技术清洁度：指南第三版延伸至电子领域
VDA 19.1第三版取代2015年版。在机械损伤机理之外，新增短路、电气间隙与爬电距离、接触电阻以及光学遮挡。
- 修订的动因是这样一类技术：颗粒无需磨损任何部件即可造成危害——电动化、驾驶辅助系统和自动驾驶。
- 过程导向的监控首次被置于与传统限值检验同等重要的位置——清洁度不再是一次性的验收测量，而是对生产过程的监督。
- 新版描述了完整的检测路径，从试样的包装与交付直到符合指南的评定，以消除供需双方关系中的争议。
- 对实验室而言，这意味着更新程序并培训人员；发布方为2015版到2026版的升级提供专门培训课程。
来源: VDA QMC — Volume 19.1 (2026), Inspection of Technical Cleanliness