🇨🇿 M & B Calibr, spol. s r.o. PL

ČIA 2301 • Ivančice, 捷克 • 82 项校准

计量与校准

M & B Calibr, spol. s r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室，认可编号 2301（Ivančice，捷克）。认可范围涵盖 82 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：三维坐标测量机、热电式温度传感器、直读式温度计、螺纹极限塞规。最常用的校准原理：用标准校准器直接产生、在测长仪上直接和比较测量、用标准万用表直接测量。

要点速览

认可编号: ČIA 2301
认可范围内校准项目数: 82
校准对象种类: 65
所用校准原理数: 47
城市: Ivančice, 捷克
有效期至: 02-07-2029

认可编号: 2301
认可机构: ČIA
地址: Krumlovská 1454/26, 664 91 Ivančice
城市: Ivančice, 捷克
部门: Laboratorium wzorcujące
有效期至: 02-07-2029

该实验室校准什么 (65)

三维坐标测量机 — 3 项校准
热电式温度传感器 — 3 项校准
直读式温度计 — 3 项校准
螺纹极限塞规 — 3 项校准
螺纹环规 — 3 项校准
交流电流 / 交流电流测量仪器 — 2 项校准
刀口尺和平尺 — 2 项校准
扭矩 / 测力计和应变式传感器 — 2 项校准
电容 / 电容测量仪器 — 2 项校准
电阻式温度传感器 — 2 项校准
直流电流 / 直流电流测量仪器 — 2 项校准
线性高度仪 — 2 项校准
0° 至 180° 角尺 — 1 项校准
两点式内径表 — 1 项校准
交流电压 / 交流电压测量仪器 — 1 项校准
另有 50 项

校准原理 (47)

用标准校准器直接产生 — 7 项校准
在测长仪上直接和比较测量 — 4 项校准
用标准万用表直接测量 — 4 项校准
在干体炉中与标准数字温度计比较 — 3 项校准
在标准测量轨道上比较测量 — 3 项校准
在液体槽中与标准数字温度计比较 — 3 项校准
用激光干涉仪直接测量 — 3 项校准
用量块比较测量 — 3 项校准
在 MasterScanner XP 16060 设备上直接测量 — 2 项校准
在专用测量装置上直接测量 — 2 项校准
在小角度发生器上直接测量 — 2 项校准
在测长仪上直接测量 — 2 项校准
在空气炉中与标准数字温度计比较 — 2 项校准
用杠杆千分尺直接测量 — 2 项校准
用标准力传感器比较测量 — 2 项校准
另有 32 项

证书信息

证书日期: 26.09.2025

认可范围 — 校准项目 (82)

CMC — 给出的最小扩展测量不确定度（ILAC-P14、EA-4/02 M）；除非另有说明，包含概率约为95%，不带单位的数值为相对于测量值的相对值。具体校准的不确定度可能更高。

序号	校准量 / 校准对象	标称范围 / 参数 / CMC	校准原理	校准程序
校准项目
1	量块	校准 – 长度 0,5 mm 至 1000 mm · CMC (2.L + 0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用量块比较测量	KP D1
2	钢直尺	校准 – 长度 0 m 至 2 m · CMC 60 µm 2 m 至 5 m · CMC 180 µm 被测量领域的CMC：长度	用量块比较测量	KP D2
3	钢卷尺	校准 – 长度 0 m 至 2 m · CMC 0,14 mm 2 m 至 3 m · CMC 0,28 mm 3 m 至 5 m · CMC 0,42 mm 5 m 至 8 m · CMC 0,70 mm 8 m 至 10 m · CMC 0,98 mm 被测量领域的CMC：长度	在标准测量轨道上比较测量	KP D2
4	测量卷尺	校准 – 长度 0 m 至 10 m · CMC 0,4 mm 10 m 至 20 m · CMC 0,6 mm 20 m 至 50 m · CMC 1,0 mm 50 m 至 100 m · CMC 2,2 mm 被测量领域的CMC：长度	在标准测量轨道上比较测量	KP D3
5	激光测距仪	校准 – 长度 0 m 至 5 m · CMC 0,2 mm 5 m 至 10 m · CMC 0,4 mm 被测量领域的CMC：长度	在标准测量轨道上比较测量	KP D3
6	滚轮测距仪	校准 – 长度 0 m 至 1000 m · CMC 0,4 % 被测量领域的CMC：长度	借助测量卷尺比较测量	KP D3
7	极限环规和校对环规	校准 – 长度 1 mm 至 100 mm · CMC (2.L + 0,5) µm 100 mm 至 500 mm · CMC (2.L + 2,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接和比较测量	KP D4
8	极限卡规	校准 – 长度 1 mm 至 100 mm · CMC (2.L + 0,5) µm 100 mm 至 500 mm · CMC (2.L + 2,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接和比较测量	KP D4
9	塞尺	校准 – 长度 0,02 mm 至 100 mm · CMC (2.L + 0,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接和比较测量	KP D4
10	极限圆柱塞规	校准 – 长度 100 mm 至 500 mm · CMC (2.L + 2,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接和比较测量	KP D4
11	塞尺、极限圆柱塞规	校准 – 长度 1 mm 至 125 mm · CMC (2.L + 2,4) µm 被测量领域的CMC：长度	用杠杆千分尺直接测量	KP D4
12	螺纹极限塞规	校准 – 长度 1 mm 至 200 mm · CMC (3.L + 3) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP D5
13	螺纹极限塞规	校准 – 长度 1 mm 至 160 mm · CMC (1.L + 4) µm 被测量领域的CMC：长度	在 MasterScanner XP 16060 设备上直接测量	KP D5
14	螺纹环规	校准 – 长度 1 mm 至 3 mm · CMC (3.L + 3) µm 被测量领域的CMC：长度	与磨损检验塞规比较	KP D5
15	螺纹环规	校准 – 长度 2,5 mm 至 200 mm · CMC (3.L + 3) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上间接测量	KP D5
16	螺纹环规	校准 – 长度 3 mm 至 160 mm · CMC (1.L + 4) µm 被测量领域的CMC：长度	在 MasterScanner XP 16060 设备上直接测量	KP D5
17	螺纹极限塞规	校准 – 长度 1 mm 至 125 mm · CMC (3.L + 3,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用杠杆千分尺直接测量	KP D5
18	游标量具：卡尺、深度尺、高度尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC 12 µm 1000 mm 至 3000 mm · CMC 20 µm 被测量领域的CMC：长度	用量块和环规比较测量	KP D6
19	千分尺类量具：千分尺、杠杆卡规、杠杆千分尺、测微头、深度千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 25 mm · CMC 0,7 µm 25 mm 至 100 mm · CMC 1,4 µm 100 mm 至 1000 mm · CMC 2,5 µm 1000 mm 至 1500 mm · CMC 4,1 µm 被测量领域的CMC：长度	用量块比较测量	KP D7
20	内径千分尺、三点式内径表	校准 – 长度 2 mm 至 100 mm · CMC 2,0 µm 100 mm 至 300 mm · CMC 4,0 µm 被测量领域的CMC：长度	用校对环规比较测量	KP D8
21	内径测微杆	校准 – 长度 10 mm 至 3000 mm · CMC (3 L + 2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP D9
22	电磁式、超声波测厚仪	校准 – 长度 0 mm 至 1,5 mm · CMC (1.L + 1,3) µm 1,5 mm 至 500 mm · CMC (1.L + 2,3) µm 被测量领域的CMC：长度	与厚度标准比较测量	KP D10
23	直接式和杠杆式百分表	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC 0,3 µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上直接测量	KP D11
24	两点式内径表	校准 – 长度 2 mm 至 205 mm · CMC 0,3 µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上直接测量	KP D11
25	量规、测量夹具、样板、平面和角度量具	校准 – 长度 0 mm 至 2000 mm · CMC (4,5.L + 1,7) µm 被测量领域的CMC：长度	在三维坐标测量机上测量	KP D12
26	轮廓投影仪、测量显微镜	校准 – 长度 0 mm 至 600 mm · CMC (1.L + 2,6) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准尺比较测量	KP D13
27	机械量具的直线度测量、线性测量、平面度测量	校准 – 长度直线度 — 0 m 至 20 m · CMC (1.L + 0,1) µm 平面度 — 0 m 至 20 m · CMC 1,5 µm/m² 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪直接测量	KP D14
28	量规、测量夹具、专用量块	校准 – 长度 0 mm 至 600 mm · CMC (2,5.L + 1,2) µm 被测量领域的CMC：长度	在线性高度仪上测量	KP D15
29	线性高度仪	校准 – 长度 0 mm 至 600 mm · CMC (0,8.L + 0,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用校准梳规比较测量	KP D16
30	线性高度仪	校准 – 长度 600 mm 至 1000 mm · CMC (1.L + 3,0) µm 被测量领域的CMC：长度	用校准梳规和量块比较测量	KP D16
31	轮廓仪	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (1.L + 2,6) µm 被测量领域的CMC：长度	用端度标准比较测量	KP D17
32	测长仪	校准 – 长度 0 mm 至 20000 mm · CMC (2.L + 0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪直接测量	KP D18
33	三维坐标测量机	校准 – 长度 0 mm 至 600 mm · CMC (2.L + 0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用校准梳规比较测量	KP D19
34	三维坐标测量机	校准 – 长度 600 mm 至 1000 mm · CMC (2.L + 0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用校准梳规和量块比较测量	KP D19
35	三维坐标测量机	校准 – 长度 0 mm 至 10000 mm · CMC (1.L + 0,1) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪直接测量	KP D19
36	量规、专用量块、测量夹具、样板、直尺	校准 – 长度 0 mm 至 330 mm · CMC (2.L + 3,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在二维显微镜上直接测量	KP D20
37	刀口尺和平尺	校准 – 长度 0 mm 至 2000 mm · CMC (5.L + 2) µm 被测量领域的CMC：长度	在平板上直接测量	KP D21
38	刀口尺和平尺	校准 – 长度 2000 mm 至 3000 mm · CMC (5.L + 12) µm 被测量领域的CMC：长度	在床身上测量	KP D21
39	粗糙度仪	校准 – 长度 0,01 µm 至 6000 µm · CMC 5 % 被测量领域的CMC：长度	与粗糙度标准比较测量	KP DR1
40	粗糙度标准样块	校准 – 长度 0,01 µm 至 6000 µm · CMC 5 % 被测量领域的CMC：长度	在粗糙度仪上直接测量	KP DR1
41	0° 至 180° 角尺	校准 – 长度臂长至 3 m — 0 mm 至 7 mm · CMC (4,5.L + 2) µm 被测量领域的CMC：长度	在三维坐标测量机上直接测量	KP R2
42	建筑水平尺、液体机械水平仪	校准 – 平面角分度灵敏度自 0,01 mm/m 起 — -52 mm/m 至 52 mm/m · CMC 0,005 mm/m 被测量领域的CMC：平面角	在小角度发生器上直接测量	KP R1
43	倾角仪	校准 – 平面角分度值自 0,01° 起 — -180° 至 180° · CMC 0,15° 被测量领域的CMC：平面角	在小角度发生器上直接测量	KP R1
44	角度尺	校准 – 平面角 0° 至 360° · CMC 5´ 被测量领域的CMC：平面角	用角度块直接测量	KP R2
45	活塞式移液器	校准 – 体积、流量蒸馏水 — 0,5 µl 至 10000 µl · CMC 0,13 % + 0,01 µl 被测量领域的CMC：体积、流量	依据 ČSN EN ISO 8655-6 的重量法	KP P1
46	非自动衡器	校准 – 质量 E2 级砝码 — 0,001 g 至 2000 g · CMC 2,7.10⁻⁶ F2 级砝码 — 2 kg 至 20 kg · CMC 1,4.10⁻⁵ M1 级砝码 — 20 kg 至 1000 kg · CMC 5,0.10⁻⁵ 被测量领域的CMC：质量	用标准砝码加载（依据 OIML R111-1:2004）	KP VA1
47	砝码及物体的约定质量	校准 – 质量 1 g · CMC 0,4 mg 1 g 至 2 g · CMC 0,5 mg 2 g 至 5 g · CMC 0,6 mg 5 g 至 10 g · CMC 0,7 mg 10 g 至 20 g · CMC 0,9 mg 20 g 至 50 g · CMC 1,2 mg 50 g 至 100 g · CMC 1,9 mg 100 g 至 200 g · CMC 2,8 mg 200 g 至 500 g · CMC 5,1 mg 500 g 至 1 kg · CMC 10 mg 1 kg 至 2 kg · CMC 17 mg 2 kg 至 5 kg · CMC 31 mg 5 kg 至 10 kg · CMC 60 mg 10 kg 至 20 kg · CMC 90 mg 被测量领域的CMC：质量	在标准天平上与标准砝码比较（依据 OIML R111-1:2004）	KP VA2
48	转速测量仪	校准 – 转速 30 min⁻¹ 至 40000 min⁻¹ · CMC 1,1 % 被测量领域的CMC：转速	在转速发生器上直接测量	KP OT1
49	硬度 / 硬度块和试样	校准 – 力、机械试验洛氏 — 70 HRA 至 85 HRA · CMC 0,40 HRA 洛氏 — 60 HRB 至 100 HRB · CMC 0,40 HRB 洛氏 — 20 HRC 至 70 HRC · CMC 0,40 HRC 被测量领域的CMC：力、机械试验	直接测量	KP TV1
50	硬度 / 硬度块	校准 – 力、机械试验邵氏 A — 0 ShA 至 100 ShA · CMC 2,0 ShA 邵氏 D — 0 ShD 至 100 ShD · CMC 2,0 ShD 布氏 — 8 HBW 至 650 HBW · CMC 1,0 % 维氏；HV2 至 HV50 — 10 HV 至 2900 HV · CMC 1,0 % 被测量领域的CMC：力、机械试验	直接测量	KP TV1
51	硬度 / 金属硬度计	校准 – 力、机械试验洛氏 — 70 HRA 至 85 HRA · CMC 0,50 HRA 洛氏 — 60 HRB 至 100 HRB · CMC 0,50 HRB 洛氏 — 20 HRC 至 70 HRC · CMC 0,50 HRC 维氏 — 10 HV 至 2000 HV · CMC 0,50 % 布氏 — 10 HBW 至 650 HBW · CMC 0,50 % 被测量领域的CMC：力、机械试验	用标准硬度块直接测量	KP TV1
52	硬度 / A、D、E、C 型邵氏硬度计	校准 – 力、机械试验 1 Sh 至 100 Sh · CMC 0,50 Sh 被测量领域的CMC：力、机械试验	用标准硬度块直接测量	KP TV1
53	扭矩 / 扭矩扳手	校准 – 力、机械试验 0,1 Nm 至 1100 Nm · CMC 0,65 % 1100 Nm 至 3000 Nm · CMC 0,90 % 被测量领域的CMC：力、机械试验	用标准扭矩传感器比较测量	KP S1
54	扭矩 / 扭矩测量装置、扭矩拧紧器、扭矩传感器	校准 – 力、机械试验 0,1 Nm 至 500 Nm · CMC 0,40 % 500 Nm 至 2000 Nm · CMC 1,05 % 被测量领域的CMC：力、机械试验	用标准扭矩传感器比较测量	KP S1
55	扭矩 / 测力计和应变式传感器	校准 – 力、机械试验 0,001 N 至 5 kN · CMC 0,20 % 5 kN 至 30 kN · CMC 0,30 % 被测量领域的CMC：力、机械试验	用标准力传感器比较测量	KP S2
56	扭矩 / 测力计和应变式传感器	校准 – 力、机械试验 0,001 N 至 5 kN · CMC 0,20 % 5 kN 至 20 kN · CMC 0,30 % 被测量领域的CMC：力、机械试验	用标准力传感器比较测量	KP S2
57	弹性压力表、轮胎压力表、机电式压力表（数字压力表、带数字输出的压力变送器）	校准 – 压力气体；绝对压力 — 0 kPa 至 7 MPa · CMC 0,05 % + 100 Pa 气体；表压 — -100 kPa 至 -1 kPa · CMC 130 Pa 气体；表压 — -1 kPa 至 1 kPa · CMC 3,2 Pa 气体；表压 — 1 kPa 至 35 kPa · CMC 18 Pa 气体；表压 — 35 kPa 至 7 MPa · CMC 0,05 % 液体；绝对压力 — 0 kPa 至 7 MPa · CMC 0,05 % + 100 Pa 液体；绝对压力 — 7 MPa 至 70 MPa · CMC 0,05 % 液体；绝对压力 — 70 MPa 至 140 MPa · CMC 0,2 % 液体；表压 — 0 MPa 至 1,4 MPa · CMC 1,4 kPa 液体；表压 — 1,4 MPa 至 70 MPa · CMC 0,05 % 液体；表压 — 70 MPa 至 140 MPa · CMC 0,2 % 被测量领域的CMC：压力	与标准数字压力表比较测量	KP T1, KP T2
58	直读式温度计	校准 – 温度 -50 °C 至 0 °C · CMC 0,14 °C 100 °C 至 200 °C · CMC 0,22 °C 200 °C 至 300 °C · CMC 0,32 °C 300 °C 至 400 °C · CMC 0,42 °C 400 °C 至 500 °C · CMC 0,52 °C 500 °C 至 650 °C · CMC 0,67 °C 被测量领域的CMC：温度	在干体炉中与标准数字温度计比较	KP TE1
59	直读式温度计	校准 – 温度 0 °C 至 100 °C · CMC 0,08 °C 被测量领域的CMC：温度	在液体槽中与标准数字温度计比较	KP TE1
60	直读式温度计	校准 – 温度 650 °C 至 1100 °C · CMC 1,5 °C 被测量领域的CMC：温度	在空气炉中与标准数字温度计比较	KP TE1
61	非接触式温度计	校准 – 温度 -10 °C 至 200 °C · CMC 3,0 °C 200 °C 至 500 °C · CMC 6,0 °C 500 °C 至 800 °C · CMC 10,0 °C 被测量领域的CMC：温度	在面源或空腔黑体上与标准高温计比较	KP TE4
62	热电式温度传感器	校准 – 温度 -50 °C 至 0 °C · CMC 0,7 °C 100 °C 至 550 °C · CMC 0,9 °C 被测量领域的CMC：温度	在干体炉中与标准数字温度计比较	KP TE2
63	热电式温度传感器	校准 – 温度 0 °C 至 100 °C · CMC 0,7 °C 被测量领域的CMC：温度	在液体槽中与标准数字温度计比较	KP TE2
64	热电式温度传感器	校准 – 温度 550 °C 至 800 °C · CMC 2,3 °C 被测量领域的CMC：温度	在空气炉中与标准数字温度计比较	KP TE2
65	电阻式温度传感器	校准 – 温度 -50 °C 至 0 °C · CMC 0,15 °C 100 °C 至 400 °C · CMC 0,45 °C 被测量领域的CMC：温度	在干体炉中与标准数字温度计比较	KP TE3
66	电阻式温度传感器	校准 – 温度 0 °C 至 100 °C · CMC 0,13 °C 被测量领域的CMC：温度	在液体槽中与标准数字温度计比较	KP TE3
67	直流电压 / 直流电压源	校准 – 电学量 0 mV 至 100 mV · CMC 0,0062 % + 6,1 µV 0,1 V 至 1 V · CMC 0,0047 % + 16 µV 1 V 至 10 V · CMC 0,0047 % + 0,14 mV 10 V 至 100 V · CMC 0,0079 % + 2,0 mV 100 V 至 1000 V · CMC 0,0079 % + 20 mV 被测量领域的CMC：电学量	用标准万用表直接测量	KP EL2
68	直流电压 / 直流电压测量仪器	校准 – 电学量 0 mV 至 200 mV · CMC 0,0053 % + 7,7 µV 0,2 V 至 2 V · CMC 0,0028 % + 15 µV 2 V 至 20 V · CMC 0,0028 % + 0,15 mV 20 V 至 200 V · CMC 0,0028 % + 1,5 mV 200 V 至 1000 V · CMC 0,0035 % + 17 mV 被测量领域的CMC：电学量	用标准校准器直接产生	KP EL1
69	直流电流 / 直流电流源	校准 – 电学量 0 µA 至 10 µA · CMC 0,050 % + 6,1 nA 10 µA 至 100 µA · CMC 0,074 % + 17 nA 0,1 mA 至 1 mA · CMC 0,075 % + 0,16 µA 1 mA 至 10 mA · CMC 0,034 % + 1,2 µA 10 mA 至 100 mA · CMC 0,034 % + 12 µA 100 mA 至 1 A · CMC 0,068 % + 0,15 mA 1 A 至 3 A · CMC 0,061 % + 1,1 mA 被测量领域的CMC：电学量	用标准万用表直接测量	KP EL2
70	直流电流 / 直流电流测量仪器	校准 – 电学量 0 µA 至 200 µA · CMC 0,020 % + 73 nA 0,2 mA 至 2 mA · CMC 0,016 % + 0,13 µA 2 mA 至 20 mA · CMC 0,009 % + 0,94 µA 20 mA 至 200 mA · CMC 0,012 % + 9,7 µA 0,2 A 至 2 A · CMC 0,018 % + 0,13 mA 2 A 至 30 A · CMC 0,069 % + 2,5 mA 被测量领域的CMC：电学量	用标准校准器直接产生	KP EL1
71	直流电流 / 直流电流测量仪器	校准 – 电学量 30 A 至 1500 A · CMC 0,42 % + 0,13 A 被测量领域的CMC：电学量	用电流线圈模拟	KP EL1
72	交流电压 / 交流电压源	校准 – 电学量 10 Hz 至 20 kHz — 0,1 mV 至 100 mV · CMC 0,086 % + 36 µV 20 kHz 至 50 kHz — 0,1 mV 至 100 mV · CMC 0,16 % + 59 µV 50 kHz 至 100 kHz — 0,1 mV 至 100 mV · CMC 0,69 % + 93 µV 10 Hz 至 20 kHz — 0,1 V 至 1 V · CMC 0,076 % + 0,43 mV 20 kHz 至 50 kHz — 0,1 V 至 1 V · CMC 0,14 % + 0,73 mV 50 kHz 至 100 kHz — 0,1 V 至 1 V · CMC 0,71 % + 0,81 mV 10 Hz 至 20 kHz — 1 V 至 10 V · CMC 0,076 % + 4,4 mV 20 kHz 至 50 kHz — 1 V 至 10 V · CMC 0,14 % + 7,3 mV 50 kHz 至 100 kHz — 1 V 至 10 V · CMC 0,71 % + 17 mV 10 Hz 至 20 kHz — 10 V 至 100 V · CMC 0,076 % + 44 mV 20 kHz 至 50 kHz — 10 V 至 100 V · CMC 0,14 % + 73 mV 50 kHz 至 100 kHz — 10 V 至 100 V · CMC 0,71 % + 81 mV 10 Hz 至 20 kHz — 100 V 至 750 V · CMC 0,07 % + 0,35 V 20 kHz 至 50 kHz — 100 V 至 750 V · CMC 0,14 % + 0,59 V 50 kHz 至 100 kHz — 100 V 至 750 V · CMC 0,61 % + 1,5 V 被测量领域的CMC：电学量	用标准万用表直接测量	KP EL2
73	交流电压 / 交流电压测量仪器	校准 – 电学量 10 Hz 至 45 Hz — 0,1 mV 至 200 mV · CMC 0,16 % + 64 µV 45 Hz 至 10 kHz — 0,1 mV 至 200 mV · CMC 0,049 % + 69 µV 10 kHz 至 20 kHz — 0,1 mV 至 200 mV · CMC 0,12 % + 86 µV 20 kHz 至 50 kHz — 0,1 mV 至 200 mV · CMC 0,20 % + 98 µV 10 Hz 至 45 Hz — 0,2 V 至 2 V · CMC 0,082 % + 0,38 mV 45 Hz 至 10 kHz — 0,2 V 至 2 V · CMC 0,042 % + 0,29 mV 10 kHz 至 20 kHz — 0,2 V 至 2 V · CMC 0,12 % + 0,46 mV 20 kHz 至 50 kHz — 0,2 V 至 2 V · CMC 0,17 % + 0,73 mV 10 Hz 至 45 Hz — 2 V 至 20 V · CMC 0,084 % + 3,8 mV 45 Hz 至 10 kHz — 2 V 至 20 V · CMC 0,042 % + 2,7 mV 10 kHz 至 20 kHz — 2 V 至 20 V · CMC 0,12 % + 4,7 mV 20 kHz 至 50 kHz — 2 V 至 20 V · CMC 0,17 % + 5,6 mV 30 Hz 至 45 Hz — 20 V 至 200 V · CMC 0,082 % + 31 mV 45 Hz 至 10 kHz — 20 V 至 200 V · CMC 0,10 % + 43 mV 10 kHz 至 20 kHz — 20 V 至 200 V · CMC 0,14 % + 56 mV 20 kHz 至 40 kHz — 20 V 至 200 V · CMC 0,17 % + 61 mV 30 Hz 至 45 Hz — 200 V 至 1000 V · CMC 0,082 % + 0,45 V 45 Hz 至 1 kHz — 200 V 至 1000 V · CMC 0,09 % + 0,28 V 1 kHz 至 5 kHz — 200 V 至 1000 V · CMC 0,14 % + 0,38 V 5 kHz 至 10 kHz — 200 V 至 1000 V · CMC 0,16 % + 0,49 V 被测量领域的CMC：电学量	用标准校准器直接产生	KP EL1
74	交流电流 / 交流电流源	校准 – 电学量 10 Hz 至 1 kHz — 0,1 µA 至 100 µA · CMC 0,15 % + 7,3 nA 10 Hz 至 5 kHz — 0,1 mA 至 1 mA · CMC 0,10 % + 0,51 µA 10 Hz 至 5 kHz — 1 mA 至 10 mA · CMC 0,10 % + 5,1 µA 10 Hz 至 5 kHz — 10 mA 至 100 mA · CMC 0,10 % + 51 µA 10 Hz 至 5 kHz — 0,1 A 至 1 A · CMC 0,10 % + 0,51 mA 10 Hz 至 5 kHz — 1 A 至 3 A · CMC 0,15 % + 3,4 mA 被测量领域的CMC：电学量	用标准万用表直接测量	KP EL2
75	交流电流 / 交流电流测量仪器	校准 – 电学量 10 Hz 至 45 Hz — 20 µA 至 200 µA · CMC 0,25 % + 0,40 µA 45 Hz 至 1 kHz — 20 µA 至 200 µA · CMC 0,08 % + 0,30 µA 10 Hz 至 45 Hz — 0,2 mA 至 2 mA · CMC 0,23 % + 0,40 µA 45 Hz 至 1 kHz — 0,2 mA 至 2 mA · CMC 0,06 % + 0,30 µA 10 Hz 至 45 Hz — 2 mA 至 20 mA · CMC 0,23 % + 4,5 µA 45 Hz 至 1 kHz — 2 mA 至 20 mA · CMC 0,05 % + 3,0 µA 10 Hz 至 45 Hz — 20 mA 至 200 mA · CMC 0,23 % + 45 µA 45 Hz 至 1 kHz — 20 mA 至 200 mA · CMC 0,05 % + 30 µA 10 Hz 至 45 Hz — 0,2 A 至 2 A · CMC 0,23 % + 0,45 mA 45 Hz 至 1 kHz — 0,2 A 至 2 A · CMC 0,06 % + 0,30 mA 30 Hz 至 45 Hz — 2 A 至 30 A · CMC 0,23 % + 4,5 mA 45 Hz 至 100 Hz — 2 A 至 30 A · CMC 0,06 % + 3,0 mA 100 Hz 至 1 kHz — 2 A 至 30 A · CMC 0,60 % + 5,8 mA 被测量领域的CMC：电学量	用标准校准器直接产生	KP EL1
76	交流电流 / 交流电流测量仪器	校准 – 电学量 30 Hz 至 60 Hz — 30 A 至 1500 A · CMC 0,42 % + 0,13 A 被测量领域的CMC：电学量	用电流线圈模拟	KP EL1
77	直流电阻 / 直流电阻测量仪器	校准 – 电学量 0,1 Ω · CMC 8,7 mΩ 1 Ω · CMC 8,9 mΩ 10 Ω · CMC 11 mΩ 100 Ω · CMC 20 mΩ 1 kΩ · CMC 0,16 Ω 10 kΩ · CMC 1,6 Ω 100 kΩ · CMC 15 Ω 1 MΩ · CMC 0,29 kΩ 10 MΩ · CMC 8,0 kΩ 100 MΩ · CMC 0,98 MΩ 1 GΩ · CMC 22 MΩ 0 Ω 至 100 Ω · CMC 0,018 % + 88 mΩ 100 Ω 至 330 Ω · CMC 0,012 % + 0,11 Ω 330 Ω 至 1 kΩ · CMC 0,01 % + 0,19 Ω 1 kΩ 至 3,3 kΩ · CMC 0,012 % + 0,29 Ω 3,3 kΩ 至 10 kΩ · CMC 0,0082 % + 1,4 Ω 10 kΩ 至 33 kΩ · CMC 0,012 % + 2,2 Ω 33 kΩ 至 100 kΩ · CMC 0,0066 % + 18 Ω 100 kΩ 至 330 kΩ · CMC 0,011 % + 24 Ω 330 kΩ 至 1 MΩ · CMC 0,0066 % + 0,18 kΩ 1 MΩ 至 3,3 MΩ · CMC 0,013 % + 0,24 kΩ 3,3 MΩ 至 10 MΩ · CMC 0,0075 % + 1,8 kΩ 10 MΩ 至 33 MΩ · CMC 0,052 % + 6,4 kΩ 33 MΩ 至 100 MΩ · CMC 0,064 % + 0,21 MΩ 100 MΩ 至 330 MΩ · CMC 1,3 % + 1,9 MΩ 330 MΩ 至 1 GΩ · CMC 2,4 % + 13 MΩ 被测量领域的CMC：电学量	用标准校准器直接产生	KP EL 1
78	电容 / 电容测量仪器	校准 – 电学量 1 kHz — 1 nF · CMC 0,48 % 1 kHz — 2 nF · CMC 0,73 % 1 kHz — 5 nF · CMC 0,70 % 1 kHz — 10 nF · CMC 0,54 % 1 kHz — 100 nF · CMC 0,41 % 1 kHz — 1 µF · CMC 0,65 % 1 kHz — 10 µF · CMC 0,98 % 被测量领域的CMC：电学量	用标准校准器直接产生	KP EL1
79	电容 / 电容测量仪器	校准 – 电学量 10 µF 至 100 µF · CMC 1,2 % 被测量领域的CMC：电学量	与标准万用表比较	KP EL1
80	时间间隔 / 计时器具、秒表、定时器	校准 – 时间和频率量 1 s 至 86400 s · CMC 0,5 s 被测量领域的CMC：时间和频率量	与标准数字秒表比较	KP Č1
81	频率 / 低频和高频计数器	校准 – 时间和频率量 1 Hz 至 100 kHz · CMC 1,7.10⁻⁶ 100 kHz 至 1000 kHz · CMC 2,3.10⁻⁶ 10 MHz · CMC 1,7.10⁻⁵ 被测量领域的CMC：时间和频率量	用标准校准器直接产生	KP EL1
82	相对湿度测量仪（干湿表除外）	校准 – 湿度 (20 至 40) °C — 10 % RH 至 95 % RH · CMC 2,3 % RH 被测量领域的CMC：湿度	在湿度发生器中与标准湿度计比较测量	KP VL1

引用标准 (42)

KP D1

KP D10

KP D11

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KP D2

KP D20

KP D21

KP D3

KP D4

KP D5

KP D6

KP D7

KP D8

KP D9

KP DR1

KP EL 1

KP EL1

KP EL2

KP OT1

KP P1

KP R1

KP R2

KP S1

KP S2

KP T1

KP T2

KP TE1

KP TE2

KP TE3

KP TE4

KP TV1

KP VA1

KP VA2

KP VL1

KP Č1

同一认可范围的数据格式（JSON）：https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2301