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ČIA 2421 • Teplice, 捷克 • 9 项校准

计量与校准

HOMMEL CS s.r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室，认可编号 2421（Teplice，捷克）。认可范围涵盖 9 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：圆度仪、粗糙度仪、轮廓仪、Opticline（光学轴类测量仪）。最常用的校准原理：用 KN8 轮廓标准测量、用圆度标准测量、用标准粗糙度样板测量。

要点速览

认可编号: ČIA 2421
认可范围内校准项目数: 9
校准对象种类: 4
所用校准原理数: 8
城市: Teplice, 捷克
有效期至: 23-01-2027

认可编号: 2421
认可机构: ČIA
地址: Karoliny Světlé 2546, 415 01 Teplice
城市: Teplice, 捷克
部门: Laboratorium wzorcujące Teplice
有效期至: 23-01-2027

该实验室校准什么 (4)

圆度仪 — 4 项校准
粗糙度仪 — 2 项校准
轮廓仪 — 2 项校准
Opticline（光学轴类测量仪） — 1 项校准

校准原理 (8)

用 KN8 轮廓标准测量 — 2 项校准
用圆度标准测量 — 1 项校准
用标准粗糙度样板测量 — 1 项校准
用标准轮廓样板测量 — 1 项校准
用校准球测量 — 1 项校准
用检验圆柱测量 — 1 项校准
用玻璃平面度标准测量 — 1 项校准
用阶梯标准测量 — 1 项校准

证书信息

证书日期: 23.01.2024

认可范围 — 校准项目 (9)

CMC — 给出的最小扩展测量不确定度（ILAC-P14、EA-4/02 M）；除非另有说明，包含概率约为95%，不带单位的数值为相对于测量值的相对值。具体校准的不确定度可能更高。

序号	校准量 / 校准对象	标称范围 / 参数 / CMC	校准原理	校准程序
校准项目
1	Opticline（光学轴类测量仪）	校准 – 长度直径 — 0 mm 至 140 mm · CMC 0,3 µm 长度 — 0 mm 至 900 mm · CMC 0,4 µm 被测量领域的CMC：长度	用阶梯标准测量	KP-01-04-2022
2	圆度仪	校准 – 长度圆度 — 0 µm 至 500 µm · CMC 0,3 µm 被测量领域的CMC：长度	用圆度标准测量	KP-02-04-2022
3	圆度仪	校准 – 长度跳动 — 0 µm 至 500 µm · CMC 0,010 µm 被测量领域的CMC：长度	用校准球测量	KP-02-04-2022
4	圆度仪	校准 – 长度平行度 — 0 µm 至 500 µm · CMC 1,0 µm 被测量领域的CMC：长度	用检验圆柱测量	KP-02-04-2022
5	圆度仪	校准 – 长度直线度 — 0 µm 至 500 µm · CMC 0,1 µm 垂直度 — 0 µm 至 500 µm · CMC 0,1 µm 被测量领域的CMC：长度	用玻璃平面度标准测量	KP-02-04-2022
6	轮廓仪	校准 – 长度长度 — 0 mm 至 90 mm · CMC 0,8 µm 半径 — 0 mm 至 20 mm · CMC 0,8 µm 被测量领域的CMC：长度	用 KN8 轮廓标准测量	KP-03-04-2022
7	粗糙度仪	校准 – 长度 Ra（粗糙度参数） — 0,1 µm 至 5 µm · CMC 0,026 µm Rz（粗糙度参数） — 0,1 µm 至 20 µm · CMC 0,11 µm Rt（粗糙度参数） — 0,1 µm 至 20 µm · CMC 0,12 µm Rmax（粗糙度参数） — 0,1 µm 至 20 µm · CMC 0,11 µm 被测量领域的CMC：长度	用标准粗糙度样板测量	KP-04-04-2022
8	粗糙度仪	校准 – 长度 Pt（粗糙度参数） — 0,1 µm 至 20 µm · CMC 0,20 µm 被测量领域的CMC：长度	用标准轮廓样板测量	KP-04-04-2022
9	轮廓仪	校准 – 平面角 0 ° 至 90 ° · CMC 0,006° 被测量领域的CMC：平面角	用 KN8 轮廓标准测量	KP-03-04-2022

引用标准 (4)

KP-01-04-2022

KP-02-04-2022

KP-03-04-2022

KP-04-04-2022

同一认可范围的数据格式（JSON）：https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2421