🇵🇱 Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN EN
Metrologia
Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN to laboratorium wzorcujące akredytowane przez PCA pod numerem AP 125 (Wrocław, Polska). Zakres akredytacji obejmuje 3 pozycje wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Czujniki termometrów rezystancyjnych, Termometry elektryczne (w tym elektroniczne). Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Procedura wewnętrzna; Metoda porównawcza; W stałej lokalizacji (S), Procedura wewnętrzna; Wzorcowanie metodą punktów stałych MST-90; W….
W skrócie
- Numer akredytacji: PCA AP 125
- Liczba pozycji wzorcowania: 3
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 2
- Zasad wzorcowania: 2
- Miasto: Wrocław, Polska
- Ważność do: 24-05-2029
- Numer akredytacji
- AP 125
- Jednostka akredytująca
- PCA
- Adres
- ul. Okólna 2, 50-422 Wrocław
- Miasto
- Wrocław, Polska
- Dział
- Laboratorium Wzorca Temperatury
- Ważność do
- 24-05-2029
Co wzorcuje to laboratorium (2)
- Czujniki termometrów rezystancyjnych — 2 pozycje wzorcowania
- Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) — 1 pozycja wzorcowania
Zasady wzorcowania (2)
- Procedura wewnętrzna; Metoda porównawcza; W stałej lokalizacji (S) — 2 pozycje wzorcowania
- Procedura wewnętrzna; Wzorcowanie metodą punktów stałych MST-90; W stałej lokalizacji (S) — 1 pozycja wzorcowania
Informacje o certyfikacie
- Data wydania
- 28.04.2025
- Wydanie nr
- 13
- Data certyfikatu
- 03.06.2019
- Cykl akredytacji
- 28.04.2025 — 24.05.2029
- Zatwierdzający
- Katarzyna Wiśniewska
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (3)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| Pozycje wzorcowania | |||||
| 1 | Czujniki termometrów rezystancyjnych | Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna) punkt potrójny rtęci — Hg (234,3156 K) (-38,8344 °C) · CMC 0,38 mK punkt potrójny wody — H2O (273,16 K) (0,01 °C) · CMC 0,65 mK punkt topnienia galu — Ga (302,9146 K) (29,7646 °C) · CMC 1,00 mK punkt krzepnięcia indu — In (429,7485 K) (156,5985 °C) · CMC 2,54 mK Temperatura (termometria elektryczna) |
Procedura wewnętrzna; Wzorcowanie metodą punktów stałych MST-90; W stałej lokalizacji (S) | IW/S2/01 | |
| 2 | Czujniki termometrów rezystancyjnych | Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna) -80 °C do 95 °C · CMC 0,01 °C 95 °C do 200 °C · CMC 0,02 °C 200 °C do 400 °C · CMC 0,1 °C Temperatura (termometria elektryczna) |
Procedura wewnętrzna; Metoda porównawcza; W stałej lokalizacji (S) | IW/S2/03 | |
| 3 | Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) | Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna) -80 °C do 95 °C · CMC 0,01 °C 95 °C do 200 °C · CMC 0,02 °C 200 °C do 400 °C · CMC 0,1 °C Temperatura (termometria elektryczna) |
Procedura wewnętrzna; Metoda porównawcza; W stałej lokalizacji (S) | IW/S2/02 | |
Normy referencyjne (3)
IW/S2/01
IW/S2/02
IW/S2/03