电子产品XRF筛查现覆盖九种元素与物质
EN IEC 62321-3-1:2026 规定用X射线荧光光谱法筛查电工电子产品中的铅、汞、镉、铬、溴、磷、氯、锡与锑。
- XRF筛查是有害物质管控的第一步：判断样品是否需要更精确的测定，还是可直接得出明确结论。
- 该方法无损且快速，适用于来料检验与成品抽检。
- 适用范围涵盖RoHS所列元素，并增加总磷、氯、锡与锑——使该方法的用途超出RoHS清单本身。
- 对电子检测实验室而言，新版意味着更新程序、标准物质与认可范围记录。
EN IEC 62321-3-1:2026 规定用X射线荧光光谱法筛查电工电子产品中的铅、汞、镉、铬、溴、磷、氯、锡与锑。