"L","pl":"długość nominalna [mm]","en":"nominal length [mm]","zh":"标称长度 [mm]","cs":"jmenovitá délka [mm]"}],"scope_notes":[],"source_lang":"cs","source_pdf_sha256":"af9173b0fefb98b585c25ca48dc8512df2e9e9bb641594115b2716d933b70b63","source_pdf_url":"https://www.cai.cz/OA/pdf/P38_2025_CS.pdf","source_pdf_url_en":"https://www.cai.cz/OA/pdf/P38_2025_EN.pdf"},"methods":[{"_id":"e45821a878d2f4ad35f3e1af","lab_id":"6ade8b53ff06824761708143","country":"CZ","accr_number":"2407","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Współrzędnościowa maszyna pomiarowa – optyczna","test_object_en":"Coordinate measuring machine – optical","test_object_zh":"光学坐标测量机","test_object_cs":"Souřadnicový měřicí stroj – optický","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"oś X i Y","range":"od 0 mm do 2500 mm","cmc":"(L/660 + 0,6) µm"}],"parameters_en":[{"name":"axis X and Y","range":"0 mm to 2500 mm","cmc":"(L/660 + 0,6) µm"}],"parameters_zh":[{"name":"X 轴和 Y 轴","range":"0 mm 至 2500 mm","cmc":"(L/660 + 0,6) µm"}],"parameters_cs":[{"name":"osa X a Y","range":"0 mm až 2500 mm","cmc":"(L/660 + 0,6) µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą liniału szklanego","technique_en":"Measuring with a glass ruler","technique_zh":"用玻璃尺测量","technique_cs":"Měření pomocí skleněného pravítka","techniques":["Pomiar za pomocą liniału szklanego"],"techniques_en":["Measuring with a glass ruler"],"techniques_zh":["用玻璃尺测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí skleněného pravítka"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\noś X i Y od 0 mm do 2500 mm CMC (L/660 + 0,6) µm\nPomiar za pomocą liniału szklanego","reference":"KP1","norm_bases":["KP1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Współrzędnościowa maszyna pomiarowa – optyczna Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą liniału szklanego oś X i Y od 0 mm do 2500 mm CMC (L/660 + 0,6) µm Souřadnicový měřicí stroj – optický Kalibrace – délka Měření pomocí skleněného pravítka osa X a Y 0 mm až 2500 mm CMC (L/660 + 0,6) µm KP1 Wspolrzednosciowa maszyna pomiarowa – optyczna Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca linialu szklanego os X i Y od 0 mm do 2500 mm CMC (L/660 + 0,6) µm Souradnicovy merici stroj – opticky Kalibrace – delka Mereni pomoci skleneneho pravitka osa X a Y 0 mm az 2500 mm CMC (L/660 + 0,6) µm KP1","search_en":"Coordinate measuring machine – optical Calibration – length Measuring with a glass ruler axis X and Y 0 mm to 2500 mm CMC (L/660 + 0,6) µm KP1","search_zh":"光学坐标测量机 校准 – 长度 用玻璃尺测量 X 轴和 Y 轴 0 mm 至 2500 mm CMC (L/660 + 0,6) µm KP1","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":0,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"6787bb2aefb744424641532a","lab_id":"6ade8b53ff06824761708143","country":"CZ","accr_number":"2407","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Współrzędnościowa maszyna pomiarowa – optyczna","test_object_en":"Coordinate measuring machine – optical","test_object_zh":"光学坐标测量机","test_object_cs":"Souřadnicový měřicí stroj – optický","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"oś Z","range":"od 0 mm do 400 mm","cmc":"(L/420 + 1,0) µm"}],"parameters_en":[{"name":"Z-axis","range":"0 mm to 400 mm","cmc":"(L/420 + 1,0) µm"}],"parameters_zh":[{"name":"Z 轴","range":"0 mm 至 400 mm","cmc":"(L/420 + 1,0) µm"}],"parameters_cs":[{"name":"osa Z","range":"0 mm až 400 mm","cmc":"(L/420 + 1,0) µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using parallel gauge blocks","technique_zh":"用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar za pomocą płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using parallel gauge blocks"],"techniques_zh":["用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\noś Z od 0 mm do 400 mm CMC (L/420 + 1,0) µm\nPomiar za pomocą płytek wzorcowych","reference":"KP1","norm_bases":["KP1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Współrzędnościowa maszyna pomiarowa – optyczna Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą płytek wzorcowych oś Z od 0 mm do 400 mm CMC (L/420 + 1,0) µm Souřadnicový měřicí stroj – optický Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek osa Z 0 mm až 400 mm CMC (L/420 + 1,0) µm KP1 Wspolrzednosciowa maszyna pomiarowa – optyczna Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca plytek wzorcowych os Z od 0 mm do 400 mm CMC (L/420 + 1,0) µm Souradnicovy merici stroj – opticky Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek osa Z 0 mm az 400 mm CMC (L/420 + 1,0) µm KP1","search_en":"Coordinate measuring machine – optical Calibration – length Measurement using parallel gauge blocks Z-axis 0 mm to 400 mm CMC (L/420 + 1,0) µm KP1","search_zh":"光学坐标测量机 校准 – 长度 用量块测量 Z 轴 0 mm 至 400 mm CMC (L/420 + 1,0) µm KP1","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":1,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"be35c5413086ae1f68502bde","lab_id":"6ade8b53ff06824761708143","country":"CZ","accr_number":"2407","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Wyposażenie wieloczujnikowe współrzędnościowej maszyny pomiarowej – optycznej","test_object_en":"Multisensor equipment of coordinate measuring machine – optical","test_object_zh":"光学坐标测量机的多传感器配置","test_object_cs":"Multisenzorové vybavení souřadnicového měřicího stroje – optického","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"Sonda stykowa","range":"od 0 mm do 12 mm","cmc":"0,4 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Touch probe","range":"0 mm to 12 mm","cmc":"0,4 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"接触式测头","range":"0 mm 至 12 mm","cmc":"0,4 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"Dotyková sonda","range":"0 mm až 12 mm","cmc":"0,4 µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą kuli wzorcowej","technique_en":"Measurement with a calibration sphere","technique_zh":"用校准球测量","technique_cs":"Měření pomocí kalibrační koule","techniques":["Pomiar za pomocą kuli wzorcowej"],"techniques_en":["Measurement with a calibration sphere"],"techniques_zh":["用校准球测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí kalibrační koule"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nSonda stykowa od 0 mm do 12 mm CMC 0,4 µm\nPomiar za pomocą kuli wzorcowej","reference":"KP2","norm_bases":["KP2"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Wyposażenie wieloczujnikowe współrzędnościowej maszyny pomiarowej – optycznej Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą kuli wzorcowej Sonda stykowa od 0 mm do 12 mm CMC 0,4 µm Multisenzorové vybavení souřadnicového měřicího stroje – optického Kalibrace – délka Měření pomocí kalibrační koule Dotyková sonda 0 mm až 12 mm CMC 0,4 µm KP2 Wyposazenie wieloczujnikowe wspolrzednosciowej maszyny pomiarowej – optycznej Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca kuli wzorcowej Sonda stykowa od 0 mm do 12 mm CMC 0,4 µm Multisenzorove vybaveni souradnicoveho mericiho stroje – optickeho Kalibrace – delka Mereni pomoci kalibracni koule Dotykova sonda 0 mm az 12 mm CMC 0,4 µm KP2","search_en":"Multisensor equipment of coordinate measuring machine – optical Calibration – length Measurement with a calibration sphere Touch probe 0 mm to 12 mm CMC 0,4 µm KP2","search_zh":"光学坐标测量机的多传感器配置 校准 – 长度 用校准球测量 接触式测头 0 mm 至 12 mm CMC 0,4 µm KP2","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":2,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"478eebb735b3ad0e493667ea","lab_id":"6ade8b53ff06824761708143","country":"CZ","accr_number":"2407","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Wyposażenie wieloczujnikowe współrzędnościowej maszyny pomiarowej – optycznej","test_object_en":"Multisensor equipment of coordinate measuring machine – optical","test_object_zh":"光学坐标测量机的多传感器配置","test_object_cs":"Multisenzorové vybavení souřadnicového měřicího stroje – optického","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"Optyczny czujnik odległości","range":"od 0 mm do 24 mm","cmc":"0,1 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Optical distance sensor","range":"0 mm to 24 mm","cmc":"0,1 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"光学距离传感器","range":"0 mm 至 24 mm","cmc":"0,1 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"Optický snímač vzdálenosti","range":"0 mm až 24 mm","cmc":"0,1 µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą płytki wzorcowej","technique_en":"Measurement using a parallel gauge block","technique_zh":"用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncové měrky","techniques":["Pomiar za pomocą płytki wzorcowej"],"techniques_en":["Measurement using a parallel gauge block"],"techniques_zh":["用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncové měrky"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nOptyczny czujnik odległości od 0 mm do 24 mm CMC 0,1 µm\nPomiar za pomocą płytki wzorcowej","reference":"KP2","norm_bases":["KP2"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Wyposażenie wieloczujnikowe współrzędnościowej maszyny pomiarowej – optycznej Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą płytki wzorcowej Optyczny czujnik odległości od 0 mm do 24 mm CMC 0,1 µm Multisenzorové vybavení souřadnicového měřicího stroje – optického Kalibrace – délka Měření pomocí koncové měrky Optický snímač vzdálenosti 0 mm až 24 mm CMC 0,1 µm KP2 Wyposazenie wieloczujnikowe wspolrzednosciowej maszyny pomiarowej – optycznej Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca plytki wzorcowej Optyczny czujnik odleglosci od 0 mm do 24 mm CMC 0,1 µm Multisenzorove vybaveni souradnicoveho mericiho stroje – optickeho Kalibrace – delka Mereni pomoci koncove merky Opticky snimac vzdalenosti 0 mm az 24 mm CMC 0,1 µm KP2","search_en":"Multisensor equipment of coordinate measuring machine – optical Calibration – length Measurement using a parallel gauge block Optical distance sensor 0 mm to 24 mm CMC 0,1 µm KP2","search_zh":"光学坐标测量机的多传感器配置 校准 – 长度 用量块测量 光学距离传感器 0 mm 至 24 mm CMC 0,1 µm KP2","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":3,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"}],"has_pdf":true}