🇵🇱 Politechnika Wrocławska
Inne
Politechnika Wrocławska to laboratorium wzorcujące akredytowane przez PCA pod numerem AP 078 (Wrocław, Polska). Zakres akredytacji obejmuje 5 pozycji wzorcowania w obszarach: Inne. Wzorcowane są m.in.: Mierniki indukcji magnetycznej, Mierniki natężenia pola elektrycznego, Mierniki natężenia pola magnetycznego, Mierniki do pomiaru pól magnetostatycznych. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Metoda pośrednia.
W skrócie
- Numer akredytacji: PCA AP 078
- Liczba pozycji wzorcowania: 5
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 7
- Zasad wzorcowania: 1
- Miasto: Wrocław, Polska
- Ważność do: 22-09-2029
- Numer akredytacji
- AP 078
- Jednostka akredytująca
- PCA
- Adres
- ul. Janiszewskiego 9, 50-372 Wrocław
- Miasto
- Wrocław, Polska
- Dział
- Katedra Telekomunikacji i Teleinformatyki, Laboratorium Wzorców i Metrologii Pola Elektromagnetycznego
- Ważność do
- 22-09-2029
Co wzorcuje to laboratorium (7)
- Mierniki indukcji magnetycznej — 2 pozycje wzorcowania
- Mierniki natężenia pola elektrycznego — 2 pozycje wzorcowania
- Mierniki natężenia pola magnetycznego — 2 pozycje wzorcowania
- Mierniki do pomiaru pól magnetostatycznych — 1 pozycja wzorcowania
- Mierniki gęstości mocy — 1 pozycja wzorcowania
- Mierniki natężenia pola elektrostatycznego — 1 pozycja wzorcowania
- Mierniki prądu indukowanego — 1 pozycja wzorcowania
Zasady wzorcowania (1)
- Metoda pośrednia — 5 pozycji wzorcowania
Lokalizacje laboratorium
- Politechnika Wrocławska (siedziba główna) — ul. Janiszewskiego 9, 50-372 Wrocław
- KATEDRA TELEKOMUNIKACJI I TELEINFORMATYKI LABORATORIUM WZORCÓW I METROLOGII POLA ELEKTROMAGNETYCZNEGO — ul. Zygmunta Janiszewskiego 9, 50-372 Wrocław
Informacje o certyfikacie
- Data wydania
- 01.09.2025
- Wydanie nr
- 17
- Data certyfikatu
- 27.06.2022
- Cykl akredytacji
- 01.09.2025 — 22.09.2029
- Zatwierdzający
- Katarzyna Wiśniewska
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (5)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| Laboratorium Wzorców i Metrologii Pola Elektromagnetycznego, Miejsce dział.: S | |||||
| 1 | Mierniki do pomiaru pól magnetostatycznych Mierniki indukcji magnetycznej |
Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4 w oparciu o IEEE 1309-2013 0 Hz 0,01 kA/m do 10 kA/m; Niepewność pomiaru dla CMC 2,8 % 0 Hz 10 kA/m do 1000 kA/m; Niepewność pomiaru dla CMC 1,0 % Wielkości magnetyczne |
Metoda pośrednia | Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 2 | Mierniki natężenia pola magnetycznego Mierniki indukcji magnetycznej |
Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4 w oparciu o IEEE 1309-2013 50 Hz 0,1 A/m do 50 kA/m; Niepewność pomiaru dla CMC 2,8 % 1 Hz do 1000 Hz 0,01 A/m do 10 kA/m; Niepewność pomiaru dla CMC 2,8 % 0,001 MHz do 1 MHz 0,1 A/m do 250 A/m; Niepewność pomiaru dla CMC 5 % 1 MHz do 10 MHz 0,001 A/m do 200 A/m; Niepewność pomiaru dla CMC 5 % 10 MHz do 100 MHz 0,001 A/m do 20 A/m; Niepewność pomiaru dla CMC 5 % Wielkości elektromagnetyczne |
Metoda pośrednia | Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 3 | Mierniki natężenia pola elektrostatycznego Mierniki natężenia pola elektrycznego Mierniki natężenia pola magnetycznego |
Procedury wewnętrzne PrW-2, PrW-4 w oparciu o IEEE 1309-2013 Pole E 0 MHz do 50 Hz 10 V/m do 50kV/m; Niepewność pomiaru dla CMC 2,8 % Pole E 0,01 kHz do 100 kHz 1 V/m do 2 kV/m; Niepewność pomiaru dla CMC 2,8 % Pole E 0,01 MHz do 220 MHz 0,001 V/m do 2000 V/m; Niepewność pomiaru dla CMC 5 % Pole E 10 MHz do 1000 MHz 0,001 V/m do 1000 V/m; Niepewność pomiaru dla CMC 5 % Pole H 0,01 MHz do 220 MHz 0,3 mA/m do 5 A/m; Niepewność pomiaru dla CMC 5 % Pole H 10 MHz do 1000 MHz 3 mA/m do 2,5 A/m; Niepewność pomiaru dla CMC 5 % Wielkości elektromagnetyczne |
Metoda pośrednia | Procedury wewnętrzne PrW-2, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 4 | Mierniki natężenia pola elektrycznego Mierniki gęstości mocy |
Procedury wewnętrzne PrW-3, PrW-4 w oparciu o IEEE 1309-2013 1 GHz do 10 GHz 0,00001 W/m² do 50 W/m²; 0,06 V/m do 137 V/m; Niepewność pomiaru dla CMC 15 % 10 GHz do 20 GHz 0,001 W/m² do 50 W/m²; (0,6 V/m do 137 V/m; Niepewność pomiaru dla CMC 25 % 20 GHz do 50 GHz 0,001 W/m² do 50 W/m²; 0,6 V/m do 137 V/m; Niepewność pomiaru dla CMC 35 % 50 GHz do 90 GHz 0,001 W/m² do 0,5 W/m²; 0,6 V/m do 14 V/m; Niepewność pomiaru dla CMC 38 % Wielkości elektromagnetyczne |
Metoda pośrednia | Procedury wewnętrzne PrW-3, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
| 5 | Mierniki prądu indukowanego | Procedury wewnętrzne PrW-5, PrW-4 w oparciu o IEEE 1309-2013 0,0001 MHz do 110 MHz 0,001 A do 1,5 A; Niepewność pomiaru dla CMC 10 % Wielkości elektromagnetyczne |
Metoda pośrednia | Procedury wewnętrzne PrW-5, PrW-4 | IEEE 1309-2013 | |
Normy referencyjne (5)
IEEE 1309-2013
Procedury wewnętrzne PrW-1, PrW-4
Procedury wewnętrzne PrW-2, PrW-4
Procedury wewnętrzne PrW-3, PrW-4
Procedury wewnętrzne PrW-5, PrW-4