NIST：纳米颗粒尺寸测量误差扭曲研究结论——以及借助标准物质的数学校正

美国国家标准与技术研究院（NIST）团队于2026年8月6日在《ACS Nano》上指出纳米科学数据分析中的一个普遍错误：研究纳米颗粒性能与尺寸关系时，默认尺寸测量没有误差。作者提出了考虑尺寸测量误差的校正方法。

2026-08-06

被忽视的尺寸测量误差会“调暗”性能与尺寸之间的表观关系——例如纳米颗粒发光亮度与直径的关系；团队在若干关键文献以及测量多种纳米材料的其他研究中发现了这一问题。
解决方法是对相关模型参数的最小二乘估计进行矩量法校正；作者以常用的光强度与颗粒尺寸幂律模型检验了该校正的准确度极限。
应用校正时需估计自身尺寸测量的误差——最好用自己的仪器和方法测量标准物质，并将结果与参考值比较；若无标准物质，可采用经过认真评定的尺寸测量不确定度。
论文《测量误差模型实现纳米尺度性能与结构的准确关联》作者为A. L. Pintar、A. C. Madison、C. R. Copeland、N. Farkas和S. M. Stavis；NIST称，研究结论涉及电子、陶瓷、涂层以及药物递送纳米颗粒等领域。