{"lab":{"_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","address":"Ústecká 98, 250 66 Zdiby","categories":["metrology"],"city":"Zdiby","imported_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","lab_kind":"calibration","location":{"type":"Point","coordinates":[14.4509574,50.1715444]},"map_coord":[50.1715444,14.4509574],"map_geo":"cai-mapa","methods_count":16,"name":"Výzkumný ústav geodetický, topografický a kartografický, v.v.i.","parse_status":"parsed","parse_version":5,"pdf_files":[],"scope_summary":"Wzorcowanie przyrządów pomiarowych w dziedzinach: długość i kąt płaski.","search_text":"výzkumný ústav geodetický, topografický a kartografický, v.v.i. ústecká 98, 250 66 zdiby 2292","source_page_url":"https://www.cai.cz/?subjekt=2292-vyzkumny-ustav-geodeticky-topograficky-a-kartograficky-v-v-i","status":"active","updated_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","valid_from":"","valid_until":"24-10-2028","website":"www.vugtk.cz; kalibrace.vugtk.cz","certificate_date":"24.10.2023","certificate_no":"559/2023","certificate_replaces":"","en_official":true,"fields_of_testing":[{"codes":"","pl":"Wzorcowanie przyrządów pomiarowych w dziedzinach: długość i kąt płaski.","en":"Calibration of gauges in the field of length and plane angle.","zh":"长度和平面角领域测量器具的校准。","cs":"Kalibrace měřidel v oboru délka a rovinný úhel."}],"flexible_scope":false,"flexible_scope_url":null,"has_en":true,"has_zh":true,"lab_division":"Laboratorium wzorcujące","lab_division_cs":"Kalibrační laboratoř","lab_division_en":"Calibration Laboratory","lab_division_zh":"校准实验室","parse_date":"2026-09-28T12:00:00.000Z","parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3","parsed_at":"2026-09-28T12:00:00.000Z","scope_legend":[{"abbr":"L (m)","pl":"wartość zmierzona","en":"value measured","zh":"测得值","cs":"naměřená hodnota"},{"abbr":"Q[a; b]","pl":"suma kwadratowa","en":"quadratic sum","zh":"平方和","cs":"kvadratický součet"}],"scope_notes":[],"source_lang":"cs","source_pdf_sha256":"53267038a4e61c91756493a1b3e41d19918bb5513254b9bb3b952652d0f034a9","source_pdf_url":"https://www.cai.cz/OA/pdf/P559_2023_CS.pdf","source_pdf_url_en":"https://www.cai.cz/OA/pdf/P559_2023_EN.pdf"},"methods":[{"_id":"b35f267b12bcef2a24bfc566","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Taśmy miernicze, miary zwijane i przymiary dwumetrowe","test_object_en":"Tape measures, roll-up rules and two-metre rules","test_object_zh":"测量卷尺、钢卷尺和两米尺","test_object_cs":"Měřická pásma, svinovací metry a dvoumetry","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 m do 300 m","cmc":"Q[6·L; 22] μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 m to 300 m","cmc":"Q[6·L; 22] μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 m 至 300 m","cmc":"Q[6·L; 22] μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 m až 300 m","cmc":"Q[6·L; 22] μm"}],"technique":"Pomiar z użyciem interferometru laserowego (ČSN ISO 8322-2)","technique_en":"Measurement using a laser interferometer (ČSN ISO 8322-2)","technique_zh":"使用激光干涉仪测量（ČSN ISO 8322-2）","technique_cs":"Měření pomocí laser interferometru (ČSN ISO 8322-2)","techniques":["Pomiar z użyciem interferometru laserowego (ČSN ISO 8322-2)"],"techniques_en":["Measurement using a laser interferometer (ČSN ISO 8322-2)"],"techniques_zh":["使用激光干涉仪测量（ČSN ISO 8322-2）"],"techniques_cs":["Měření pomocí laser interferometru (ČSN ISO 8322-2)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 m do 300 m CMC Q[6·L; 22] μm\nPomiar z użyciem interferometru laserowego (ČSN ISO 8322-2)","reference":"KP č. 1","norm_bases":["KP č. 1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Taśmy miernicze, miary zwijane i przymiary dwumetrowe Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem interferometru laserowego (ČSN ISO 8322-2) od 0 m do 300 m CMC Q[6·L; 22] μm Měřická pásma, svinovací metry a dvoumetry Kalibrace – délka Měření pomocí laser interferometru (ČSN ISO 8322-2) 0 m až 300 m CMC Q[6·L; 22] μm KP č. 1 Tasmy miernicze, miary zwijane i przymiary dwumetrowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem interferometru laserowego (CSN ISO 8322-2) od 0 m do 300 m CMC Q[6·L; 22] μm Mericka pasma, svinovaci metry a dvoumetry Kalibrace – delka Mereni pomoci laser interferometru (CSN ISO 8322-2) 0 m az 300 m CMC Q[6·L; 22] μm KP c. 1","search_en":"Tape measures, roll-up rules and two-metre rules Calibration – length Measurement using a laser interferometer (ČSN ISO 8322-2) 0 m to 300 m CMC Q[6·L; 22] μm KP č. 1","search_zh":"测量卷尺、钢卷尺和两米尺 校准 – 长度 使用激光干涉仪测量（ČSN ISO 8322-2） 0 m 至 300 m CMC Q[6·L; 22] μm KP č. 1","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":0,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"1839f6bba405b445d9756db0","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Kółka pomiarowe","test_object_en":"Measuring wheels","test_object_zh":"测距轮","test_object_cs":"Měřická kolečka","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 m do 1000 m","cmc":"Q[0,0001·L; 0,01] m"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 m to 1000 m","cmc":"Q[0,0001·L; 0,01] m"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 m 至 1000 m","cmc":"Q[0,0001·L; 0,01] m"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 m až 1000 m","cmc":"Q[0,0001·L; 0,01] m"}],"technique":"Pomiar z użyciem suwmiarki","technique_en":"Measurement using a caliper","technique_zh":"使用游标卡尺测量","technique_cs":"Měření pomocí posuvného měřítka","techniques":["Pomiar z użyciem suwmiarki"],"techniques_en":["Measurement using a caliper"],"techniques_zh":["使用游标卡尺测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí posuvného měřítka"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 m do 1000 m CMC Q[0,0001·L; 0,01] m\nPomiar z użyciem suwmiarki","reference":"KP č. 18","norm_bases":["KP č. 18"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Kółka pomiarowe Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem suwmiarki od 0 m do 1000 m CMC Q[0,0001·L; 0,01] m Měřická kolečka Kalibrace – délka Měření pomocí posuvného měřítka 0 m až 1000 m CMC Q[0,0001·L; 0,01] m KP č. 18 Kolka pomiarowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem suwmiarki od 0 m do 1000 m CMC Q[0,0001·L; 0,01] m Mericka kolecka Kalibrace – delka Mereni pomoci posuvneho meritka 0 m az 1000 m CMC Q[0,0001·L; 0,01] m KP c. 18","search_en":"Measuring wheels Calibration – length Measurement using a caliper 0 m to 1000 m CMC Q[0,0001·L; 0,01] m KP č. 18","search_zh":"测距轮 校准 – 长度 使用游标卡尺测量 0 m 至 1000 m CMC Q[0,0001·L; 0,01] m KP č. 18","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":1,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"9f1d814dd011ca3b9c714683","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Suwmiarki","test_object_en":"Slide gauges","test_object_zh":"游标卡尺","test_object_cs":"Posuvná měřidla","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 3000 mm","cmc":"23 μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 3000 mm","cmc":"23 μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 3000 mm","cmc":"23 μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 3000 mm","cmc":"23 μm"}],"technique":"Pomiar z użyciem płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using parallel gauge blocks","technique_zh":"使用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar z użyciem płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using parallel gauge blocks"],"techniques_zh":["使用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 3000 mm CMC 23 μm\nPomiar z użyciem płytek wzorcowych","reference":"KP č. 2","norm_bases":["KP č. 2"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Suwmiarki Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem płytek wzorcowych od 0 mm do 3000 mm CMC 23 μm Posuvná měřidla Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek 0 mm až 3000 mm CMC 23 μm KP č. 2 Suwmiarki Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem plytek wzorcowych od 0 mm do 3000 mm CMC 23 μm Posuvna meridla Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek 0 mm az 3000 mm CMC 23 μm KP c. 2","search_en":"Slide gauges Calibration – length Measurement using parallel gauge blocks 0 mm to 3000 mm CMC 23 μm KP č. 2","search_zh":"游标卡尺 校准 – 长度 使用量块测量 0 mm 至 3000 mm CMC 23 μm KP č. 2","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":2,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"f507cbb9ebdbb0ebd7e71def","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"4","test_object":"Niwelatory, lasery rotacyjne (pomiar przewyższenia)","test_object_en":"Levelling instruments, rotating lasers (measurement of elevation)","test_object_zh":"水准仪、旋转激光仪（高差测量）","test_object_cs":"Nivelační přístroje, rotační lasery (měření převýšení)","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 m do 5 m","cmc":"Q[2·L; 10] μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 m to 5 m","cmc":"Q[2·L; 10] μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 m 至 5 m","cmc":"Q[2·L; 10] μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 m až 5 m","cmc":"Q[2·L; 10] μm"}],"technique":"Pomiar z użyciem wzorców kreskowych (ČSN ISO 17123-2)","technique_en":"Measuring using line scales (ČSN ISO 17123-2)","technique_zh":"使用线纹尺测量（ČSN ISO 17123-2）","technique_cs":"Měření pomocí čárových měřítek (ČSN ISO 17123-2)","techniques":["Pomiar z użyciem wzorców kreskowych (ČSN ISO 17123-2)"],"techniques_en":["Measuring using line scales (ČSN ISO 17123-2)"],"techniques_zh":["使用线纹尺测量（ČSN ISO 17123-2）"],"techniques_cs":["Měření pomocí čárových měřítek (ČSN ISO 17123-2)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 m do 5 m CMC Q[2·L; 10] μm\nPomiar z użyciem wzorców kreskowych (ČSN ISO 17123-2)","reference":"KP č. 3","norm_bases":["KP č. 3"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Niwelatory, lasery rotacyjne (pomiar przewyższenia) Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem wzorców kreskowych (ČSN ISO 17123-2) od 0 m do 5 m CMC Q[2·L; 10] μm Nivelační přístroje, rotační lasery (měření převýšení) Kalibrace – délka Měření pomocí čárových měřítek (ČSN ISO 17123-2) 0 m až 5 m CMC Q[2·L; 10] μm KP č. 3 Niwelatory, lasery rotacyjne (pomiar przewyzszenia) Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem wzorcow kreskowych (CSN ISO 17123-2) od 0 m do 5 m CMC Q[2·L; 10] μm Nivelacni pristroje, rotacni lasery (mereni prevyseni) Kalibrace – delka Mereni pomoci carovych meritek (CSN ISO 17123-2) 0 m az 5 m CMC Q[2·L; 10] μm KP c. 3","search_en":"Levelling instruments, rotating lasers (measurement of elevation) Calibration – length Measuring using line scales (ČSN ISO 17123-2) 0 m to 5 m CMC Q[2·L; 10] μm KP č. 3","search_zh":"水准仪、旋转激光仪（高差测量） 校准 – 长度 使用线纹尺测量（ČSN ISO 17123-2） 0 m 至 5 m CMC Q[2·L; 10] μm KP č. 3","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":3,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"6d18991babe083931ec28c90","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"5","test_object":"Dalmierze, bazy długości","test_object_en":"Distance meters, length baselines","test_object_zh":"测距仪、长度基线","test_object_cs":"Dálkoměry, délkové základny","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 m do 30 m","cmc":"Q[0,1·L; 0,2] mm"},{"name":"","range":"od 30 m do 1500 m","cmc":"Q[1,6·L; 0,2] mm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 m to 30 m","cmc":"Q[0,1·L; 0,2] mm"},{"name":"","range":"30 m to 1500 m","cmc":"Q[1,6·L; 0,2] mm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 m 至 30 m","cmc":"Q[0,1·L; 0,2] mm"},{"name":"","range":"30 m 至 1500 m","cmc":"Q[1,6·L; 0,2] mm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 m až 30 m","cmc":"Q[0,1·L; 0,2] mm"},{"name":"","range":"30 m až 1500 m","cmc":"Q[1,6·L; 0,2] mm"}],"technique":"0 m do 30 m: pomiar z użyciem interferometru laserowego; 30 m do 1500 m: pomiar z użyciem bazy długości i tachimetru elektronicznego (ČSN ISO 17123-4)","technique_en":"0 m to 30 m: measurement using a laser interferometer; 30 m to 1500 m: measurement using a length baseline and total station (ČSN ISO 17123-4)","technique_zh":"0 m 至 30 m：使用激光干涉仪测量；30 m 至 1500 m：使用长度基线和全站仪测量（ČSN ISO 17123-4）","technique_cs":"0 m až 30 m: Měření pomocí laser interferometru; 30 m až 1500 m: Měření pomocí délkové základny a totální stanice (ČSN ISO 17123-4)","techniques":["0 m do 30 m: pomiar z użyciem interferometru laserowego; 30 m do 1500 m: pomiar z użyciem bazy długości i tachimetru elektronicznego (ČSN ISO 17123-4)"],"techniques_en":["0 m to 30 m: measurement using a laser interferometer; 30 m to 1500 m: measurement using a length baseline and total station (ČSN ISO 17123-4)"],"techniques_zh":["0 m 至 30 m：使用激光干涉仪测量；30 m 至 1500 m：使用长度基线和全站仪测量（ČSN ISO 17123-4）"],"techniques_cs":["0 m až 30 m: Měření pomocí laser interferometru; 30 m až 1500 m: Měření pomocí délkové základny a totální stanice (ČSN ISO 17123-4)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nZakres:\nod 0 m do 30 m CMC Q[0,1·L; 0,2] mm\nod 30 m do 1500 m CMC Q[1,6·L; 0,2] mm\n0 m do 30 m: pomiar z użyciem interferometru laserowego; 30 m do 1500 m: pomiar z użyciem bazy długości i tachimetru elektronicznego (ČSN ISO 17123-4)","reference":"KP č. 5","norm_bases":["KP č. 5"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Dalmierze, bazy długości Wzorcowanie – długość 0 m do 30 m: pomiar z użyciem interferometru laserowego; 30 m do 1500 m: pomiar z użyciem bazy długości i tachimetru elektronicznego (ČSN ISO 17123-4) od 0 m do 30 m CMC Q[0,1·L; 0,2] mm od 30 m do 1500 m CMC Q[1,6·L; 0,2] mm Dálkoměry, délkové základny Kalibrace – délka 0 m až 30 m: Měření pomocí laser interferometru; 30 m až 1500 m: Měření pomocí délkové základny a totální stanice (ČSN ISO 17123-4) 0 m až 30 m CMC Q[0,1·L; 0,2] mm 30 m až 1500 m CMC Q[1,6·L; 0,2] mm KP č. 5 Dalmierze, bazy dlugosci Wzorcowanie – dlugosc 0 m do 30 m: pomiar z uzyciem interferometru laserowego; 30 m do 1500 m: pomiar z uzyciem bazy dlugosci i tachimetru elektronicznego (CSN ISO 17123-4) od 0 m do 30 m CMC Q[0,1·L; 0,2] mm od 30 m do 1500 m CMC Q[1,6·L; 0,2] mm Dalkomery, delkove zakladny Kalibrace – delka 0 m az 30 m: Mereni pomoci laser interferometru; 30 m az 1500 m: Mereni pomoci delkove zakladny a totalni stanice (CSN ISO 17123-4) 0 m az 30 m CMC Q[0,1·L; 0,2] mm 30 m az 1500 m CMC Q[1,6·L; 0,2] mm KP c. 5","search_en":"Distance meters, length baselines Calibration – length 0 m to 30 m: measurement using a laser interferometer; 30 m to 1500 m: measurement using a length baseline and total station (ČSN ISO 17123-4) 0 m to 30 m CMC Q[0,1·L; 0,2] mm 30 m to 1500 m CMC Q[1,6·L; 0,2] mm KP č. 5","search_zh":"测距仪、长度基线 校准 – 长度 0 m 至 30 m：使用激光干涉仪测量；30 m 至 1500 m：使用长度基线和全站仪测量（ČSN ISO 17123-4） 0 m 至 30 m CMC Q[0,1·L; 0,2] mm 30 m 至 1500 m CMC Q[1,6·L; 0,2] mm KP č. 5","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":4,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"7bc098d6485e441e3b628025","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"6","test_object":"Kreskowe przyrządy do pomiaru długości, przyrządy końcowe, toromierze, łaty niwelacyjne","test_object_en":"Length line rules, end gauges, track gauges, levelling rods","test_object_zh":"线纹量具、端度量具、轨距尺、水准尺","test_object_cs":"Délková čárková měřidla, koncová měřidla, kolejové rozchodky, nivelační latě","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 5000 mm","cmc":"Q[1,8·L; 18] μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 5000 mm","cmc":"Q[1,8·L; 18] μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 5000 mm","cmc":"Q[1,8·L; 18] μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 5000 mm","cmc":"Q[1,8·L; 18] μm"}],"technique":"Pomiar z użyciem interferometru laserowego","technique_en":"Measurement using a laser interferometer","technique_zh":"使用激光干涉仪测量","technique_cs":"Měření pomocí laser interferometru","techniques":["Pomiar z użyciem interferometru laserowego"],"techniques_en":["Measurement using a laser interferometer"],"techniques_zh":["使用激光干涉仪测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí laser interferometru"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 5000 mm CMC Q[1,8·L; 18] μm\nPomiar z użyciem interferometru laserowego","reference":"KP č. 7","norm_bases":["KP č. 7"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Kreskowe przyrządy do pomiaru długości, przyrządy końcowe, toromierze, łaty niwelacyjne Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem interferometru laserowego od 0 mm do 5000 mm CMC Q[1,8·L; 18] μm Délková čárková měřidla, koncová měřidla, kolejové rozchodky, nivelační latě Kalibrace – délka Měření pomocí laser interferometru 0 mm až 5000 mm CMC Q[1,8·L; 18] μm KP č. 7 Kreskowe przyrzady do pomiaru dlugosci, przyrzady koncowe, toromierze, laty niwelacyjne Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem interferometru laserowego od 0 mm do 5000 mm CMC Q[1,8·L; 18] μm Delkova carkova meridla, koncova meridla, kolejove rozchodky, nivelacni late Kalibrace – delka Mereni pomoci laser interferometru 0 mm az 5000 mm CMC Q[1,8·L; 18] μm KP c. 7","search_en":"Length line rules, end gauges, track gauges, levelling rods Calibration – length Measurement using a laser interferometer 0 mm to 5000 mm CMC Q[1,8·L; 18] μm KP č. 7","search_zh":"线纹量具、端度量具、轨距尺、水准尺 校准 – 长度 使用激光干涉仪测量 0 mm 至 5000 mm CMC Q[1,8·L; 18] μm KP č. 7","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":5,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"fec75789d96caf756fd83756","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"7","test_object":"Sprawdziany (obiekty przestrzenne), kątowniki, położenie (wzajemne położenie dwóch lub więcej punktów, wektorów, płaszczyzn)","test_object_en":"Gauges (spatial objects), squares, position (mutual position of two or more points, vectors, planes)","test_object_zh":"量规（空间物体）、角尺、位置（两个或多个点、矢量、平面的相互位置）","test_object_cs":"Kalibry (prostorové objekty), úhelníky, poloha (vzájemná poloha dvou nebo více bodů, vektorů, rovin)","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 m do 250 m","cmc":"Q[8·L; 30] μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 m to 250 m","cmc":"Q[8·L; 30] μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 m 至 250 m","cmc":"Q[8·L; 30] μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 m až 250 m","cmc":"Q[8·L; 30] μm"}],"technique":"Pomiar CMM – laser trackerem","technique_en":"CMM measurement – with a laser tracker","technique_zh":"CMM测量 – 激光跟踪仪","technique_cs":"Měření CMM – laser trackerem","techniques":["Pomiar CMM – laser trackerem"],"techniques_en":["CMM measurement – with a laser tracker"],"techniques_zh":["CMM测量 – 激光跟踪仪"],"techniques_cs":["Měření CMM – laser trackerem"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 m do 250 m CMC Q[8·L; 30] μm\nPomiar CMM – laser trackerem","reference":"KP č. 12","norm_bases":["KP č. 12"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Sprawdziany (obiekty przestrzenne), kątowniki, położenie (wzajemne położenie dwóch lub więcej punktów, wektorów, płaszczyzn) Wzorcowanie – długość Pomiar CMM – laser trackerem od 0 m do 250 m CMC Q[8·L; 30] μm Kalibry (prostorové objekty), úhelníky, poloha (vzájemná poloha dvou nebo více bodů, vektorů, rovin) Kalibrace – délka Měření CMM – laser trackerem 0 m až 250 m CMC Q[8·L; 30] μm KP č. 12 Sprawdziany (obiekty przestrzenne), katowniki, polozenie (wzajemne polozenie dwoch lub wiecej punktow, wektorow, plaszczyzn) Wzorcowanie – dlugosc Pomiar CMM – laser trackerem od 0 m do 250 m CMC Q[8·L; 30] μm Kalibry (prostorove objekty), uhelniky, poloha (vzajemna poloha dvou nebo vice bodu, vektoru, rovin) Kalibrace – delka Mereni CMM – laser trackerem 0 m az 250 m CMC Q[8·L; 30] μm KP c. 12","search_en":"Gauges (spatial objects), squares, position (mutual position of two or more points, vectors, planes) Calibration – length CMM measurement – with a laser tracker 0 m to 250 m CMC Q[8·L; 30] μm KP č. 12","search_zh":"量规（空间物体）、角尺、位置（两个或多个点、矢量、平面的相互位置） 校准 – 长度 CMM测量 – 激光跟踪仪 0 m 至 250 m CMC Q[8·L; 30] μm KP č. 12","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":6,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"bc4fff28055bb26f33a3e5fc","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"8","test_object":"Szczelinomierze listkowe, folie wzorcowe","test_object_en":"Feeler gauges, calibration foils","test_object_zh":"塞尺、校准箔片","test_object_cs":"Listové měrky, kalibrační folie","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 25 mm","cmc":"6 μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 25 mm","cmc":"6 μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 25 mm","cmc":"6 μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 25 mm","cmc":"6 μm"}],"technique":"Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego","technique_en":"Measurement using a micrometer calliper gauge","technique_zh":"使用外径千分尺测量","technique_cs":"Měření pomocí třmenového mikrometru","techniques":["Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego"],"techniques_en":["Measurement using a micrometer calliper gauge"],"techniques_zh":["使用外径千分尺测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí třmenového mikrometru"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 25 mm CMC 6 μm\nPomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego","reference":"KP č. 17","norm_bases":["KP č. 17"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Szczelinomierze listkowe, folie wzorcowe Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego od 0 mm do 25 mm CMC 6 μm Listové měrky, kalibrační folie Kalibrace – délka Měření pomocí třmenového mikrometru 0 mm až 25 mm CMC 6 μm KP č. 17 Szczelinomierze listkowe, folie wzorcowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem mikrometru zewnetrznego od 0 mm do 25 mm CMC 6 μm Listove merky, kalibracni folie Kalibrace – delka Mereni pomoci trmenoveho mikrometru 0 mm az 25 mm CMC 6 μm KP c. 17","search_en":"Feeler gauges, calibration foils Calibration – length Measurement using a micrometer calliper gauge 0 mm to 25 mm CMC 6 μm KP č. 17","search_zh":"塞尺、校准箔片 校准 – 长度 使用外径千分尺测量 0 mm 至 25 mm CMC 6 μm KP č. 17","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":7,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"32377c615f1bb24af5c02d48","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"9","test_object":"Kliny pomiarowe","test_object_en":"Measuring wedges","test_object_zh":"测量楔","test_object_cs":"Měřicí klínky","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 32 mm","cmc":"0,1 mm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 32 mm","cmc":"0,1 mm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 32 mm","cmc":"0,1 mm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 32 mm","cmc":"0,1 mm"}],"technique":"Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego","technique_en":"Measurement using a micrometer calliper gauge","technique_zh":"使用外径千分尺测量","technique_cs":"Měření pomocí třmenového mikrometru","techniques":["Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego"],"techniques_en":["Measurement using a micrometer calliper gauge"],"techniques_zh":["使用外径千分尺测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí třmenového mikrometru"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 32 mm CMC 0,1 mm\nPomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego","reference":"KP č. 17","norm_bases":["KP č. 17"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Kliny pomiarowe Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem mikrometru zewnętrznego od 0 mm do 32 mm CMC 0,1 mm Měřicí klínky Kalibrace – délka Měření pomocí třmenového mikrometru 0 mm až 32 mm CMC 0,1 mm KP č. 17 Kliny pomiarowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem mikrometru zewnetrznego od 0 mm do 32 mm CMC 0,1 mm Merici klinky Kalibrace – delka Mereni pomoci trmenoveho mikrometru 0 mm az 32 mm CMC 0,1 mm KP c. 17","search_en":"Measuring wedges Calibration – length Measurement using a micrometer calliper gauge 0 mm to 32 mm CMC 0,1 mm KP č. 17","search_zh":"测量楔 校准 – 长度 使用外径千分尺测量 0 mm 至 32 mm CMC 0,1 mm KP č. 17","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":8,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"42aa88f5f8f8e70acf2ef95b","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"10","test_object":"Łaty do pomiaru nierówności (pomiar płaskości)","test_object_en":"Straightedges for unevenness measurement (measurement of flatness)","test_object_zh":"不平度测量尺（平面度测量）","test_object_cs":"Latě na měření nerovností (měření rovinnosti)","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 m do 4 m","cmc":"Q[0,02·L; 0,05] mm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 m to 4 m","cmc":"Q[0,02·L; 0,05] mm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 m 至 4 m","cmc":"Q[0,02·L; 0,05] mm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 m až 4 m","cmc":"Q[0,02·L; 0,05] mm"}],"technique":"Pomiar z użyciem niwelatora i wzorców kreskowych","technique_en":"Measurement using a levelling instrument and line scales","technique_zh":"使用水准仪和线纹尺测量","technique_cs":"Měření pomocí nivelačního přístroje a čárových měřítek","techniques":["Pomiar z użyciem niwelatora i wzorców kreskowych"],"techniques_en":["Measurement using a levelling instrument and line scales"],"techniques_zh":["使用水准仪和线纹尺测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí nivelačního přístroje a čárových měřítek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 m do 4 m CMC Q[0,02·L; 0,05] mm\nPomiar z użyciem niwelatora i wzorców kreskowych","reference":"KP č. 9","norm_bases":["KP č. 9"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Łaty do pomiaru nierówności (pomiar płaskości) Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem niwelatora i wzorców kreskowych od 0 m do 4 m CMC Q[0,02·L; 0,05] mm Latě na měření nerovností (měření rovinnosti) Kalibrace – délka Měření pomocí nivelačního přístroje a čárových měřítek 0 m až 4 m CMC Q[0,02·L; 0,05] mm KP č. 9 Laty do pomiaru nierownosci (pomiar plaskosci) Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem niwelatora i wzorcow kreskowych od 0 m do 4 m CMC Q[0,02·L; 0,05] mm Late na mereni nerovnosti (mereni rovinnosti) Kalibrace – delka Mereni pomoci nivelacniho pristroje a carovych meritek 0 m az 4 m CMC Q[0,02·L; 0,05] mm KP c. 9","search_en":"Straightedges for unevenness measurement (measurement of flatness) Calibration – length Measurement using a levelling instrument and line scales 0 m to 4 m CMC Q[0,02·L; 0,05] mm KP č. 9","search_zh":"不平度测量尺（平面度测量） 校准 – 长度 使用水准仪和线纹尺测量 0 m 至 4 m CMC Q[0,02·L; 0,05] mm KP č. 9","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":9,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"965e5bba309f6a04cd17b607","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"11","test_object":"Mikrometry zewnętrzne","test_object_en":"Micrometer calliper gauges","test_object_zh":"外径千分尺","test_object_cs":"Třmenové mikrometry","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 200 mm","cmc":"4 μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 200 mm","cmc":"4 μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 200 mm","cmc":"4 μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 200 mm","cmc":"4 μm"}],"technique":"Pomiar z użyciem płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using parallel gauge blocks","technique_zh":"使用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar z użyciem płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using parallel gauge blocks"],"techniques_zh":["使用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 200 mm CMC 4 μm\nPomiar z użyciem płytek wzorcowych","reference":"KP č. 6","norm_bases":["KP č. 6"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Mikrometry zewnętrzne Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem płytek wzorcowych od 0 mm do 200 mm CMC 4 μm Třmenové mikrometry Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek 0 mm až 200 mm CMC 4 μm KP č. 6 Mikrometry zewnetrzne Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem plytek wzorcowych od 0 mm do 200 mm CMC 4 μm Trmenove mikrometry Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek 0 mm az 200 mm CMC 4 μm KP c. 6","search_en":"Micrometer calliper gauges Calibration – length Measurement using parallel gauge blocks 0 mm to 200 mm CMC 4 μm KP č. 6","search_zh":"外径千分尺 校准 – 长度 使用量块测量 0 mm 至 200 mm CMC 4 μm KP č. 6","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":10,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"e083044acb50ab30c4851aa9","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"12","test_object":"Czujniki pomiarowe","test_object_en":"Dial indicators","test_object_zh":"百分表","test_object_cs":"Úchylkoměry","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 100 mm","cmc":"5 μm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 100 mm","cmc":"5 μm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 100 mm","cmc":"5 μm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 100 mm","cmc":"5 μm"}],"technique":"Pomiar z użyciem płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using parallel gauge blocks","technique_zh":"使用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar z użyciem płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using parallel gauge blocks"],"techniques_zh":["使用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 100 mm CMC 5 μm\nPomiar z użyciem płytek wzorcowych","reference":"KP č. 6","norm_bases":["KP č. 6"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Czujniki pomiarowe Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem płytek wzorcowych od 0 mm do 100 mm CMC 5 μm Úchylkoměry Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek 0 mm až 100 mm CMC 5 μm KP č. 6 Czujniki pomiarowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem plytek wzorcowych od 0 mm do 100 mm CMC 5 μm Uchylkomery Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek 0 mm az 100 mm CMC 5 μm KP c. 6","search_en":"Dial indicators Calibration – length Measurement using parallel gauge blocks 0 mm to 100 mm CMC 5 μm KP č. 6","search_zh":"百分表 校准 – 长度 使用量块测量 0 mm 至 100 mm CMC 5 μm KP č. 6","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":11,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"6df1c7d713ea022caa2ddf3f","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"13","test_object":"Skanery laserowe","test_object_en":"Laser scanners","test_object_zh":"激光扫描仪","test_object_cs":"Laserové skenery","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 m do 55 m","cmc":"Q[0,01·L; 1] mm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 m to 55 m","cmc":"Q[0,01·L; 1] mm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 m 至 55 m","cmc":"Q[0,01·L; 1] mm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 m až 55 m","cmc":"Q[0,01·L; 1] mm"}],"technique":"Pomiar z użyciem bazy przestrzennej (ISO 17123-9)","technique_en":"Measurement using a spatial test field (ISO 17123-9)","technique_zh":"使用空间基线测量（ISO 17123-9）","technique_cs":"Měření pomocí prostorové základny (ISO 17123-9)","techniques":["Pomiar z użyciem bazy przestrzennej (ISO 17123-9)"],"techniques_en":["Measurement using a spatial test field (ISO 17123-9)"],"techniques_zh":["使用空间基线测量（ISO 17123-9）"],"techniques_cs":["Měření pomocí prostorové základny (ISO 17123-9)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 m do 55 m CMC Q[0,01·L; 1] mm\nPomiar z użyciem bazy przestrzennej (ISO 17123-9)","reference":"KP č. 19","norm_bases":["KP č. 19"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Skanery laserowe Wzorcowanie – długość Pomiar z użyciem bazy przestrzennej (ISO 17123-9) od 0 m do 55 m CMC Q[0,01·L; 1] mm Laserové skenery Kalibrace – délka Měření pomocí prostorové základny (ISO 17123-9) 0 m až 55 m CMC Q[0,01·L; 1] mm KP č. 19 Skanery laserowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar z uzyciem bazy przestrzennej (ISO 17123-9) od 0 m do 55 m CMC Q[0,01·L; 1] mm Laserove skenery Kalibrace – delka Mereni pomoci prostorove zakladny (ISO 17123-9) 0 m az 55 m CMC Q[0,01·L; 1] mm KP c. 19","search_en":"Laser scanners Calibration – length Measurement using a spatial test field (ISO 17123-9) 0 m to 55 m CMC Q[0,01·L; 1] mm KP č. 19","search_zh":"激光扫描仪 校准 – 长度 使用空间基线测量（ISO 17123-9） 0 m 至 55 m CMC Q[0,01·L; 1] mm KP č. 19","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":12,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"f8f907e6af6e13bfa88605d6","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Teodolity, kompasy lotnicze","test_object_en":"Theodolites, aero compasses","test_object_zh":"经纬仪、航空罗盘","test_object_cs":"Teodolity, aerokompasy","methodology":"Wzorcowanie – kąt płaski","methodology_en":"Calibration – plane angle","methodology_zh":"校准 – 平面角","methodology_cs":"Kalibrace – rovinný úhel","parameters":[{"name":"kierunek poziomy","range":"od 0 gon do 400 gon","cmc":"0,3 mgon"},{"name":"kąt poziomy","range":"od 0 gon do 400 gon","cmc":"0,4 mgon"},{"name":"kąt zenitalny","range":"od 0 gon do 400 gon","cmc":"0,5 mgon"}],"parameters_en":[{"name":"horizontal direction","range":"0 gon to 400 gon","cmc":"0,3 mgon"},{"name":"horizontal angle","range":"0 gon to 400 gon","cmc":"0,4 mgon"},{"name":"zenith angle","range":"0 gon to 400 gon","cmc":"0,5 mgon"}],"parameters_zh":[{"name":"水平方向","range":"0 gon 至 400 gon","cmc":"0,3 mgon"},{"name":"水平角","range":"0 gon 至 400 gon","cmc":"0,4 mgon"},{"name":"天顶角","range":"0 gon 至 400 gon","cmc":"0,5 mgon"}],"parameters_cs":[{"name":"vodorovný směr","range":"0 gon až 400 gon","cmc":"0,3 mgon"},{"name":"vodorovný úhel","range":"0 gon až 400 gon","cmc":"0,4 mgon"},{"name":"zenitový úhel","range":"0 gon až 400 gon","cmc":"0,5 mgon"}],"technique":"Pomiar z użyciem bazy kątowej (azymutalnej) (ČSN ISO 17123-3)","technique_en":"Measurement using an angle (azimuthal) baseline (ČSN ISO 17123-3)","technique_zh":"使用角度（方位）基线测量（ČSN ISO 17123-3）","technique_cs":"Měření pomocí úhlové (azimutální) základny (ČSN ISO 17123-3)","techniques":["Pomiar z użyciem bazy kątowej (azymutalnej) (ČSN ISO 17123-3)"],"techniques_en":["Measurement using an angle (azimuthal) baseline (ČSN ISO 17123-3)"],"techniques_zh":["使用角度（方位）基线测量（ČSN ISO 17123-3）"],"techniques_cs":["Měření pomocí úhlové (azimutální) základny (ČSN ISO 17123-3)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – kąt płaski\nZakres:\nkierunek poziomy od 0 gon do 400 gon CMC 0,3 mgon\nkąt poziomy od 0 gon do 400 gon CMC 0,4 mgon\nkąt zenitalny od 0 gon do 400 gon CMC 0,5 mgon\nPomiar z użyciem bazy kątowej (azymutalnej) (ČSN ISO 17123-3)","reference":"KP č. 4","norm_bases":["KP č. 4"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Plane angle","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：平面角","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Rovinný úhel","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Teodolity, kompasy lotnicze Wzorcowanie – kąt płaski Pomiar z użyciem bazy kątowej (azymutalnej) (ČSN ISO 17123-3) kierunek poziomy od 0 gon do 400 gon CMC 0,3 mgon kąt poziomy od 0 gon do 400 gon CMC 0,4 mgon kąt zenitalny od 0 gon do 400 gon CMC 0,5 mgon Teodolity, aerokompasy Kalibrace – rovinný úhel Měření pomocí úhlové (azimutální) základny (ČSN ISO 17123-3) vodorovný směr 0 gon až 400 gon CMC 0,3 mgon vodorovný úhel 0 gon až 400 gon CMC 0,4 mgon zenitový úhel 0 gon až 400 gon CMC 0,5 mgon KP č. 4 Teodolity, kompasy lotnicze Wzorcowanie – kat plaski Pomiar z uzyciem bazy katowej (azymutalnej) (CSN ISO 17123-3) kierunek poziomy od 0 gon do 400 gon CMC 0,3 mgon kat poziomy od 0 gon do 400 gon CMC 0,4 mgon kat zenitalny od 0 gon do 400 gon CMC 0,5 mgon Teodolity, aerokompasy Kalibrace – rovinny uhel Mereni pomoci uhlove (azimutalni) zakladny (CSN ISO 17123-3) vodorovny smer 0 gon az 400 gon CMC 0,3 mgon vodorovny uhel 0 gon az 400 gon CMC 0,4 mgon zenitovy uhel 0 gon az 400 gon CMC 0,5 mgon KP c. 4","search_en":"Theodolites, aero compasses Calibration – plane angle Measurement using an angle (azimuthal) baseline (ČSN ISO 17123-3) horizontal direction 0 gon to 400 gon CMC 0,3 mgon horizontal angle 0 gon to 400 gon CMC 0,4 mgon zenith angle 0 gon to 400 gon CMC 0,5 mgon KP č. 4","search_zh":"经纬仪、航空罗盘 校准 – 平面角 使用角度（方位）基线测量（ČSN ISO 17123-3） 水平方向 0 gon 至 400 gon CMC 0,3 mgon 水平角 0 gon 至 400 gon CMC 0,4 mgon 天顶角 0 gon 至 400 gon CMC 0,5 mgon KP č. 4","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":13,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"78044e52acabe699b087fd64","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Poziomnice maszynowe i budowlane","test_object_en":"Levels for machinery, builder's levels","test_object_zh":"机械和建筑水平仪","test_object_cs":"Libely strojní a stavební","methodology":"Wzorcowanie – kąt płaski","methodology_en":"Calibration – plane angle","methodology_zh":"校准 – 平面角","methodology_cs":"Kalibrace – rovinný úhel","parameters":[{"name":"","range":"od -1 ° do 1°","cmc":"22″"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"-1 ° to 1°","cmc":"22″"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"-1 ° 至 1°","cmc":"22″"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"-1 ° až 1°","cmc":"22″"}],"technique":"Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta","technique_en":"Measurement using a baseline for angle and slope","technique_zh":"使用倾角/角度测量基线测量","technique_cs":"Měření pomocí měřické základny sklonu/úhlu","techniques":["Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta"],"techniques_en":["Measurement using a baseline for angle and slope"],"techniques_zh":["使用倾角/角度测量基线测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí měřické základny sklonu/úhlu"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – kąt płaski\nod -1 ° do 1° CMC 22″\nPomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta","reference":"KP č. 8","norm_bases":["KP č. 8"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Plane angle","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：平面角","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Rovinný úhel","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Poziomnice maszynowe i budowlane Wzorcowanie – kąt płaski Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta od -1 ° do 1° CMC 22″ Libely strojní a stavební Kalibrace – rovinný úhel Měření pomocí měřické základny sklonu/úhlu -1 ° až 1° CMC 22″ KP č. 8 Poziomnice maszynowe i budowlane Wzorcowanie – kat plaski Pomiar z uzyciem bazy pomiarowej nachylenia/kata od -1 ° do 1° CMC 22″ Libely strojni a stavebni Kalibrace – rovinny uhel Mereni pomoci mericke zakladny sklonu/uhlu -1 ° az 1° CMC 22″ KP c. 8","search_en":"Levels for machinery, builder's levels Calibration – plane angle Measurement using a baseline for angle and slope -1 ° to 1° CMC 22″ KP č. 8","search_zh":"机械和建筑水平仪 校准 – 平面角 使用倾角/角度测量基线测量 -1 ° 至 1° CMC 22″ KP č. 8","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":14,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"8d44c1a3b544555d8b082cbc","lab_id":"6acfffe1ff06824761705e0a","country":"CZ","accr_number":"2292","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Pochyłomierze","test_object_en":"Inclinometers","test_object_zh":"倾角仪","test_object_cs":"Sklonoměry","methodology":"Wzorcowanie – kąt płaski","methodology_en":"Calibration – plane angle","methodology_zh":"校准 – 平面角","methodology_cs":"Kalibrace – rovinný úhel","parameters":[{"name":"","range":"od -90 ° do 90 °","cmc":"22″"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"-90 ° to 90 °","cmc":"22″"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"-90 ° 至 90 °","cmc":"22″"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"-90 ° až 90 °","cmc":"22″"}],"technique":"Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta","technique_en":"Measurement using a baseline for angle and slope","technique_zh":"使用倾角/角度测量基线测量","technique_cs":"Měření pomocí měřické základny sklonu/úhlu","techniques":["Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta"],"techniques_en":["Measurement using a baseline for angle and slope"],"techniques_zh":["使用倾角/角度测量基线测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí měřické základny sklonu/úhlu"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – kąt płaski\nod -90 ° do 90 ° CMC 22″\nPomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta","reference":"KP č. 8","norm_bases":["KP č. 8"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: kąt płaski","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Plane angle","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：平面角","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Rovinný úhel","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Pochyłomierze Wzorcowanie – kąt płaski Pomiar z użyciem bazy pomiarowej nachylenia/kąta od -90 ° do 90 ° CMC 22″ Sklonoměry Kalibrace – rovinný úhel Měření pomocí měřické základny sklonu/úhlu -90 ° až 90 ° CMC 22″ KP č. 8 Pochylomierze Wzorcowanie – kat plaski Pomiar z uzyciem bazy pomiarowej nachylenia/kata od -90 ° do 90 ° CMC 22″ Sklonomery Kalibrace – rovinny uhel Mereni pomoci mericke zakladny sklonu/uhlu -90 ° az 90 ° CMC 22″ KP c. 8","search_en":"Inclinometers Calibration – plane angle Measurement using a baseline for angle and slope -90 ° to 90 ° CMC 22″ KP č. 8","search_zh":"倾角仪 校准 – 平面角 使用倾角/角度测量基线测量 -90 ° 至 90 ° CMC 22″ KP č. 8","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"CIA-oficjalne","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":15,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"}],"has_pdf":true}