🇨🇿 Výzkumný ústav geodetický, topografický a kartografický, v.v.i. EN

ČIA 2292 • Zdiby, Czechy • 16 pozycji wzorcowania

Metrologia

Výzkumný ústav geodetický, topografický a kartografický, v.v.i. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez ČIA pod numerem 2292 (Zdiby, Czechy). Zakres akredytacji obejmuje 16 pozycji wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Czujniki pomiarowe, Dalmierze, bazy długości, Kliny pomiarowe, Kółka pomiarowe. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Pomiar z użyciem płytek wzorcowych, Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta, Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego.

W skrócie

Numer akredytacji: ČIA 2292
Liczba pozycji wzorcowania: 16
Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 16
Zasad wzorcowania: 12
Miasto: Zdiby, Czechy
Ważność do: 24-10-2028

Numer akredytacji: 2292
Jednostka akredytująca: ČIA
Adres: Ústecká 98, 250 66 Zdiby
Miasto: Zdiby, Czechy
Dział: Laboratorium wzorcujące
Ważność do: 24-10-2028

Co wzorcuje to laboratorium (16)

Czujniki pomiarowe — 1 pozycja wzorcowania
Dalmierze, bazy długości — 1 pozycja wzorcowania
Kliny pomiarowe — 1 pozycja wzorcowania
Kółka pomiarowe — 1 pozycja wzorcowania
Kreskowe przyrządy do pomiaru długości, przyrządy końcowe, toromierze, łaty niwelacyjne — 1 pozycja wzorcowania
Łaty do pomiaru nierówności (pomiar płaskości) — 1 pozycja wzorcowania
Mikrometry zewnętrzne — 1 pozycja wzorcowania
Niwelatory, lasery rotacyjne (pomiar przewyższenia) — 1 pozycja wzorcowania
Pochyłomierze — 1 pozycja wzorcowania
Poziomnice maszynowe i budowlane — 1 pozycja wzorcowania
Skanery laserowe — 1 pozycja wzorcowania
Sprawdziany (obiekty przestrzenne), kątowniki, położenie (wzajemne położenie dwóch lub więcej punktów, wektorów, płaszczyzn) — 1 pozycja wzorcowania
Suwmiarki — 1 pozycja wzorcowania
Szczelinomierze listkowe, folie wzorcowe — 1 pozycja wzorcowania
Taśmy miernicze, miary zwijane i przymiary dwumetrowe — 1 pozycja wzorcowania
i 1 więcej

Zasady wzorcowania (12)

Pomiar z użyciem płytek wzorcowych — 3 pozycje wzorcowania
Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta — 2 pozycje wzorcowania
Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego — 2 pozycje wzorcowania
0 m do 30 m: pomiar z użyciem interferometru laserowego; 30 m do 1500 m: pomiar z użyciem bazy długości i tachimetru elektronicznego (ČSN ISO 17123-4) — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar CMM – laser trackerem — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar z użyciem bazy kątowej (azymutalnej) (ČSN ISO 17123-3) — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar z użyciem bazy przestrzennej (ISO 17123-9) — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar z użyciem interferometru laserowego — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar z użyciem interferometru laserowego (ČSN ISO 8322-2) — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar z użyciem niwelatora i wzorców kreskowych — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar z użyciem suwmiarki — 1 pozycja wzorcowania
Pomiar z użyciem wzorców kreskowych (ČSN ISO 17123-2) — 1 pozycja wzorcowania

Informacje o certyfikacie

Data certyfikatu: 24.10.2023

Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (16)

CMC — najmniejsza podawana rozszerzona niepewność pomiaru (ILAC-P14, EA-4/02 M); jeżeli nie podano inaczej, prawdopodobieństwo rozszerzenia ok. 95 %, a wartości bez jednostki są względne wobec wartości mierzonej. Niepewność konkretnego wzorcowania może być większa.

Lp.	Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania	Zakres nominalny / parametry / CMC	Zasada wzorcowania	Procedura wzorcowania
Pozycje wzorcowania
1	Taśmy miernicze, miary zwijane i przymiary dwumetrowe	Wzorcowanie – długość od 0 m do 300 m · CMC Q[6·L; 22] μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem interferometru laserowego (ČSN ISO 8322-2)	KP č. 1
2	Kółka pomiarowe	Wzorcowanie – długość od 0 m do 1000 m · CMC Q[0,0001·L; 0,01] m CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem suwmiarki	KP č. 18
3	Suwmiarki	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 3000 mm · CMC 23 μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem płytek wzorcowych	KP č. 2
4	Niwelatory, lasery rotacyjne (pomiar przewyższenia)	Wzorcowanie – długość od 0 m do 5 m · CMC Q[2·L; 10] μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem wzorców kreskowych (ČSN ISO 17123-2)	KP č. 3
5	Dalmierze, bazy długości	Wzorcowanie – długość od 0 m do 30 m · CMC Q[0,1·L; 0,2] mm od 30 m do 1500 m · CMC Q[1,6·L; 0,2] mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	0 m do 30 m: pomiar z użyciem interferometru laserowego; 30 m do 1500 m: pomiar z użyciem bazy długości i tachimetru elektronicznego (ČSN ISO 17123-4)	KP č. 5
6	Kreskowe przyrządy do pomiaru długości, przyrządy końcowe, toromierze, łaty niwelacyjne	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 5000 mm · CMC Q[1,8·L; 18] μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem interferometru laserowego	KP č. 7
7	Sprawdziany (obiekty przestrzenne), kątowniki, położenie (wzajemne położenie dwóch lub więcej punktów, wektorów, płaszczyzn)	Wzorcowanie – długość od 0 m do 250 m · CMC Q[8·L; 30] μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar CMM – laser trackerem	KP č. 12
8	Szczelinomierze listkowe, folie wzorcowe	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 25 mm · CMC 6 μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego	KP č. 17
9	Kliny pomiarowe	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 32 mm · CMC 0,1 mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego	KP č. 17
10	Łaty do pomiaru nierówności (pomiar płaskości)	Wzorcowanie – długość od 0 m do 4 m · CMC Q[0,02·L; 0,05] mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem niwelatora i wzorców kreskowych	KP č. 9
11	Mikrometry zewnętrzne	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 200 mm · CMC 4 μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem płytek wzorcowych	KP č. 6
12	Czujniki pomiarowe	Wzorcowanie – długość od 0 mm do 100 mm · CMC 5 μm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem płytek wzorcowych	KP č. 6
13	Skanery laserowe	Wzorcowanie – długość od 0 m do 55 m · CMC Q[0,01·L; 1] mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość	Pomiar z użyciem bazy przestrzennej (ISO 17123-9)	KP č. 19
14	Teodolity, kompasy lotnicze	Wzorcowanie – kąt płaski kierunek poziomy — od 0 gon do 400 gon · CMC 0,3 mgon kąt poziomy — od 0 gon do 400 gon · CMC 0,4 mgon kąt zenitalny — od 0 gon do 400 gon · CMC 0,5 mgon CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski	Pomiar z użyciem bazy kątowej (azymutalnej) (ČSN ISO 17123-3)	KP č. 4
15	Poziomnice maszynowe i budowlane	Wzorcowanie – kąt płaski od -1 ° do 1° · CMC 22″ CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski	Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta	KP č. 8
16	Pochyłomierze	Wzorcowanie – kąt płaski od -90 ° do 90 ° · CMC 22″ CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski	Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta	KP č. 8

Normy referencyjne (13)

KP č. 1

KP č. 12

KP č. 17

KP č. 18

KP č. 19

KP č. 2

KP č. 3

KP č. 4

KP č. 5

KP č. 6

KP č. 7

KP č. 8

KP č. 9

Ten sam zakres w postaci danych (JSON): https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2292