🇵🇱 Politechnika Wrocławska PL
Sonstige
Politechnika Wrocławska ist ein von PCA unter der Nummer AP 078 akkreditiertes Kalibrierlabor (Wrocław, Polen). Der Akkreditierungsbereich umfasst 5 Kalibrierpositionen in den Bereichen: Sonstige. Kalibriert werden unter anderem: Messgeräte für die elektrische Feldstärke, Messgeräte für die magnetische Feldstärke, Messgeräte für die magnetische Flussdichte, Elektrostatische Feldstärkemessgeräte. Am häufigsten eingesetzte Kalibrierprinzipien: Indirektes Verfahren.
Auf einen Blick
- Akkreditierungsnummer: PCA AP 078
- Kalibrierpositionen im Geltungsbereich: 5
- Arten kalibrierter Gegenstände: 7
- Eingesetzte Kalibrierprinzipien: 1
- Ort: Wrocław, Polen
- Gültig bis: 22-09-2029
- Akkreditierungsnummer
- AP 078
- Akkreditierungsstelle
- PCA
- Adresse
- ul. Janiszewskiego 9, 50-372 Wrocław
- Ort
- Wrocław, Polen
- Abteilung
- Lehrstuhl für Telekommunikation und Teleinformatik, Labor für Normale und Metrologie elektromagnetischer Felder
- Gültig bis
- 22-09-2029
Was dieses Labor kalibriert (7)
- Messgeräte für die elektrische Feldstärke — 2 Kalibrierpositionen
- Messgeräte für die magnetische Feldstärke — 2 Kalibrierpositionen
- Messgeräte für die magnetische Flussdichte — 2 Kalibrierpositionen
- Elektrostatische Feldstärkemessgeräte — 1 Kalibrierposition
- Leistungsdichtemessgeräte — 1 Kalibrierposition
- Messgeräte für induzierten Strom — 1 Kalibrierposition
- Messgeräte für magnetostatische Felder — 1 Kalibrierposition
Kalibrierprinzipien (1)
- Indirektes Verfahren — 5 Kalibrierpositionen
Laborstandorte
- Politechnika Wrocławska (Hauptsitz) — ul. Janiszewskiego 9, 50-372 Wrocław
- LEHRSTUHL FÜR TELEKOMMUNIKATION UND TELEINFORMATIK LABOR FÜR NORMALE UND METROLOGIE ELEKTROMAGNETISCHER FELDER — ul. Zygmunta Janiszewskiego 9, 50-372 Wrocław
Angaben zur Akkreditierungsurkunde
- Ausgabedatum
- 01.09.2025
- Ausgabe Nr.
- 17
- Datum der Urkunde
- 27.06.2022
- Akkreditierungszyklus
- 01.09.2025 — 22.09.2029
- Genehmigt von
- Katarzyna Wiśniewska
Akkreditierungsumfang — Kalibrierpositionen (5)
| Nr. | Kalibrierte Größe / Kalibriergegenstand | Nennbereich / Parameter / CMC | Kalibrierprinzip | Kalibrierverfahren | |
|---|---|---|---|---|---|
| Labor für Normale und Metrologie elektromagnetischer Felder, Tätigkeitsort: S | |||||
| 1 | Messgeräte für magnetostatische Felder Messgeräte für die magnetische Flussdichte |
Interne Verfahrensanweisungen PrW-1, PrW-4 auf Grundlage von IEEE 1309-2013 0 Hz 0,01 kA/m bis 10 kA/m; Messunsicherheit für CMC 2,8 % 0 Hz 10 kA/m bis 1000 kA/m; Messunsicherheit für CMC 1,0 % Magnetische Größen |
Indirektes Verfahren | Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 2 | Messgeräte für die magnetische Feldstärke Messgeräte für die magnetische Flussdichte |
Interne Verfahrensanweisungen PrW-1, PrW-4 auf Grundlage von IEEE 1309-2013 50 Hz 0,1 A/m bis 50 kA/m; Messunsicherheit für CMC 2,8 % 1 Hz bis 1000 Hz 0,01 A/m bis 10 kA/m; Messunsicherheit für CMC 2,8 % 0,001 MHz bis 1 MHz 0,1 A/m bis 250 A/m; Messunsicherheit für CMC 5 % 1 MHz bis 10 MHz 0,001 A/m bis 200 A/m; Messunsicherheit für CMC 5 % 10 MHz bis 100 MHz 0,001 A/m bis 20 A/m; Messunsicherheit für CMC 5 % Elektromagnetische Größen |
Indirektes Verfahren | Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 3 | Elektrostatische Feldstärkemessgeräte Messgeräte für die elektrische Feldstärke Messgeräte für die magnetische Feldstärke |
Interne Verfahrensanweisungen PrW-2, PrW-4 auf Grundlage von IEEE 1309-2013 E-Feld 0 MHz bis 50 Hz 10 V/m bis 50kV/m; Messunsicherheit für CMC 2,8 % E-Feld 0,01 kHz bis 100 kHz 1 V/m bis 2 kV/m; Messunsicherheit für CMC 2,8 % E-Feld 0,01 MHz bis 220 MHz 0,001 V/m bis 2000 V/m; Messunsicherheit für CMC 5 % E-Feld 10 MHz bis 1000 MHz 0,001 V/m bis 1000 V/m; Messunsicherheit für CMC 5 % H-Feld 0,01 MHz bis 220 MHz 0,3 mA/m bis 5 A/m; Messunsicherheit für CMC 5 % H-Feld 10 MHz bis 1000 MHz 3 mA/m bis 2,5 A/m; Messunsicherheit für CMC 5 % Elektromagnetische Größen |
Indirektes Verfahren | Procedury wewnętrzne PrW-2, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 4 | Messgeräte für die elektrische Feldstärke Leistungsdichtemessgeräte |
Interne Verfahrensanweisungen PrW-3, PrW-4 auf Grundlage von IEEE 1309-2013 1 GHz bis 10 GHz 0,00001 W/m² bis 50 W/m²; 0,06 V/m bis 137 V/m; Messunsicherheit für CMC 15 % 10 GHz bis 20 GHz 0,001 W/m² bis 50 W/m²; (0,6 V/m bis 137 V/m; Messunsicherheit für CMC 25 % 20 GHz bis 50 GHz 0,001 W/m² bis 50 W/m²; 0,6 V/m bis 137 V/m; Messunsicherheit für CMC 35 % 50 GHz bis 90 GHz 0,001 W/m² bis 0,5 W/m²; 0,6 V/m bis 14 V/m; Messunsicherheit für CMC 38 % Elektromagnetische Größen |
Indirektes Verfahren | Procedury wewnętrzne PrW-3, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 5 | Messgeräte für induzierten Strom | Interne Verfahrensanweisungen PrW-5, PrW-4 auf Grundlage von IEEE 1309-2013 0,0001 MHz bis 110 MHz 0,001 A bis 1,5 A; Messunsicherheit für CMC 10 % Elektromagnetische Größen |
Indirektes Verfahren | Procedury wewnętrzne PrW-5, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
Bezugsnormen (5)
IEEE 1309-2013
Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4
Procedury wewnętrzne PrW-2, PrW-4
Procedury wewnętrzne PrW-3, PrW-4
Procedury wewnętrzne PrW-5, PrW-4