🇨🇿 TECHNICKÉ LABORATOŘE OPAVA, akciová společnost PL

ČIA 2277 • Opava, 捷克 • 121 项校准

计量与校准

TECHNICKÉ LABORATOŘE OPAVA, akciová společnost 是由 ČIA 认可的校准实验室，认可编号 2277（Opava，捷克）。认可范围涵盖 121 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：校对量杆、90° 检验角尺、钢卷尺、万能工具显微镜。最常用的校准原理：用标准量块直接测量、在测长仪上直接测量、在轮廓投影仪上直接测量。

要点速览

认可编号: ČIA 2277
认可范围内校准项目数: 121
校准对象种类: 115
所用校准原理数: 27
城市: Opava, 捷克
有效期至: 04-07-2027

认可编号: 2277
认可机构: ČIA
地址: Těšínská 2962/79b, Předměstí, 746 01 Opava
城市: Opava, 捷克
部门: Laboratorium wzorcujące wielkości geometrycznych
有效期至: 04-07-2027

该实验室校准什么 (115)

校对量杆 — 4 项校准
90° 检验角尺 — 3 项校准
钢卷尺 — 2 项校准
万能工具显微镜 — 1 项校准
万能测长仪 — 1 项校准
三坐标测量机 — 1 项校准
两点式内径表 — 1 项校准
以比较法检定量块的仪器 — 1 项校准
倾角仪 — 1 项校准
光学角度尺 — 1 项校准
光学齿厚卡尺 — 1 项校准
公制和惠氏螺纹车刀样板 — 1 项校准
公制螺纹固定通端和止端螺纹环规 — 1 项校准
公制螺纹样板 — 1 项校准
公制螺纹量规及校对塞规 — 1 项校准
另有 100 项

校准原理 (27)

用标准量块直接测量 — 29 项校准
在测长仪上直接测量 — 25 项校准
在轮廓投影仪上直接测量 — 10 项校准
在三坐标测量仪上直接测量 — 9 项校准
用激光干涉仪测量 — 8 项校准
用标准量块测量 — 7 项校准
在专用测量装置上测量 — 5 项校准
与角度标准比较 — 4 项校准
用钢直尺的刻线直接测量 — 4 项校准
与标准量块和正弦规比较 — 2 项校准
用校对环规直接测量 — 2 项校准
与标准量块比较 — 1 项校准
与校对塞规比较 — 1 项校准
在 Werth Video-Check-HA 多传感器测量仪上测量 — 1 项校准
在专用测量装置上直接测量 — 1 项校准
另有 12 项

证书信息

证书日期: 16.02.2026

认可范围 — 校准项目 (121)

CMC — 给出的最小扩展测量不确定度（ILAC-P14、EA-4/02 M）；除非另有说明，包含概率约为95%，不带单位的数值为相对于测量值的相对值。具体校准的不确定度可能更高。

序号	校准量 / 校准对象	标称范围 / 参数 / CMC	校准原理	校准程序
校准项目
1	标准刻度尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (2·L +0,7) µm 被测量领域的CMC：长度	在 Werth Video-Check-HA 多传感器测量仪上测量	KP 1.1
2	量块	校准 – 长度 0,5 mm 至 1000 mm · CMC (0,8·L +0,08) µm 被测量领域的CMC：长度	与标准量块比较	KP 1.2
3	用于检查表面平面度和平行度的测量平晶	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC 0,2 µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 1.3
4	基本量块夹持器及附件	校准 – 长度 0 mm 至 1500 mm · CMC 0,25 µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 1.4
5	游标卡尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (20·L +20) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.1
6	带圆形表盘指示表和深度尺的卡尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (30·L +30) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.2
7	游标深度尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (20·L +20) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.3
8	游标高度尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (20·L +20) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.4
9	带表深度尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (30·L +30) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.5
10	数显高度尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (20·L +20) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.6
11	数显深度尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (20·L +20) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.7
12	数显卡尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (20·L +20) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.8
13	带测微螺杆的高度规	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (5·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.9
14	固定测砧外径千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (10·L +1,7) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.10
15	校对量杆	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (1,2·L +0,3) µm 1000 mm 至 3000 mm · CMC (3·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.10
16	带可换平面测头的千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (14·L +2,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.11
17	校对量杆	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (1,2·L +0,3) µm 1000 mm 至 3000 mm · CMC (3·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.11
18	齿轮千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (10·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.12
19	校对量杆	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (1,2·L +0,3) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.12
20	板厚千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (20·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.13
21	带加宽测头的外径千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (10·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.14
22	线径千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 20 mm · CMC (10·L +1,7) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.15
23	管壁千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (10·L +2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.16
24	带可换测头的螺纹千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (10·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.17
25	校对量杆	校准 – 长度 0 mm 至 500 mm · CMC (4·L +1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.17
26	内径千分尺	校准 – 长度 3 mm 至 1000 mm · CMC (12·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准环规直接测量	KP 2.18
27	用于凹面工件的千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (10·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.19
28	带异形测头的千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (10·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.20
29	带棱柱形测头的千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (10·L +2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.21
30	数显千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (8·L +1) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.22
31	深度千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (10·L +1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.23
32	测微头	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (8·L +1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.24
33	固定式内径测微杆	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (4·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.25
34	带接长杆的组合式内径测微杆	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (1,5·L +0,3) µm 1000 mm 至 3000 mm · CMC (4·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.26
35	数显测微头	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (2·L +1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 2.27
36	杠杆卡规和杠杆千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (4·L +0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.28
37	带百分表的板材和壁厚杠杆式测量仪（卡钳）	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (15·L +1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 2.29
38	两点式内径表	校准 – 长度 DS = 1 µm — 0 mm 至 1000 mm · CMC (8·L +1,5) µm DS = 10 µm — 0 mm 至 1000 mm · CMC (10·L +2,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上直接测量	KP 2.30
39	多点式及专用内径表	校准 – 长度 DS = 1 µm — 3 mm 至 500 mm · CMC (6·L +2) µm DS = 10 µm — 3 mm 至 500 mm · CMC (7·L +2,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用校对环规直接测量	KP 2.31
40	数显内径表	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (6·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	用校对环规直接测量	KP 2.32
41	分度值 0,01 mm 的百分表	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (40·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上测量	KP 3.1
42	分度值 0,001 mm 的千分表	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (10·L +0,5) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上测量	KP 3.2
43	分度值自 0,1 µm 起的扭簧比较仪（微米表）、杠杆齿轮比较仪、minimeter、milisom、orthotest 测微仪	校准 – 长度 0 mm 至 1 mm · CMC (5·L +0,1) µm 被测量领域的CMC：长度	用量块直接测量	KP 3.3
44	分度值 0,01 mm 的杠杆百分表	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC (50·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上测量	KP 3.4
45	分度值自 0,001 mm 起的杠杆千分表	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC (80·L +0,35) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上测量	KP 3.5
46	数显指示表	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (6·L +1,2) µm 被测量领域的CMC：长度	在专用测量装置上测量	KP 3.6
47	圆柱塞规	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (2,5·L +0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.1
48	扁平量规	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (2,5·L +0,2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.2
49	球面固定内径测杆	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (1,5·L +0,15) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.3
50	单头和双头卡规	校准 – 长度 0,5 mm 至 10 mm · CMC 0,5 µm 10 mm 至 500 mm · CMC (4·L +0,3) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.4
51	校对环规	校准 – 长度 0,3 mm 至 2 mm · CMC 1,1 µm 2 mm 至 1000 mm · CMC (6·L +0,6) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.6
52	用于检验和划线的圆柱检验棒	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (4·L +0,4) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.7
53	公制螺纹量规及校对塞规	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (7·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.9
54	公制螺纹固定通端和止端螺纹环规	校准 – 长度 1 mm 至 3 mm · CMC 7 µm 3 mm 至 300 mm · CMC (10·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.10
55	非螺纹密封管螺纹量规 – 塞规	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (10·L +2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.11
56	非螺纹密封管螺纹量规 – 环规	校准 – 长度 3 mm 至 300 mm · CMC (10·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.11
57	螺纹极限卡规 – 塞规	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (10·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.12
58	螺纹极限卡规 – 环规	校准 – 长度 3 mm 至 300 mm · CMC (20·L +10) µm 被测量领域的CMC：长度	与校对塞规比较	KP 4.12
59	其他螺纹量规 – 塞规	校准 – 长度 0 mm 至 300 mm · CMC (10·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.13
60	其他螺纹量规 – 环规	校准 – 长度 1 mm 至 3 mm · CMC 7 µm 3 mm 至 300 mm · CMC (10·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.13
61	螺纹测量针	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC (5·L +0,15) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 4.14
62	片式半径样板	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (10·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.1
63	塞尺	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (2,5·L +0,7) µm 被测量领域的CMC：长度	在测长仪上直接测量	KP 5.2
64	公制螺纹样板	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC 3 µm 被测量领域的CMC：长度	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.3
65	惠氏螺纹和管螺纹样板	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC 3 µm 被测量领域的CMC：长度	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.4
66	角焊缝测量规	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC 40 µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 5.5
67	公制和惠氏螺纹车刀样板	校准 – 长度 0 mm 至 20 mm · CMC 5 µm 被测量领域的CMC：长度	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.10
68	平头和尖头螺纹车刀样板	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC 5 µm 被测量领域的CMC：长度	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.11
69	涂层厚度测量仪	校准 – 长度 0 mm 至 10 mm · CMC (20·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准校准箔片直接测量	KP 5.12
70	内外半径样板	校准 – 长度 0 mm 至 500 mm · CMC (10·L +4) µm 被测量领域的CMC：长度	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.13
71	钢卷尺	校准 – 长度 0 mm 至 2000 mm · CMC 100 µm 被测量领域的CMC：长度	用钢直尺的刻线直接测量	KP 6.1
72	钢卷尺	校准 – 长度 0 mm 至 10000 mm · CMC (10·L +100) µm 被测量领域的CMC：长度	用钢直尺的刻线直接测量	KP 6.2
73	钢直尺	校准 – 长度 0 mm 至 5000 mm · CMC (20·L +10) µm 被测量领域的CMC：长度	用钢直尺的刻线直接测量	KP 6.3
74	测量卷尺	校准 – 长度 0 m 至 20 m · CMC (15·L +100) µm 20 m 至 100 m · CMC (40·L +200) µm 测距仪 — 0 m 至 20 m · CMC (60·L +500) µm 被测量领域的CMC：长度	用钢直尺的刻线直接测量	KP 6.4
75	平面度 / 平板；直线度 / 带筋平尺、检验方箱、铸铁带筋平尺	校准 – 长度长度至 5000 mm — 0 µm 至 500 µm · CMC 1,5 µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 7.1
76	检验和划线垫块	校准 – 长度 0 mm 至 500 mm · CMC (6·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在三坐标测量仪上直接测量	KP 7.21
77	顶尖检查仪	校准 – 长度 0 mm 至 1200 mm · CMC (2·L +3) µm 被测量领域的CMC：长度	用芯棒和百分表测量	KP 7.22
78	平面度 / 比较测量用测量台	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC 0,8 µm 被测量领域的CMC：长度	在三坐标测量仪上直接测量	KP 7.23
79	机械齿厚游标卡尺	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC 20 µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 8.1
80	光学齿厚卡尺	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC 15 µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 8.2
81	表面粗糙度标准样块	校准 – 长度 0 mm 至 12,5 µm · CMC 6 % 被测量领域的CMC：长度	用粗糙度仪直接测量	KP 8.3
82	万能测长仪	校准 – 长度 0 mm 至 6000 mm · CMC (1·L +0,15) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 8.4
83	万能工具显微镜	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (1·L +0,15) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 8.5
84	轮廓投影仪	校准 – 长度 0 mm 至 3000 mm · CMC (1·L +0,15) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 8.6
85	单坐标至三坐标测量仪	校准 – 长度 0 mm 至 6000 mm · CMC (1,3·L +0,15) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 8.7
86	三坐标测量机	校准 – 长度 0 mm 至 6000 mm · CMC (1,3·L +0,15) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 8.8
87	百分表检定仪	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (0,5·L +0,06) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 8.9
88	以比较法检定量块的仪器	校准 – 长度 0 mm 至 200 mm · CMC (0,5·L +0,06) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块直接测量	KP 8.10
89	粗糙度仪	校准 – 长度 0 mm 至 100 µm · CMC 8 % 被测量领域的CMC：长度	用粗糙度标准样块直接测量	KP 8.11
90	长度测量器具	校准 – 长度 1 轴 — 0 mm 至 3000 mm · CMC (3·L +0,5) µm 2 轴 — 0 mm 至 1000 mm · CMC (3·L +0,7) µm 3 轴 — 0 mm 至 1000 mm · CMC (3·L +0,1) µm 被测量领域的CMC：长度	在单轴、双轴和三轴测量仪上的专用测量	KP 8.12
91	检验平尺	校准 – 长度长度至 5000 mm — 0 µm 至 50 µm · CMC (1,8·L +1,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 7.2
92	车间平尺	校准 – 长度长度至 5000 mm — 0 µm 至 50 µm · CMC (1,8·L +1,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用激光干涉仪测量	KP 7.3
93	刀口尺	校准 – 长度长度至 5000 mm — 0 µm 至 30 µm · CMC 3 µm 被测量领域的CMC：长度	在平板上用量块测量	KP 7.4
94	垂直度检验圆柱	校准 – 长度高度至 1000 mm — 0 mm 至 5 mm · CMC (2,5·L +0,5) µm 被测量领域的CMC：长度	用杠杆卡规、测长仪和百分表测量	KP 7.14
95	90° 检验角尺	校准 – 长度长度至 200 mm — 0 mm 至 4 mm · CMC (4·L +1) µm 被测量领域的CMC：长度	用标准量块和垂直度标准直接测量	KP 7.15
96	90° 检验角尺	校准 – 长度长度至 1000 mm — 0 mm 至 4 mm · CMC (5·L +2) µm 被测量领域的CMC：长度	在三坐标测量仪上直接测量	KP 7.15
97	90° 检验角尺	校准 – 长度长度至 2500 mm — 0 mm 至 8 mm · CMC (30·L +10) µm 被测量领域的CMC：长度	在三坐标测量仪上直接测量	KP 7.16
98	锥度连接量规 – 塞规	校准 – 平面角直径至 300 mm — 0° 至 50° · CMC 9“ 被测量领域的CMC：平面角	在三坐标测量仪上直接测量	KP 4.5
99	锥度连接量规 – 环规	校准 – 平面角直径至 300 mm — 0° 至 50° · CMC 13“ 被测量领域的CMC：平面角	在三坐标测量仪上直接测量	KP 4.5
100	矩形花键连接检验量规 – 塞规	校准 – 平面角直径至 200 mm — 0° 至 60° · CMC 9“ 被测量领域的CMC：平面角	在三坐标测量仪上直接测量	KP 4.8
101	矩形花键连接检验量规 – 环规	校准 – 平面角直径 3 mm 至 200 mm — 0° 至 60° · CMC 13“ 被测量领域的CMC：平面角	在三坐标测量仪上直接测量	KP 4.8
102	麻花钻检验量具	校准 – 平面角直径至 100 mm — 0° 至 120° · CMC 9´ 被测量领域的CMC：平面角	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.6
103	螺纹圆盘刀前角检验样板	校准 – 平面角 -30° 至 +30° · CMC 9´ 被测量领域的CMC：平面角	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.7
104	硬质合金刀刃车刀角度测量样板	校准 – 平面角 0° 至 180° · CMC 4‘ 被测量领域的CMC：平面角	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.8
105	圆柱铣刀后角样板	校准 – 平面角 0° 至 180° · CMC 5‘ 被测量领域的CMC：平面角	在轮廓投影仪上直接测量	KP 5.9
106	正弦规	校准 – 平面角长度至 1000 mm — 0° 至 50° · CMC 2,2“ 被测量领域的CMC：平面角	用标准量块测量	KP 7.5
107	带顶尖的正弦规	校准 – 平面角长度至 1000 mm — 0° 至 50° · CMC 2,1“ 被测量领域的CMC：平面角	用标准量块测量	KP 7.6
108	锥度检验正弦规	校准 – 平面角长度至 500 mm — 0° 至 50° · CMC 4“ 被测量领域的CMC：平面角	用标准量块测量	KP 7.7
109	角度正弦规	校准 – 平面角长度至 200 mm — 0° 至 50° · CMC 4“ 被测量领域的CMC：平面角	用标准量块测量	KP 7.8
110	十字正弦规	校准 – 平面角长度至 200 mm — 0° 至 50° · CMC 4“ 被测量领域的CMC：平面角	用标准量块测量	KP 7.9
111	带挡板的可倾正弦规	校准 – 平面角长度至 200 mm — 0° 至 50° · CMC 4“ 被测量领域的CMC：平面角	用标准量块测量	KP 7.10
112	正弦虎钳	校准 – 平面角长度至 200 mm — 0° 至 50° · CMC 5“ 被测量领域的CMC：平面角	用标准量块测量	KP 7.11
113	水平仪（水准器）	校准 – 平面角 -20 mm/m 至 +20 mm/m · CMC 3 µm/m 被测量领域的CMC：平面角	与标准量块和正弦规比较	KP 7.12
114	倾角仪	校准 – 平面角 0° 至 360° · CMC 1‘ 被测量领域的CMC：平面角	与标准量块和正弦规比较	KP 7.13
115	带游标的机械角度尺	校准 – 平面角 0° 至 360° · CMC 6‘ 被测量领域的CMC：平面角	与角度标准比较	KP 7.17
116	光学角度尺	校准 – 平面角 0° 至 360° · CMC 3‘ 被测量领域的CMC：平面角	与角度标准比较	KP 7.18
117	数显角度尺	校准 – 平面角 0° 至 360° · CMC 1‘10“ 被测量领域的CMC：平面角	与角度标准比较	KP 7.19
118	带表角度尺	校准 – 平面角 0° 至 360° · CMC 3‘ 被测量领域的CMC：平面角	与角度标准比较	KP 7.20
119	角度块	校准 – 平面角 0° 至 100° · CMC 7“ 被测量领域的CMC：平面角	在三坐标测量仪上直接测量	KP 7.24
120	在二轴和三轴测量仪上的专用量具	校准 – 平面角长度至 1000 mm — 0° 至 360° · CMC 9“ 被测量领域的CMC：平面角	在二维和三维测量仪上测量	KP 8.12
121	扭矩 / 扭矩扳手和螺丝刀	校准 – 扭矩 0,2 Nm 至 2000 Nm · CMC 0,25 % 被测量领域的CMC：扭矩	在扭矩校准仪器上直接测量	KP 9.1

引用标准 (110)

KP 1.1

KP 1.2

KP 1.3

KP 1.4

KP 2.1

KP 2.10

KP 2.11

KP 2.12

KP 2.13

KP 2.14

KP 2.15

KP 2.16

KP 2.17

KP 2.18

KP 2.19

KP 2.2

KP 2.20

KP 2.21

KP 2.22

KP 2.23

KP 2.24

KP 2.25

KP 2.26

KP 2.27

KP 2.28

KP 2.29

KP 2.3

KP 2.30

KP 2.31

KP 2.32

KP 2.4

KP 2.5

KP 2.6

KP 2.7

KP 2.8

KP 2.9

KP 3.1

KP 3.2

KP 3.3

KP 3.4

KP 3.5

KP 3.6

KP 4.1

KP 4.10

KP 4.11

KP 4.12

KP 4.13

KP 4.14

KP 4.2

KP 4.3

KP 4.4

KP 4.5

KP 4.6

KP 4.7

KP 4.8

KP 4.9

KP 5.1

KP 5.10

KP 5.11

KP 5.12

KP 5.13

KP 5.2

KP 5.3

KP 5.4

KP 5.5

KP 5.6

KP 5.7

KP 5.8

KP 5.9

KP 6.1

KP 6.2

KP 6.3

KP 6.4

KP 7.1

KP 7.10

KP 7.11

KP 7.12

KP 7.13

KP 7.14

KP 7.15

KP 7.16

KP 7.17

KP 7.18

KP 7.19

KP 7.2

KP 7.20

KP 7.21

KP 7.22

KP 7.23

KP 7.24

KP 7.3

KP 7.4

KP 7.5

KP 7.6

KP 7.7

KP 7.8

KP 7.9

KP 8.1

KP 8.10

KP 8.11

KP 8.12

KP 8.2

KP 8.3

KP 8.4

KP 8.5

KP 8.6

KP 8.7

KP 8.8

KP 8.9

KP 9.1

同一认可范围的数据格式（JSON）：https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2277