🇵🇱 Altaria Calibration Labs Sp. z o.o. EN
Metrologia
Altaria Calibration Labs Sp. z o.o. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez PCA pod numerem AP 222 (Warszawa, Polska). Zakres akredytacji obejmuje 4 pozycje wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Mierniki częstotliwości cyfrowe, Mierniki okresu, Nadajniki w analizatorach transmisji Ethernet, Nadajniki w analizatorach transmisji PDH. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia; W stałej lokalizacji (S), Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia. Dla przepływności 1GbE,…, Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia. Dla przepływności 2048 k….
W skrócie
- Numer akredytacji: PCA AP 222
- Liczba pozycji wzorcowania: 4
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 4
- Zasad wzorcowania: 3
- Miasto: Warszawa, Polska
- Ważność do: 13-11-2028
- Numer akredytacji
- AP 222
- Jednostka akredytująca
- PCA
- Adres
- Al. Jerozolimskie 56C, 00-803 Warszawa
- Miasto
- Warszawa, Polska
- Ważność do
- 13-11-2028
Co wzorcuje to laboratorium (4)
- Mierniki częstotliwości cyfrowe — 1 pozycja wzorcowania
- Mierniki okresu — 1 pozycja wzorcowania
- Nadajniki w analizatorach transmisji Ethernet — 1 pozycja wzorcowania
- Nadajniki w analizatorach transmisji PDH — 1 pozycja wzorcowania
Zasady wzorcowania (3)
- Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia; W stałej lokalizacji (S) — 2 pozycje wzorcowania
- Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia. Dla przepływności 1GbE, 10GbE, 100GbE; W stałej lokalizacji (S) — 1 pozycja wzorcowania
- Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia. Dla przepływności 2048 kb/s (E1); W stałej lokalizacji (S) — 1 pozycja wzorcowania
Informacje o certyfikacie
- Data wydania
- 06.11.2026
- Wydanie nr
- 2
- Data certyfikatu
- 14.11.2024
- Cykl akredytacji
- 14.11.2024 — 13.11.2028
- Zatwierdzający
- Katarzyna Wiśniewska
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (4)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| Pozycje wzorcowania | |||||
| 1 | Mierniki okresu | Wzorcowanie — Czas (przedział czasu) 10 ns do 10 ms · CMC 3,7·10⁻⁵ s/s 10 ms do 1 s · CMC 1,5·10⁻¹⁰ s/s Czas (przedział czasu) |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia; W stałej lokalizacji (S) | PP-8 | |
| 2 | Nadajniki w analizatorach transmisji PDH | Wzorcowanie — Częstotliwość 1,024 MHz · CMC 1·10⁻⁹ Hz/Hz Częstotliwość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia. Dla przepływności 2048 kb/s (E1); W stałej lokalizacji (S) | PP-1 | |
| 3 | Nadajniki w analizatorach transmisji Ethernet | Wzorcowanie — Częstotliwość 1 GHz do 100 GHz · CMC 1·10⁻⁹ Hz/Hz Częstotliwość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia. Dla przepływności 1GbE, 10GbE, 100GbE; W stałej lokalizacji (S) | PP-2 | |
| 4 | Mierniki częstotliwości cyfrowe | Wzorcowanie — Częstotliwość 1 Hz do 2 GHz · CMC 1,5·10⁻¹⁰ Hz/Hz Częstotliwość |
Procedura wewnętrzna; Metoda bezpośrednia; W stałej lokalizacji (S) | PP-8 | |
Normy referencyjne (3)
PP-1
PP-2
PP-8