🇨🇿 Daniel Zindler PL

ČIA 2401 • Zlín, 捷克 • 55 项校准

计量与校准

Daniel Zindler 是由 ČIA 认可的校准实验室，认可编号 2401（Zlín，捷克）。认可范围涵盖 55 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：直读式温度计、90° 角尺、直尺、螺纹环规。最常用的校准原理：在测长仪上直接测量、用标准刻度尺直接测量、用标准量块、量规和环规直接测量。

要点速览

认可编号: ČIA 2401
认可范围内校准项目数: 55
校准对象种类: 47
所用校准原理数: 27
城市: Zlín, 捷克
有效期至: 22-12-2030

认可编号: 2401
认可机构: ČIA
地址: Voženílkova 5561, 760 05 Zlín
城市: Zlín, 捷克
部门: Laboratorium wzorcujące Zindler
有效期至: 22-12-2030

该实验室校准什么 (47)

直读式温度计 — 5 项校准
90° 角尺 — 2 项校准
直尺 — 2 项校准
螺纹环规 — 2 项校准
量块 — 2 项校准
两点和三点内径千分尺 — 1 项校准
伸缩杆 — 1 项校准
内径千分尺、接长杆 — 1 项校准
千分尺校对量杆 — 1 项校准
卡规 — 1 项校准
卷尺 — 1 项校准
周长和直径测量带 — 1 项校准
圆柱、平面、槽、方形和六角量规 — 1 项校准
塞尺 — 1 项校准
外径千分尺 — 1 项校准
另有 32 项

校准原理 (27)

在测长仪上直接测量 — 10 项校准
用标准刻度尺直接测量 — 7 项校准
用标准量块、量规和环规直接测量 — 7 项校准
在专用测量装置或测长仪上直接测量 — 4 项校准
在测长仪上间接测量 — 2 项校准
用带长度传感器的线性高度尺直接测量垂直度和直线度 — 2 项校准
用标准环规直接测量 — 2 项校准
用量块直接测量 — 2 项校准
与标准靶面黑体比较 — 1 项校准
与螺纹校对塞规、环规比较 — 1 项校准
与螺纹磨损校对塞规比较 — 1 项校准
从标准平面用量块直接测量 — 1 项校准
借助比较仪与量块比较 — 1 项校准
借助比较仪或测长仪与量块比较 — 1 项校准
在二维显微镜上直接测量 — 1 项校准
另有 12 项

证书信息

证书日期: 22.12.2025

认可范围 — 校准项目 (55)

CMC — 给出的最小扩展测量不确定度（ILAC-P14、EA-4/02 M）；除非另有说明，包含概率约为95%，不带单位的数值为相对于测量值的相对值。具体校准的不确定度可能更高。

序号	校准量 / 校准对象	标称范围 / 参数 / CMC	校准原理	校准程序
校准项目
1	游标卡尺、游标深度尺、游标高度尺、齿厚游标卡尺、焊缝检验尺	校准 – 长度 0 mm 至 2000 mm · CMC (10·L + 10) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块、量规和环规直接测量	KP 10
2	线性高度尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (2·L + 0,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块、量规和环规直接测量	KP 10
3	外径千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 25 mm · CMC 0,5 µm 25 mm 至 1000 mm · CMC (7·L + 1,3) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块、量规和环规直接测量	KP 11
4	深度千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (15·L + 1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块、量规和环规直接测量	KP 11
5	带棱柱测砧的千分尺	校准 – 长度 1 mm 至 150 mm · CMC (10·L + 1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块、量规和环规直接测量	KP 11
6	杠杆卡规	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (4·L + 0,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块、量规和环规直接测量	KP 11
7	微型杠杆卡规	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (7·L + 1,3) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块、量规和环规直接测量	KP 11
8	两点和三点内径千分尺	校准 – 长度 2 mm 至 250 mm · CMC (5·L + 1,6) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准环规直接测量	KP 11
9	内径千分尺、接长杆	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (5·L + 1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
10	测微头	校准 – 长度 0 mm 至 50 mm · CMC (5·L + 1,2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
11	螺纹塞规	校准 – 长度 1 mm 至 300 mm · CMC (5·L + 2,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上间接测量	KP 12
12	螺纹环规	校准 – 长度 3,5 mm 至 200 mm · CMC (3·L + 2,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上间接测量	KP 12
13	螺纹环规	校准 – 长度 1 mm 至 16 mm · CMC (6·L + 3,0) µm 被测量领域的CMC：长度	与螺纹磨损校对塞规比较	KP 12
14	锥螺纹塞规和环规	校准 – 长度 1 mm 至 50 mm · CMC (6·L + 10) µm 被测量领域的CMC：长度	与螺纹校对塞规、环规比较	KP 12
15	圆柱、平面、槽、方形和六角量规	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (5·L + 0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
16	千分尺校对量杆	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (5·L + 0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
17	测量线和测量圆柱	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (5·L + 0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
18	卡规	校准 – 长度 2 mm 至 250 mm · CMC (5·L + 0,7) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
19	校对环规和极限环规	校准 – 长度 2 mm 至 250 mm · CMC (5·L + 0,7) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
20	塞尺	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC (20·L + 0,6) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
21	校准箔片	校准 – 长度 0 mm 至 20 mm · CMC 0,4 µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
22	楔形塞尺	校准 – 长度 0 mm 至 30 mm · CMC 15 µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 12
23	指针式和数显指示表	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (5·L + 0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置或测长仪上直接测量	KP 12
24	杠杆指示表	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC (5·L + 0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置或测长仪上直接测量	KP 12
25	长度传感器	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (5·L + 0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置或测长仪上直接测量	KP 12
26	带指示表的内径表	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (5·L + 0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置或测长仪上直接测量	KP 12
27	卷尺	校准 – 长度 0 mm 至 15 m · CMC (50·L + 150) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准刻度尺直接测量	KP 13
28	折尺	校准 – 长度 0 mm 至 5 m · CMC (50·L + 180) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准刻度尺直接测量	KP 13
29	测绘用测量卷尺	校准 – 长度 0 mm 至 100 m · CMC (70·L + 40) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准刻度尺直接测量	KP 13
30	长度量尺	校准 – 长度 0 mm 至 5 m · CMC (50·L + 50) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准刻度尺直接测量	KP 13
31	测量带	校准 – 长度 0 mm 至 10 m · CMC (70·L + 50) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准刻度尺直接测量	KP 13
32	伸缩杆	校准 – 长度 0 mm 至 5 m · CMC (50·L + 270) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准刻度尺直接测量	KP 13
33	激光测距仪	校准 – 长度 0 mm 至 5 m · CMC 0,2 mm 被测量领域的CMC：长度	用标准刻度尺直接测量	KP 13
34	量尺	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (5·L + 2,0) µm 被测量领域的CMC：长度	在二维显微镜上直接测量	KP 13
35	周长和直径测量带	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (100·L + 30) µm 被测量领域的CMC：长度	用圆柱量规直接测量	KP 13
36	带指示表的测厚仪	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (10·L + 1,0) µm 被测量领域的CMC：长度	用量块直接测量	KP 14
37	超声波测厚仪	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (10·L + 3,0) µm 被测量领域的CMC：长度	用阶梯规和量块直接测量	KP 14
38	涂层厚度测量仪	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC 2,0 µm 被测量领域的CMC：长度	用涂层厚度标准片直接测量	KP 14
39	带测量臂的外测指示表	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (10·L + 1,0) µm 被测量领域的CMC：长度	用量块直接测量	KP 14
40	带测量臂的内测指示表	校准 – 长度 2 mm 至 250 mm · CMC (10·L + 2,0) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准环规直接测量	KP 14
41	量块	校准 – 长度 3 等 — 0,1 mm 至 0,5 mm · CMC (1·L + 0,1) µm 3 等 — 2,5 mm 至 25 mm · CMC (1·L + 0,1) µm 4 等 — 0,5 mm 至 100 mm · CMC (2·L + 0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	借助比较仪与量块比较	KP 15
42	量块	校准 – 长度 5 等 — 0,5 mm 至 500 mm · CMC (5·L + 0,5) µm 被测量领域的CMC：长度	借助比较仪或测长仪与量块比较	KP 15
43	粗糙度仪	校准 – 长度 0,01 µm 至 6000 µm · CMC 5 % 被测量领域的CMC：长度	用粗糙度标准件直接测量	KP 04
44	粗糙度标准件	校准 – 长度 0,01 µm 至 6000 µm · CMC 5 % 被测量领域的CMC：长度	在粗糙度仪上直接测量	KP 04
45	直尺	校准 – 长度长度至 1 m — 0 mm 至 10 mm · CMC (2·L + 1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用带长度传感器的线性高度尺直接测量垂直度和直线度	KP 29
46	直尺	校准 – 长度长度至 2 m — 0 µm 至 100 µm · CMC (4·L + 4,0) µm 被测量领域的CMC：长度	从标准平面用量块直接测量	KP 29
47	检验平尺	校准 – 长度长度至 2 m — 0 mm 至 10 mm · CMC 30 µm 被测量领域的CMC：长度	在平板上用量块直接测量	KP 29
48	90° 角尺	校准 – 长度 0,40 m — 0 mm 至 5 mm · CMC (4·L + 2,0) µm 被测量领域的CMC：长度	用垂直度标准器和量块直接测量	KP 18
49	90° 角尺	校准 – 长度长度至 1 m — 0 mm 至 10 mm · CMC (4·L + 2,0) µm 被测量领域的CMC：长度	用带长度传感器的线性高度尺直接测量垂直度和直线度	KP 18
50	直读式温度计	校准 – 温度 0 °C · CMC 0,05 °C 被测量领域的CMC：温度	在冰水混合物中与标准温度计比较测量	KP 31
51	直读式温度计	校准 – 温度 20 °C 至 150 °C · CMC 0,07 °C 被测量领域的CMC：温度	在液体槽中与标准温度计比较测量	KP 31
52	直读式温度计	校准 – 温度 -18 °C 至 45 °C · CMC 0,2 °C 被测量领域的CMC：温度	在气候箱中与标准温度计比较测量	KP 31
53	直读式温度计	校准 – 温度 -30 °C 至 100 °C · CMC 0,1 °C 100 °C 至 200 °C · CMC 0,2 °C 200 °C 至 300 °C · CMC 0,3 °C 300 °C 至 400 °C · CMC 0,4 °C 400 °C 至 500 °C · CMC 0,5 °C 500 °C 至 600 °C · CMC 0,6 °C 600 °C 至 660 °C · CMC 0,7 °C 被测量领域的CMC：温度	在干井炉中与标准温度计比较测量	KP 31
54	直读式温度计	校准 – 温度 300 °C 至 400 °C · CMC 1,3 °C 400 °C 至 600 °C · CMC 1,5 °C 600 °C 至 800 °C · CMC 2,0 °C 800 °C 至 1100 °C · CMC 2,5 °C 被测量领域的CMC：温度	在卧式炉中与标准温度计比较测量	KP 31
55	非接触式温度计	校准 – 温度 35 °C 至 100 °C · CMC 1,9 °C 100 °C 至 200 °C · CMC 2,1 °C 200 °C 至 350 °C · CMC 2,7 °C 350 °C 至 500 °C · CMC 3,2 °C 被测量领域的CMC：温度	与标准靶面黑体比较	KP 34

引用标准 (11)

KP 04

KP 10

KP 11

KP 12

KP 13

KP 14

KP 15

KP 18

KP 29

KP 31

KP 34

同一认可范围的数据格式（JSON）：https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2401