🇨🇿 Hexagon Manufacturing Intelligence Czech Republic s.r.o. EN
Metrologia
Hexagon Manufacturing Intelligence Czech Republic s.r.o. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez ČIA pod numerem 2397 (Praha 8, Czechy). Zakres akredytacji obejmuje 23 pozycje wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Trackery laserowe, Ramiona pomiarowe, Współrzędnościowe maszyny pomiarowe, Optyczne maszyny pomiarowe z multisensorem. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Pomiar za pomocą kuli wzorcowej, Pomiar wzorcem schodkowym, Pomiar dwustronny reflektorem.
W skrócie
- Numer akredytacji: ČIA 2397
- Liczba pozycji wzorcowania: 23
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 5
- Zasad wzorcowania: 14
- Miasto: Praha 8, Czechy
- Ważność do: 28-11-2030
- Numer akredytacji
- 2397
- Jednostka akredytująca
- ČIA
- Adres
- Boudníkova 2538/13, Libeň, 180 00 Praha 8
- Miasto
- Praha 8, Czechy
- Dział
- Laboratorium wzorcujące
- Ważność do
- 28-11-2030
Co wzorcuje to laboratorium (5)
- Trackery laserowe — 8 pozycji wzorcowania
- Ramiona pomiarowe — 6 pozycji wzorcowania
- Współrzędnościowe maszyny pomiarowe — 4 pozycje wzorcowania
- Optyczne maszyny pomiarowe z multisensorem — 3 pozycje wzorcowania
- Współrzędnościowe maszyny pomiarowe z czujnikiem laserowym — 2 pozycje wzorcowania
Zasady wzorcowania (14)
- Pomiar za pomocą kuli wzorcowej — 8 pozycji wzorcowania
- Pomiar wzorcem schodkowym — 3 pozycje wzorcowania
- Pomiar dwustronny reflektorem — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar interferometrem laserowym — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar liniałem szklanym — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar płytkami wzorcowymi — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar płytkami wzorcowymi i wzorcem schodkowym — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar procedurą samowzorcowania — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar rubidowym wzorcem częstotliwości — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar wielopozycyjny sondą przełączającą — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar wzorcową białą płytą — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar za pomocą płyty wzorcowej czujnikiem optycznym (skanowanie) — 1 pozycja wzorcowania
- Pomiar za pomocą pręta wzorcowego — 1 pozycja wzorcowania
- Porównanie z wzorcowym trackerem laserowym — 1 pozycja wzorcowania
Pracownie (3)
- Pracownia Praga — 19 pozycji wzorcowania
- Pracownia Bratysława — 2 pozycje wzorcowania
- Pracownia Budapeszt — 2 pozycje wzorcowania
Lokalizacje laboratorium
- Hexagon Manufacturing Intelligence Czech Republic s.r.o. (siedziba główna) — Boudníkova 2538/13, Libeň, 180 00 Praha 8
- Pracownia Praga — Boudníkova 2538/13, Libeň, 180 00 Praha 8
- Pracownia Bratysława — Tuhovská, 831 06 Bratislava – Vajnory
- Pracownia Budapeszt — Nagytétényi út 112, 1222 Budapest
Informacje o certyfikacie
- Data certyfikatu
- 23.09.2026
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (23)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| Pracownia Praga | |||||
| 1 | Współrzędnościowe maszyny pomiarowe | Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 m do 6 m · CMC (0,25·L + 0,25) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar płytkami wzorcowymi i wzorcem schodkowym | KP1 – SMS1 | |
| 2 | Współrzędnościowe maszyny pomiarowe | Wzorcowanie – długość Błąd układu próbkującego — od 0 mm do 1 mm · CMC 0,1 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP1 – SMS1 | |
| 3 | Współrzędnościowe maszyny pomiarowe | Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 m do 30 m · CMC (0,5·L + 0,06) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar interferometrem laserowym | KP2 – SMS2 | |
| 4 | Współrzędnościowe maszyny pomiarowe | Wzorcowanie – długość Błąd układu próbkującego — od 0 mm do 1 mm · CMC 0,1 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP2 – SMS2 | |
| 5 | Współrzędnościowe maszyny pomiarowe z czujnikiem laserowym | Wzorcowanie – długość Próbkowanie wymiaru — od 10 mm do 50 mm · CMC 1,9 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP5 – LASER | |
| 6 | Współrzędnościowe maszyny pomiarowe z czujnikiem laserowym | Wzorcowanie – długość Próbkowanie kształtu i rozrzut próbkowania — od 0 mm do 1 mm · CMC 2,0 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar wzorcową białą płytą | KP5 – LASER | |
| 7 | Optyczne maszyny pomiarowe z multisensorem | Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 mm do 600 mm · CMC (1,1·L + 0,3) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar płytkami wzorcowymi | KP3 – OPTIKA | |
| 8 | Optyczne maszyny pomiarowe z multisensorem | Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 mm do 600 mm · CMC (0,2·L + 0,2) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar liniałem szklanym | KP3 – OPTIKA | |
| 9 | Optyczne maszyny pomiarowe z multisensorem | Wzorcowanie – długość Błąd układu próbkującego — od 0 mm do 1 mm · CMC 0,1 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP3 – OPTIKA | |
| 10 | Ramiona pomiarowe | Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 m do 4,5 m · CMC (2,1·L + 1,2) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar wzorcem schodkowym | KP4 – RAMENA; ČSN EN ISO 10360-12; STN EN ISO 10360-12; MSZ EN ISO 10360-12; EN ISO 10360-12 | |
| 11 | Ramiona pomiarowe | Wzorcowanie – długość Błąd próbkowania kształtu — od 0 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm Błąd próbkowania wymiaru — od -1 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm Błąd próbkowania położenia — od 0 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP4 – RAMENA; ČSN EN ISO 10360-12; STN EN ISO 10360-12; MSZ EN ISO 10360-12; EN ISO 10360-12 | |
| 12 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Błąd pomiaru odległości; odległość 1,5 m do 53 m — od -0,05 mm do 0,05 mm · CMC 5 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Porównanie z wzorcowym trackerem laserowym | KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| 13 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Błąd pomiaru dwustronnego; odległość 1,5 m do 53 m — od -0,4 mm do 0,4 mm · CMC 6 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar dwustronny reflektorem | KP6 – TRAKČNÍ LASER 1; KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| 14 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Błąd długości przestrzennej przy próbkowaniu sondą; odległość 1,5 m do 25 m — od -0,5 mm do 0,5 mm · CMC 12 µm Błąd długości przestrzennej przy próbkowaniu reflektorem; odległość 1,5 m do 25 m — od -0,5 mm do 0,5 mm · CMC 9 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą pręta wzorcowego | KP6 – TRAKČNÍ LASER 1; KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| 15 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Błąd próbkowania wymiaru; odległość 2 m do 20 m — od -0,2 mm do 0,2 mm · CMC 6 µm Błąd próbkowania kształtu; odległość 2 m do 20 m — od 0 mm do 0,4 mm · CMC 8 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| 16 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Błąd próbkowania płaszczyzny; odległość 2 m do 20 m — od 0 mm do 0,5 mm · CMC 12 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą płyty wzorcowej czujnikiem optycznym (skanowanie) | KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| 17 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Błąd orientacji; odległość 2 m do 10 m — od 0 mm do 0,2 mm · CMC 10 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar wielopozycyjny sondą przełączającą | KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| 18 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Przesunięcie (offset) odległości; odległość 1,5 m do 15 m — od -2,0 mm do 2,0 mm · CMC 7 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar procedurą samowzorcowania | KP6 – TRAKČNÍ LASER 1; KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| 19 | Trackery laserowe | Wzorcowanie – długość Częstotliwość modulacji miernika odległości bezwzględnej — od 0 kHz do 25 MHz · CMC 0,75 Hz CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar rubidowym wzorcem częstotliwości | KP6 – TRAKČNÍ LASER 1; KP7 – TRAKČNÍ LASER 2; ČSN EN ISO 10 360-10; EN ISO 10 360-10 | |
| Pracownia Bratysława | |||||
| 20 | Ramiona pomiarowe | Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 m do 4,5 m · CMC (2,1·L + 1,2) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar wzorcem schodkowym | KP4 – RAMENA; ČSN EN ISO 10360-12; STN EN ISO 10360-12; MSZ EN ISO 10360-12; EN ISO 10360-12 | |
| 21 | Ramiona pomiarowe | Wzorcowanie – długość Błąd próbkowania kształtu — od 0 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm Błąd próbkowania wymiaru — od -1 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm Błąd próbkowania położenia — od 0 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP4 – RAMENA; ČSN EN ISO 10360-12; STN EN ISO 10360-12; MSZ EN ISO 10360-12; EN ISO 10360-12 | |
| Pracownia Budapeszt | |||||
| 22 | Ramiona pomiarowe | Wzorcowanie – długość Długość przestrzenna — od 0 m do 4,5 m · CMC (2,1·L + 1,2) µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar wzorcem schodkowym | KP4 – RAMENA; ČSN EN ISO 10360-12; STN EN ISO 10360-12; MSZ EN ISO 10360-12; EN ISO 10360-12 | |
| 23 | Ramiona pomiarowe | Wzorcowanie – długość Błąd próbkowania kształtu — od 0 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm Błąd próbkowania wymiaru — od -1 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm Błąd próbkowania położenia — od 0 mm do 1 mm · CMC 1,0 µm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość |
Pomiar za pomocą kuli wzorcowej | KP4 – RAMENA; ČSN EN ISO 10360-12; STN EN ISO 10360-12; MSZ EN ISO 10360-12; EN ISO 10360-12 | |
Normy referencyjne (13)
EN ISO 10 360-10
EN ISO 10360-12
KP1 – SMS1
KP2 – SMS2
KP3 – OPTIKA
KP4 – RAMENA
KP5 – LASER
KP6 – TRAKČNÍ LASER 1
KP7 – TRAKČNÍ LASER 2
MSZ EN ISO 10360-12
STN EN ISO 10360-12
ČSN EN ISO 10 360-10
ČSN EN ISO 10360-12