XRF-Screening in der Elektronik erfasst nun neun Elemente und Stoffe
EN IEC 62321-3-1:2026 beschreibt das Screening auf Blei, Quecksilber, Cadmium, Chrom, Brom, Phosphor, Chlor, Zinn und Antimon in Elektrotechnikprodukten mittels Röntgenfluoreszenz.
- Das XRF-Screening ist der erste Schritt der Gefahrstoffkontrolle: Es entscheidet, ob eine Probe eine genauere Bestimmung braucht oder ob das Ergebnis sofort eindeutig ist.
- Das Verfahren ist zerstörungsfrei und schnell und eignet sich daher für Wareneingangskontrolle und Stichproben an Fertigprodukten.
- Der Anwendungsbereich umfasst die RoHS-Elemente sowie zusätzlich Gesamtphosphor, Chlor, Zinn und Antimon — das erweitert den Einsatz über die RoHS-Liste hinaus.
- Für ein Elektroniklabor bedeutet die neue Ausgabe die Aktualisierung von Verfahren, Referenzmaterialien und Akkreditierungsunterlagen.