Zarejestruj się
LabCoda / Zakresy akredytacji / 🇵🇱 Polska / AP 045

🇵🇱 LABORTRONIC Laboratoria Wzorcujące Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka Komandytowa EN

PCA AP 045 • Bielsko-Biała, Polska • 140 metod

Metrologia

LABORTRONIC Laboratoria Wzorcujące Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka Komandytowa to laboratorium akredytowane przez PCA pod numerem AP 045 (Bielsko-Biała, Polska). Zakres akredytacji obejmuje 140 metod badawczych w obszarach: Metrologia. Badane obiekty to m.in.: Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry, Ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe, przetwor…, Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm, Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm. Najczęściej stosowane techniki: Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium, Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie…, Wzorcowanie w laboratorium i u klienta.

W skrócie

  • Numer akredytacji: PCA AP 045
  • Liczba metod w zakresie: 140
  • Rodzajów badanych obiektów: 127
  • Stosowanych technik: 44
  • Miasto: Bielsko-Biała, Polska
  • Ważność do: 29-12-2026
Numer akredytacji
AP 045
Jednostka akredytująca
PCA
Adres
ul. I Dywizji Pancernej 45, 43-382 Bielsko-Biała
Miasto
Bielsko-Biała, Polska
Ważność do
29-12-2026

Co bada to laboratorium (127)

Stosowane techniki badawcze (44)

Informacje o certyfikacie

Data wydania
11.06.2026
Wydanie nr
27
Data certyfikatu
06.06.2022
Cykl akredytacji
01.12.2022 — 29.12.2026
Zatwierdzający
Katarzyna Wiśniewska

Zakres akredytacji — metody badawcze (140)

Lp. Przedmiot badań Metodyka / Parametry Technika Dokument odniesienia
Metody badawcze
1 Tachometry Wzorcowanie — Prędkość
Prędkość 6,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,26 obr/min Prędkość 100,0 obr/min do 999,9 obr/min — CMC: 1,0 obr/min Prędkość 1000 obr/min do 8000 obr/min — CMC: 7 obr/min
 Metoda bezpośrednia, metoda stykowa; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/F/1
2 Tachometry Wzorcowanie — Prędkość
Prędkość 6,00 obr/min do 59,99 obr/min — CMC: 0,35 obr/min Prędkość 60,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,10 obr/min Prędkość 100,00 obr/min do 999,99 obr/min — CMC: 0,12 obr/min Prędkość 1000,00 obr/min do 10000,00 obr/min — CMC: 1,22 obr/min Prędkość 10000,00 obr/min do 60000,00 obr/min — CMC: 4,28 obr/min Prędkość 60000,00 obr/min do 99950,00 obr/min — CMC: 14,25 obr/min
 Metoda bezpośrednia, metoda optyczna; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/F/1
3 Pehametry Wzorcowanie — pH
pH 0 do 14 — CMC: 0,003 Napięcie stałe -1999 mV do 1999 mV — CMC: 0,2 mV
 Metoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/F/2
4 Konduktometry Wzorcowanie — Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria)
Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria) 1 μS/cm do 9,99 μS/cm — CMC: 0,16 % Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria) 0,01 mS/cm do 500 mS/cm — CMC: 0,11 %
 Metoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/F/3
5 Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 1 μm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 5 mm — CMC: 0,7 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11
6 Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 3 mm — CMC: 3,5 μm Długość 0 mm do 10 mm — CMC: 3,5 μm Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 4,0 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/4
7 Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 10 mm — CMC: 2 μm Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 3 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11
8 Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 1 μm Wzorcowanie — Długość
Długość -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/15
9 Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 0,002 mm Wzorcowanie — Długość
Długość -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/15
10 Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość -1 mm do 1 mm — CMC: 1,3 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/15
11 Czujniki cyfrowe o rozdzielczości < 1 μm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 0,8 μm Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 1,4 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11
12 Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 1 μm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,4 μm Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11
13 Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 13 mm — CMC: 2,8 μm Długość 0 mm do 27 mm — CMC: 2,8 μm Długość 0 mm do 50,8 mm — CMC: 3,1 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/4
14 Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 8,5 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11
15 Dalmierze laserowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 m do 5 m — CMC: 0,9 mm Długość 0 m do 30 m — CMC: 1,0 mm
 Metoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego oraz dalmierza wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/22
16 Folie wzorcowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 4 mm — CMC: Q[1,4; 1,2·L] µm, L – wielkość mierzona w mm
 Metoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/25
17 Głębokościomierze czujnikowe o rozdzielczości 0,001 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,0 μm Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,2 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16
18 Głębokościomierze czujnikowe o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 7,2 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16
19 Głębokościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 10 mm — CMC: 0,6 μm Długość 0 mm do 20 mm — CMC: 0,7 μm Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16
20 Głębokościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,6 μm Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,8 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16
21 Głębokościomierze mikrometryczne Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 25 mm — CMC: 1,3 μm Długość 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm Długość 50 mm do 75 mm — CMC: 1,8 μm Długość 75 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm Długość 100 mm do 125 mm — CMC: 2,5 μm Długość 125 mm do 150 mm — CMC: 2,8 μm Długość 150 mm do 175 mm — CMC: 3,2 μm Długość 175 mm do 200 mm — CMC: 3,5 μm Długość 200 mm do 225 mm — CMC: 4,0 μm Długość 225 mm do 250 mm — CMC: 4,2 μm Długość 250 mm do 275 mm — CMC: 4,7 μm Długość 275 mm do 300 mm — CMC: 5,0 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/18
22 Głębokościomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm Długość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm Długość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_2 w oparciu o PN-EN ISO 13385-2:2020-10
23 Głowice mikrometryczne Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 1,0 µm
 Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/38
24 Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczości 0,001 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 5 mm — CMC: 1 µm Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,3 µm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14
25 Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 6 µm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14
26 Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o wartości działki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 5 mm — CMC: 0,6 µm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14
27 Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,3 µm Długość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,5 µm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14
28 Grubościomierze ultradźwiękowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0,5 mm do 75 mm — CMC: 2,5 μm Długość 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3,0 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych lub wzorców schodkowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/23
29 Macki czujnikowe do pomiarów wewnętrznych Wzorcowanie — Długość
Długość 2 mm do 100 mm — CMC: 2 μm Długość 101 mm do 180 mm — CMC: 3 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/17
30 Macki czujnikowe do pomiarów zewnętrznych Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 2 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/17
31 Mierniki do pomiaru grubości powłok Wzorcowanie — Długość
Długość 0 μm do 24 μm — CMC: 1,6 μm Długość 0 μm do 500 μm — CMC: 1,9 μm Długość 0 μm do 1600 μm — CMC: 2,5 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem folii wzorcowych lub płytek ceramicznych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/23
32 Mikrometry laserowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 25 mm — CMC: 0,35 µm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem wałeczków wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/31
33 Mikrometry wewnętrzne Wzorcowanie — Długość
Długość 5 mm do 55 mm — CMC: 1,2 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/2
34 Mikrometry zewnętrzne Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 25 mm — CMC: 1,0 μm Długość 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm Długość 50 mm do 75 mm — CMC: 2,2 μm Długość 75 mm do 100 mm — CMC: 2,9 μm Długość 100 mm do 125 mm — CMC: 3,5 μm Długość 125 mm do 150 mm — CMC: 4,2 μm Długość 150 mm do 175 mm — CMC: 4,9 μm Długość 175 mm do 200 mm — CMC: 5,5 μm Długość 200 mm do 225 mm — CMC: 6,2 μm Długość 225 mm do 250 mm — CMC: 6,8 μm Długość 250 mm do 275 mm — CMC: 7,5 μm Długość 275 mm do 300 mm — CMC: 8,2 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/2
35 Pierścienie wzorcowe Wzorcowanie — Długość
Długość 1 mm do 14 mm — CMC: 0,8 µm Długość 14,1 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm Długość 50,1 mm do 90 mm — CMC: 1,1 µm Długość 90,1 mm do 150 mm — CMC: 1,3 µm Długość 150,1 mm do 200 mm — CMC: 1,7 µm Długość 200,1 mm do 280 mm — CMC: 2,1 µm
 Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego lub metoda porównawcza z zastosowaniem pierścienia wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/12
36 Płaskorównoległe płytki interferencyjne Wzorcowanie — Długość
Odchyłka od długości nominalnej do 80 mm — CMC: 1,5 μm
 Metoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/19
37 Płytki wzorcowe stalowe (klasy 0, 1, 2) i ceramiczne (klasy 1, 2) Wzorcowanie — Długość
Długość 0,5 mm do 100 mm — CMC: Q[0,056; 0,84·L] µm, L – wielkość mierzona w m
 Metoda porównawcza za pomocą komparatora dwuczujnikowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/1 w oparciu o PN-EN ISO 3650:2000
38 Płytki wzorcowe stalowe (klasy 1, 2) Wzorcowanie — Długość
Długość 125 mm do 500 mm — CMC: Q[0,22; 0,54·L] µm, L – wielkość mierzona w m
 Metoda porównawcza za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/40
39 Przedłużacze do średnicówek mikrometrycznych dwupunktowych Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm Długość 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm Długość 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm Długość 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm Długość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm
 Metoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/39
40 Przymiary półsztywne Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m
 Metoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/24
41 Przymiary sztywne Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 1500 mm — CMC: Q[0,079; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m Długość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,1; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m
 Metoda porównawcza z zastosowaniem liniału cyfrowego lub przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/26
42 Przymiary wstęgowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,09; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m Długość 5000 mm do 15000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m
 Metoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/10
43 Przyrządy suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Długość
Spoiny na płaszczyźnie 0 mm do 10 mm — CMC: 0,01 mm Spoiny w narożach 0 mm do 10 mm — CMC: 0,02 mm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28
44 Spoinomierze Wzorcowanie — Długość
Wysokość spoin czołowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm Wysokość spoin pachwinowych 0 mm do 20 mm — CMC: 0,06 mm Grubość spoin pachwinowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm Szerokość spoin czołowych 0 mm do 60 mm — CMC: 0,12 mm Głębokość podcięcia 0 mm do 10 mm — CMC: 0,028 mm Szerokość szczeliny 0 mm do 10 mm — CMC: 0,12 mm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28
45 Sprawdziany gwintowe pierścieniowe walcowe Wzorcowanie — Długość
Średnica podziałowa 3 mm do 90 mm — CMC: 3,2 µm
 Wzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-10 v.2.1
46 Sprawdziany gwintowe trzpieniowe walcowe Wzorcowanie — Długość
Średnica podziałowa 1 mm do 100 mm — CMC: 3,3 µm
 Wzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-10 v.2.1
47 Sprawdziany specjalne Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 1 mm — CMC: 2,9 µm Długość 1 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm Długość 0 mm do 250 mm — CMC: 4,1 µm
 Pomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/47
48 Sprawdziany stożkowe do otworów Wzorcowanie — Długość
Długość 3 mm do 60 mm — CMC: 6,1 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/44
49 Szczelinomierze klinowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0,5 mm do 60 mm — CMC: 6,6 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/44
50 Sprawdziany tłoczkowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 40 mm — CMC: 0,8 μm Długość 40 mm do 60 mm — CMC: 0,9 μm Długość 60 mm do 80 mm — CMC: 1,1 μm Długość 80 mm do 100 mm — CMC: 1,2 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/20
51 Suwmiarki Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm Długość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm Długość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm Długość 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_1 w oparciu o PN-EN ISO 13385-1:2019-12
52 Szczelinomierze Wzorcowanie — Długość
Długość 0,005 mm do 2 mm — CMC: 2 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą czujnika cyfrowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/6
53 Średnicówki czujnikowe trójpunktowe Wzorcowanie — Długość
Długość 6 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm Długość 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm Długość 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm Długość 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm Długość 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/13
54 Średnicówki mikrometryczne trójpunktowe Wzorcowanie — Długość
Długość 4 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm Długość 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm Długość 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm Długość 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm Długość 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/13
55 Średnicówki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartości działki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 18 mm — CMC: 1,3 μm Długość 18 mm do 160 mm — CMC: 3,4 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5
56 Średnicówki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 18 mm — CMC: 3,3 μm Długość 18 mm do 160 mm — CMC: 4,8 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5
57 Średnicówki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczości 0,001 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 18 mm — CMC: 2,5 μm Długość 18 mm do 160 mm — CMC: 4,2 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5
58 Średnicówki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 18 mm — CMC: 9,2 μm Długość 18 mm do 160 mm — CMC: 9,7 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5
59 Średnicówki mikrometryczne dwupunktowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 75 mm — CMC: 1,0 μm Długość 75 mm do 250 mm — CMC: 2,0 μm Długość 250 mm do 400 mm — CMC: 3,0 μm Długość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 μm
 Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/35
60 Transametry Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 150 mm (zakres czujnika ± 140 µm) — CMC: 0,4 µm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/29
61 Wałeczki pomiarowe Wzorcowanie — Długość
Wałeczki do gwintów 0,170 mm do 6,350 mm — CMC: 0,3 µm Wałeczki do kół zębatych 1,7 mm do 17,0 mm — CMC: 0,3 µm Wałeczki do otworów 0,05 mm do 30 mm — CMC: 0,3 µm
 Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza lub mikrometru laserowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/21
62 Wysokościomierze cyfrowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 1000 mm — CMC: (2 + 3·L) µm, L – wielkość mierzona w m
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/41
63 Wysokościomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm Długość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm Długość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm Długość 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_3 w oparciu o PN-EN ISO 13225:2012
64 Wzorce łuków kołowych Wzorcowanie — Długość
Długość 0,1 mm do 25 mm — CMC: 3,0 µm Długość 25 mm do 50 mm — CMC: 3,2 µm Długość 50 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm
 Pomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/45
65 Wzorce nastawcze do wymiarów zewnętrznych Wzorcowanie — Długość
Długość 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm Długość 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm Długość 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm Długość 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm Długość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm
 Metoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/34
66 Wzorce schodkowe do grubościomierzy ultradźwiękowych Wzorcowanie — Długość
Długość 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3 µm
 Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/32
67 Kątomierze cyfrowe Wzorcowanie — Kąt
Kąt 0° do 360° — CMC: 1,2ʹ
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/9
68 Kątomierze uniwersalne Wzorcowanie — Kąt
Kąt (4 x 90)° — CMC: 3ʹ Kąt 0° do 360° — CMC: 3ʹ
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/9
69 Kątomierze traserskie Wzorcowanie — Kąt
Kąt (4 x 90)° — CMC: 3ʹ Kąt 0° do 360° — CMC: 3ʹ
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/9
70 Kątowniki 90° dwuramienne Wzorcowanie — Kąt
Kąt długość ramienia 40 mm do 500 mm — CMC: 5 μm
 Metoda pośrednia z zastosowaniem kątownika walcowego i płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/8
71 Poziomnice cyfrowe Wzorcowanie — Kąt
Kąt ± 90° — CMC: 0,05°
 Metoda pośrednia z zastosowaniem liniału sinusowego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/33
72 Poziomnice liniałowe Wzorcowanie — Kąt
Błąd wartości działki elementarnej 0 mm/m do 1 mm/m — CMC: 0,0033 mm/m Błąd ustawienia wskazania zerowego CMC: 0,14 działki elementarnej
 Metoda porównawcza z zastosowaniem poziomnicy cyfrowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/27
73 Przyrządy suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Kąt
Kąt spoinomierza 0° do 160° — CMC: 3,3ʹ
 Metoda bezpośrednia za pomocą kątomierza uniwersalnego; pomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28
74 Spoinomierze Wzorcowanie — Kąt
Kąt ukosowania 0° do 160° — CMC: 0,58°
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28
75 Sprawdziany specjalne Wzorcowanie — Kąt
Kąt 0° do 360° — CMC: 0°15ʹ
 Pomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/47
76 Płaskie płytki interferencyjne Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)
Odchyłka płaskości Ø do 100 mm — CMC: 0,04 μm
 Metoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/7
77 Płaskorównoległe płytki interferencyjne Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)
Odchyłka płaskości długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,06 μm Odchyłka równoległości długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,26 μm
 Metoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej oraz za pomocą czujnika optycznego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/19
78 Płyty pomiarowe Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)
Odchylenie od płaskości 200 x 200 mm do 630 x 400 mm — CMC: 1,5 µm Odchylenie od płaskości 1000 x 630 mm do 2500 x 1600 mm — CMC: 3,1 µm
 Metoda pośrednia za pomocą poziomnic różnicowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/30
79 Profilometry stykowe Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)
Pt 0 µm do 12,03 µm — CMC: 0,056 µm Pt 0 µm do 0,062 µm — CMC: 0,008 µm Pt 0 µm do 0,300 µm — CMC: 0,010 µm Pt 0 µm do 0,574 µm — CMC: 0,010 µm Ra 0 µm do 0,66 µm — CMC: 0,030 µm Ra 0 µm do 0,96 µm — CMC: 0,048 µm Ra 0 µm do 2,77 µm — CMC: 0,143 µm Ra 0 µm do 0,93 µm — CMC: 0,028 µm Rz 0 µm do 3,010 µm — CMC: 0,191 µm Rz 0 µm do 9,67 µm — CMC: 0,520 µm Rmax 0 µm do 3,02 µm — CMC: 0,092 µm
 Metoda bezpośrednia z zastosowaniem wzorców chropowatości; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/42
80 Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Napięcie DC
Napięcie DC 0 mV do 60,0 mV — CMC: 0,0036 mV Napięcie DC 60 mV do 200 mV — CMC: 0,0062 % Napięcie DC 0,2 V do 4,0 V — CMC: 0,0035 % Napięcie DC 4 V do 20 V — CMC: 0,0020 % Napięcie DC 20 V do 1000 V — CMC: 0,0035 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
81 Mierniki parametrów sieci energetycznych, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Napięcie DC
Napięcie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 % Napięcie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 % Napięcie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
82 Próbniki przebicia, mierniki napięcia przebicia, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Napięcie DC
Napięcie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 % Napięcie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 % Napięcie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 % Napięcie DC 1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4
83 Kalibratory, zasilacze, źródła wzorcowe Wzorcowanie — Napięcie DC
Napięcie DC 0 mV do 60 mV — CMC: 0,0018 mV Napięcie DC 0,06 V do 100 V — CMC: 0,003 % Napięcie DC 100 V do 1000 V — CMC: 0,005 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3
84 Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Napięcie DC
Napięcie DC 0 V do 20 V — CMC: 0,00013·U + 0,4 mV, U – wielkość mierzona w V
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta Procedura wewnętrzna I/E/1
85 Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prąd DC
Prąd DC 0 µA do 100 µA — CMC: 0,030 µA Prąd DC 100 µA do 300 µA — CMC: 0,030 % Prąd DC 0,3 mA do 200,0 mA — CMC: 0,020 % Prąd DC 0,2 A do 2,0 A — CMC: 0,030 % Prąd DC 2 A do 30 A — CMC: 0,062 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
86 Mierniki cęgowe Wzorcowanie — Prąd DC
Prąd DC 4 A do 18 A — CMC: 0,20 A Prąd DC 18 A do 160 A — CMC: 1,1 % Prąd DC 160 A do 1500 A — CMC: 0,8 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
87 Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prąd DC
Prąd DC 0 mA do 20 mA — CMC: 0,00055·I + 2,5 μA, I – wielkość mierzona w A
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta Procedura wewnętrzna I/E/1
88 Mierniki parametrów sieci energetycznych (prąd ciągłości obwodu) Wzorcowanie — Prąd DC
Prąd DC 1 mA do 30 mA — CMC: 0,5 mA Prąd DC 30 mA do 320 mA — CMC: 1,6 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
89 Kalibratory, zasilacze, generatory, źródła wzorcowe, źródła prądu stałego Wzorcowanie — Prąd DC
Prąd DC 0 mA do 1 mA — CMC: 0,5 µA Prąd DC 0,001 A do 1 A — CMC: 0,05 % Prąd DC 1 A do 3 A — CMC: 0,15 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3
90 Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci energetycznych Wzorcowanie — Napięcie AC
Napięcie AC 1 mV do 20 mV (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,042 mV Napięcie AC 0,02 V do 1000 V (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,22 % Napięcie AC 1 mV do 50 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,042 mV Napięcie AC 50 mV do 1000 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,12 % Napięcie AC 1 V do 200 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,032 % Napięcie AC 200 V do 1000 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,060 % Napięcie AC 1 mV do 60 mV (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,042 mV Napięcie AC 60 mV do 20 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,14 % Napięcie AC 20 V do 200 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,20 % Napięcie AC 200 V do 700 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,10 % Napięcie AC 1 mV do 9 mV (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,052 mV Napięcie AC 9 mV do 20 V (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,42 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
91 Kalibratory, zasilacze, generatory, źródła wzorcowe Wzorcowanie — Napięcie AC
Napięcie AC 1 mV do 100 mV (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,05 mV Napięcie AC 0,1 V do 750 V (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,25 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3
92 Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prąd AC
Prąd AC 10 µA do 100 µA (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,50 µA Prąd AC 100 µA do 20 A (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,46 % Prąd AC 5 µA do 100 µA (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 µA Prąd AC 100 µA do 20 A (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 % Prąd AC 5 µA do 100 µA (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,24 µA Prąd AC 100 A do 2 A (f = 100 Hz do 999 Hz) (zapis jak w zakresie PCA) — CMC: 0,24 % Prąd AC 2 A do 20 A (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,76 % Prąd AC 5 µA do 100 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 µA Prąd AC 100 µA do 210 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 % Prąd AC 210 µA do 2 A (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 0,76 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
93 Mierniki cęgowe Wzorcowanie — Prąd AC
Prąd AC 4 A do 18 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,20 A Prąd AC 18 A do 160 A (f = 50 Hz) — CMC: 1,1 % Prąd AC 160 A do 1000 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,8 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
94 Mierniki parametrów sieci energetycznych (prąd testerów RCD), mierniki zabezpieczeń różnicowoprądowych Wzorcowanie — Prąd AC
Prąd AC 3 mA do 10 mA (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 0,70 mA Prąd AC 10 mA do 3 A (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 7,0 % Prąd AC 3 mA do 10 mA (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 0,18 mA Prąd AC 10 mA do 3 A (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 1,8 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
95 Mierniki rezystancji analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Rezystancja DC
Rezystancja DC 0 Ω do 30,0 Ω — CMC: 0,020 Ω Rezystancja DC 30 Ω do 100 Ω — CMC: 0,026 Ω Rezystancja DC 0,1 kΩ do 1 kΩ — CMC: 0,21 Ω Rezystancja DC 1 kΩ do 10 kΩ — CMC: 1,7 Ω Rezystancja DC 10 kΩ do 100 kΩ — CMC: 17 Ω Rezystancja DC 0,1 MΩ do 1 MΩ — CMC: 0,17 kΩ Rezystancja DC 1 MΩ do 10 MΩ — CMC: 1,7 kΩ Rezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 1,3 % Rezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ — CMC: 2,8 % Rezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ — CMC: 2,4 % Rezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ — CMC: 3,2 % Rezystancja DC punkty stałe 0,0 Ω; 0,1 Ω; 1,0 Ω; 10 Ω — CMC: 0,006 Ω Rezystancja DC punkt stały 100 Ω — CMC: 0,007 Ω Rezystancja DC punkty stałe 1 kΩ; 10 kΩ; 100 kΩ — CMC: 0,006 % Rezystancja DC punkt stały 1 MΩ — CMC: 0,0001 MΩ Rezystancja DC punkt stały 10 MΩ — CMC: 0,002 MΩ Rezystancja DC punkt stały 100 MΩ — CMC: 0,5 MΩ Rezystancja DC punkt stały 1 GΩ — CMC: 24 MΩ
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
96 Mierniki rezystancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC
Rezystancja DC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω Rezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 % Rezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
97 Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC
Rezystancja DC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω Rezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 % Rezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
98 Mierniki parametrów sieci (rezystancja ciągłości obwodu) Wzorcowanie — Rezystancja DC
Rezystancja DC 0,2 Ω do 10,0 Ω — CMC: 0,06 Ω Rezystancja DC 10 Ω do 20 Ω — CMC: 0,60 % Rezystancja DC 100 Ω, 1000 Ω — CMC: 0,35 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
99 Mierniki rezystancji izolacji, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC
Rezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 % Rezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 % Rezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 % Rezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 % Rezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
100 Próbniki przebicia, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Rezystancja DC
Rezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 % Rezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 % Rezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 % Rezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 % Rezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4
101 Kalibratory rezystancji, rezystory stałe, rezystory regulowane, wzorce rezystancji Wzorcowanie — Rezystancja DC
Rezystancja DC 0 Ω do 10 Ω — CMC: 0,002 Ω Rezystancja DC 10 Ω do 100 Ω — CMC: 0,02 % Rezystancja DC 0,1 kΩ do 100,0 kΩ — CMC: 0,01 % Rezystancja DC 0,1 MΩ do 10,0 MΩ — CMC: 0,04 % Rezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 0,1 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3
102 Mierniki rezystancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Rezystancja AC
Rezystancja AC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω Rezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 % Rezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
103 Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja AC
Rezystancja AC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω Rezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 % Rezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
104 Mierniki impedancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Impedancja
Impedancja 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω Impedancja 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 % Impedancja 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
105 Mierniki pojemności, multimetry Wzorcowanie — Pojemność
Pojemność punkty stałe (1 kHz): 1 nF, 10 nF, 20 nF, 50 nF, 100 nF, 1 μF — CMC: 1,0 % Pojemność punkt stały (1 kHz): 10 μF — CMC: 1,1 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
106 Próbniki przebicia, mierniki napięcia przebicia, źródła wzorcowe, zasilacze Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd
Napięcie DC 0,1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4
107 Próbniki przebicia, mierniki parametrów sieci, źródła napięcia, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd
Napięcie AC 0,1 kV do 6 kV (f = 50 Hz) — CMC: 1,5 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4
108 Wskaźniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — współpracujące z czujnikami termoelektrycznymi Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości
Temperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (w laboratorium) — CMC: 0,16 °C Temperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (u klienta) — CMC: 0,3 °C
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-11 v.2.0
109 Wskaźniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — współpracujące z czujnikami rezystancyjnymi Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości
Temperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (w laboratorium) — CMC: 0,06 °C Temperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (u klienta) — CMC: 0,2 °C
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-11 v.2.0
110 Mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Czas (przedział czasu)
Czas (przedział czasu) 20 ms do 390 ms — CMC: 1,2 ms Czas (przedział czasu) 390 ms do 1000 ms — CMC: 9,0 ms
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2
111 Mierniki częstotliwości cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Częstotliwość
Częstotliwość 3 Hz do 30 Hz — CMC: 0,05 % Częstotliwość 30 Hz do 1 MHz — CMC: 0,01 %
 Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1
112 Ekstensometry (zamontowane w maszynach wytrzymałościowych do prób statycznych) Wzorcowanie — Siła
Wydłużenie 0 µm do 300 µm — CMC: 0,4 µm Wydłużenie 300 µm do 20000 µm — CMC: 1,3 µm Wydłużenie 20 mm do 1300 mm — CMC: 0,42 %
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/5 w oparciu o PN-EN ISO 9513:2013-06
113 Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił ściskających i rozciągających Wzorcowanie — Siła
Siła 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,051 % Siła 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %
 Przy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05
114 Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił ściskających Wzorcowanie — Siła
Siła 0,002 kN do 500 kN — CMC: 0,12 % Siła 500 kN do 1600 kN — CMC: 0,24 %
 Przy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5 (do 500 kN) i klasy 1 (500 kN do 1600 kN); wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05
115 Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił rozciągających Wzorcowanie — Siła
Siła 0,002 kN do 600 kN — CMC: 0,12 %
 Przy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05
116 Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych (do sił ściskających i rozciągających), urządzenia technologiczne do sił rozciągających i ściskających Wzorcowanie — Siła
Prędkość przemieszczenia trawersy 0,05 mm/min do 2500 mm/min — CMC: 0,1 %
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/9 w oparciu o ASTM E2658-15
117 Siłomierze, przetworniki Wzorcowanie — Siła
Siła 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,05 % Siła 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %
 Przy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011
118 Siłomierze, przetworniki, urządzenia technologiczne do sił rozciągających i ściskających Wzorcowanie — Siła
Siła 0,002 kN do 300 kN — CMC: 0,12 %
 Przy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011
119 Klucze dynamometryczne Wzorcowanie — Moment siły
Moment siły 0,2 N·m do 2000 N·m — CMC: 0,3 %
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6789-1:2017-03; PN-EN ISO 6789-2:2017-03
120 Momentomierze, przetworniki momentu siły Wzorcowanie — Moment siły
Moment siły 0,2 N·m do 0,5 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,2 % Moment siły 0,5 N·m do 1000 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,1 % Moment siły 0,2 N·m do 0,5 N·m (u klienta) — CMC: 0,2 % Moment siły 0,5 N·m do 1000 N·m (u klienta) — CMC: 0,15 %
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-14 v.2.0; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 zał. C; BS 7882:2017
121 Wkrętarki dynamometryczne Wzorcowanie — Moment siły
Moment siły 0,2 N·m do 160 N·m — CMC: 0,6 %
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/1
122 Twardościomierze Brinella Wzorcowanie — Twardość
Twardość 90 HBW 2.5/31.25 do 400 HBW 2.5/31.25 — CMC: 1,4 % Twardość 85 HBW 2.5/62.5 do 400 HBW 2.5/62.5 — CMC: 1,1 % Twardość 90 HBW 2.5/187.5 do 700 HBW 2.5/187.5 — CMC: 0,94 % Twardość 90 HBW 5/750 do 700 HBW 5/750 — CMC: 0,94 % Twardość 100 HBW 10/3000 do 700 HBW 10/3000 — CMC: 0,90 % Siła 306,5 N do 29420 N — CMC: 0,12 % Długość 0 mm do 10 mm — CMC: 0,5 µm Czas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6506-2:2019-10; ASTM E10-23
123 Twardościomierze Rockwella Wzorcowanie — Twardość
Twardość 20 HRA do 95 HRA — CMC: 0,4 HRA Twardość 20 HRBW do 100 HRBW — CMC: 0,5 HRBW Twardość 20 HRC do 70 HRC — CMC: 0,4 HRC Siła 98,07 N do 1471 N — CMC: 0,12 % Długość 0 µm do 260 µm — CMC: 0,15 µm Czas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6508-2:2024-06; ASTM E18-25
124 Twardościomierze Vickersa Wzorcowanie — Twardość
Twardość 100 HV 0,05 do 1000 HV 0,05 — CMC: 5,1 % Twardość 100 HV 0,1 do 1000 HV 0,1 — CMC: 4,1 % Twardość 100 HV 0,2 do 1000 HV 0,2 — CMC: 3,2 % Twardość 100 HV 0,3 do 1000 HV 0,3 — CMC: 3,8 % Twardość 100 HV 0,5 do 1000 HV 0,5 — CMC: 3,1 % Twardość 100 HV 1 do 1000 HV 1 — CMC: 1,6 % Twardość 100 HV 5 do 1000 HV 5 — CMC: 1,5 % Twardość 100 HV 10 do 1000 HV 10 — CMC: 1,4 % Twardość 100 HV 30 do 1000 HV 30 — CMC: 2,1 % Siła 2,94 N do 980,7 N — CMC: 0,12 % Długość 0 mm do 2 mm — CMC: 0,5 µm Czas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6507-2:2018-05; ASTM E92-23; ASTM E384-22
125 Twardościomierze Shore'a typu A Wzorcowanie — Twardość
Siła 550 mN do 8050 mN — CMC: 7,5 mN Przemieszczenie wgłębnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA) Średnica wgłębnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA) Średnica ściętego stożka wgłębnika 0,78 mm do 0,80 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA) Kąt stożka wgłębnika 34,75° do 35,25° — CMC: 5ʹ Średnica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA) Średnica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta ISO 48-9:2018
126 Twardościomierze Shore'a typu D Wzorcowanie — Twardość
Siła 0 mN do 44500 mN — CMC: 35 mN Przemieszczenie wgłębnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA) Średnica wgłębnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA) Promień wgłębnika 0,09 mm do 0,11 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA) Kąt stożka wgłębnika 29,75° do 30,25° — CMC: 5ʹ Średnica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA) Średnica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta ISO 48-9:2018
127 Higrometry, termohigrometry Wzorcowanie — Wilgotność względna
Temperatura 5 °C do 10 °C — CMC: 0,16 °C Wilgotność względna 70 %rh (przy 5 °C do 10 °C) — CMC: 1,9 %rh Temperatura 10 °C — CMC: 0,16 °C Wilgotność względna 70 %rh (przy 10 °C) — CMC: 1,8 %rh Temperatura 22 °C — CMC: 0,16 °C Wilgotność względna 30 %rh do 85 %rh (przy 22 °C) — CMC: 1,3 %rh Temperatura 42 °C — CMC: 0,16 °C Wilgotność względna 57 %rh (przy 42 °C) — CMC: 1,3 %rh
 Wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/W/1
128 Komory klimatyczne Wzorcowanie — Wilgotność względna
Wilgotność względna 70 %rh do 95 %rh (zakres temperatur 10 °C do 20 °C) — CMC: 2,0 %rh Wilgotność względna 35 %rh do 97 %rh (zakres temperatur 20 °C do 40 °C) — CMC: 2,0 %rh Wilgotność względna 20 %rh do 80 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 2,0 %rh Wilgotność względna 95 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 3,5 %rh
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-20 v.5.0
129 Wagi nieautomatyczne Wzorcowanie — Masa (wagi)
Masa (wagi) do 1 g — CMC: 2,6·10⁻³ % Masa (wagi) 1 g do 200 g — CMC: 5·10⁻⁴ % Masa (wagi) 200 g do 16000 g — CMC: 1,6·10⁻³ % Masa (wagi) 16 kg do 100 kg — CMC: 10,5·10⁻³ % Masa (wagi) 100 kg do 1500 kg — CMC: 13·10⁻³ %
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/M/1 w oparciu o EURAMET cg-18 v.4.0
130 Barometry, ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe Wzorcowanie — Ciśnienie
Ciśnienie absolutne (gaz) 500 hPa do 1100 hPa — CMC: 0,23 hPa
 Wzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-17 v.4.1
131 Ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe, przetworniki ciśnienia Wzorcowanie — Ciśnienie
Ciśnienie względne (gaz) -2450 Pa do 2450 Pa (w laboratorium) — CMC: 0,001·P, P – wielkość mierzona w Pa Ciśnienie względne (gaz) -0,1 MPa do -0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa Ciśnienie względne (gaz) -0,01 MPa do -0,0015 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa Ciśnienie względne (gaz) 0,0015 MPa do 0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa Ciśnienie względne (gaz) 0,01 MPa do 0,1 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa Ciśnienie względne (gaz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa Ciśnienie względne (gaz) -0,1 MPa do 2 MPa (u klienta) — CMC: 0,0017·P, P – wielkość mierzona w MPa
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-17 v.4.1
132 Ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe, przetworniki ciśnienia Wzorcowanie — Ciśnienie
Ciśnienie względne (ciecz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00016 MPa Ciśnienie względne (ciecz) 0,6 MPa do 6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa Ciśnienie względne (ciecz) 6 MPa do 7 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,0017 MPa Ciśnienie względne (ciecz) 7 MPa do 70 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa Ciśnienie względne (ciecz) 2 MPa do 70 MPa (u klienta) — CMC: 0,0025·P, P – wielkość mierzona w MPa
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-17 v.4.1
133 Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)
Temperatura (termometria elektryczna) -70 °C do 0 °C — CMC: 0,4 °C Temperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 50 °C — CMC: 0,3 °C Temperatura (termometria elektryczna) 50 °C do 100 °C — CMC: 0,4 °C
 Wzorcowanie w komorze klimatycznej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/T/2
134 Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)
Temperatura (termometria elektryczna) 0 °C (w laboratorium) — CMC: 0,05 °C Temperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C (w laboratorium) — CMC: 0,09 °C Temperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 0,9 °C Temperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C (w laboratorium) — CMC: 1,6 °C Temperatura (termometria elektryczna) 0 °C (u klienta) — CMC: 0,05 °C Temperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 0,9 °C Temperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 650 °C (u klienta) — CMC: 1,1 °C
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/2
135 Komory termostatyczne, komory klimatyczne Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)
Temperatura (termometria elektryczna) -40 °C do 0 °C — CMC: 0,6 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu) Temperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 200 °C — CMC: 0,5 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/4
136 Termostaty cieczowe Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)
Temperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C — CMC: 0,32 °C Temperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 250 °C — CMC: 0,72 °C
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/8
137 Piece Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)
Temperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 1100 °C — CMC: 1,3 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/7
138 Czujniki termoelektryczne z metali szlachetnych i nieszlachetnych typu J, K, S Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)
Temperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,3 °C Temperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,4 °C Temperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C — CMC: 0,9 °C Temperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C — CMC: 1,6 °C
 Wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/T/1
139 Czujniki termometrów rezystancyjnych Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)
Temperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,05 °C Temperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,09 °C
 Wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/T/5
140 Pirometry (radiacyjne, fotoelektryczne, wielopasmowe), kamery termowizyjne, bezstykowe układy pomiaru temperatury Wzorcowanie — Temperatura (termometria radiacyjna)
Temperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C Temperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (w laboratorium) — CMC: 1,4 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (w laboratorium) — CMC: 1,3 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 700 °C (w laboratorium) — CMC: 1,9 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 700 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 1085 °C do 1265 °C (w laboratorium) — CMC: 2,6 °C Temperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (u klienta) — CMC: 2,9 °C Temperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (u klienta) — CMC: 1,9 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (u klienta) — CMC: 1,7 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 2,1 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 200 °C do 300 °C (u klienta) — CMC: 3,1 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 300 °C do 400 °C (u klienta) — CMC: 3,9 °C Temperatura (termometria radiacyjna) 400 °C do 1100 °C (u klienta) — CMC: 4,4 °C
 Wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/6

Normy referencyjne (25)

ASTM E10-23
ASTM E18-25
ASTM E2658-15
ASTM E384-22
ASTM E92-23
BS 7882:2017
EURAMET cg-10 v.2.1
EURAMET cg-11 v.2.0
EURAMET cg-14 v.2.0
EURAMET cg-17 v.4.1
EURAMET cg-18 v.4.0
EURAMET cg-20 v.5.0
ISO 48-9:2018
PN-EN ISO 13225:2012
PN-EN ISO 13385-1:2019-12
PN-EN ISO 13385-2:2020-10
PN-EN ISO 3650:2000
PN-EN ISO 376:2011
PN-EN ISO 6506-2:2019-10
PN-EN ISO 6507-2:2018-05
PN-EN ISO 6508-2:2024-06
PN-EN ISO 6789-1:2017-03
PN-EN ISO 6789-2:2017-03
PN-EN ISO 7500-1:2018-05
PN-EN ISO 9513:2013-06

Ten sam zakres w postaci danych (JSON): https://labcoda.pl/api/accreditation-scopes/labs/PL/AP%20045