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ČIA 2268 • Teplice, 捷克 • 38 项校准

计量与校准

SOMEX servis spol. s r.o. 是由 ČIA 认可的校准实验室，认可编号 2268（Teplice，捷克）。认可范围涵盖 38 项校准，涉及以下领域：计量与校准。校准对象包括：指示表、三点式内径千分尺、三等量块、两点式内径千分尺。最常用的校准原理：用测长仪直接测量、用 MasterScanner XP 仪器测量、与量块比较。

要点速览

认可编号: ČIA 2268
认可范围内校准项目数: 38
校准对象种类: 37
所用校准原理数: 18
城市: Teplice, 捷克
有效期至: 23-12-2026

认可编号: 2268
认可机构: ČIA
地址: Masarykova 11, 415 01 Teplice
城市: Teplice, 捷克
部门: Laboratorium wzorcujące
有效期至: 23-12-2026

该实验室校准什么 (37)

指示表 — 2 项校准
三点式内径千分尺 — 1 项校准
三等量块 — 1 项校准
两点式内径千分尺 — 1 项校准
五等量块 — 1 项校准
光滑圆柱塞规 — 1 项校准
光滑圆柱环规 — 1 项校准
光滑圆锥塞规 — 1 项校准
光滑圆锥环规 — 1 项校准
内径千分尺（杆式） — 1 项校准
内径千分尺接长杆 — 1 项校准
千分尺测微头 — 1 项校准
卡规 — 1 项校准
厚度计 — 1 项校准
圆柱螺纹塞规 — 1 项校准
另有 22 项

校准原理 (18)

用测长仪直接测量 — 7 项校准
用 MasterScanner XP 仪器测量 — 5 项校准
与量块比较 — 4 项校准
与环规比较 — 3 项校准
用测长仪比较测量 — 3 项校准
与线纹尺比较 — 2 项校准
在专用长度测量台上直接测量 — 2 项校准
用高度尺和电感测头直接测量 — 2 项校准
与环规比较，用测长仪直接测量 — 1 项校准
与角度块比较 — 1 项校准
与量块、环规、量规比较 — 1 项校准
与量块和量规比较 — 1 项校准
用 TESA UPC 仪器比较测量 — 1 项校准
用指示表检定仪直接测量 — 1 项校准
用测长仪、MasterScanner XP 仪器测量 — 1 项校准
另有 3 项

证书信息

证书日期: 23.12.2021

认可范围 — 校准项目 (38)

CMC — 给出的最小扩展测量不确定度（ILAC-P14、EA-4/02 M）；除非另有说明，包含概率约为95%，不带单位的数值为相对于测量值的相对值。具体校准的不确定度可能更高。

序号	校准量 / 校准对象	标称范围 / 参数 / CMC	校准原理	校准程序
校准项目
1	指示表	校准 – 长度 0 mm 至 1 mm · CMC 0,6 µm 0 mm 至 12 mm · CMC 0,9 µm 被测量领域的CMC：长度	用指示表检定仪直接测量	KP 06-001
2	指示表	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC (7L + 1,4) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪直接测量	KP 06-001
3	外径千分尺	校准 – 长度 0 mm 至 500 mm · CMC 2 µm 被测量领域的CMC：长度	与量块和量规比较	KP 15-002
4	千分尺测微头	校准 – 长度 0 mm 至 50 mm · CMC 1,2 µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪直接测量	KP 15-002
5	两点式内径千分尺	校准 – 长度 3 mm 至 200 mm · CMC (10L + 2,7) µm 被测量领域的CMC：长度	与环规比较	KP 15-002
6	三点式内径千分尺	校准 – 长度 3 mm 至 200 mm · CMC (10L + 2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	与环规比较	KP 15-002
7	内径千分尺（杆式）	校准 – 长度 25 mm 至 450 mm · CMC (7L + 1,9) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪直接测量	KP 15-002
8	内径千分尺接长杆	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC (2L + 0,8) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪、高度尺直接测量	KP 15-002
9	杠杆卡规	校准 – 长度 0 mm 至 150 mm · CMC 1 µm 被测量领域的CMC：长度	与量块比较	KP 06-003
10	带定心器的两点式内径表	校准 – 长度 6 mm 至 500 mm · CMC 1,5 µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪、测微头直接测量	KP 06-004
11	带测臂的两点式内径表	校准 – 长度 3 mm 至 150 mm · CMC 13 µm 被测量领域的CMC：长度	与环规比较	KP 06-004
12	多点式和专用内径表	校准 – 长度 3 mm 至 150 mm · CMC 4,4 µm 被测量领域的CMC：长度	与环规比较，用测长仪直接测量	KP 06-004
13	深度尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC 18 µm 被测量领域的CMC：长度	与量块比较	KP 06-005
14	厚度计	校准 – 长度 0 mm 至 100 mm · CMC 3 µm 被测量领域的CMC：长度	与量块比较	KP 06-006
15	游标卡尺	校准 – 长度 0 mm 至 1000 mm · CMC 18 µm 被测量领域的CMC：长度	与量块、环规、量规比较	KP 06-007
16	钢卷尺	校准 – 长度 0 m 至 3 m · CMC 0,16 mm 0 m 至 5 m · CMC 0,28 mm 0 m 至 7 m · CMC 0,39 mm 0 m 至 9 m · CMC 0,53 mm 0 m 至 11 m · CMC 0,64 mm 被测量领域的CMC：长度	与线纹尺比较	KP 06-008
17	木折尺	校准 – 长度 0 m 至 2 m · CMC 0,25 mm 被测量领域的CMC：长度	与线纹尺比较	KP 06-008
18	测量卷尺（测绳）	校准 – 长度 0 m 至 10 m · CMC 0,37 mm 0 m 至 15 m · CMC 0,54 mm 0 m 至 20 m · CMC 0,72 mm 0 m 至 30 m · CMC 1,1 mm 0 m 至 50 m · CMC 1,8 mm 0 m 至 100 m · CMC 3,6 mm 被测量领域的CMC：长度	在专用长度测量台上直接测量	KP 06-008
19	钢直尺	校准 – 长度 0 mm 至 2000 mm · CMC 0,1 mm 被测量领域的CMC：长度	在专用长度测量台上直接测量	KP 06-008
20	高度尺	校准 – 长度 0 mm 至 400 mm · CMC 5,5 µm 0 mm 至 700 mm · CMC 9,4 µm 0 mm 至 1000 mm · CMC 13 µm 被测量领域的CMC：长度	与量块比较	KP 06-009
21	塞尺	校准 – 长度 0,01 mm 至 2 mm · CMC 1 µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪直接测量	KP 09-010
22	光滑圆柱塞规	校准 – 长度 1 mm 至 250 mm · CMC (7L + 0,7) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪直接测量	KP 15-011
23	光滑圆锥塞规	校准 – 长度 3 mm 至 90 mm · CMC (9,5L+11tg(α/2) + 1,8) µm 被测量领域的CMC：长度	用 MasterScanner XP 仪器测量	KP 15-011
24	圆柱螺纹塞规	校准 – 长度 1 mm 至 250 mm · CMC (7L + 2,3) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪、MasterScanner XP 仪器测量	KP 15-011
25	圆锥螺纹塞规	校准 – 长度 3 mm 至 90 mm · CMC (9,5L+11tg(α/2) + 2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用 MasterScanner XP 仪器测量	KP 15-011
26	光滑圆柱环规	校准 – 长度 3 mm 至 250 mm · CMC (8L + 0,8) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪比较测量	KP 15-012
27	光滑圆锥环规	校准 – 长度 3 mm 至 100 mm · CMC (10L+11tg(α/2) + 1,9) µm 被测量领域的CMC：长度	用 MasterScanner XP 仪器测量	KP 15-012
28	圆柱螺纹环规	校准 – 长度 3 mm 至 100 mm · CMC (10L + 2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用 MasterScanner XP 仪器测量	KP 15-012
29	圆锥螺纹环规	校准 – 长度 3 mm 至 100 mm · CMC (10L+11tg(α/2) + 2,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用 MasterScanner XP 仪器测量	KP 15-012
30	外径千分尺校对棒	校准 – 长度 25 mm 至 100 mm · CMC 1,4 µm 100 mm 至 900 mm · CMC 1,8 µm 被测量领域的CMC：长度	用高度尺比较测量	KP 09-013
31	圆柱量棒、螺纹测量用量针	校准 – 长度 0,05 mm 至 20 mm · CMC 0,64 µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪直接测量	KP 10-014
32	卡规	校准 – 长度 10 mm 至 250 mm · CMC (8L + 0,8) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪比较测量	KP 15-015
33	平板量规	校准 – 长度 0,5 mm 至 250 mm · CMC (7L + 0,7) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪直接测量	KP 15-016
34	三等量块	校准 – 长度 0,5 mm 至 100 mm · CMC (0,8lₙ + 85) nm 被测量领域的CMC：长度	用 TESA UPC 仪器比较测量	KP 19-019
35	五等量块	校准 – 长度 100 mm 至 500 mm · CMC (2L + 0,7) µm 被测量领域的CMC：长度	用测长仪比较测量	KP 19-019
36	垂直度偏差 / 90° 角尺（臂长至 1000 mm）	校准 – 长度 0 mm 至 1 mm · CMC (5,5L + 2,1) µm 被测量领域的CMC：长度	用高度尺和电感测头直接测量	KP 15-018
37	支承面直线度 / 90° 角尺（臂长至 600 mm）	校准 – 长度 0 mm 至 1 mm · CMC (5,5L + 1,2) µm 被测量领域的CMC：长度	用高度尺和电感测头直接测量	KP 15-018
38	角度尺	校准 – 平面角 0 ° 至 360 ° · CMC 82" 被测量领域的CMC：平面角	与角度块比较	KP 15-017

引用标准 (19)

KP 06-001

KP 06-003

KP 06-004

KP 06-005

KP 06-006

KP 06-007

KP 06-008

KP 06-009

KP 09-010

KP 09-013

KP 10-014

KP 15-002

KP 15-011

KP 15-012

KP 15-015

KP 15-016

KP 15-017

KP 15-018

KP 19-019

同一认可范围的数据格式（JSON）：https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/CZ/2268