🇨🇿 MIKROKOM, s.r.o. PL
计量与校准
MIKROKOM, s.r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室,认可编号 2311(Praha 4,捷克)。认可范围涵盖 11 项校准,涉及以下领域:计量与校准。校准对象包括:SMF光纤光学长度 / OTDR光时域反射仪、光功率电平 / 光纤用光功率计、光功率电平 / 光纤用光源、光功率电平 / 光纤用光谱分析仪。最常用的校准原理:借助光衰减器与标准光功率计比较、用替代法与标准光功率计比较、用标准光谱分析仪测量波长。
要点速览
- 认可编号: ČIA 2311
- 认可范围内校准项目数: 11
- 校准对象种类: 11
- 所用校准原理数: 8
- 城市: Praha 4, 捷克
- 有效期至: 22-12-2030
- 认可编号
- 2311
- 认可机构
- ČIA
- 地址
- Pod vinicí 622/22, Modřany, 143 00 Praha 4
- 城市
- Praha 4, 捷克
- 部门
- Laboratorium wzorcujące
- 有效期至
- 22-12-2030
该实验室校准什么 (11)
- SMF光纤光学长度 / OTDR光时域反射仪 — 1 项校准
- 光功率电平 / 光纤用光功率计 — 1 项校准
- 光功率电平 / 光纤用光源 — 1 项校准
- 光功率电平 / 光纤用光谱分析仪 — 1 项校准
- 射频信号电平 / 射频测量接收机 — 1 项校准
- 最大功率波长 / OTDR光时域反射仪 — 1 项校准
- 最大功率波长 / 光纤用光源 — 1 项校准
- 波长 / 光纤用光谱分析仪 — 1 项校准
- 线性 / 光纤用光功率计 — 1 项校准
- 线性 / 光纤用光谱分析仪 — 1 项校准
- 衰减(1 dB)/ OTDR光时域反射仪 — 1 项校准
校准原理 (8)
- 借助光衰减器与标准光功率计比较 — 2 项校准
- 用替代法与标准光功率计比较 — 2 项校准
- 用标准光谱分析仪测量波长 — 2 项校准
- 1 250 nm 至 1 650 nm:与标准光谱分析仪比较;1 530 nm 至 1 560 nm:使用标准吸收池测量波长 — 1 项校准
- 在光纤不同光学长度处测量衰减 – 借助光衰减器与标准光功率计比较 — 1 项校准
- 测量光纤标准器的光学长度 — 1 项校准
- 测量标准器产生的功率 — 1 项校准
- 用标准光功率计测量功率 — 1 项校准
证书信息
- 证书日期
- 22.12.2025
认可范围 — 校准项目 (11)
| 序号 | 校准量 / 校准对象 | 标称范围 / 参数 / CMC | 校准原理 | 校准程序 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 校准项目 | |||||
| 1 | 射频信号电平 / 射频测量接收机 | 校准 – 电学量 1 MHz 至 2050 MHz;75 Ω — -70 dBm 至 +7,4 dBm · CMC 0,64 dB 1 MHz 至 2050 MHz;50 Ω — -70 dBm 至 +7,4 dBm · CMC 0,58 dB 被测量领域的CMC:电学量 |
测量标准器产生的功率 | KP06 | |
| 2 | 光功率电平 / 光纤用光功率计 | 校准 – 光学量 800 nm 至 1650 nm — -35 dBm 至 -4 dBm · CMC 2,8 % 被测量领域的CMC:光学量 |
用替代法与标准光功率计比较 | KP01 | |
| 3 | 线性 / 光纤用光功率计 | 校准 – 光学量 800 nm 至 1650 nm — -60 dBm 至 -4 dBm · CMC 0,14 dB 被测量领域的CMC:光学量 |
借助光衰减器与标准光功率计比较 | KP01 | |
| 4 | 光功率电平 / 光纤用光源 | 校准 – 光学量 800 nm 至 1650 nm — -60 dBm 至 +10 dBm · CMC 0,15 dB 被测量领域的CMC:光学量 |
用标准光功率计测量功率 | KP02 | |
| 5 | 最大功率波长 / 光纤用光源 | 校准 – 光学量 600 nm 至 1 650 nm · CMC 0,11 nm 被测量领域的CMC:光学量 |
用标准光谱分析仪测量波长 | KP02 | |
| 6 | 波长 / 光纤用光谱分析仪 | 校准 – 光学量 1 250 nm 至 1 650 nm · CMC 0,11 nm 1 530 nm 至 1 560 nm · CMC 0,012 nm 被测量领域的CMC:光学量 |
1 250 nm 至 1 650 nm:与标准光谱分析仪比较;1 530 nm 至 1 560 nm:使用标准吸收池测量波长 | KP04 | |
| 7 | 光功率电平 / 光纤用光谱分析仪 | 校准 – 光学量 800 nm 至 1650 nm — -35 dBm 至 -4 dBm · CMC 0,16 dB 被测量领域的CMC:光学量 |
用替代法与标准光功率计比较 | KP04 | |
| 8 | 线性 / 光纤用光谱分析仪 | 校准 – 光学量 800 nm 至 1650 nm — -60 dBm 至 -5 dBm · CMC 0,19 dB 被测量领域的CMC:光学量 |
借助光衰减器与标准光功率计比较 | KP04 | |
| 9 | 最大功率波长 / OTDR光时域反射仪 | 校准 – 光学量 600 nm 至 1650 nm · CMC 0,11 nm 被测量领域的CMC:光学量 |
用标准光谱分析仪测量波长 | KP05 | |
| 10 | SMF光纤光学长度 / OTDR光时域反射仪 | 校准 – 光学量 光谱带 1310 nm、1550 nm、1625 nm — 20,17 km · CMC 2,3 m 被测量领域的CMC:光学量 |
测量光纤标准器的光学长度 | KP05 | |
| 11 | 衰减(1 dB)/ OTDR光时域反射仪 | 校准 – 光学量 800 nm 至 1650 nm — -35 dBm 至 -4 dBm · CMC 0,021 dB 被测量领域的CMC:光学量 |
在光纤不同光学长度处测量衰减 – 借助光衰减器与标准光功率计比较 | KP05 | |
引用标准 (5)
KP01
KP02
KP04
KP05
KP06