{"lab":{"_id":"6acde2afff068247617058fa","accr_number":"AP 045","country":"PL","accr_body":"PCA","address":"ul. I Dywizji Pancernej 45, 43-382 Bielsko-Biała","categories":["metrology"],"certificate_date":"06.06.2022","city":"Bielsko-Biała","cycle_from":"01.12.2022","cycle_to":"29.12.2026","email_source":"PCA","imported_at":"2026-10-13T07:50:06.977Z","issue":{"no":"27","date":"11.06.2026"},"lab_type":"calibration","map_coord":[49.8307121,18.9731323],"map_geo":"nominatim-street","methods_count":140,"name":"LABORTRONIC Laboratoria Wzorcujące Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka Komandytowa","parse_status":"parsed","parse_version":0,"pdf_files":["AP_045.pdf"],"scope_summary":"Laboratorium wzorcujące. Wielkości mierzone: prędkość, pH, przewodność elektryczna właściwa (konduktometria), długość, kąt, długość (geometria powierzchni), napięcie i prąd DC, napięcie i prąd AC, rezystancja DC i AC, impedancja, pojemność, wysokie napięcie i prąd, elektryczna symulacja wielkości, czas (przedział czasu), częstotliwość, siła, moment siły, twardość, wilgotność względna, masa (wagi), ciśnienie, temperatura (termometria elektryczna i radiacyjna). Wzorcowanie w laboratorium (S) i u klienta (P).","search_text":"labortronic laboratoria wzorcujące spółka z ograniczoną odpowiedzialnością spółka komandytowa ul. i dywizji pancernej 45, 43-382 bielsko-biała laboratorium wzorcujące. wielkości mierzone: prędkość, ph, przewodność elektryczna właściwa (konduktometria), długość, kąt, długość (geometria powierzchni), napięcie i prąd dc, napięcie i prąd ac, rezystancja dc i ac, impedancja, pojemność, wysokie napięcie i prąd, elektryczna symulacja wielkości, czas (przedział czasu), częstotliwość, siła, moment siły, twardość, wilgotność względna, masa (wagi), ciśnienie, temperatura (termometria elektryczna i radiacyjna). wzorcowanie w laboratorium (s) i u klienta (p). ap 045 ap045 laboratorium wzorcujące wzorcowanie kalibracja labortronic laboratoria wzorcujace spolka z ograniczona odpowiedzialnoscia spolka komandytowa ul. i dywizji pancernej 45, 43-382 bielsko-biala laboratorium wzorcujace. wielkosci mierzone: predkosc, ph, przewodnosc elektryczna wlasciwa (konduktometria), dlugosc, kat, dlugosc (geometria powierzchni), napiecie i prad dc, napiecie i prad ac, rezystancja dc i ac, impedancja, pojemnosc, wysokie napiecie i prad, elektryczna symulacja wielkosci, czas (przedzial czasu), czestotliwosc, sila, moment sily, twardosc, wilgotnosc wzgledna, masa (wagi), cisnienie, temperatura (termometria elektryczna i radiacyjna). wzorcowanie w laboratorium (s) i u klienta (p). ap 045 ap045 laboratorium wzorcujace wzorcowanie kalibracja","status":"active","updated_at":"2026-10-13T07:50:06.977Z","valid_from":"30-12-2002","valid_until":"29-12-2026","website":"www.labortronic.pl","approver":"Katarzyna Wiśniewska","issue_date":"11.06.2026","issue_number":"27","parse_date":"2026-10-13T08:01:49.495Z"},"methods":[{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb68d","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Tachometry","test_object_en":"Tachometers","methodology":"Wzorcowanie — Prędkość","methodology_en":"Calibration — Speed","parameters":[{"name":"Prędkość","range":"6,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,26 obr/min"},{"name":"Prędkość","range":"100,0 obr/min do 999,9 obr/min — CMC: 1,0 obr/min"},{"name":"Prędkość","range":"1000 obr/min do 8000 obr/min — CMC: 7 obr/min"}],"parameters_en":[{"name":"Speed","range":"6,00 RPM to 99,99 RPM — CMC: 0,26 RPM"},{"name":"Speed","range":"100,0 RPM to 999,9 RPM — CMC: 1,0 RPM"},{"name":"Speed","range":"1000 RPM to 8000 RPM — CMC: 7 RPM"}],"technique":"Metoda bezpośrednia, metoda stykowa; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Direct method, contact method; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prędkość\nZakres:\nPrędkość 6,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,26 obr/min\nPrędkość 100,0 obr/min do 999,9 obr/min — CMC: 1,0 obr/min\nPrędkość 1000 obr/min do 8000 obr/min — CMC: 7 obr/min\nMetoda bezpośrednia, metoda stykowa; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/F/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Tachometry Wzorcowanie — Prędkość\nZakres:\nPrędkość 6,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,26 obr/min\nPrędkość 100,0 obr/min do 999,9 obr/min — CMC: 1,0 obr/min\nPrędkość 1000 obr/min do 8000 obr/min — CMC: 7 obr/min\nMetoda bezpośrednia, metoda stykowa; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/F/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące tachometr tachometru tachometrów obrotomierz obrotomierza obrotomierzy prędkość obrotowa Tachometry Wzorcowanie — Predkosc\nZakres:\nPredkosc 6,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,26 obr/min\nPredkosc 100,0 obr/min do 999,9 obr/min — CMC: 1,0 obr/min\nPredkosc 1000 obr/min do 8000 obr/min — CMC: 7 obr/min\nMetoda bezposrednia, metoda stykowa; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/F/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace tachometr tachometru tachometrow obrotomierz obrotomierza obrotomierzy predkosc obrotowa","search_en":"Tachometers Calibration — Speed Speed 6,00 RPM to 99,99 RPM — CMC: 0,26 RPM Speed 100,0 RPM to 999,9 RPM — CMC: 1,0 RPM Speed 1000 RPM to 8000 RPM — CMC: 7 RPM Direct method, contact method; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/F/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Tachometer tachometer","categories":["metrology"],"row_index":0,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb68e","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Tachometry","test_object_en":"Tachometers","methodology":"Wzorcowanie — Prędkość","methodology_en":"Calibration — Speed","parameters":[{"name":"Prędkość","range":"6,00 obr/min do 59,99 obr/min — CMC: 0,35 obr/min"},{"name":"Prędkość","range":"60,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,10 obr/min"},{"name":"Prędkość","range":"100,00 obr/min do 999,99 obr/min — CMC: 0,12 obr/min"},{"name":"Prędkość","range":"1000,00 obr/min do 10000,00 obr/min — CMC: 1,22 obr/min"},{"name":"Prędkość","range":"10000,00 obr/min do 60000,00 obr/min — CMC: 4,28 obr/min"},{"name":"Prędkość","range":"60000,00 obr/min do 99950,00 obr/min — CMC: 14,25 obr/min"}],"parameters_en":[{"name":"Speed","range":"6,00 RPM to 59,99 RPM — CMC: 0,35 RPM"},{"name":"Speed","range":"60,00 RPM to 99,99 RPM — CMC: 0,10 RPM"},{"name":"Speed","range":"100,00 RPM to 999,99 RPM — CMC: 0,12 RPM"},{"name":"Speed","range":"1000,00 RPM to 10000,00 RPM — CMC: 1,22 RPM"},{"name":"Speed","range":"10000,00 RPM to 60000,00 RPM — CMC: 4,28 RPM"},{"name":"Speed","range":"60000,00 RPM to 99950,00 RPM — CMC: 14,25 RPM"}],"technique":"Metoda bezpośrednia, metoda optyczna; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Direct method, optical method; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prędkość\nZakres:\nPrędkość 6,00 obr/min do 59,99 obr/min — CMC: 0,35 obr/min\nPrędkość 60,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,10 obr/min\nPrędkość 100,00 obr/min do 999,99 obr/min — CMC: 0,12 obr/min\nPrędkość 1000,00 obr/min do 10000,00 obr/min — CMC: 1,22 obr/min\nPrędkość 10000,00 obr/min do 60000,00 obr/min — CMC: 4,28 obr/min\nPrędkość 60000,00 obr/min do 99950,00 obr/min — CMC: 14,25 obr/min\nMetoda bezpośrednia, metoda optyczna; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/F/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Tachometry Wzorcowanie — Prędkość\nZakres:\nPrędkość 6,00 obr/min do 59,99 obr/min — CMC: 0,35 obr/min\nPrędkość 60,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,10 obr/min\nPrędkość 100,00 obr/min do 999,99 obr/min — CMC: 0,12 obr/min\nPrędkość 1000,00 obr/min do 10000,00 obr/min — CMC: 1,22 obr/min\nPrędkość 10000,00 obr/min do 60000,00 obr/min — CMC: 4,28 obr/min\nPrędkość 60000,00 obr/min do 99950,00 obr/min — CMC: 14,25 obr/min\nMetoda bezpośrednia, metoda optyczna; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/F/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące tachometr tachometru tachometrów obrotomierz obrotomierza obrotomierzy prędkość obrotowa Tachometry Wzorcowanie — Predkosc\nZakres:\nPredkosc 6,00 obr/min do 59,99 obr/min — CMC: 0,35 obr/min\nPredkosc 60,00 obr/min do 99,99 obr/min — CMC: 0,10 obr/min\nPredkosc 100,00 obr/min do 999,99 obr/min — CMC: 0,12 obr/min\nPredkosc 1000,00 obr/min do 10000,00 obr/min — CMC: 1,22 obr/min\nPredkosc 10000,00 obr/min do 60000,00 obr/min — CMC: 4,28 obr/min\nPredkosc 60000,00 obr/min do 99950,00 obr/min — CMC: 14,25 obr/min\nMetoda bezposrednia, metoda optyczna; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/F/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace tachometr tachometru tachometrow obrotomierz obrotomierza obrotomierzy predkosc obrotowa","search_en":"Tachometers Calibration — Speed Speed 6,00 RPM to 59,99 RPM — CMC: 0,35 RPM Speed 60,00 RPM to 99,99 RPM — CMC: 0,10 RPM Speed 100,00 RPM to 999,99 RPM — CMC: 0,12 RPM Speed 1000,00 RPM to 10000,00 RPM — CMC: 1,22 RPM Speed 10000,00 RPM to 60000,00 RPM — CMC: 4,28 RPM Speed 60000,00 RPM to 99950,00 RPM — CMC: 14,25 RPM Direct method, optical method; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/F/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Tachometer tachometer","categories":["metrology"],"row_index":1,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb68f","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Pehametry","test_object_en":"pH meters","methodology":"Wzorcowanie — pH","methodology_en":"Calibration — pH","parameters":[{"name":"pH","range":"0 do 14 — CMC: 0,003"},{"name":"Napięcie stałe","range":"-1999 mV do 1999 mV — CMC: 0,2 mV"}],"parameters_en":[{"name":"pH","range":"0 to 14 — CMC: 0,003"},{"name":"DC voltage","range":"-1999 mV to 1999 mV — CMC: 0,2 mV"}],"technique":"Metoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Electrical method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — pH\nZakres:\npH 0 do 14 — CMC: 0,003\nNapięcie stałe -1999 mV do 1999 mV — CMC: 0,2 mV\nMetoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/F/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Pehametry Wzorcowanie — pH\nZakres:\npH 0 do 14 — CMC: 0,003\nNapięcie stałe -1999 mV do 1999 mV — CMC: 0,2 mV\nMetoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/F/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące pehametr pehametru pehametrów pH-metr pH-metru phmetr Pehametry Wzorcowanie — pH\nZakres:\npH 0 do 14 — CMC: 0,003\nNapiecie stale -1999 mV do 1999 mV — CMC: 0,2 mV\nMetoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/F/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace pehametr pehametru pehametrow pH-metr pH-metru phmetr","search_en":"pH meters Calibration — pH pH 0 to 14 — CMC: 0,003 DC voltage -1999 mV to 1999 mV — CMC: 0,2 mV Electrical method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/F/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter","categories":["metrology"],"row_index":2,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb690","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Konduktometry","test_object_en":"Conductometers","methodology":"Wzorcowanie — Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria)","methodology_en":"Calibration — Specific electrical conductivity (conductometry)","parameters":[{"name":"Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria)","range":"1 μS/cm do 9,99 μS/cm — CMC: 0,16 %"},{"name":"Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria)","range":"0,01 mS/cm do 500 mS/cm — CMC: 0,11 %"}],"parameters_en":[{"name":"Specific electrical conductivity (conductometry)","range":"1 μS/cm to 9,99 μS/cm — CMC: 0,16 %"},{"name":"Specific electrical conductivity (conductometry)","range":"0,01 mS/cm to 500 mS/cm — CMC: 0,11 %"}],"technique":"Metoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Electrical method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria)\nZakres:\nPrzewodność elektryczna właściwa (konduktometria) 1 μS/cm do 9,99 μS/cm — CMC: 0,16 %\nPrzewodność elektryczna właściwa (konduktometria) 0,01 mS/cm do 500 mS/cm — CMC: 0,11 %\nMetoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/F/3","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Konduktometry Wzorcowanie — Przewodność elektryczna właściwa (konduktometria)\nZakres:\nPrzewodność elektryczna właściwa (konduktometria) 1 μS/cm do 9,99 μS/cm — CMC: 0,16 %\nPrzewodność elektryczna właściwa (konduktometria) 0,01 mS/cm do 500 mS/cm — CMC: 0,11 %\nMetoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/F/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące konduktometr konduktometru konduktometrów przewodnościomierz Konduktometry Wzorcowanie — Przewodnosc elektryczna wlasciwa (konduktometria)\nZakres:\nPrzewodnosc elektryczna wlasciwa (konduktometria) 1 μS/cm do 9,99 μS/cm — CMC: 0,16 %\nPrzewodnosc elektryczna wlasciwa (konduktometria) 0,01 mS/cm do 500 mS/cm — CMC: 0,11 %\nMetoda elektryczna; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/F/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace konduktometr konduktometru konduktometrow przewodnosciomierz","search_en":"Conductometers Calibration — Specific electrical conductivity (conductometry) Specific electrical conductivity (conductometry) 1 μS/cm to 9,99 μS/cm — CMC: 0,16 % Specific electrical conductivity (conductometry) 0,01 mS/cm to 500 mS/cm — CMC: 0,11 % Electrical method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/F/3 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Conductometer","categories":["metrology"],"row_index":3,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb691","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 1 μm","test_object_en":"Analog sensors with scale interval of 1 µm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 5 mm — CMC: 0,7 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 5 mm — CMC: 0,7 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 5 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/11","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 1 μm Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 5 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki analogowe o wartosci dzialki elementarnej 1 μm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 5 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Analog sensors with scale interval of 1 µm Calibration — Length Length 0 mm to 5 mm — CMC: 0,7 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/11 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":4,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb692","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm","test_object_en":"Analog sensors with scale interval of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 3 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 4,0 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 3 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 4,0 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Direct method using a micrometric head; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 3 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 4,0 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/4","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 3 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 4,0 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki analogowe o wartosci dzialki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 3 mm — CMC: 3,5 μm\nDlugosc 0 mm do 10 mm — CMC: 3,5 μm\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 4,0 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca glowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/D/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Analog sensors with scale interval of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 3 mm — CMC: 3,5 μm Length 0 mm to 10 mm — CMC: 3,5 μm Length 0 mm to 50 mm — CMC: 4,0 μm Direct method using a micrometric head; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/D/4 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":5,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb693","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm","test_object_en":"Analog sensors with scale interval of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 2 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 3 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 2 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 3 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 2 μm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 3 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/11","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki analogowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 2 μm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 3 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki analogowe o wartosci dzialki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 10 mm — CMC: 2 μm\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 3 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Analog sensors with scale interval of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 10 mm — CMC: 2 μm Length 0 mm to 100 mm — CMC: 3 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/11 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":6,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb694","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 1 μm","test_object_en":"Analog sensors with tilting pin with scale interval of 1 µm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"-1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"-1 mm to 1 mm — CMC: 0,7 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/15","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 1 μm Wzorcowanie — Długość\nDługość -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartosci dzialki elementarnej 1 μm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Analog sensors with tilting pin with scale interval of 1 µm Calibration — Length Length -1 mm to 1 mm — CMC: 0,7 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/15 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":7,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb695","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 0,002 mm","test_object_en":"Analog sensors with tilting pin with scale interval of 0,002 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"-1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"-1 mm to 1 mm — CMC: 0,7 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/15","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 0,002 mm Wzorcowanie — Długość\nDługość -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartosci dzialki elementarnej 0,002 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc -1 mm do 1 mm — CMC: 0,7 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Analog sensors with tilting pin with scale interval of 0,002 mm Calibration — Length Length -1 mm to 1 mm — CMC: 0,7 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/15 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":8,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb696","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 0,01 mm","test_object_en":"Analog sensors with tilting pin with scale interval of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"-1 mm do 1 mm — CMC: 1,3 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"-1 mm to 1 mm — CMC: 1,3 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość -1 mm do 1 mm — CMC: 1,3 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/15","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nDługość -1 mm do 1 mm — CMC: 1,3 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki analogowe z uchylnym trzpieniem o wartosci dzialki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc -1 mm do 1 mm — CMC: 1,3 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Analog sensors with tilting pin with scale interval of 0,01 mm Calibration — Length Length -1 mm to 1 mm — CMC: 1,3 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/15 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":9,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb697","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości < 1 μm","test_object_en":"Digital sensors with resolution of < 1 µm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 0,8 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 1,4 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 0,8 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 1,4 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 0,8 μm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 1,4 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/11","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości < 1 μm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 0,8 μm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 1,4 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki cyfrowe o rozdzielczosci < 1 μm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 0,8 μm\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 1,4 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Digital sensors with resolution of < 1 µm Calibration — Length Length 0 mm to 50 mm — CMC: 0,8 μm Length 0 mm to 100 mm — CMC: 1,4 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/11 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":10,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb698","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 1 μm","test_object_en":"Digital sensors with resolution of 1 µm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 1,4 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 1,4 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 2,1 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,4 μm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/11","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 1 μm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,4 μm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki cyfrowe o rozdzielczosci 1 μm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 1,4 μm\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Digital sensors with resolution of 1 µm Calibration — Length Length 0 mm to 50 mm — CMC: 1,4 μm Length 0 mm to 100 mm — CMC: 2,1 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/11 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":11,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb699","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm","test_object_en":"Digital sensors with resolution of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 13 mm — CMC: 2,8 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 27 mm — CMC: 2,8 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 50,8 mm — CMC: 3,1 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 13 mm — CMC: 2,8 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 27 mm — CMC: 2,8 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 50,8 mm — CMC: 3,1 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Direct method using a micrometric head; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 13 mm — CMC: 2,8 μm\nDługość 0 mm do 27 mm — CMC: 2,8 μm\nDługość 0 mm do 50,8 mm — CMC: 3,1 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/4","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 13 mm — CMC: 2,8 μm\nDługość 0 mm do 27 mm — CMC: 2,8 μm\nDługość 0 mm do 50,8 mm — CMC: 3,1 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą głowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki cyfrowe o rozdzielczosci 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 13 mm — CMC: 2,8 μm\nDlugosc 0 mm do 27 mm — CMC: 2,8 μm\nDlugosc 0 mm do 50,8 mm — CMC: 3,1 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca glowicy mikrometrycznej; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/D/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Digital sensors with resolution of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 13 mm — CMC: 2,8 μm Length 0 mm to 27 mm — CMC: 2,8 μm Length 0 mm to 50,8 mm — CMC: 3,1 μm Direct method using a micrometric head; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/D/4 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":12,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb69a","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm","test_object_en":"Digital sensors with resolution of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 8,5 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 8,5 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 8,5 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/11","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki cyfrowe o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 8,5 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą przyrządu do wzorcowania czujników; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego Czujniki cyfrowe o rozdzielczosci 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 8,5 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca przyrzadu do wzorcowania czujnikow; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/11 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego","search_en":"Digital sensors with resolution of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 100 mm — CMC: 8,5 μm Direct method using a sensor calibration device; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/11 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":13,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb69b","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Dalmierze laserowe","test_object_en":"Laser rangefinders","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 m do 5 m — CMC: 0,9 mm"},{"name":"Długość","range":"0 m do 30 m — CMC: 1,0 mm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 m to 5 m — CMC: 0,9 mm"},{"name":"Length","range":"0 m to 30 m — CMC: 1,0 mm"}],"technique":"Metoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego oraz dalmierza wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using a rigid gauge and a reference rangefinder; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 m do 5 m — CMC: 0,9 mm\nDługość 0 m do 30 m — CMC: 1,0 mm\nMetoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego oraz dalmierza wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/22","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Dalmierze laserowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 m do 5 m — CMC: 0,9 mm\nDługość 0 m do 30 m — CMC: 1,0 mm\nMetoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego oraz dalmierza wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/22 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące dalmierz dalmierza dalmierzy dalmierz laserowy Dalmierze laserowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 m do 5 m — CMC: 0,9 mm\nDlugosc 0 m do 30 m — CMC: 1,0 mm\nMetoda porownawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego oraz dalmierza wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/22 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace dalmierz dalmierza dalmierzy dalmierz laserowy","search_en":"Laser rangefinders Calibration — Length Length 0 m to 5 m — CMC: 0,9 mm Length 0 m to 30 m — CMC: 1,0 mm Comparative method using a rigid gauge and a reference rangefinder; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/22 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory rangefinder","categories":["metrology"],"row_index":14,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb69c","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Folie wzorcowe","test_object_en":"Reference foils","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 4 mm — CMC: Q[1,4; 1,2·L] µm, L – wielkość mierzona w mm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 4 mm — CMC: Q[1,4; 1,2·L] µm, L – measured value in mm"}],"technique":"Metoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using an optical sensor and gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 4 mm — CMC: Q[1,4; 1,2·L] µm, L – wielkość mierzona w mm\nMetoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/25","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Folie wzorcowe Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 4 mm — CMC: Q[1,4; 1,2·L] µm, L – wielkość mierzona w mm\nMetoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/25 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące folia wzorcowa folii wzorcowych Folie wzorcowe Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 4 mm — CMC: Q[1,4; 1,2·L] µm, L – wielkosc mierzona w mm\nMetoda porownawcza za pomoca czujnika optycznego oraz plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/25 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace folia wzorcowa folii wzorcowych","search_en":"Reference foils Calibration — Length Length 0 mm to 4 mm — CMC: Q[1,4; 1,2·L] µm, L – measured value in mm Comparative method using an optical sensor and gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/25 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory foil","categories":["metrology"],"row_index":15,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb69d","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Głębokościomierze czujnikowe o rozdzielczości 0,001 mm","test_object_en":"Dial depth gauges with resolution of 0,001 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 20 mm — CMC: 1,0 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 1,2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 20 mm — CMC: 1,0 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 1,2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,0 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/16","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Głębokościomierze czujnikowe o rozdzielczości 0,001 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,0 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące głębokościomierz głębokościomierza głębokościomierzy Glebokosciomierze czujnikowe o rozdzielczosci 0,001 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 20 mm — CMC: 1,0 μm\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace glebokosciomierz glebokosciomierza glebokosciomierzy","search_en":"Dial depth gauges with resolution of 0,001 mm Calibration — Length Length 0 mm to 20 mm — CMC: 1,0 μm Length 0 mm to 50 mm — CMC: 1,2 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/16 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":16,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb69e","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Głębokościomierze czujnikowe o rozdzielczości 0,01 mm","test_object_en":"Dial depth gauges with resolution of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 7,2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 7,2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 7,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/16","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Głębokościomierze czujnikowe o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 7,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące głębokościomierz głębokościomierza głębokościomierzy Glebokosciomierze czujnikowe o rozdzielczosci 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 7,2 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace glebokosciomierz glebokosciomierza glebokosciomierzy","search_en":"Dial depth gauges with resolution of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 50 mm — CMC: 7,2 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/16 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":17,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb69f","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Głębokościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej 0,001 mm","test_object_en":"Dial depth gauges with a scale interval of 0,001 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 0,6 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 20 mm — CMC: 0,7 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 0,6 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 20 mm — CMC: 0,7 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 1,0 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 0,6 μm\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 0,7 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/16","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Głębokościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 0,6 μm\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 0,7 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące głębokościomierz głębokościomierza głębokościomierzy Glebokosciomierze czujnikowe o wartosci dzialki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 10 mm — CMC: 0,6 μm\nDlugosc 0 mm do 20 mm — CMC: 0,7 μm\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace glebokosciomierz glebokosciomierza glebokosciomierzy","search_en":"Dial depth gauges with a scale interval of 0,001 mm Calibration — Length Length 0 mm to 10 mm — CMC: 0,6 μm Length 0 mm to 20 mm — CMC: 0,7 μm Length 0 mm to 50 mm — CMC: 1,0 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/16 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":18,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a0","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Głębokościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm","test_object_en":"Dial depth gauges with a scale interval of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 20 mm — CMC: 1,6 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 1,8 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 20 mm — CMC: 1,6 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 1,8 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,6 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,8 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/16","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Głębokościomierze czujnikowe o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,6 μm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,8 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące głębokościomierz głębokościomierza głębokościomierzy Glebokosciomierze czujnikowe o wartosci dzialki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 20 mm — CMC: 1,6 μm\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 1,8 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/16 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace glebokosciomierz glebokosciomierza glebokosciomierzy","search_en":"Dial depth gauges with a scale interval of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 20 mm — CMC: 1,6 μm Length 0 mm to 50 mm — CMC: 1,8 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/16 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":19,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a1","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Głębokościomierze mikrometryczne","test_object_en":"Micrometer depth gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 25 mm — CMC: 1,3 μm"},{"name":"Długość","range":"25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm"},{"name":"Długość","range":"50 mm do 75 mm — CMC: 1,8 μm"},{"name":"Długość","range":"75 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm"},{"name":"Długość","range":"100 mm do 125 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Długość","range":"125 mm do 150 mm — CMC: 2,8 μm"},{"name":"Długość","range":"150 mm do 175 mm — CMC: 3,2 μm"},{"name":"Długość","range":"175 mm do 200 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Długość","range":"200 mm do 225 mm — CMC: 4,0 μm"},{"name":"Długość","range":"225 mm do 250 mm — CMC: 4,2 μm"},{"name":"Długość","range":"250 mm do 275 mm — CMC: 4,7 μm"},{"name":"Długość","range":"275 mm do 300 mm — CMC: 5,0 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 25 mm — CMC: 1,3 μm"},{"name":"Length","range":"25 mm to 50 mm — CMC: 1,5 μm"},{"name":"Length","range":"50 mm to 75 mm — CMC: 1,8 μm"},{"name":"Length","range":"75 mm to 100 mm — CMC: 2,1 μm"},{"name":"Length","range":"100 mm to 125 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Length","range":"125 mm to 150 mm — CMC: 2,8 μm"},{"name":"Length","range":"150 mm to 175 mm — CMC: 3,2 μm"},{"name":"Length","range":"175 mm to 200 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Length","range":"200 mm to 225 mm — CMC: 4,0 μm"},{"name":"Length","range":"225 mm to 250 mm — CMC: 4,2 μm"},{"name":"Length","range":"250 mm to 275 mm — CMC: 4,7 μm"},{"name":"Length","range":"275 mm to 300 mm — CMC: 5,0 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 25 mm — CMC: 1,3 μm\nDługość 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm\nDługość 50 mm do 75 mm — CMC: 1,8 μm\nDługość 75 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm\nDługość 100 mm do 125 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 125 mm do 150 mm — CMC: 2,8 μm\nDługość 150 mm do 175 mm — CMC: 3,2 μm\nDługość 175 mm do 200 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 200 mm do 225 mm — CMC: 4,0 μm\nDługość 225 mm do 250 mm — CMC: 4,2 μm\nDługość 250 mm do 275 mm — CMC: 4,7 μm\nDługość 275 mm do 300 mm — CMC: 5,0 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/18","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Głębokościomierze mikrometryczne Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 25 mm — CMC: 1,3 μm\nDługość 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm\nDługość 50 mm do 75 mm — CMC: 1,8 μm\nDługość 75 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm\nDługość 100 mm do 125 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 125 mm do 150 mm — CMC: 2,8 μm\nDługość 150 mm do 175 mm — CMC: 3,2 μm\nDługość 175 mm do 200 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 200 mm do 225 mm — CMC: 4,0 μm\nDługość 225 mm do 250 mm — CMC: 4,2 μm\nDługość 250 mm do 275 mm — CMC: 4,7 μm\nDługość 275 mm do 300 mm — CMC: 5,0 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/18 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące głębokościomierz głębokościomierza głębokościomierzy mikrometr mikrometru mikrometrów Glebokosciomierze mikrometryczne Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 25 mm — CMC: 1,3 μm\nDlugosc 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm\nDlugosc 50 mm do 75 mm — CMC: 1,8 μm\nDlugosc 75 mm do 100 mm — CMC: 2,1 μm\nDlugosc 100 mm do 125 mm — CMC: 2,5 μm\nDlugosc 125 mm do 150 mm — CMC: 2,8 μm\nDlugosc 150 mm do 175 mm — CMC: 3,2 μm\nDlugosc 175 mm do 200 mm — CMC: 3,5 μm\nDlugosc 200 mm do 225 mm — CMC: 4,0 μm\nDlugosc 225 mm do 250 mm — CMC: 4,2 μm\nDlugosc 250 mm do 275 mm — CMC: 4,7 μm\nDlugosc 275 mm do 300 mm — CMC: 5,0 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/18 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace glebokosciomierz glebokosciomierza glebokosciomierzy mikrometr mikrometru mikrometrow","search_en":"Micrometer depth gauges Calibration — Length Length 0 mm to 25 mm — CMC: 1,3 μm Length 25 mm to 50 mm — CMC: 1,5 μm Length 50 mm to 75 mm — CMC: 1,8 μm Length 75 mm to 100 mm — CMC: 2,1 μm Length 100 mm to 125 mm — CMC: 2,5 μm Length 125 mm to 150 mm — CMC: 2,8 μm Length 150 mm to 175 mm — CMC: 3,2 μm Length 175 mm to 200 mm — CMC: 3,5 μm Length 200 mm to 225 mm — CMC: 4,0 μm Length 225 mm to 250 mm — CMC: 4,2 μm Length 250 mm to 275 mm — CMC: 4,7 μm Length 275 mm to 300 mm — CMC: 5,0 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/18 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":20,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a2","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Głębokościomierze suwmiarkowe","test_object_en":"Caliper depth gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 150 mm — CMC: 8 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 300 mm — CMC: 11 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 600 mm — CMC: 18 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDługość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDługość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_2 w oparciu o PN-EN ISO 13385-2:2020-10","norm_bases":["PN-EN ISO 13385-2:2020-10"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Głębokościomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDługość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDługość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_2 w oparciu o PN-EN ISO 13385-2:2020-10 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące głębokościomierz głębokościomierza głębokościomierzy suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarkę Glebokosciomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDlugosc 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDlugosc 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/3; procedura wewnetrzna I/D/3_2 w oparciu o PN-EN ISO 13385-2:2020-10 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace glebokosciomierz glebokosciomierza glebokosciomierzy suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarke","search_en":"Caliper depth gauges Calibration — Length Length 0 mm to 150 mm — CMC: 8 μm Length 0 mm to 300 mm — CMC: 11 μm Length 0 mm to 600 mm — CMC: 18 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_2 w oparciu o PN-EN ISO 13385-2:2020-10 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":21,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a3","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Głowice mikrometryczne","test_object_en":"Micrometric heads","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 1,0 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 1,0 µm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 1,0 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 1,0 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/38","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Głowice mikrometryczne Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 1,0 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/38 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące głowica mikrometryczna głowicy mikrometrycznej głowic mikrometrycznych mikrometr mikrometru mikrometrów Glowice mikrometryczne Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 1,0 µm\nMetoda bezposrednia za pomoca dlugosciomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/38 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace glowica mikrometryczna glowicy mikrometrycznej glowic mikrometrycznych mikrometr mikrometru mikrometrow","search_en":"Micrometric heads Calibration — Length Length 0 mm to 50 mm — CMC: 1,0 µm Length 0 mm to 100 mm — CMC: 1,0 µm Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/38 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory head","categories":["metrology"],"row_index":22,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a4","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczości 0,001 mm","test_object_en":"Sensor thickness gauges with a resolution of 0,001 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 5 mm — CMC: 1 µm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 1,3 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 5 mm — CMC: 1 µm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 1,3 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 5 mm — CMC: 1 µm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,3 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/14","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczości 0,001 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 5 mm — CMC: 1 µm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,3 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubościomierz grubościomierza grubościomierzy Grubosciomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczosci 0,001 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 5 mm — CMC: 1 µm\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 1,3 µm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubosciomierz grubosciomierza grubosciomierzy","search_en":"Sensor thickness gauges with a resolution of 0,001 mm Calibration — Length Length 0 mm to 5 mm — CMC: 1 µm Length 0 mm to 50 mm — CMC: 1,3 µm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/14 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thicknes gauge","categories":["metrology"],"row_index":23,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a5","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczości 0,01 mm","test_object_en":"Sensor thickness gauges with a resolution of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 6 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 6 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 6 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/14","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 6 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubościomierz grubościomierza grubościomierzy Grubosciomierze czujnikowe z czujnikiem o rozdzielczosci 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 6 µm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubosciomierz grubosciomierza grubosciomierzy","search_en":"Sensor thickness gauges with a resolution of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 50 mm — CMC: 6 µm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/14 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thicknes gauge","categories":["metrology"],"row_index":24,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a6","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o wartości działki elementarnej 0,001 mm","test_object_en":"Sensor thickness gauges with a scale interval of 0,001 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 5 mm — CMC: 0,6 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 5 mm — CMC: 0,6 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 5 mm — CMC: 0,6 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/14","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o wartości działki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 5 mm — CMC: 0,6 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubościomierz grubościomierza grubościomierzy Grubosciomierze czujnikowe z czujnikiem o wartosci dzialki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 5 mm — CMC: 0,6 µm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubosciomierz grubosciomierza grubosciomierzy","search_en":"Sensor thickness gauges with a scale interval of 0,001 mm Calibration — Length Length 0 mm to 5 mm — CMC: 0,6 µm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/14 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thicknes gauge","categories":["metrology"],"row_index":25,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a7","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o wartości działki elementarnej 0,01 mm","test_object_en":"Sensor thickness gauges with a scale interval of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 20 mm — CMC: 1,3 µm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 50 mm — CMC: 1,5 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 20 mm — CMC: 1,3 µm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 50 mm — CMC: 1,5 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,3 µm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,5 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/14","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Grubościomierze czujnikowe z czujnikiem o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 20 mm — CMC: 1,3 µm\nDługość 0 mm do 50 mm — CMC: 1,5 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubościomierz grubościomierza grubościomierzy Grubosciomierze czujnikowe z czujnikiem o wartosci dzialki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 20 mm — CMC: 1,3 µm\nDlugosc 0 mm do 50 mm — CMC: 1,5 µm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/14 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego grubosciomierz grubosciomierza grubosciomierzy","search_en":"Sensor thickness gauges with a scale interval of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 20 mm — CMC: 1,3 µm Length 0 mm to 50 mm — CMC: 1,5 µm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/14 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thicknes gauge","categories":["metrology"],"row_index":26,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a8","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Grubościomierze ultradźwiękowe","test_object_en":"Ultrasonic thickness gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0,5 mm do 75 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Długość","range":"0,5 mm do 100 mm — CMC: 3,0 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0,5 mm to 75 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Length","range":"0,5 mm to 100 mm — CMC: 3,0 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych lub wzorców schodkowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks or step gauges; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0,5 mm do 75 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3,0 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych lub wzorców schodkowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/23","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Grubościomierze ultradźwiękowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0,5 mm do 75 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3,0 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych lub wzorców schodkowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/23 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące grubościomierz grubościomierza grubościomierzy Grubosciomierze ultradzwiekowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0,5 mm do 75 mm — CMC: 2,5 μm\nDlugosc 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3,0 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych lub wzorcow schodkowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/23 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace grubosciomierz grubosciomierza grubosciomierzy","search_en":"Ultrasonic thickness gauges Calibration — Length Length 0,5 mm to 75 mm — CMC: 2,5 μm Length 0,5 mm to 100 mm — CMC: 3,0 μm Direct method using gauge blocks or step gauges; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/23 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thicknes gauge","categories":["metrology"],"row_index":27,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6a9","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Macki czujnikowe do pomiarów wewnętrznych","test_object_en":"Sensing probes for internal measurements","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"2 mm do 100 mm — CMC: 2 μm"},{"name":"Długość","range":"101 mm do 180 mm — CMC: 3 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"2 mm to 100 mm — CMC: 2 μm"},{"name":"Length","range":"101 mm to 180 mm — CMC: 3 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 2 mm do 100 mm — CMC: 2 μm\nDługość 101 mm do 180 mm — CMC: 3 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/17","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Macki czujnikowe do pomiarów wewnętrznych Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 2 mm do 100 mm — CMC: 2 μm\nDługość 101 mm do 180 mm — CMC: 3 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/17 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące macka macki macek Macki czujnikowe do pomiarow wewnetrznych Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 2 mm do 100 mm — CMC: 2 μm\nDlugosc 101 mm do 180 mm — CMC: 3 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/17 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace macka macki macek","search_en":"Sensing probes for internal measurements Calibration — Length Length 2 mm to 100 mm — CMC: 2 μm Length 101 mm to 180 mm — CMC: 3 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/17 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory probe measurement","categories":["metrology"],"row_index":28,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6aa","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Macki czujnikowe do pomiarów zewnętrznych","test_object_en":"Sensing probes for external measurements","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/17","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Macki czujnikowe do pomiarów zewnętrznych Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/17 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące macka macki macek Macki czujnikowe do pomiarow zewnetrznych Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 2 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/17 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace macka macki macek","search_en":"Sensing probes for external measurements Calibration — Length Length 0 mm to 100 mm — CMC: 2 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/17 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory probe measurement","categories":["metrology"],"row_index":29,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ab","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki do pomiaru grubości powłok","test_object_en":"Coating thickness meters","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 μm do 24 μm — CMC: 1,6 μm"},{"name":"Długość","range":"0 μm do 500 μm — CMC: 1,9 μm"},{"name":"Długość","range":"0 μm do 1600 μm — CMC: 2,5 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 μm to 24 μm — CMC: 1,6 μm"},{"name":"Length","range":"0 μm to 500 μm — CMC: 1,9 μm"},{"name":"Length","range":"0 μm to 1600 μm — CMC: 2,5 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem folii wzorcowych lub płytek ceramicznych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using reference foils or ceramic gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 μm do 24 μm — CMC: 1,6 μm\nDługość 0 μm do 500 μm — CMC: 1,9 μm\nDługość 0 μm do 1600 μm — CMC: 2,5 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem folii wzorcowych lub płytek ceramicznych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/23","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki do pomiaru grubości powłok Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 μm do 24 μm — CMC: 1,6 μm\nDługość 0 μm do 500 μm — CMC: 1,9 μm\nDługość 0 μm do 1600 μm — CMC: 2,5 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem folii wzorcowych lub płytek ceramicznych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/23 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik grubości powłok miernika grubości lakieru grubościomierz powłok Mierniki do pomiaru grubosci powlok Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 μm do 24 μm — CMC: 1,6 μm\nDlugosc 0 μm do 500 μm — CMC: 1,9 μm\nDlugosc 0 μm do 1600 μm — CMC: 2,5 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem folii wzorcowych lub plytek ceramicznych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/23 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik grubosci powlok miernika grubosci lakieru grubosciomierz powlok","search_en":"Coating thickness meters Calibration — Length Length 0 μm to 24 μm — CMC: 1,6 μm Length 0 μm to 500 μm — CMC: 1,9 μm Length 0 μm to 1600 μm — CMC: 2,5 μm Direct method using reference foils or ceramic gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/23 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thicknes meter","categories":["metrology"],"row_index":30,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ac","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mikrometry laserowe","test_object_en":"Laser micrometers","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 25 mm — CMC: 0,35 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 25 mm — CMC: 0,35 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem wałeczków wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Direct method using gauge pins; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 25 mm — CMC: 0,35 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem wałeczków wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/31","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mikrometry laserowe Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 25 mm — CMC: 0,35 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem wałeczków wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/31 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące mikrometr mikrometru mikrometrów Mikrometry laserowe Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 25 mm — CMC: 0,35 µm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem waleczkow wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/D/31 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace mikrometr mikrometru mikrometrow","search_en":"Laser micrometers Calibration — Length Length 0 mm to 25 mm — CMC: 0,35 µm Direct method using gauge pins; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/D/31 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory micrometer micrometer","categories":["metrology"],"row_index":31,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ad","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mikrometry wewnętrzne","test_object_en":"Internal micrometers","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"5 mm do 55 mm — CMC: 1,2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"5 mm to 55 mm — CMC: 1,2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 5 mm do 55 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mikrometry wewnętrzne Wzorcowanie — Długość\nDługość 5 mm do 55 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące mikrometr mikrometru mikrometrów Mikrometry wewnetrzne Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 5 mm do 55 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace mikrometr mikrometru mikrometrow","search_en":"Internal micrometers Calibration — Length Length 5 mm to 55 mm — CMC: 1,2 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory micrometer micrometer","categories":["metrology"],"row_index":32,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ae","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mikrometry zewnętrzne","test_object_en":"External micrometers","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 25 mm — CMC: 1,0 μm"},{"name":"Długość","range":"25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm"},{"name":"Długość","range":"50 mm do 75 mm — CMC: 2,2 μm"},{"name":"Długość","range":"75 mm do 100 mm — CMC: 2,9 μm"},{"name":"Długość","range":"100 mm do 125 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Długość","range":"125 mm do 150 mm — CMC: 4,2 μm"},{"name":"Długość","range":"150 mm do 175 mm — CMC: 4,9 μm"},{"name":"Długość","range":"175 mm do 200 mm — CMC: 5,5 μm"},{"name":"Długość","range":"200 mm do 225 mm — CMC: 6,2 μm"},{"name":"Długość","range":"225 mm do 250 mm — CMC: 6,8 μm"},{"name":"Długość","range":"250 mm do 275 mm — CMC: 7,5 μm"},{"name":"Długość","range":"275 mm do 300 mm — CMC: 8,2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 25 mm — CMC: 1,0 μm"},{"name":"Length","range":"25 mm to 50 mm — CMC: 1,5 μm"},{"name":"Length","range":"50 mm to 75 mm — CMC: 2,2 μm"},{"name":"Length","range":"75 mm to 100 mm — CMC: 2,9 μm"},{"name":"Length","range":"100 mm to 125 mm — CMC: 3,5 μm"},{"name":"Length","range":"125 mm to 150 mm — CMC: 4,2 μm"},{"name":"Length","range":"150 mm to 175 mm — CMC: 4,9 μm"},{"name":"Length","range":"175 mm to 200 mm — CMC: 5,5 μm"},{"name":"Length","range":"200 mm to 225 mm — CMC: 6,2 μm"},{"name":"Length","range":"225 mm to 250 mm — CMC: 6,8 μm"},{"name":"Length","range":"250 mm to 275 mm — CMC: 7,5 μm"},{"name":"Length","range":"275 mm to 300 mm — CMC: 8,2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 25 mm — CMC: 1,0 μm\nDługość 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm\nDługość 50 mm do 75 mm — CMC: 2,2 μm\nDługość 75 mm do 100 mm — CMC: 2,9 μm\nDługość 100 mm do 125 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 125 mm do 150 mm — CMC: 4,2 μm\nDługość 150 mm do 175 mm — CMC: 4,9 μm\nDługość 175 mm do 200 mm — CMC: 5,5 μm\nDługość 200 mm do 225 mm — CMC: 6,2 μm\nDługość 225 mm do 250 mm — CMC: 6,8 μm\nDługość 250 mm do 275 mm — CMC: 7,5 μm\nDługość 275 mm do 300 mm — CMC: 8,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mikrometry zewnętrzne Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 25 mm — CMC: 1,0 μm\nDługość 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm\nDługość 50 mm do 75 mm — CMC: 2,2 μm\nDługość 75 mm do 100 mm — CMC: 2,9 μm\nDługość 100 mm do 125 mm — CMC: 3,5 μm\nDługość 125 mm do 150 mm — CMC: 4,2 μm\nDługość 150 mm do 175 mm — CMC: 4,9 μm\nDługość 175 mm do 200 mm — CMC: 5,5 μm\nDługość 200 mm do 225 mm — CMC: 6,2 μm\nDługość 225 mm do 250 mm — CMC: 6,8 μm\nDługość 250 mm do 275 mm — CMC: 7,5 μm\nDługość 275 mm do 300 mm — CMC: 8,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące mikrometr mikrometru mikrometrów Mikrometry zewnetrzne Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 25 mm — CMC: 1,0 μm\nDlugosc 25 mm do 50 mm — CMC: 1,5 μm\nDlugosc 50 mm do 75 mm — CMC: 2,2 μm\nDlugosc 75 mm do 100 mm — CMC: 2,9 μm\nDlugosc 100 mm do 125 mm — CMC: 3,5 μm\nDlugosc 125 mm do 150 mm — CMC: 4,2 μm\nDlugosc 150 mm do 175 mm — CMC: 4,9 μm\nDlugosc 175 mm do 200 mm — CMC: 5,5 μm\nDlugosc 200 mm do 225 mm — CMC: 6,2 μm\nDlugosc 225 mm do 250 mm — CMC: 6,8 μm\nDlugosc 250 mm do 275 mm — CMC: 7,5 μm\nDlugosc 275 mm do 300 mm — CMC: 8,2 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace mikrometr mikrometru mikrometrow","search_en":"External micrometers Calibration — Length Length 0 mm to 25 mm — CMC: 1,0 μm Length 25 mm to 50 mm — CMC: 1,5 μm Length 50 mm to 75 mm — CMC: 2,2 μm Length 75 mm to 100 mm — CMC: 2,9 μm Length 100 mm to 125 mm — CMC: 3,5 μm Length 125 mm to 150 mm — CMC: 4,2 μm Length 150 mm to 175 mm — CMC: 4,9 μm Length 175 mm to 200 mm — CMC: 5,5 μm Length 200 mm to 225 mm — CMC: 6,2 μm Length 225 mm to 250 mm — CMC: 6,8 μm Length 250 mm to 275 mm — CMC: 7,5 μm Length 275 mm to 300 mm — CMC: 8,2 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory micrometer micrometer","categories":["metrology"],"row_index":33,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6af","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Pierścienie wzorcowe","test_object_en":"Gauge rings","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"1 mm do 14 mm — CMC: 0,8 µm"},{"name":"Długość","range":"14,1 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm"},{"name":"Długość","range":"50,1 mm do 90 mm — CMC: 1,1 µm"},{"name":"Długość","range":"90,1 mm do 150 mm — CMC: 1,3 µm"},{"name":"Długość","range":"150,1 mm do 200 mm — CMC: 1,7 µm"},{"name":"Długość","range":"200,1 mm do 280 mm — CMC: 2,1 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"1 mm to 14 mm — CMC: 0,8 µm"},{"name":"Length","range":"14,1 mm to 50 mm — CMC: 1,0 µm"},{"name":"Length","range":"50,1 mm to 90 mm — CMC: 1,1 µm"},{"name":"Length","range":"90,1 mm to 150 mm — CMC: 1,3 µm"},{"name":"Length","range":"150,1 mm to 200 mm — CMC: 1,7 µm"},{"name":"Length","range":"200,1 mm to 280 mm — CMC: 2,1 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego lub metoda porównawcza z zastosowaniem pierścienia wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a horizontal length gauge or comparative method using a gauge ring; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 1 mm do 14 mm — CMC: 0,8 µm\nDługość 14,1 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm\nDługość 50,1 mm do 90 mm — CMC: 1,1 µm\nDługość 90,1 mm do 150 mm — CMC: 1,3 µm\nDługość 150,1 mm do 200 mm — CMC: 1,7 µm\nDługość 200,1 mm do 280 mm — CMC: 2,1 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego lub metoda porównawcza z zastosowaniem pierścienia wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/12","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Pierścienie wzorcowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 1 mm do 14 mm — CMC: 0,8 µm\nDługość 14,1 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm\nDługość 50,1 mm do 90 mm — CMC: 1,1 µm\nDługość 90,1 mm do 150 mm — CMC: 1,3 µm\nDługość 150,1 mm do 200 mm — CMC: 1,7 µm\nDługość 200,1 mm do 280 mm — CMC: 2,1 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego lub metoda porównawcza z zastosowaniem pierścienia wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/12 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące pierścień wzorcowy pierścienia wzorcowego pierścieni wzorcowych Pierscienie wzorcowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 1 mm do 14 mm — CMC: 0,8 µm\nDlugosc 14,1 mm do 50 mm — CMC: 1,0 µm\nDlugosc 50,1 mm do 90 mm — CMC: 1,1 µm\nDlugosc 90,1 mm do 150 mm — CMC: 1,3 µm\nDlugosc 150,1 mm do 200 mm — CMC: 1,7 µm\nDlugosc 200,1 mm do 280 mm — CMC: 2,1 µm\nMetoda bezposrednia za pomoca dlugosciomierza poziomego lub metoda porownawcza z zastosowaniem pierscienia wzorcowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/12 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace pierscien wzorcowy pierscienia wzorcowego pierscieni wzorcowych","search_en":"Gauge rings Calibration — Length Length 1 mm to 14 mm — CMC: 0,8 µm Length 14,1 mm to 50 mm — CMC: 1,0 µm Length 50,1 mm to 90 mm — CMC: 1,1 µm Length 90,1 mm to 150 mm — CMC: 1,3 µm Length 150,1 mm to 200 mm — CMC: 1,7 µm Length 200,1 mm to 280 mm — CMC: 2,1 µm Direct method using a horizontal length gauge or comparative method using a gauge ring; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/12 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory ring gauge ring","categories":["metrology"],"row_index":34,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b0","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Płaskorównoległe płytki interferencyjne","test_object_en":"Plane-parallel interference plates","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Odchyłka od długości nominalnej","range":"do 80 mm — CMC: 1,5 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Deviation from nominal length","range":"up to 80 mm — CMC: 1,5 μm"}],"technique":"Metoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using an optical sensor and gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nOdchyłka od długości nominalnej do 80 mm — CMC: 1,5 μm\nMetoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/19","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Płaskorównoległe płytki interferencyjne Wzorcowanie — Długość\nOdchyłka od długości nominalnej do 80 mm — CMC: 1,5 μm\nMetoda porównawcza za pomocą czujnika optycznego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/19 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące płytka interferencyjna płytki interferencyjnej płytek interferencyjnych Plaskorownolegle plytki interferencyjne Wzorcowanie — Dlugosc\nOdchylka od dlugosci nominalnej do 80 mm — CMC: 1,5 μm\nMetoda porownawcza za pomoca czujnika optycznego oraz plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/19 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace plytka interferencyjna plytki interferencyjnej plytek interferencyjnych","search_en":"Plane-parallel interference plates Calibration — Length Deviation from nominal length up to 80 mm — CMC: 1,5 μm Comparative method using an optical sensor and gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/19 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory plate","categories":["metrology"],"row_index":35,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b1","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Płytki wzorcowe stalowe (klasy 0, 1, 2) i ceramiczne (klasy 1, 2)","test_object_en":"Gauge blocks — steel (class 0, 1, 2) and ceramic (class 1, 2)","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0,5 mm do 100 mm — CMC: Q[0,056; 0,84·L] µm, L – wielkość mierzona w m"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0,5 mm to 100 mm — CMC: Q[0,056; 0,84·L] µm, L – measured value in m"}],"technique":"Metoda porównawcza za pomocą komparatora dwuczujnikowego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using a dual-sensor comparator; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,5 mm do 100 mm — CMC: Q[0,056; 0,84·L] µm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza za pomocą komparatora dwuczujnikowego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/1 w oparciu o PN-EN ISO 3650:2000","norm_bases":["PN-EN ISO 3650:2000"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Płytki wzorcowe stalowe (klasy 0, 1, 2) i ceramiczne (klasy 1, 2) Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,5 mm do 100 mm — CMC: Q[0,056; 0,84·L] µm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza za pomocą komparatora dwuczujnikowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/1 w oparciu o PN-EN ISO 3650:2000 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące płytka wzorcowa płytki wzorcowej płytek wzorcowych płytki Johanssona Plytki wzorcowe stalowe (klasy 0, 1, 2) i ceramiczne (klasy 1, 2) Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0,5 mm do 100 mm — CMC: Q[0,056; 0,84·L] µm, L – wielkosc mierzona w m\nMetoda porownawcza za pomoca komparatora dwuczujnikowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/1 w oparciu o PN-EN ISO 3650:2000 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace plytka wzorcowa plytki wzorcowej plytek wzorcowych plytki Johanssona","search_en":"Gauge blocks — steel (class 0, 1, 2) and ceramic (class 1, 2) Calibration — Length Length 0,5 mm to 100 mm — CMC: Q[0,056; 0,84·L] µm, L – measured value in m Comparative method using a dual-sensor comparator; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/1 w oparciu o PN-EN ISO 3650:2000 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory block clas clas gauge block","categories":["metrology"],"row_index":36,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b2","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Płytki wzorcowe stalowe (klasy 1, 2)","test_object_en":"Gauge blocks — steel (class 1, 2)","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"125 mm do 500 mm — CMC: Q[0,22; 0,54·L] µm, L – wielkość mierzona w m"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"125 mm to 500 mm — CMC: Q[0,22; 0,54·L] µm, L – measured value in m"}],"technique":"Metoda porównawcza za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 125 mm do 500 mm — CMC: Q[0,22; 0,54·L] µm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/40","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Płytki wzorcowe stalowe (klasy 1, 2) Wzorcowanie — Długość\nDługość 125 mm do 500 mm — CMC: Q[0,22; 0,54·L] µm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/40 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące płytka wzorcowa płytki wzorcowej płytek wzorcowych płytki Johanssona Plytki wzorcowe stalowe (klasy 1, 2) Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 125 mm do 500 mm — CMC: Q[0,22; 0,54·L] µm, L – wielkosc mierzona w m\nMetoda porownawcza za pomoca dlugosciomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/40 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace plytka wzorcowa plytki wzorcowej plytek wzorcowych plytki Johanssona","search_en":"Gauge blocks — steel (class 1, 2) Calibration — Length Length 125 mm to 500 mm — CMC: Q[0,22; 0,54·L] µm, L – measured value in m Comparative method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/40 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory block clas gauge block","categories":["metrology"],"row_index":37,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b3","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Przedłużacze do średnicówek mikrometrycznych dwupunktowych","test_object_en":"Extensions for two-point micrometer diameter gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm"},{"name":"Długość","range":"100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm"},{"name":"Długość","range":"200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm"},{"name":"Długość","range":"300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm"},{"name":"Długość","range":"400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 0,7 µm"},{"name":"Length","range":"100 mm to 200 mm — CMC: 2,1 µm"},{"name":"Length","range":"200 mm to 300 mm — CMC: 2,3 µm"},{"name":"Length","range":"300 mm to 400 mm — CMC: 2,7 µm"},{"name":"Length","range":"400 mm to 500 mm — CMC: 3,2 µm"}],"technique":"Metoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Indirect method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm\nDługość 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm\nDługość 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm\nDługość 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm\nDługość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm\nMetoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/39","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Przedłużacze do średnicówek mikrometrycznych dwupunktowych Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm\nDługość 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm\nDługość 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm\nDługość 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm\nDługość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm\nMetoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/39 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące mikrometr mikrometru mikrometrów przedłużacz przedłużacza przedłużaczy Przedluzacze do srednicowek mikrometrycznych dwupunktowych Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm\nDlugosc 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm\nDlugosc 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm\nDlugosc 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm\nDlugosc 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm\nMetoda posrednia za pomoca dlugosciomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/39 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace mikrometr mikrometru mikrometrow przedluzacz przedluzacza przedluzaczy","search_en":"Extensions for two-point micrometer diameter gauges Calibration — Length Length 0 mm to 100 mm — CMC: 0,7 µm Length 100 mm to 200 mm — CMC: 2,1 µm Length 200 mm to 300 mm — CMC: 2,3 µm Length 300 mm to 400 mm — CMC: 2,7 µm Length 400 mm to 500 mm — CMC: 3,2 µm Indirect method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/39 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Extension gauge","categories":["metrology"],"row_index":38,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b4","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Przymiary półsztywne","test_object_en":"Semi-rigid gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 5000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – measured value in m"}],"technique":"Metoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using a rigid gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/24","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Przymiary półsztywne Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/24 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące przymiar półsztywny przymiaru miara składana Przymiary polsztywne Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkosc mierzona w m\nMetoda porownawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/24 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace przymiar polsztywny przymiaru miara skladana","search_en":"Semi-rigid gauges Calibration — Length Length 0 mm to 5000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – measured value in m Comparative method using a rigid gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/24 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":39,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b5","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Przymiary sztywne","test_object_en":"Rigid gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 1500 mm — CMC: Q[0,079; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,1; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 1500 mm — CMC: Q[0,079; 0,006·L] mm, L – measured value in m"},{"name":"Length","range":"0 mm to 5000 mm — CMC: Q[0,1; 0,006·L] mm, L – measured value in m"}],"technique":"Metoda porównawcza z zastosowaniem liniału cyfrowego lub przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using a digital ruler or a rigid gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 1500 mm — CMC: Q[0,079; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nDługość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,1; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza z zastosowaniem liniału cyfrowego lub przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/26","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Przymiary sztywne Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 1500 mm — CMC: Q[0,079; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nDługość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,1; 0,006·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza z zastosowaniem liniału cyfrowego lub przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/26 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące przymiar sztywny przymiaru liniał liniału przymiar kreskowy linijka Przymiary sztywne Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 1500 mm — CMC: Q[0,079; 0,006·L] mm, L – wielkosc mierzona w m\nDlugosc 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,1; 0,006·L] mm, L – wielkosc mierzona w m\nMetoda porownawcza z zastosowaniem linialu cyfrowego lub przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/26 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace przymiar sztywny przymiaru linial linialu przymiar kreskowy linijka","search_en":"Rigid gauges Calibration — Length Length 0 mm to 1500 mm — CMC: Q[0,079; 0,006·L] mm, L – measured value in m Length 0 mm to 5000 mm — CMC: Q[0,1; 0,006·L] mm, L – measured value in m Comparative method using a digital ruler or a rigid gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/26 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":40,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b6","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Przymiary wstęgowe","test_object_en":"Tape gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,09; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m"},{"name":"Długość","range":"5000 mm do 15000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 5000 mm — CMC: Q[0,09; 0,015·L] mm, L – measured value in m"},{"name":"Length","range":"5000 mm to 15000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – measured value in m"}],"technique":"Metoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using a rigid gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,09; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nDługość 5000 mm do 15000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/10","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Przymiary wstęgowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,09; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nDługość 5000 mm do 15000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda porównawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/10 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące taśma miernicza taśmy mierniczej taśm mierniczych miara zwijana przymiar wstęgowy Przymiary wstegowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 5000 mm — CMC: Q[0,09; 0,015·L] mm, L – wielkosc mierzona w m\nDlugosc 5000 mm do 15000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – wielkosc mierzona w m\nMetoda porownawcza z zastosowaniem przymiaru sztywnego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/10 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace tasma miernicza tasmy mierniczej tasm mierniczych miara zwijana przymiar wstegowy","search_en":"Tape gauges Calibration — Length Length 0 mm to 5000 mm — CMC: Q[0,09; 0,015·L] mm, L – measured value in m Length 5000 mm to 15000 mm — CMC: Q[0,16; 0,015·L] mm, L – measured value in m Comparative method using a rigid gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/10 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge measuring tape tape measure","categories":["metrology"],"row_index":41,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b7","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Przyrządy suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe","test_object_en":"Special caliper instruments – weld caliper gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Spoiny na płaszczyźnie","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 0,01 mm"},{"name":"Spoiny w narożach","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 0,02 mm"}],"parameters_en":[{"name":"Joints on a plane","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 0,01 mm"},{"name":"Welds in corners","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 0,02 mm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks and gauge pins; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nSpoiny na płaszczyźnie 0 mm do 10 mm — CMC: 0,01 mm\nSpoiny w narożach 0 mm do 10 mm — CMC: 0,02 mm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/28","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Przyrządy suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nSpoiny na płaszczyźnie 0 mm do 10 mm — CMC: 0,01 mm\nSpoiny w narożach 0 mm do 10 mm — CMC: 0,02 mm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące spoinomierz spoinomierza spoinomierzy suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarkę Przyrzady suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nSpoiny na plaszczyznie 0 mm do 10 mm — CMC: 0,01 mm\nSpoiny w narozach 0 mm do 10 mm — CMC: 0,02 mm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych oraz waleczkow pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace spoinomierz spoinomierza spoinomierzy suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarke","search_en":"Special caliper instruments – weld caliper gauges Calibration — Length Joints on a plane 0 mm to 10 mm — CMC: 0,01 mm Welds in corners 0 mm to 10 mm — CMC: 0,02 mm Direct method using gauge blocks and gauge pins; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/28 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory instrument gauge","categories":["metrology"],"row_index":42,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b8","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Spoinomierze","test_object_en":"Weld gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Wysokość spoin czołowych","range":"0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm"},{"name":"Wysokość spoin pachwinowych","range":"0 mm do 20 mm — CMC: 0,06 mm"},{"name":"Grubość spoin pachwinowych","range":"0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm"},{"name":"Szerokość spoin czołowych","range":"0 mm do 60 mm — CMC: 0,12 mm"},{"name":"Głębokość podcięcia","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 0,028 mm"},{"name":"Szerokość szczeliny","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 0,12 mm"}],"parameters_en":[{"name":"Height of butt welds","range":"0 mm to 15 mm — CMC: 0,06 mm"},{"name":"Height of fillet welds","range":"0 mm to 20 mm — CMC: 0,06 mm"},{"name":"Thickness of fillet welds","range":"0 mm to 15 mm — CMC: 0,06 mm"},{"name":"Width of butt welds","range":"0 mm to 60 mm — CMC: 0,12 mm"},{"name":"Undercut depth","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 0,028 mm"},{"name":"Gap width","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 0,12 mm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks and gauge pins; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nWysokość spoin czołowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm\nWysokość spoin pachwinowych 0 mm do 20 mm — CMC: 0,06 mm\nGrubość spoin pachwinowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm\nSzerokość spoin czołowych 0 mm do 60 mm — CMC: 0,12 mm\nGłębokość podcięcia 0 mm do 10 mm — CMC: 0,028 mm\nSzerokość szczeliny 0 mm do 10 mm — CMC: 0,12 mm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/28","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Spoinomierze Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nWysokość spoin czołowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm\nWysokość spoin pachwinowych 0 mm do 20 mm — CMC: 0,06 mm\nGrubość spoin pachwinowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm\nSzerokość spoin czołowych 0 mm do 60 mm — CMC: 0,12 mm\nGłębokość podcięcia 0 mm do 10 mm — CMC: 0,028 mm\nSzerokość szczeliny 0 mm do 10 mm — CMC: 0,12 mm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych oraz wałeczków pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące spoinomierz spoinomierza spoinomierzy Spoinomierze Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nWysokosc spoin czolowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm\nWysokosc spoin pachwinowych 0 mm do 20 mm — CMC: 0,06 mm\nGrubosc spoin pachwinowych 0 mm do 15 mm — CMC: 0,06 mm\nSzerokosc spoin czolowych 0 mm do 60 mm — CMC: 0,12 mm\nGlebokosc podciecia 0 mm do 10 mm — CMC: 0,028 mm\nSzerokosc szczeliny 0 mm do 10 mm — CMC: 0,12 mm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych oraz waleczkow pomiarowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace spoinomierz spoinomierza spoinomierzy","search_en":"Weld gauges Calibration — Length Height of butt welds 0 mm to 15 mm — CMC: 0,06 mm Height of fillet welds 0 mm to 20 mm — CMC: 0,06 mm Thickness of fillet welds 0 mm to 15 mm — CMC: 0,06 mm Width of butt welds 0 mm to 60 mm — CMC: 0,12 mm Undercut depth 0 mm to 10 mm — CMC: 0,028 mm Gap width 0 mm to 10 mm — CMC: 0,12 mm Direct method using gauge blocks and gauge pins; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/28 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":43,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6b9","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Sprawdziany gwintowe pierścieniowe walcowe","test_object_en":"Cylindrical thread ring gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Średnica podziałowa","range":"3 mm do 90 mm — CMC: 3,2 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Pitch diameter","range":"3 mm to 90 mm — CMC: 3,2 µm"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nŚrednica podziałowa 3 mm do 90 mm — CMC: 3,2 µm\nWzorcowanie w laboratorium","reference":"EURAMET cg-10 v.2.1","norm_bases":["EURAMET cg-10 v.2.1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Sprawdziany gwintowe pierścieniowe walcowe Wzorcowanie — Długość\nŚrednica podziałowa 3 mm do 90 mm — CMC: 3,2 µm\nWzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-10 v.2.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące sprawdzian sprawdzianu sprawdzianów sprawdzian gwintowy sprawdziany do gwintów pierścień gwintowy trzpień gwintowy gwint Sprawdziany gwintowe pierscieniowe walcowe Wzorcowanie — Dlugosc\nSrednica podzialowa 3 mm do 90 mm — CMC: 3,2 µm\nWzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-10 v.2.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace sprawdzian sprawdzianu sprawdzianow sprawdzian gwintowy sprawdziany do gwintow pierscien gwintowy trzpien gwintowy gwint","search_en":"Cylindrical thread ring gauges Calibration — Length Pitch diameter 3 mm to 90 mm — CMC: 3,2 µm Calibration at the laboratory EURAMET cg-10 v.2.1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":44,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ba","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Sprawdziany gwintowe trzpieniowe walcowe","test_object_en":"Cylindrical thread plug gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Średnica podziałowa","range":"1 mm do 100 mm — CMC: 3,3 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Pitch diameter","range":"1 mm to 100 mm — CMC: 3,3 µm"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nŚrednica podziałowa 1 mm do 100 mm — CMC: 3,3 µm\nWzorcowanie w laboratorium","reference":"EURAMET cg-10 v.2.1","norm_bases":["EURAMET cg-10 v.2.1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Sprawdziany gwintowe trzpieniowe walcowe Wzorcowanie — Długość\nŚrednica podziałowa 1 mm do 100 mm — CMC: 3,3 µm\nWzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-10 v.2.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące sprawdzian sprawdzianu sprawdzianów sprawdzian gwintowy sprawdziany do gwintów pierścień gwintowy trzpień gwintowy gwint Sprawdziany gwintowe trzpieniowe walcowe Wzorcowanie — Dlugosc\nSrednica podzialowa 1 mm do 100 mm — CMC: 3,3 µm\nWzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-10 v.2.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace sprawdzian sprawdzianu sprawdzianow sprawdzian gwintowy sprawdziany do gwintow pierscien gwintowy trzpien gwintowy gwint","search_en":"Cylindrical thread plug gauges Calibration — Length Pitch diameter 1 mm to 100 mm — CMC: 3,3 µm Calibration at the laboratory EURAMET cg-10 v.2.1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":45,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6bb","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Sprawdziany specjalne","test_object_en":"Special gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 1 mm — CMC: 2,9 µm"},{"name":"Długość","range":"1 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 250 mm — CMC: 4,1 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 1 mm — CMC: 2,9 µm"},{"name":"Length","range":"1 mm to 100 mm — CMC: 3,4 µm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 250 mm — CMC: 4,1 µm"}],"technique":"Pomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Length measurement using a coordinate optical measuring machine; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 1 mm — CMC: 2,9 µm\nDługość 1 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm\nDługość 0 mm do 250 mm — CMC: 4,1 µm\nPomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/47","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Sprawdziany specjalne Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 1 mm — CMC: 2,9 µm\nDługość 1 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm\nDługość 0 mm do 250 mm — CMC: 4,1 µm\nPomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/47 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące sprawdzian sprawdzianu sprawdzianów Sprawdziany specjalne Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 1 mm — CMC: 2,9 µm\nDlugosc 1 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm\nDlugosc 0 mm do 250 mm — CMC: 4,1 µm\nPomiar dlugosci przy uzyciu wspolrzednosciowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/47 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace sprawdzian sprawdzianu sprawdzianow","search_en":"Special gauges Calibration — Length Length 0 mm to 1 mm — CMC: 2,9 µm Length 1 mm to 100 mm — CMC: 3,4 µm Length 0 mm to 250 mm — CMC: 4,1 µm Length measurement using a coordinate optical measuring machine; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/47 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":46,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6bc","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Sprawdziany stożkowe do otworów","test_object_en":"Taper gauges for holes","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"3 mm do 60 mm — CMC: 6,1 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"3 mm to 60 mm — CMC: 6,1 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a micrometer or gauge rings; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 3 mm do 60 mm — CMC: 6,1 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/44","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Sprawdziany stożkowe do otworów Wzorcowanie — Długość\nDługość 3 mm do 60 mm — CMC: 6,1 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/44 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące sprawdzian sprawdzianu sprawdzianów Sprawdziany stozkowe do otworow Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 3 mm do 60 mm — CMC: 6,1 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca mikrometru lub pierscieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/44 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace sprawdzian sprawdzianu sprawdzianow","search_en":"Taper gauges for holes Calibration — Length Length 3 mm to 60 mm — CMC: 6,1 μm Direct method using a micrometer or gauge rings; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/44 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge hole","categories":["metrology"],"row_index":47,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6bd","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Szczelinomierze klinowe","test_object_en":"Wedge gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0,5 mm do 60 mm — CMC: 6,6 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0,5 mm to 60 mm — CMC: 6,6 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a micrometer or gauge rings; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,5 mm do 60 mm — CMC: 6,6 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/44","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Szczelinomierze klinowe Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,5 mm do 60 mm — CMC: 6,6 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą mikrometru lub pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/44 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące szczelinomierz szczelinomierza szczelinomierzy Szczelinomierze klinowe Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0,5 mm do 60 mm — CMC: 6,6 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca mikrometru lub pierscieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/44 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace szczelinomierz szczelinomierza szczelinomierzy","search_en":"Wedge gauges Calibration — Length Length 0,5 mm to 60 mm — CMC: 6,6 μm Direct method using a micrometer or gauge rings; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/44 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":48,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6be","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Sprawdziany tłoczkowe","test_object_en":"Piston gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 40 mm — CMC: 0,8 μm"},{"name":"Długość","range":"40 mm do 60 mm — CMC: 0,9 μm"},{"name":"Długość","range":"60 mm do 80 mm — CMC: 1,1 μm"},{"name":"Długość","range":"80 mm do 100 mm — CMC: 1,2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 40 mm — CMC: 0,8 μm"},{"name":"Length","range":"40 mm to 60 mm — CMC: 0,9 μm"},{"name":"Length","range":"60 mm to 80 mm — CMC: 1,1 μm"},{"name":"Length","range":"80 mm to 100 mm — CMC: 1,2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 40 mm — CMC: 0,8 μm\nDługość 40 mm do 60 mm — CMC: 0,9 μm\nDługość 60 mm do 80 mm — CMC: 1,1 μm\nDługość 80 mm do 100 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/20","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Sprawdziany tłoczkowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 40 mm — CMC: 0,8 μm\nDługość 40 mm do 60 mm — CMC: 0,9 μm\nDługość 60 mm do 80 mm — CMC: 1,1 μm\nDługość 80 mm do 100 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/20 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące sprawdzian sprawdzianu sprawdzianów Sprawdziany tloczkowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 40 mm — CMC: 0,8 μm\nDlugosc 40 mm do 60 mm — CMC: 0,9 μm\nDlugosc 60 mm do 80 mm — CMC: 1,1 μm\nDlugosc 80 mm do 100 mm — CMC: 1,2 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca dlugosciomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/20 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace sprawdzian sprawdzianu sprawdzianow","search_en":"Piston gauges Calibration — Length Length 0 mm to 40 mm — CMC: 0,8 μm Length 40 mm to 60 mm — CMC: 0,9 μm Length 60 mm to 80 mm — CMC: 1,1 μm Length 80 mm to 100 mm — CMC: 1,2 μm Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/20 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":49,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6bf","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Suwmiarki","test_object_en":"Calipers","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 150 mm — CMC: 8 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 300 mm — CMC: 11 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 600 mm — CMC: 18 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 1000 mm — CMC: 29 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDługość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDługość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nDługość 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_1 w oparciu o PN-EN ISO 13385-1:2019-12","norm_bases":["PN-EN ISO 13385-1:2019-12"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Suwmiarki Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDługość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDługość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nDługość 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_1 w oparciu o PN-EN ISO 13385-1:2019-12 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarkę Suwmiarki Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDlugosc 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDlugosc 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nDlugosc 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/3; procedura wewnetrzna I/D/3_1 w oparciu o PN-EN ISO 13385-1:2019-12 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarke","search_en":"Calipers Calibration — Length Length 0 mm to 150 mm — CMC: 8 μm Length 0 mm to 300 mm — CMC: 11 μm Length 0 mm to 600 mm — CMC: 18 μm Length 0 mm to 1000 mm — CMC: 29 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_1 w oparciu o PN-EN ISO 13385-1:2019-12 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Caliper caliper vernier caliper","categories":["metrology"],"row_index":50,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c0","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Szczelinomierze","test_object_en":"Feeler gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0,005 mm do 2 mm — CMC: 2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0,005 mm to 2 mm — CMC: 2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą czujnika cyfrowego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a digital sensor; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,005 mm do 2 mm — CMC: 2 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą czujnika cyfrowego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/6","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Szczelinomierze Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,005 mm do 2 mm — CMC: 2 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą czujnika cyfrowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/6 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące szczelinomierz szczelinomierza szczelinomierzy Szczelinomierze Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0,005 mm do 2 mm — CMC: 2 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca czujnika cyfrowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/6 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace szczelinomierz szczelinomierza szczelinomierzy","search_en":"Feeler gauges Calibration — Length Length 0,005 mm to 2 mm — CMC: 2 μm Direct method using a digital sensor; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/6 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":51,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c1","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Średnicówki czujnikowe trójpunktowe","test_object_en":"Three-point sensor bore gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"6 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm"},{"name":"Długość","range":"10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Długość","range":"20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm"},{"name":"Długość","range":"40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm"},{"name":"Długość","range":"70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"6 mm to 10 mm — CMC: 2,3 μm"},{"name":"Length","range":"10,1 mm to 20 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Length","range":"20,1 mm to 40 mm — CMC: 3,7 μm"},{"name":"Length","range":"40,1 mm to 70 mm — CMC: 2,7 μm"},{"name":"Length","range":"70,1 mm to 250 mm — CMC: 4,1 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge rings; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 6 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm\nDługość 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm\nDługość 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm\nDługość 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/13","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Średnicówki czujnikowe trójpunktowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 6 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm\nDługość 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm\nDługość 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm\nDługość 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/13 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące średnicówka średnicówki średnicówek Srednicowki czujnikowe trojpunktowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 6 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm\nDlugosc 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm\nDlugosc 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm\nDlugosc 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm\nDlugosc 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem pierscieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/13 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace srednicowka srednicowki srednicowek","search_en":"Three-point sensor bore gauges Calibration — Length Length 6 mm to 10 mm — CMC: 2,3 μm Length 10,1 mm to 20 mm — CMC: 2,5 μm Length 20,1 mm to 40 mm — CMC: 3,7 μm Length 40,1 mm to 70 mm — CMC: 2,7 μm Length 70,1 mm to 250 mm — CMC: 4,1 μm Direct method using gauge rings; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/13 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":52,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c2","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Średnicówki mikrometryczne trójpunktowe","test_object_en":"Three-point micrometer diameter gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"4 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm"},{"name":"Długość","range":"10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Długość","range":"20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm"},{"name":"Długość","range":"40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm"},{"name":"Długość","range":"70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"4 mm to 10 mm — CMC: 2,3 μm"},{"name":"Length","range":"10,1 mm to 20 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Length","range":"20,1 mm to 40 mm — CMC: 3,7 μm"},{"name":"Length","range":"40,1 mm to 70 mm — CMC: 2,7 μm"},{"name":"Length","range":"70,1 mm to 250 mm — CMC: 4,1 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge rings; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 4 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm\nDługość 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm\nDługość 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm\nDługość 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/13","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Średnicówki mikrometryczne trójpunktowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 4 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm\nDługość 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm\nDługość 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm\nDługość 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem pierścieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/13 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące mikrometr mikrometru mikrometrów średnicówka średnicówki średnicówek Srednicowki mikrometryczne trojpunktowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 4 mm do 10 mm — CMC: 2,3 μm\nDlugosc 10,1 mm do 20 mm — CMC: 2,5 μm\nDlugosc 20,1 mm do 40 mm — CMC: 3,7 μm\nDlugosc 40,1 mm do 70 mm — CMC: 2,7 μm\nDlugosc 70,1 mm do 250 mm — CMC: 4,1 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem pierscieni wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/13 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace mikrometr mikrometru mikrometrow srednicowka srednicowki srednicowek","search_en":"Three-point micrometer diameter gauges Calibration — Length Length 4 mm to 10 mm — CMC: 2,3 μm Length 10,1 mm to 20 mm — CMC: 2,5 μm Length 20,1 mm to 40 mm — CMC: 3,7 μm Length 40,1 mm to 70 mm — CMC: 2,7 μm Length 70,1 mm to 250 mm — CMC: 4,1 μm Direct method using gauge rings; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/13 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":53,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c3","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartości działki elementarnej 0,001 mm","test_object_en":"Analog sensor bore gauges with a scale interval of 0,001 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 18 mm — CMC: 1,3 μm"},{"name":"Długość","range":"18 mm do 160 mm — CMC: 3,4 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 18 mm — CMC: 1,3 μm"},{"name":"Length","range":"18 mm to 160 mm — CMC: 3,4 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 1,3 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 3,4 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/5","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartości działki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 1,3 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 3,4 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego średnicówka średnicówki średnicówek Srednicowki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartosci dzialki elementarnej 0,001 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 18 mm — CMC: 1,3 μm\nDlugosc 18 mm do 160 mm — CMC: 3,4 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego srednicowka srednicowki srednicowek","search_en":"Analog sensor bore gauges with a scale interval of 0,001 mm Calibration — Length Length 0 mm to 18 mm — CMC: 1,3 μm Length 18 mm to 160 mm — CMC: 3,4 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/5 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":54,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c4","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartości działki elementarnej 0,01 mm","test_object_en":"Analog sensor bore gauges with a scale interval of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 18 mm — CMC: 3,3 μm"},{"name":"Długość","range":"18 mm do 160 mm — CMC: 4,8 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 18 mm — CMC: 3,3 μm"},{"name":"Length","range":"18 mm to 160 mm — CMC: 4,8 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 3,3 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 4,8 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/5","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartości działki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 3,3 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 4,8 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego średnicówka średnicówki średnicówek Srednicowki czujnikowe z czujnikiem analogowym o wartosci dzialki elementarnej 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 18 mm — CMC: 3,3 μm\nDlugosc 18 mm do 160 mm — CMC: 4,8 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego srednicowka srednicowki srednicowek","search_en":"Analog sensor bore gauges with a scale interval of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 18 mm — CMC: 3,3 μm Length 18 mm to 160 mm — CMC: 4,8 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/5 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":55,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c5","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczości 0,001 mm","test_object_en":"Digital sensor bore gauges with resolution of 0,001 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 18 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Długość","range":"18 mm do 160 mm — CMC: 4,2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 18 mm — CMC: 2,5 μm"},{"name":"Length","range":"18 mm to 160 mm — CMC: 4,2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 4,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/5","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczości 0,001 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 2,5 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 4,2 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego średnicówka średnicówki średnicówek Srednicowki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczosci 0,001 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 18 mm — CMC: 2,5 μm\nDlugosc 18 mm do 160 mm — CMC: 4,2 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego srednicowka srednicowki srednicowek","search_en":"Digital sensor bore gauges with resolution of 0,001 mm Calibration — Length Length 0 mm to 18 mm — CMC: 2,5 μm Length 18 mm to 160 mm — CMC: 4,2 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/5 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":56,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c6","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczości 0,01 mm","test_object_en":"Digital sensor bore gauges with resolution of 0,01 mm","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 18 mm — CMC: 9,2 μm"},{"name":"Długość","range":"18 mm do 160 mm — CMC: 9,7 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 18 mm — CMC: 9,2 μm"},{"name":"Length","range":"18 mm to 160 mm — CMC: 9,7 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 9,2 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 9,7 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/5","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Średnicówki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczości 0,01 mm Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 18 mm — CMC: 9,2 μm\nDługość 18 mm do 160 mm — CMC: 9,7 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego średnicówka średnicówki średnicówek Srednicowki czujnikowe z czujnikiem cyfrowym o rozdzielczosci 0,01 mm Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 18 mm — CMC: 9,2 μm\nDlugosc 18 mm do 160 mm — CMC: 9,7 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego srednicowka srednicowki srednicowek","search_en":"Digital sensor bore gauges with resolution of 0,01 mm Calibration — Length Length 0 mm to 18 mm — CMC: 9,2 μm Length 18 mm to 160 mm — CMC: 9,7 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/5 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":57,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c7","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Średnicówki mikrometryczne dwupunktowe","test_object_en":"Two-point micrometer diameter gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 75 mm — CMC: 1,0 μm"},{"name":"Długość","range":"75 mm do 250 mm — CMC: 2,0 μm"},{"name":"Długość","range":"250 mm do 400 mm — CMC: 3,0 μm"},{"name":"Długość","range":"400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 75 mm — CMC: 1,0 μm"},{"name":"Length","range":"75 mm to 250 mm — CMC: 2,0 μm"},{"name":"Length","range":"250 mm to 400 mm — CMC: 3,0 μm"},{"name":"Length","range":"400 mm to 500 mm — CMC: 3,2 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 75 mm — CMC: 1,0 μm\nDługość 75 mm do 250 mm — CMC: 2,0 μm\nDługość 250 mm do 400 mm — CMC: 3,0 μm\nDługość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/35","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Średnicówki mikrometryczne dwupunktowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 75 mm — CMC: 1,0 μm\nDługość 75 mm do 250 mm — CMC: 2,0 μm\nDługość 250 mm do 400 mm — CMC: 3,0 μm\nDługość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 μm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/35 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące mikrometr mikrometru mikrometrów średnicówka średnicówki średnicówek Srednicowki mikrometryczne dwupunktowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 75 mm — CMC: 1,0 μm\nDlugosc 75 mm do 250 mm — CMC: 2,0 μm\nDlugosc 250 mm do 400 mm — CMC: 3,0 μm\nDlugosc 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 μm\nMetoda bezposrednia za pomoca dlugosciomierza poziomego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/35 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace mikrometr mikrometru mikrometrow srednicowka srednicowki srednicowek","search_en":"Two-point micrometer diameter gauges Calibration — Length Length 0 mm to 75 mm — CMC: 1,0 μm Length 75 mm to 250 mm — CMC: 2,0 μm Length 250 mm to 400 mm — CMC: 3,0 μm Length 400 mm to 500 mm — CMC: 3,2 μm Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/35 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":58,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c8","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Transametry","test_object_en":"Transameters","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 150 mm (zakres czujnika ± 140 µm) — CMC: 0,4 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 150 mm (sensor range ± 140 µm) — CMC: 0,4 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 150 mm (zakres czujnika ± 140 µm) — CMC: 0,4 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/29","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Transametry Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 150 mm (zakres czujnika ± 140 µm) — CMC: 0,4 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/29 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące transametr transametru Transametry Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 150 mm (zakres czujnika ± 140 µm) — CMC: 0,4 µm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/29 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace transametr transametru","search_en":"Transameters Calibration — Length Length 0 mm to 150 mm (sensor range ± 140 µm) — CMC: 0,4 µm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/29 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Transameter","categories":["metrology"],"row_index":59,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6c9","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wałeczki pomiarowe","test_object_en":"Gauge pins","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Wałeczki do gwintów","range":"0,170 mm do 6,350 mm — CMC: 0,3 µm"},{"name":"Wałeczki do kół zębatych","range":"1,7 mm do 17,0 mm — CMC: 0,3 µm"},{"name":"Wałeczki do otworów","range":"0,05 mm do 30 mm — CMC: 0,3 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Gauge pins for threads","range":"0,170 mm to 6,350 mm — CMC: 0,3 µm"},{"name":"Gauge pins for gears","range":"1,7 mm to 17,0 mm — CMC: 0,3 µm"},{"name":"Gauge pins for holes","range":"0,05 mm to 30 mm — CMC: 0,3 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza lub mikrometru laserowego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a horizontal length gauge or a laser micrometer; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nWałeczki do gwintów 0,170 mm do 6,350 mm — CMC: 0,3 µm\nWałeczki do kół zębatych 1,7 mm do 17,0 mm — CMC: 0,3 µm\nWałeczki do otworów 0,05 mm do 30 mm — CMC: 0,3 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza lub mikrometru laserowego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/21","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wałeczki pomiarowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nWałeczki do gwintów 0,170 mm do 6,350 mm — CMC: 0,3 µm\nWałeczki do kół zębatych 1,7 mm do 17,0 mm — CMC: 0,3 µm\nWałeczki do otworów 0,05 mm do 30 mm — CMC: 0,3 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza lub mikrometru laserowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/21 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące wałeczek pomiarowy wałeczka wałeczków Waleczki pomiarowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nWaleczki do gwintow 0,170 mm do 6,350 mm — CMC: 0,3 µm\nWaleczki do kol zebatych 1,7 mm do 17,0 mm — CMC: 0,3 µm\nWaleczki do otworow 0,05 mm do 30 mm — CMC: 0,3 µm\nMetoda bezposrednia za pomoca dlugosciomierza lub mikrometru laserowego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/21 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace waleczek pomiarowy waleczka waleczkow","search_en":"Gauge pins Calibration — Length Gauge pins for threads 0,170 mm to 6,350 mm — CMC: 0,3 µm Gauge pins for gears 1,7 mm to 17,0 mm — CMC: 0,3 µm Gauge pins for holes 0,05 mm to 30 mm — CMC: 0,3 µm Direct method using a horizontal length gauge or a laser micrometer; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/21 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory pin","categories":["metrology"],"row_index":60,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ca","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wysokościomierze cyfrowe","test_object_en":"Digital height gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 1000 mm — CMC: (2 + 3·L) µm, L – wielkość mierzona w m"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 1000 mm — CMC: (2 + 3·L) µm, L – measured value in m"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 1000 mm — CMC: (2 + 3·L) µm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/41","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wysokościomierze cyfrowe Wzorcowanie — Długość\nDługość 0 mm do 1000 mm — CMC: (2 + 3·L) µm, L – wielkość mierzona w m\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/41 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące wysokościomierz wysokościomierza wysokościomierzy Wysokosciomierze cyfrowe Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0 mm do 1000 mm — CMC: (2 + 3·L) µm, L – wielkosc mierzona w m\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/D/41 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace wysokosciomierz wysokosciomierza wysokosciomierzy","search_en":"Digital height gauges Calibration — Length Length 0 mm to 1000 mm — CMC: (2 + 3·L) µm, L – measured value in m Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/D/41 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":61,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6cb","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wysokościomierze suwmiarkowe","test_object_en":"Caliper height gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 150 mm — CMC: 8 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 300 mm — CMC: 11 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 600 mm — CMC: 18 μm"},{"name":"Length","range":"0 mm to 1000 mm — CMC: 29 μm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDługość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDługość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nDługość 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_3 w oparciu o PN-EN ISO 13225:2012","norm_bases":["PN-EN ISO 13225:2012"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wysokościomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDługość 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDługość 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nDługość 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_3 w oparciu o PN-EN ISO 13225:2012 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarkę wysokościomierz wysokościomierza wysokościomierzy Wysokosciomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 150 mm — CMC: 8 μm\nDlugosc 0 mm do 300 mm — CMC: 11 μm\nDlugosc 0 mm do 600 mm — CMC: 18 μm\nDlugosc 0 mm do 1000 mm — CMC: 29 μm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/3; procedura wewnetrzna I/D/3_3 w oparciu o PN-EN ISO 13225:2012 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarke wysokosciomierz wysokosciomierza wysokosciomierzy","search_en":"Caliper height gauges Calibration — Length Length 0 mm to 150 mm — CMC: 8 μm Length 0 mm to 300 mm — CMC: 11 μm Length 0 mm to 600 mm — CMC: 18 μm Length 0 mm to 1000 mm — CMC: 29 μm Direct method using gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/3; procedura wewnętrzna I/D/3_3 w oparciu o PN-EN ISO 13225:2012 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":62,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6cc","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wzorce łuków kołowych","test_object_en":"Circular arc gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0,1 mm do 25 mm — CMC: 3,0 µm"},{"name":"Długość","range":"25 mm do 50 mm — CMC: 3,2 µm"},{"name":"Długość","range":"50 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0,1 mm to 25 mm — CMC: 3,0 µm"},{"name":"Length","range":"25 mm to 50 mm — CMC: 3,2 µm"},{"name":"Length","range":"50 mm to 100 mm — CMC: 3,4 µm"}],"technique":"Pomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Length measurement using a coordinate optical measuring machine; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0,1 mm do 25 mm — CMC: 3,0 µm\nDługość 25 mm do 50 mm — CMC: 3,2 µm\nDługość 50 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm\nPomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/45","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wzorce łuków kołowych Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0,1 mm do 25 mm — CMC: 3,0 µm\nDługość 25 mm do 50 mm — CMC: 3,2 µm\nDługość 50 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm\nPomiar długości przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/45 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące wzorzec łuku promieniomierz promieniomierza Wzorce lukow kolowych Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0,1 mm do 25 mm — CMC: 3,0 µm\nDlugosc 25 mm do 50 mm — CMC: 3,2 µm\nDlugosc 50 mm do 100 mm — CMC: 3,4 µm\nPomiar dlugosci przy uzyciu wspolrzednosciowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/45 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace wzorzec luku promieniomierz promieniomierza","search_en":"Circular arc gauges Calibration — Length Length 0,1 mm to 25 mm — CMC: 3,0 µm Length 25 mm to 50 mm — CMC: 3,2 µm Length 50 mm to 100 mm — CMC: 3,4 µm Length measurement using a coordinate optical measuring machine; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/45 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":63,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6cd","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wzorce nastawcze do wymiarów zewnętrznych","test_object_en":"Adjustment standards for external dimensions","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm"},{"name":"Długość","range":"100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm"},{"name":"Długość","range":"200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm"},{"name":"Długość","range":"300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm"},{"name":"Długość","range":"400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0 mm to 100 mm — CMC: 0,7 µm"},{"name":"Length","range":"100 mm to 200 mm — CMC: 2,1 µm"},{"name":"Length","range":"200 mm to 300 mm — CMC: 2,3 µm"},{"name":"Length","range":"300 mm to 400 mm — CMC: 2,7 µm"},{"name":"Length","range":"400 mm to 500 mm — CMC: 3,2 µm"}],"technique":"Metoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Indirect method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm\nDługość 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm\nDługość 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm\nDługość 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm\nDługość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm\nMetoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/34","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wzorce nastawcze do wymiarów zewnętrznych Wzorcowanie — Długość\nZakres:\nDługość 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm\nDługość 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm\nDługość 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm\nDługość 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm\nDługość 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm\nMetoda pośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/34 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące wzorzec nastawczy wzorca nastawczego Wzorce nastawcze do wymiarow zewnetrznych Wzorcowanie — Dlugosc\nZakres:\nDlugosc 0 mm do 100 mm — CMC: 0,7 µm\nDlugosc 100 mm do 200 mm — CMC: 2,1 µm\nDlugosc 200 mm do 300 mm — CMC: 2,3 µm\nDlugosc 300 mm do 400 mm — CMC: 2,7 µm\nDlugosc 400 mm do 500 mm — CMC: 3,2 µm\nMetoda posrednia za pomoca dlugosciomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/34 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace wzorzec nastawczy wzorca nastawczego","search_en":"Adjustment standards for external dimensions Calibration — Length Length 0 mm to 100 mm — CMC: 0,7 µm Length 100 mm to 200 mm — CMC: 2,1 µm Length 200 mm to 300 mm — CMC: 2,3 µm Length 300 mm to 400 mm — CMC: 2,7 µm Length 400 mm to 500 mm — CMC: 3,2 µm Indirect method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/34 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory standard dimension","categories":["metrology"],"row_index":64,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ce","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wzorce schodkowe do grubościomierzy ultradźwiękowych","test_object_en":"Step blocks for ultrasonic thickness gauges","methodology":"Wzorcowanie — Długość","methodology_en":"Calibration — Length","parameters":[{"name":"Długość","range":"0,5 mm do 100 mm — CMC: 3 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Length","range":"0,5 mm to 100 mm — CMC: 3 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/32","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wzorce schodkowe do grubościomierzy ultradźwiękowych Wzorcowanie — Długość\nDługość 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3 µm\nMetoda bezpośrednia za pomocą długościomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/32 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące grubościomierz grubościomierza grubościomierzy wzorzec schodkowy wzorca schodkowego Wzorce schodkowe do grubosciomierzy ultradzwiekowych Wzorcowanie — Dlugosc\nDlugosc 0,5 mm do 100 mm — CMC: 3 µm\nMetoda bezposrednia za pomoca dlugosciomierza; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/32 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace grubosciomierz grubosciomierza grubosciomierzy wzorzec schodkowy wzorca schodkowego","search_en":"Step blocks for ultrasonic thickness gauges Calibration — Length Length 0,5 mm to 100 mm — CMC: 3 µm Direct method using a horizontal length gauge; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/32 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory block thicknes gauge","categories":["metrology"],"row_index":65,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6cf","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kątomierze cyfrowe","test_object_en":"Digital protractors","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt","range":"0° do 360° — CMC: 1,2ʹ"}],"parameters_en":[{"name":"Angle","range":"0° to 360° — CMC: 1,2ʹ"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using angle plates; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nKąt 0° do 360° — CMC: 1,2ʹ\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/9","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kątomierze cyfrowe Wzorcowanie — Kąt\nKąt 0° do 360° — CMC: 1,2ʹ\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/9 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kątomierz kątomierza kątomierzy Katomierze cyfrowe Wzorcowanie — Kat\nKat 0° do 360° — CMC: 1,2ʹ\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek katowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/9 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace katomierz katomierza katomierzy","search_en":"Digital protractors Calibration — Angle Angle 0° to 360° — CMC: 1,2ʹ Direct method using angle plates; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/9 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory protractor","categories":["metrology"],"row_index":66,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d0","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kątomierze uniwersalne","test_object_en":"Universal protractors","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt","range":"(4 x 90)° — CMC: 3ʹ"},{"name":"Kąt","range":"0° do 360° — CMC: 3ʹ"}],"parameters_en":[{"name":"Angle","range":"(4 x 90)° — CMC: 3ʹ"},{"name":"Angle","range":"0° to 360° — CMC: 3ʹ"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using angle plates; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nZakres:\nKąt (4 x 90)° — CMC: 3ʹ\nKąt 0° do 360° — CMC: 3ʹ\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/9","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kątomierze uniwersalne Wzorcowanie — Kąt\nZakres:\nKąt (4 x 90)° — CMC: 3ʹ\nKąt 0° do 360° — CMC: 3ʹ\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/9 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kątomierz kątomierza kątomierzy Katomierze uniwersalne Wzorcowanie — Kat\nZakres:\nKat (4 x 90)° — CMC: 3ʹ\nKat 0° do 360° — CMC: 3ʹ\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek katowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/9 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace katomierz katomierza katomierzy","search_en":"Universal protractors Calibration — Angle Angle (4 x 90)° — CMC: 3ʹ Angle 0° to 360° — CMC: 3ʹ Direct method using angle plates; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/9 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory protractor","categories":["metrology"],"row_index":67,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d1","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kątomierze traserskie","test_object_en":"Marking protractors","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt","range":"(4 x 90)° — CMC: 3ʹ"},{"name":"Kąt","range":"0° do 360° — CMC: 3ʹ"}],"parameters_en":[{"name":"Angle","range":"(4 x 90)° — CMC: 3ʹ"},{"name":"Angle","range":"0° to 360° — CMC: 3ʹ"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using angle plates; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nZakres:\nKąt (4 x 90)° — CMC: 3ʹ\nKąt 0° do 360° — CMC: 3ʹ\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/9","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kątomierze traserskie Wzorcowanie — Kąt\nZakres:\nKąt (4 x 90)° — CMC: 3ʹ\nKąt 0° do 360° — CMC: 3ʹ\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/9 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kątomierz kątomierza kątomierzy Katomierze traserskie Wzorcowanie — Kat\nZakres:\nKat (4 x 90)° — CMC: 3ʹ\nKat 0° do 360° — CMC: 3ʹ\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek katowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/9 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace katomierz katomierza katomierzy","search_en":"Marking protractors Calibration — Angle Angle (4 x 90)° — CMC: 3ʹ Angle 0° to 360° — CMC: 3ʹ Direct method using angle plates; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/9 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory protractor","categories":["metrology"],"row_index":68,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d2","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kątowniki 90° dwuramienne","test_object_en":"90° double-arm angle plates","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt","range":"długość ramienia 40 mm do 500 mm — CMC: 5 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Angle","range":"arm length 40 mm to 500 mm — CMC: 5 μm"}],"technique":"Metoda pośrednia z zastosowaniem kątownika walcowego i płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Indirect method using a cylindrical angle gauge and gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nKąt długość ramienia 40 mm do 500 mm — CMC: 5 μm\nMetoda pośrednia z zastosowaniem kątownika walcowego i płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/8","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kątowniki 90° dwuramienne Wzorcowanie — Kąt\nKąt długość ramienia 40 mm do 500 mm — CMC: 5 μm\nMetoda pośrednia z zastosowaniem kątownika walcowego i płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/8 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kątownik kątownika kątowników Katowniki 90° dwuramienne Wzorcowanie — Kat\nKat dlugosc ramienia 40 mm do 500 mm — CMC: 5 μm\nMetoda posrednia z zastosowaniem katownika walcowego i plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/8 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace katownik katownika katownikow","search_en":"90° double-arm angle plates Calibration — Angle Angle arm length 40 mm to 500 mm — CMC: 5 μm Indirect method using a cylindrical angle gauge and gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/8 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory plate","categories":["metrology"],"row_index":69,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d3","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Poziomnice cyfrowe","test_object_en":"Digital spirit levels","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt","range":"± 90° — CMC: 0,05°"}],"parameters_en":[{"name":"Angle","range":"± 90° — CMC: 0,05°"}],"technique":"Metoda pośrednia z zastosowaniem liniału sinusowego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Indirect method using a sin bar and gauge blocks; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nKąt ± 90° — CMC: 0,05°\nMetoda pośrednia z zastosowaniem liniału sinusowego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/33","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Poziomnice cyfrowe Wzorcowanie — Kąt\nKąt ± 90° — CMC: 0,05°\nMetoda pośrednia z zastosowaniem liniału sinusowego oraz płytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/33 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące poziomnica poziomnicy poziomnic libella Poziomnice cyfrowe Wzorcowanie — Kat\nKat ± 90° — CMC: 0,05°\nMetoda posrednia z zastosowaniem linialu sinusowego oraz plytek wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/33 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace poziomnica poziomnicy poziomnic libella","search_en":"Digital spirit levels Calibration — Angle Angle ± 90° — CMC: 0,05° Indirect method using a sin bar and gauge blocks; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/33 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory level","categories":["metrology"],"row_index":70,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d4","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Poziomnice liniałowe","test_object_en":"Ruler levels","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Błąd wartości działki elementarnej","range":"0 mm/m do 1 mm/m — CMC: 0,0033 mm/m"},{"name":"Błąd ustawienia wskazania zerowego","range":"CMC: 0,14 działki elementarnej"}],"parameters_en":[{"name":"Error in the scale interval","range":"0 mm/m to 1 mm/m — CMC: 0,0033 mm/m"},{"name":"Zero setting error","range":"CMC: 0,14 scale division"}],"technique":"Metoda porównawcza z zastosowaniem poziomnicy cyfrowej; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Comparative method using a digital level; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nZakres:\nBłąd wartości działki elementarnej 0 mm/m do 1 mm/m — CMC: 0,0033 mm/m\nBłąd ustawienia wskazania zerowego CMC: 0,14 działki elementarnej\nMetoda porównawcza z zastosowaniem poziomnicy cyfrowej; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/27","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Poziomnice liniałowe Wzorcowanie — Kąt\nZakres:\nBłąd wartości działki elementarnej 0 mm/m do 1 mm/m — CMC: 0,0033 mm/m\nBłąd ustawienia wskazania zerowego CMC: 0,14 działki elementarnej\nMetoda porównawcza z zastosowaniem poziomnicy cyfrowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/27 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące poziomnica poziomnicy poziomnic libella Poziomnice linialowe Wzorcowanie — Kat\nZakres:\nBlad wartosci dzialki elementarnej 0 mm/m do 1 mm/m — CMC: 0,0033 mm/m\nBlad ustawienia wskazania zerowego CMC: 0,14 dzialki elementarnej\nMetoda porownawcza z zastosowaniem poziomnicy cyfrowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/27 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace poziomnica poziomnicy poziomnic libella","search_en":"Ruler levels Calibration — Angle Error in the scale interval 0 mm/m to 1 mm/m — CMC: 0,0033 mm/m Zero setting error CMC: 0,14 scale division Comparative method using a digital level; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/27 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory level","categories":["metrology"],"row_index":71,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d5","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Przyrządy suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe","test_object_en":"Special caliper instruments – weld gauges","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt spoinomierza","range":"0° do 160° — CMC: 3,3ʹ"}],"parameters_en":[{"name":"Weld gauge angle","range":"0° to 160° — CMC: 3,3ʹ"}],"technique":"Metoda bezpośrednia za pomocą kątomierza uniwersalnego; pomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using a universal protractor; angle measurement using an optical coordinate measuring machine; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nKąt spoinomierza 0° do 160° — CMC: 3,3ʹ\nMetoda bezpośrednia za pomocą kątomierza uniwersalnego; pomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/28","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Przyrządy suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Kąt\nKąt spoinomierza 0° do 160° — CMC: 3,3ʹ\nMetoda bezpośrednia za pomocą kątomierza uniwersalnego; pomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące spoinomierz spoinomierza spoinomierzy suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarkę Przyrzady suwmiarkowe specjalne – spoinomierze suwmiarkowe Wzorcowanie — Kat\nKat spoinomierza 0° do 160° — CMC: 3,3ʹ\nMetoda bezposrednia za pomoca katomierza uniwersalnego; pomiar kata przy uzyciu wspolrzednosciowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace spoinomierz spoinomierza spoinomierzy suwmiarka suwmiarki suwmiarek suwmiarke","search_en":"Special caliper instruments – weld gauges Calibration — Angle Weld gauge angle 0° to 160° — CMC: 3,3ʹ Direct method using a universal protractor; angle measurement using an optical coordinate measuring machine; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/28 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory instrument gauge","categories":["metrology"],"row_index":72,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d6","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Spoinomierze","test_object_en":"Weld gauges","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt ukosowania","range":"0° do 160° — CMC: 0,58°"}],"parameters_en":[{"name":"Bevel angle","range":"0° to 160° — CMC: 0,58°"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method using angle plates; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nKąt ukosowania 0° do 160° — CMC: 0,58°\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/28","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Spoinomierze Wzorcowanie — Kąt\nKąt ukosowania 0° do 160° — CMC: 0,58°\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem płytek kątowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące spoinomierz spoinomierza spoinomierzy Spoinomierze Wzorcowanie — Kat\nKat ukosowania 0° do 160° — CMC: 0,58°\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem plytek katowych; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/28 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace spoinomierz spoinomierza spoinomierzy","search_en":"Weld gauges Calibration — Angle Bevel angle 0° to 160° — CMC: 0,58° Direct method using angle plates; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/28 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":73,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d7","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Sprawdziany specjalne","test_object_en":"Special gauges","methodology":"Wzorcowanie — Kąt","methodology_en":"Calibration — Angle","parameters":[{"name":"Kąt","range":"0° do 360° — CMC: 0°15ʹ"}],"parameters_en":[{"name":"Angle","range":"0° to 360° — CMC: 0°15ʹ"}],"technique":"Pomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Angle measurement using a coordinate optical measuring machine; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Kąt\nKąt 0° do 360° — CMC: 0°15ʹ\nPomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/47","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Sprawdziany specjalne Wzorcowanie — Kąt\nKąt 0° do 360° — CMC: 0°15ʹ\nPomiar kąta przy użyciu współrzędnościowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/47 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące sprawdzian sprawdzianu sprawdzianów Sprawdziany specjalne Wzorcowanie — Kat\nKat 0° do 360° — CMC: 0°15ʹ\nPomiar kata przy uzyciu wspolrzednosciowej optycznej maszyny pomiarowej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/47 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace sprawdzian sprawdzianu sprawdzianow","search_en":"Special gauges Calibration — Angle Angle 0° to 360° — CMC: 0°15ʹ Angle measurement using a coordinate optical measuring machine; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/47 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge","categories":["metrology"],"row_index":74,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d8","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Płaskie płytki interferencyjne","test_object_en":"Flat interference plates","methodology":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)","methodology_en":"Calibration — Length (surface geometry)","parameters":[{"name":"Odchyłka płaskości","range":"Ø do 100 mm — CMC: 0,04 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Flatness deviation","range":"Ø up to 100 mm — CMC: 0,04 μm"}],"technique":"Metoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Indirect method using a flat interference plate; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nOdchyłka płaskości Ø do 100 mm — CMC: 0,04 μm\nMetoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/7","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Płaskie płytki interferencyjne Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nOdchyłka płaskości Ø do 100 mm — CMC: 0,04 μm\nMetoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/7 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące płytka interferencyjna płytki interferencyjnej płytek interferencyjnych Plaskie plytki interferencyjne Wzorcowanie — Dlugosc (geometria powierzchni)\nOdchylka plaskosci Ø do 100 mm — CMC: 0,04 μm\nMetoda posrednia z zastosowaniem plaskiej plytki interferencyjnej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/7 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace plytka interferencyjna plytki interferencyjnej plytek interferencyjnych","search_en":"Flat interference plates Calibration — Length (surface geometry) Flatness deviation Ø up to 100 mm — CMC: 0,04 μm Indirect method using a flat interference plate; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/7 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory plate","categories":["metrology"],"row_index":75,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6d9","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Płaskorównoległe płytki interferencyjne","test_object_en":"Plane-parallel interference plates","methodology":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)","methodology_en":"Calibration — Length (surface geometry)","parameters":[{"name":"Odchyłka płaskości","range":"długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,06 μm"},{"name":"Odchyłka równoległości","range":"długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,26 μm"}],"parameters_en":[{"name":"Flatness deviation","range":"plate length from 11 mm to 80 mm — CMC: 0,06 μm"},{"name":"Parallelism deviation","range":"plate length from 11 mm to 80 mm — CMC: 0,26 μm"}],"technique":"Metoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej oraz za pomocą czujnika optycznego; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Indirect method using a flat interference plate and an optical sensor; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nZakres:\nOdchyłka płaskości długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,06 μm\nOdchyłka równoległości długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,26 μm\nMetoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej oraz za pomocą czujnika optycznego; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/19","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Płaskorównoległe płytki interferencyjne Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nZakres:\nOdchyłka płaskości długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,06 μm\nOdchyłka równoległości długość płytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,26 μm\nMetoda pośrednia z zastosowaniem płaskiej płytki interferencyjnej oraz za pomocą czujnika optycznego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/D/19 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące płytka interferencyjna płytki interferencyjnej płytek interferencyjnych Plaskorownolegle plytki interferencyjne Wzorcowanie — Dlugosc (geometria powierzchni)\nZakres:\nOdchylka plaskosci dlugosc plytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,06 μm\nOdchylka rownoleglosci dlugosc plytki od 11 mm do 80 mm — CMC: 0,26 μm\nMetoda posrednia z zastosowaniem plaskiej plytki interferencyjnej oraz za pomoca czujnika optycznego; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/D/19 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace plytka interferencyjna plytki interferencyjnej plytek interferencyjnych","search_en":"Plane-parallel interference plates Calibration — Length (surface geometry) Flatness deviation plate length from 11 mm to 80 mm — CMC: 0,06 μm Parallelism deviation plate length from 11 mm to 80 mm — CMC: 0,26 μm Indirect method using a flat interference plate and an optical sensor; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/D/19 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory plate","categories":["metrology"],"row_index":76,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6da","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Płyty pomiarowe","test_object_en":"Measuring plates","methodology":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)","methodology_en":"Calibration — Length (surface geometry)","parameters":[{"name":"Odchylenie od płaskości","range":"200 x 200 mm do 630 x 400 mm — CMC: 1,5 µm"},{"name":"Odchylenie od płaskości","range":"1000 x 630 mm do 2500 x 1600 mm — CMC: 3,1 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Flatness deviation","range":"200 x 200 mm to 630 x 400 mm — CMC: 1,5 µm"},{"name":"Flatness deviation","range":"1000 x 630 mm to 2500 x 1600 mm — CMC: 3,1 µm"}],"technique":"Metoda pośrednia za pomocą poziomnic różnicowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Indirect method using differential levels; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nZakres:\nOdchylenie od płaskości 200 x 200 mm do 630 x 400 mm — CMC: 1,5 µm\nOdchylenie od płaskości 1000 x 630 mm do 2500 x 1600 mm — CMC: 3,1 µm\nMetoda pośrednia za pomocą poziomnic różnicowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/30","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Płyty pomiarowe Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nZakres:\nOdchylenie od płaskości 200 x 200 mm do 630 x 400 mm — CMC: 1,5 µm\nOdchylenie od płaskości 1000 x 630 mm do 2500 x 1600 mm — CMC: 3,1 µm\nMetoda pośrednia za pomocą poziomnic różnicowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/30 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące płyta pomiarowa płyty pomiarowej płyt pomiarowych płyta traserska Plyty pomiarowe Wzorcowanie — Dlugosc (geometria powierzchni)\nZakres:\nOdchylenie od plaskosci 200 x 200 mm do 630 x 400 mm — CMC: 1,5 µm\nOdchylenie od plaskosci 1000 x 630 mm do 2500 x 1600 mm — CMC: 3,1 µm\nMetoda posrednia za pomoca poziomnic roznicowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/D/30 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace plyta pomiarowa plyty pomiarowej plyt pomiarowych plyta traserska","search_en":"Measuring plates Calibration — Length (surface geometry) Flatness deviation 200 x 200 mm to 630 x 400 mm — CMC: 1,5 µm Flatness deviation 1000 x 630 mm to 2500 x 1600 mm — CMC: 3,1 µm Indirect method using differential levels; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/D/30 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory plate","categories":["metrology"],"row_index":77,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6db","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Profilometry stykowe","test_object_en":"Contact profilometers","methodology":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)","methodology_en":"Calibration — Length (surface geometry)","parameters":[{"name":"Pt","range":"0 µm do 12,03 µm — CMC: 0,056 µm"},{"name":"Pt","range":"0 µm do 0,062 µm — CMC: 0,008 µm"},{"name":"Pt","range":"0 µm do 0,300 µm — CMC: 0,010 µm"},{"name":"Pt","range":"0 µm do 0,574 µm — CMC: 0,010 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm do 0,66 µm — CMC: 0,030 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm do 0,96 µm — CMC: 0,048 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm do 2,77 µm — CMC: 0,143 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm do 0,93 µm — CMC: 0,028 µm"},{"name":"Rz","range":"0 µm do 3,010 µm — CMC: 0,191 µm"},{"name":"Rz","range":"0 µm do 9,67 µm — CMC: 0,520 µm"},{"name":"Rmax","range":"0 µm do 3,02 µm — CMC: 0,092 µm"}],"parameters_en":[{"name":"Pt","range":"0 µm to 12,03 µm — CMC: 0,056 µm"},{"name":"Pt","range":"0 µm to 0,062 µm — CMC: 0,008 µm"},{"name":"Pt","range":"0 µm to 0,300 µm — CMC: 0,010 µm"},{"name":"Pt","range":"0 µm to 0,574 µm — CMC: 0,010 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm to 0,66 µm — CMC: 0,030 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm to 0,96 µm — CMC: 0,048 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm to 2,77 µm — CMC: 0,143 µm"},{"name":"Ra","range":"0 µm to 0,93 µm — CMC: 0,028 µm"},{"name":"Rz","range":"0 µm to 3,010 µm — CMC: 0,191 µm"},{"name":"Rz","range":"0 µm to 9,67 µm — CMC: 0,520 µm"},{"name":"Rmax","range":"0 µm to 3,02 µm — CMC: 0,092 µm"}],"technique":"Metoda bezpośrednia z zastosowaniem wzorców chropowatości; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Direct method using roughness gauges; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nZakres:\nPt 0 µm do 12,03 µm — CMC: 0,056 µm\nPt 0 µm do 0,062 µm — CMC: 0,008 µm\nPt 0 µm do 0,300 µm — CMC: 0,010 µm\nPt 0 µm do 0,574 µm — CMC: 0,010 µm\nRa 0 µm do 0,66 µm — CMC: 0,030 µm\nRa 0 µm do 0,96 µm — CMC: 0,048 µm\nRa 0 µm do 2,77 µm — CMC: 0,143 µm\nRa 0 µm do 0,93 µm — CMC: 0,028 µm\nRz 0 µm do 3,010 µm — CMC: 0,191 µm\nRz 0 µm do 9,67 µm — CMC: 0,520 µm\nRmax 0 µm do 3,02 µm — CMC: 0,092 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem wzorców chropowatości; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/D/42","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Profilometry stykowe Wzorcowanie — Długość (geometria powierzchni)\nZakres:\nPt 0 µm do 12,03 µm — CMC: 0,056 µm\nPt 0 µm do 0,062 µm — CMC: 0,008 µm\nPt 0 µm do 0,300 µm — CMC: 0,010 µm\nPt 0 µm do 0,574 µm — CMC: 0,010 µm\nRa 0 µm do 0,66 µm — CMC: 0,030 µm\nRa 0 µm do 0,96 µm — CMC: 0,048 µm\nRa 0 µm do 2,77 µm — CMC: 0,143 µm\nRa 0 µm do 0,93 µm — CMC: 0,028 µm\nRz 0 µm do 3,010 µm — CMC: 0,191 µm\nRz 0 µm do 9,67 µm — CMC: 0,520 µm\nRmax 0 µm do 3,02 µm — CMC: 0,092 µm\nMetoda bezpośrednia z zastosowaniem wzorców chropowatości; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/D/42 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące profilometr profilometru chropowatość chropowatości chropowatościomierz Profilometry stykowe Wzorcowanie — Dlugosc (geometria powierzchni)\nZakres:\nPt 0 µm do 12,03 µm — CMC: 0,056 µm\nPt 0 µm do 0,062 µm — CMC: 0,008 µm\nPt 0 µm do 0,300 µm — CMC: 0,010 µm\nPt 0 µm do 0,574 µm — CMC: 0,010 µm\nRa 0 µm do 0,66 µm — CMC: 0,030 µm\nRa 0 µm do 0,96 µm — CMC: 0,048 µm\nRa 0 µm do 2,77 µm — CMC: 0,143 µm\nRa 0 µm do 0,93 µm — CMC: 0,028 µm\nRz 0 µm do 3,010 µm — CMC: 0,191 µm\nRz 0 µm do 9,67 µm — CMC: 0,520 µm\nRmax 0 µm do 3,02 µm — CMC: 0,092 µm\nMetoda bezposrednia z zastosowaniem wzorcow chropowatosci; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/D/42 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace profilometr profilometru chropowatosc chropowatosci chropowatosciomierz","search_en":"Contact profilometers Calibration — Length (surface geometry) Pt 0 µm to 12,03 µm — CMC: 0,056 µm Pt 0 µm to 0,062 µm — CMC: 0,008 µm Pt 0 µm to 0,300 µm — CMC: 0,010 µm Pt 0 µm to 0,574 µm — CMC: 0,010 µm Ra 0 µm to 0,66 µm — CMC: 0,030 µm Ra 0 µm to 0,96 µm — CMC: 0,048 µm Ra 0 µm to 2,77 µm — CMC: 0,143 µm Ra 0 µm to 0,93 µm — CMC: 0,028 µm Rz 0 µm to 3,010 µm — CMC: 0,191 µm Rz 0 µm to 9,67 µm — CMC: 0,520 µm Rmax 0 µm to 3,02 µm — CMC: 0,092 µm Direct method using roughness gauges; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/D/42 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory profilometer","categories":["metrology"],"row_index":78,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6dc","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Analog and digital voltage meters, multimeters, meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Napięcie DC","methodology_en":"Calibration — DC voltage","parameters":[{"name":"Napięcie DC","range":"0 mV do 60,0 mV — CMC: 0,0036 mV"},{"name":"Napięcie DC","range":"60 mV do 200 mV — CMC: 0,0062 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"0,2 V do 4,0 V — CMC: 0,0035 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"4 V do 20 V — CMC: 0,0020 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"20 V do 1000 V — CMC: 0,0035 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC voltage","range":"0 mV to 60,0 mV — CMC: 0,0036 mV"},{"name":"DC voltage","range":"60 mV to 200 mV — CMC: 0,0062 %"},{"name":"DC voltage","range":"0,2 V to 4,0 V — CMC: 0,0035 %"},{"name":"DC voltage","range":"4 V to 20 V — CMC: 0,0020 %"},{"name":"DC voltage","range":"20 V to 1000 V — CMC: 0,0035 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 0 mV do 60,0 mV — CMC: 0,0036 mV\nNapięcie DC 60 mV do 200 mV — CMC: 0,0062 %\nNapięcie DC 0,2 V do 4,0 V — CMC: 0,0035 %\nNapięcie DC 4 V do 20 V — CMC: 0,0020 %\nNapięcie DC 20 V do 1000 V — CMC: 0,0035 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 0 mV do 60,0 mV — CMC: 0,0036 mV\nNapięcie DC 60 mV do 200 mV — CMC: 0,0062 %\nNapięcie DC 0,2 V do 4,0 V — CMC: 0,0035 %\nNapięcie DC 4 V do 20 V — CMC: 0,0020 %\nNapięcie DC 20 V do 1000 V — CMC: 0,0035 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik napięcia miernika napięcia woltomierz woltomierza woltomierzy multimetr multimetru multimetrów miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji Mierniki napiecia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Napiecie DC\nZakres:\nNapiecie DC 0 mV do 60,0 mV — CMC: 0,0036 mV\nNapiecie DC 60 mV do 200 mV — CMC: 0,0062 %\nNapiecie DC 0,2 V do 4,0 V — CMC: 0,0035 %\nNapiecie DC 4 V do 20 V — CMC: 0,0020 %\nNapiecie DC 20 V do 1000 V — CMC: 0,0035 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik napiecia miernika napiecia woltomierz woltomierza woltomierzy multimetr multimetru multimetrow miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji","search_en":"Analog and digital voltage meters, multimeters, meters of electrical system parameters Calibration — DC voltage DC voltage 0 mV to 60,0 mV — CMC: 0,0036 mV DC voltage 60 mV to 200 mV — CMC: 0,0062 % DC voltage 0,2 V to 4,0 V — CMC: 0,0035 % DC voltage 4 V to 20 V — CMC: 0,0020 % DC voltage 20 V to 1000 V — CMC: 0,0035 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter meter parameter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":79,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6dd","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki parametrów sieci energetycznych, testery bezpieczeństwa elektrycznego","test_object_en":"Meters of electrical power system parameters, electrical safety testers","methodology":"Wzorcowanie — Napięcie DC","methodology_en":"Calibration — DC voltage","parameters":[{"name":"Napięcie DC","range":"40 V do 200 V — CMC: 3,0 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"200 V do 500 V — CMC: 1,4 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC voltage","range":"40 V to 200 V — CMC: 3,0 %"},{"name":"DC voltage","range":"200 V to 500 V — CMC: 1,4 %"},{"name":"DC voltage","range":"500 V to 1000 V — CMC: 1,2 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 %\nNapięcie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 %\nNapięcie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki parametrów sieci energetycznych, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 %\nNapięcie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 %\nNapięcie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester bezpieczeństwa elektrycznego testera testerów Mierniki parametrow sieci energetycznych, testery bezpieczenstwa elektrycznego Wzorcowanie — Napiecie DC\nZakres:\nNapiecie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 %\nNapiecie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 %\nNapiecie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester bezpieczenstwa elektrycznego testera testerow","search_en":"Meters of electrical power system parameters, electrical safety testers Calibration — DC voltage DC voltage 40 V to 200 V — CMC: 3,0 % DC voltage 200 V to 500 V — CMC: 1,4 % DC voltage 500 V to 1000 V — CMC: 1,2 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Meter parameter tester","categories":["metrology"],"row_index":80,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6de","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Próbniki przebicia, mierniki napięcia przebicia, testery bezpieczeństwa elektrycznego","test_object_en":"Breakdown testers, breakdown voltage meters, electrical safety testers","methodology":"Wzorcowanie — Napięcie DC","methodology_en":"Calibration — DC voltage","parameters":[{"name":"Napięcie DC","range":"40 V do 200 V — CMC: 3,0 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"200 V do 500 V — CMC: 1,4 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC voltage","range":"40 V to 200 V — CMC: 3,0 %"},{"name":"DC voltage","range":"200 V to 500 V — CMC: 1,4 %"},{"name":"DC voltage","range":"500 V to 1000 V — CMC: 1,2 %"},{"name":"DC voltage","range":"1 kV to 6 kV — CMC: 1,5 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 %\nNapięcie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 %\nNapięcie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %\nNapięcie DC 1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/4","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Próbniki przebicia, mierniki napięcia przebicia, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 %\nNapięcie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 %\nNapięcie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %\nNapięcie DC 1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik napięcia miernika napięcia woltomierz woltomierza woltomierzy tester bezpieczeństwa elektrycznego testera testerów próbnik przebicia próbnika przebicia Probniki przebicia, mierniki napiecia przebicia, testery bezpieczenstwa elektrycznego Wzorcowanie — Napiecie DC\nZakres:\nNapiecie DC 40 V do 200 V — CMC: 3,0 %\nNapiecie DC 200 V do 500 V — CMC: 1,4 %\nNapiecie DC 500 V do 1000 V — CMC: 1,2 %\nNapiecie DC 1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik napiecia miernika napiecia woltomierz woltomierza woltomierzy tester bezpieczenstwa elektrycznego testera testerow probnik przebicia probnika przebicia","search_en":"Breakdown testers, breakdown voltage meters, electrical safety testers Calibration — DC voltage DC voltage 40 V to 200 V — CMC: 3,0 % DC voltage 200 V to 500 V — CMC: 1,4 % DC voltage 500 V to 1000 V — CMC: 1,2 % DC voltage 1 kV to 6 kV — CMC: 1,5 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/4 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory tester meter tester","categories":["metrology"],"row_index":81,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6df","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kalibratory, zasilacze, źródła wzorcowe","test_object_en":"Calibrators, power supply units, reference sources","methodology":"Wzorcowanie — Napięcie DC","methodology_en":"Calibration — DC voltage","parameters":[{"name":"Napięcie DC","range":"0 mV do 60 mV — CMC: 0,0018 mV"},{"name":"Napięcie DC","range":"0,06 V do 100 V — CMC: 0,003 %"},{"name":"Napięcie DC","range":"100 V do 1000 V — CMC: 0,005 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC voltage","range":"0 mV to 60 mV — CMC: 0,0018 mV"},{"name":"DC voltage","range":"0,06 V to 100 V — CMC: 0,003 %"},{"name":"DC voltage","range":"100 V to 1000 V — CMC: 0,005 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 0 mV do 60 mV — CMC: 0,0018 mV\nNapięcie DC 0,06 V do 100 V — CMC: 0,003 %\nNapięcie DC 100 V do 1000 V — CMC: 0,005 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/3","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kalibratory, zasilacze, źródła wzorcowe Wzorcowanie — Napięcie DC\nZakres:\nNapięcie DC 0 mV do 60 mV — CMC: 0,0018 mV\nNapięcie DC 0,06 V do 100 V — CMC: 0,003 %\nNapięcie DC 100 V do 1000 V — CMC: 0,005 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kalibrator kalibratora kalibratorów zasilacz zasilacza zasilaczy źródło wzorcowe źródła wzorcowego źródeł źródło napięcia źródło wzorcowe źródła Kalibratory, zasilacze, zrodla wzorcowe Wzorcowanie — Napiecie DC\nZakres:\nNapiecie DC 0 mV do 60 mV — CMC: 0,0018 mV\nNapiecie DC 0,06 V do 100 V — CMC: 0,003 %\nNapiecie DC 100 V do 1000 V — CMC: 0,005 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace kalibrator kalibratora kalibratorow zasilacz zasilacza zasilaczy zrodlo wzorcowe zrodla wzorcowego zrodel zrodlo napiecia zrodlo wzorcowe zrodla","search_en":"Calibrators, power supply units, reference sources Calibration — DC voltage DC voltage 0 mV to 60 mV — CMC: 0,0018 mV DC voltage 0,06 V to 100 V — CMC: 0,003 % DC voltage 100 V to 1000 V — CMC: 0,005 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/3 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Calibrator unit source","categories":["metrology"],"row_index":82,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e0","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry","test_object_en":"Analog and digital voltage meters, multimeters","methodology":"Wzorcowanie — Napięcie DC","methodology_en":"Calibration — DC voltage","parameters":[{"name":"Napięcie DC","range":"0 V do 20 V — CMC: 0,00013·U + 0,4 mV, U – wielkość mierzona w V"}],"parameters_en":[{"name":"DC voltage","range":"0 V to 20 V — CMC: 0,00013·U + 0,4 mV, U – measured value in V"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta","technique_en":"Direct method; calibration on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Napięcie DC\nNapięcie DC 0 V do 20 V — CMC: 0,00013·U + 0,4 mV, U – wielkość mierzona w V\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Napięcie DC\nNapięcie DC 0 V do 20 V — CMC: 0,00013·U + 0,4 mV, U – wielkość mierzona w V\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik napięcia miernika napięcia woltomierz woltomierza woltomierzy multimetr multimetru multimetrów Mierniki napiecia analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Napiecie DC\nNapiecie DC 0 V do 20 V — CMC: 0,00013·U + 0,4 mV, U – wielkosc mierzona w V\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie u klienta Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik napiecia miernika napiecia woltomierz woltomierza woltomierzy multimetr multimetru multimetrow","search_en":"Analog and digital voltage meters, multimeters Calibration — DC voltage DC voltage 0 V to 20 V — CMC: 0,00013·U + 0,4 mV, U – measured value in V Direct method; calibration on site Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":83,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e1","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry","test_object_en":"Analog and digital current meters, multimeters","methodology":"Wzorcowanie — Prąd DC","methodology_en":"Calibration — DC current","parameters":[{"name":"Prąd DC","range":"0 µA do 100 µA — CMC: 0,030 µA"},{"name":"Prąd DC","range":"100 µA do 300 µA — CMC: 0,030 %"},{"name":"Prąd DC","range":"0,3 mA do 200,0 mA — CMC: 0,020 %"},{"name":"Prąd DC","range":"0,2 A do 2,0 A — CMC: 0,030 %"},{"name":"Prąd DC","range":"2 A do 30 A — CMC: 0,062 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC current","range":"0 µA to 100 µA — CMC: 0,030 µA"},{"name":"DC current","range":"100 µA to 300 µA — CMC: 0,030 %"},{"name":"DC current","range":"0,3 mA to 200,0 mA — CMC: 0,020 %"},{"name":"DC current","range":"0,2 A to 2,0 A — CMC: 0,030 %"},{"name":"DC current","range":"2 A to 30 A — CMC: 0,062 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 0 µA do 100 µA — CMC: 0,030 µA\nPrąd DC 100 µA do 300 µA — CMC: 0,030 %\nPrąd DC 0,3 mA do 200,0 mA — CMC: 0,020 %\nPrąd DC 0,2 A do 2,0 A — CMC: 0,030 %\nPrąd DC 2 A do 30 A — CMC: 0,062 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 0 µA do 100 µA — CMC: 0,030 µA\nPrąd DC 100 µA do 300 µA — CMC: 0,030 %\nPrąd DC 0,3 mA do 200,0 mA — CMC: 0,020 %\nPrąd DC 0,2 A do 2,0 A — CMC: 0,030 %\nPrąd DC 2 A do 30 A — CMC: 0,062 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące multimetr multimetru multimetrów miernik prądu miernika prądu amperomierz amperomierza amperomierzy Mierniki pradu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prad DC\nZakres:\nPrad DC 0 µA do 100 µA — CMC: 0,030 µA\nPrad DC 100 µA do 300 µA — CMC: 0,030 %\nPrad DC 0,3 mA do 200,0 mA — CMC: 0,020 %\nPrad DC 0,2 A do 2,0 A — CMC: 0,030 %\nPrad DC 2 A do 30 A — CMC: 0,062 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace multimetr multimetru multimetrow miernik pradu miernika pradu amperomierz amperomierza amperomierzy","search_en":"Analog and digital current meters, multimeters Calibration — DC current DC current 0 µA to 100 µA — CMC: 0,030 µA DC current 100 µA to 300 µA — CMC: 0,030 % DC current 0,3 mA to 200,0 mA — CMC: 0,020 % DC current 0,2 A to 2,0 A — CMC: 0,030 % DC current 2 A to 30 A — CMC: 0,062 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":84,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e2","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki cęgowe","test_object_en":"Clamp meters","methodology":"Wzorcowanie — Prąd DC","methodology_en":"Calibration — DC current","parameters":[{"name":"Prąd DC","range":"4 A do 18 A — CMC: 0,20 A"},{"name":"Prąd DC","range":"18 A do 160 A — CMC: 1,1 %"},{"name":"Prąd DC","range":"160 A do 1500 A — CMC: 0,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC current","range":"4 A to 18 A — CMC: 0,20 A"},{"name":"DC current","range":"18 A to 160 A — CMC: 1,1 %"},{"name":"DC current","range":"160 A to 1500 A — CMC: 0,8 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 4 A do 18 A — CMC: 0,20 A\nPrąd DC 18 A do 160 A — CMC: 1,1 %\nPrąd DC 160 A do 1500 A — CMC: 0,8 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki cęgowe Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 4 A do 18 A — CMC: 0,20 A\nPrąd DC 18 A do 160 A — CMC: 1,1 %\nPrąd DC 160 A do 1500 A — CMC: 0,8 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik cęgowy cęgi cęgowego Mierniki cegowe Wzorcowanie — Prad DC\nZakres:\nPrad DC 4 A do 18 A — CMC: 0,20 A\nPrad DC 18 A do 160 A — CMC: 1,1 %\nPrad DC 160 A do 1500 A — CMC: 0,8 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik cegowy cegi cegowego","search_en":"Clamp meters Calibration — DC current DC current 4 A to 18 A — CMC: 0,20 A DC current 18 A to 160 A — CMC: 1,1 % DC current 160 A to 1500 A — CMC: 0,8 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter clamp meter","categories":["metrology"],"row_index":85,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e3","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry","test_object_en":"Analog and digital current meters, multimeters","methodology":"Wzorcowanie — Prąd DC","methodology_en":"Calibration — DC current","parameters":[{"name":"Prąd DC","range":"0 mA do 20 mA — CMC: 0,00055·I + 2,5 μA, I – wielkość mierzona w A"}],"parameters_en":[{"name":"DC current","range":"0 mA to 20 mA — CMC: 0,00055·I + 2,5 μA, I – measured value in A"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta","technique_en":"Direct method; calibration on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd DC\nPrąd DC 0 mA do 20 mA — CMC: 0,00055·I + 2,5 μA, I – wielkość mierzona w A\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prąd DC\nPrąd DC 0 mA do 20 mA — CMC: 0,00055·I + 2,5 μA, I – wielkość mierzona w A\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie u klienta Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące multimetr multimetru multimetrów miernik prądu miernika prądu amperomierz amperomierza amperomierzy Mierniki pradu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prad DC\nPrad DC 0 mA do 20 mA — CMC: 0,00055·I + 2,5 μA, I – wielkosc mierzona w A\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie u klienta Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace multimetr multimetru multimetrow miernik pradu miernika pradu amperomierz amperomierza amperomierzy","search_en":"Analog and digital current meters, multimeters Calibration — DC current DC current 0 mA to 20 mA — CMC: 0,00055·I + 2,5 μA, I – measured value in A Direct method; calibration on site Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":86,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e4","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki parametrów sieci energetycznych (prąd ciągłości obwodu)","test_object_en":"Meters of electrical power system parameters (circuit continuity current)","methodology":"Wzorcowanie — Prąd DC","methodology_en":"Calibration — DC current","parameters":[{"name":"Prąd DC","range":"1 mA do 30 mA — CMC: 0,5 mA"},{"name":"Prąd DC","range":"30 mA do 320 mA — CMC: 1,6 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC current","range":"1 mA to 30 mA — CMC: 0,5 mA"},{"name":"DC current","range":"30 mA to 320 mA — CMC: 1,6 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 1 mA do 30 mA — CMC: 0,5 mA\nPrąd DC 30 mA do 320 mA — CMC: 1,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki parametrów sieci energetycznych (prąd ciągłości obwodu) Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 1 mA do 30 mA — CMC: 0,5 mA\nPrąd DC 30 mA do 320 mA — CMC: 1,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik ciągłości obwodu Mierniki parametrow sieci energetycznych (prad ciaglosci obwodu) Wzorcowanie — Prad DC\nZakres:\nPrad DC 1 mA do 30 mA — CMC: 0,5 mA\nPrad DC 30 mA do 320 mA — CMC: 1,6 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik ciaglosci obwodu","search_en":"Meters of electrical power system parameters (circuit continuity current) Calibration — DC current DC current 1 mA to 30 mA — CMC: 0,5 mA DC current 30 mA to 320 mA — CMC: 1,6 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Meter parameter","categories":["metrology"],"row_index":87,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e5","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kalibratory, zasilacze, generatory, źródła wzorcowe, źródła prądu stałego","test_object_en":"Calibrators, power supply units, generators, reference sources, DC power sources","methodology":"Wzorcowanie — Prąd DC","methodology_en":"Calibration — DC current","parameters":[{"name":"Prąd DC","range":"0 mA do 1 mA — CMC: 0,5 µA"},{"name":"Prąd DC","range":"0,001 A do 1 A — CMC: 0,05 %"},{"name":"Prąd DC","range":"1 A do 3 A — CMC: 0,15 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC current","range":"0 mA to 1 mA — CMC: 0,5 µA"},{"name":"DC current","range":"0,001 A to 1 A — CMC: 0,05 %"},{"name":"DC current","range":"1 A to 3 A — CMC: 0,15 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 0 mA do 1 mA — CMC: 0,5 µA\nPrąd DC 0,001 A do 1 A — CMC: 0,05 %\nPrąd DC 1 A do 3 A — CMC: 0,15 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/3","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kalibratory, zasilacze, generatory, źródła wzorcowe, źródła prądu stałego Wzorcowanie — Prąd DC\nZakres:\nPrąd DC 0 mA do 1 mA — CMC: 0,5 µA\nPrąd DC 0,001 A do 1 A — CMC: 0,05 %\nPrąd DC 1 A do 3 A — CMC: 0,15 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kalibrator kalibratora kalibratorów zasilacz zasilacza zasilaczy generator generatora generatorów źródło wzorcowe źródła wzorcowego źródeł źródło napięcia źródło wzorcowe źródła Kalibratory, zasilacze, generatory, zrodla wzorcowe, zrodla pradu stalego Wzorcowanie — Prad DC\nZakres:\nPrad DC 0 mA do 1 mA — CMC: 0,5 µA\nPrad DC 0,001 A do 1 A — CMC: 0,05 %\nPrad DC 1 A do 3 A — CMC: 0,15 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace kalibrator kalibratora kalibratorow zasilacz zasilacza zasilaczy generator generatora generatorow zrodlo wzorcowe zrodla wzorcowego zrodel zrodlo napiecia zrodlo wzorcowe zrodla","search_en":"Calibrators, power supply units, generators, reference sources, DC power sources Calibration — DC current DC current 0 mA to 1 mA — CMC: 0,5 µA DC current 0,001 A to 1 A — CMC: 0,05 % DC current 1 A to 3 A — CMC: 0,15 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/3 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Calibrator unit generator source source","categories":["metrology"],"row_index":88,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e6","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci energetycznych","test_object_en":"Analog and digital voltage meters, multimeters, meters of electrical power system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Napięcie AC","methodology_en":"Calibration — AC voltage","parameters":[{"name":"Napięcie AC","range":"1 mV do 20 mV (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,042 mV"},{"name":"Napięcie AC","range":"0,02 V do 1000 V (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,22 %"},{"name":"Napięcie AC","range":"1 mV do 50 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,042 mV"},{"name":"Napięcie AC","range":"50 mV do 1000 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,12 %"},{"name":"Napięcie AC","range":"1 V do 200 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,032 %"},{"name":"Napięcie AC","range":"200 V do 1000 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,060 %"},{"name":"Napięcie AC","range":"1 mV do 60 mV (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,042 mV"},{"name":"Napięcie AC","range":"60 mV do 20 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,14 %"},{"name":"Napięcie AC","range":"20 V do 200 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,20 %"},{"name":"Napięcie AC","range":"200 V do 700 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,10 %"},{"name":"Napięcie AC","range":"1 mV do 9 mV (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,052 mV"},{"name":"Napięcie AC","range":"9 mV do 20 V (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,42 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC voltage","range":"1 mV to 20 mV (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,042 mV"},{"name":"AC voltage","range":"0,02 V to 1000 V (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,22 %"},{"name":"AC voltage","range":"1 mV to 50 mV (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,042 mV"},{"name":"AC voltage","range":"50 mV to 1000 mV (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,12 %"},{"name":"AC voltage","range":"1 V to 200 V (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,032 %"},{"name":"AC voltage","range":"200 V to 1000 V (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,060 %"},{"name":"AC voltage","range":"1 mV to 60 mV (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,042 mV"},{"name":"AC voltage","range":"60 mV to 20 V (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,14 %"},{"name":"AC voltage","range":"20 V to 200 V (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,20 %"},{"name":"AC voltage","range":"200 V to 700 V (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,10 %"},{"name":"AC voltage","range":"1 mV to 9 mV (f = 20 kHz to 50 kHz) — CMC: 0,052 mV"},{"name":"AC voltage","range":"9 mV to 20 V (f = 20 kHz to 50 kHz) — CMC: 0,42 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Napięcie AC\nZakres:\nNapięcie AC 1 mV do 20 mV (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,042 mV\nNapięcie AC 0,02 V do 1000 V (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,22 %\nNapięcie AC 1 mV do 50 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,042 mV\nNapięcie AC 50 mV do 1000 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,12 %\nNapięcie AC 1 V do 200 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,032 %\nNapięcie AC 200 V do 1000 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,060 %\nNapięcie AC 1 mV do 60 mV (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,042 mV\nNapięcie AC 60 mV do 20 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,14 %\nNapięcie AC 20 V do 200 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,20 %\nNapięcie AC 200 V do 700 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,10 %\nNapięcie AC 1 mV do 9 mV (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,052 mV\nNapięcie AC 9 mV do 20 V (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,42 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki napięcia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci energetycznych Wzorcowanie — Napięcie AC\nZakres:\nNapięcie AC 1 mV do 20 mV (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,042 mV\nNapięcie AC 0,02 V do 1000 V (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,22 %\nNapięcie AC 1 mV do 50 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,042 mV\nNapięcie AC 50 mV do 1000 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,12 %\nNapięcie AC 1 V do 200 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,032 %\nNapięcie AC 200 V do 1000 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,060 %\nNapięcie AC 1 mV do 60 mV (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,042 mV\nNapięcie AC 60 mV do 20 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,14 %\nNapięcie AC 20 V do 200 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,20 %\nNapięcie AC 200 V do 700 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,10 %\nNapięcie AC 1 mV do 9 mV (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,052 mV\nNapięcie AC 9 mV do 20 V (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,42 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik napięcia miernika napięcia woltomierz woltomierza woltomierzy multimetr multimetru multimetrów miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji Mierniki napiecia analogowe i cyfrowe, multimetry, mierniki parametrow sieci energetycznych Wzorcowanie — Napiecie AC\nZakres:\nNapiecie AC 1 mV do 20 mV (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,042 mV\nNapiecie AC 0,02 V do 1000 V (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,22 %\nNapiecie AC 1 mV do 50 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,042 mV\nNapiecie AC 50 mV do 1000 mV (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,12 %\nNapiecie AC 1 V do 200 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,032 %\nNapiecie AC 200 V do 1000 V (f = 45 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,060 %\nNapiecie AC 1 mV do 60 mV (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,042 mV\nNapiecie AC 60 mV do 20 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,14 %\nNapiecie AC 20 V do 200 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,20 %\nNapiecie AC 200 V do 700 V (f = 1,0 kHz do 19,9 kHz) — CMC: 0,10 %\nNapiecie AC 1 mV do 9 mV (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,052 mV\nNapiecie AC 9 mV do 20 V (f = 20 kHz do 50 kHz) — CMC: 0,42 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik napiecia miernika napiecia woltomierz woltomierza woltomierzy multimetr multimetru multimetrow miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji","search_en":"Analog and digital voltage meters, multimeters, meters of electrical power system parameters Calibration — AC voltage AC voltage 1 mV to 20 mV (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,042 mV AC voltage 0,02 V to 1000 V (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,22 % AC voltage 1 mV to 50 mV (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,042 mV AC voltage 50 mV to 1000 mV (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,12 % AC voltage 1 V to 200 V (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,032 % AC voltage 200 V to 1000 V (f = 45 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,060 % AC voltage 1 mV to 60 mV (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,042 mV AC voltage 60 mV to 20 V (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,14 % AC voltage 20 V to 200 V (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,20 % AC voltage 200 V to 700 V (f = 1,0 kHz to 19,9 kHz) — CMC: 0,10 % AC voltage 1 mV to 9 mV (f = 20 kHz to 50 kHz) — CMC: 0,052 mV AC voltage 9 mV to 20 V (f = 20 kHz to 50 kHz) — CMC: 0,42 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter meter parameter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":89,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e7","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kalibratory, zasilacze, generatory, źródła wzorcowe","test_object_en":"Calibrators, power supply units, generators, reference sources","methodology":"Wzorcowanie — Napięcie AC","methodology_en":"Calibration — AC voltage","parameters":[{"name":"Napięcie AC","range":"1 mV do 100 mV (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,05 mV"},{"name":"Napięcie AC","range":"0,1 V do 750 V (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,25 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC voltage","range":"1 mV to 100 mV (f = 45 Hz to 20 kHz) — CMC: 0,05 mV"},{"name":"AC voltage","range":"0,1 V to 750 V (f = 45 Hz to 20 kHz) — CMC: 0,25 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Napięcie AC\nZakres:\nNapięcie AC 1 mV do 100 mV (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,05 mV\nNapięcie AC 0,1 V do 750 V (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,25 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/3","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kalibratory, zasilacze, generatory, źródła wzorcowe Wzorcowanie — Napięcie AC\nZakres:\nNapięcie AC 1 mV do 100 mV (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,05 mV\nNapięcie AC 0,1 V do 750 V (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,25 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kalibrator kalibratora kalibratorów zasilacz zasilacza zasilaczy generator generatora generatorów źródło wzorcowe źródła wzorcowego źródeł źródło napięcia źródło wzorcowe źródła Kalibratory, zasilacze, generatory, zrodla wzorcowe Wzorcowanie — Napiecie AC\nZakres:\nNapiecie AC 1 mV do 100 mV (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,05 mV\nNapiecie AC 0,1 V do 750 V (f = 45 Hz do 20 kHz) — CMC: 0,25 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace kalibrator kalibratora kalibratorow zasilacz zasilacza zasilaczy generator generatora generatorow zrodlo wzorcowe zrodla wzorcowego zrodel zrodlo napiecia zrodlo wzorcowe zrodla","search_en":"Calibrators, power supply units, generators, reference sources Calibration — AC voltage AC voltage 1 mV to 100 mV (f = 45 Hz to 20 kHz) — CMC: 0,05 mV AC voltage 0,1 V to 750 V (f = 45 Hz to 20 kHz) — CMC: 0,25 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/3 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Calibrator unit generator source","categories":["metrology"],"row_index":90,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e8","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry","test_object_en":"Analog and digital current meters, multimeters","methodology":"Wzorcowanie — Prąd AC","methodology_en":"Calibration — AC current","parameters":[{"name":"Prąd AC","range":"10 µA do 100 µA (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,50 µA"},{"name":"Prąd AC","range":"100 µA do 20 A (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,46 %"},{"name":"Prąd AC","range":"5 µA do 100 µA (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 µA"},{"name":"Prąd AC","range":"100 µA do 20 A (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 %"},{"name":"Prąd AC","range":"5 µA do 100 µA (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,24 µA"},{"name":"Prąd AC","range":"100 A do 2 A (f = 100 Hz do 999 Hz) (zapis jak w zakresie PCA) — CMC: 0,24 %"},{"name":"Prąd AC","range":"2 A do 20 A (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,76 %"},{"name":"Prąd AC","range":"5 µA do 100 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 µA"},{"name":"Prąd AC","range":"100 µA do 210 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 %"},{"name":"Prąd AC","range":"210 µA do 2 A (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 0,76 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC current","range":"10 µA to 100 µA (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,50 µA"},{"name":"AC current","range":"100 µA to 20 A (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,46 %"},{"name":"AC current","range":"5 µA to 100 µA (f = 45 Hz to 99 Hz) — CMC: 0,24 µA"},{"name":"AC current","range":"100 µA to 20 A (f = 45 Hz to 99 Hz) — CMC: 0,24 %"},{"name":"AC current","range":"5 µA to 100 µA (f = 100 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,24 µA"},{"name":"AC current","range":"100 A to 2 A (f = 100 Hz to 999 Hz) (as written in the PCA scope) — CMC: 0,24 %"},{"name":"AC current","range":"2 A to 20 A (f = 100 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,76 %"},{"name":"AC current","range":"5 µA to 100 µA (f = 1 kHz to 5 kHz) — CMC: 1,4 µA"},{"name":"AC current","range":"100 µA to 210 µA (f = 1 kHz to 5 kHz) — CMC: 1,4 %"},{"name":"AC current","range":"210 µA to 2 A (f = 1 kHz to 5 kHz) — CMC: 0,76 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd AC\nZakres:\nPrąd AC 10 µA do 100 µA (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,50 µA\nPrąd AC 100 µA do 20 A (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,46 %\nPrąd AC 5 µA do 100 µA (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 µA\nPrąd AC 100 µA do 20 A (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 %\nPrąd AC 5 µA do 100 µA (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,24 µA\nPrąd AC 100 A do 2 A (f = 100 Hz do 999 Hz) (zapis jak w zakresie PCA) — CMC: 0,24 %\nPrąd AC 2 A do 20 A (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,76 %\nPrąd AC 5 µA do 100 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 µA\nPrąd AC 100 µA do 210 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 %\nPrąd AC 210 µA do 2 A (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 0,76 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki prądu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prąd AC\nZakres:\nPrąd AC 10 µA do 100 µA (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,50 µA\nPrąd AC 100 µA do 20 A (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,46 %\nPrąd AC 5 µA do 100 µA (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 µA\nPrąd AC 100 µA do 20 A (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 %\nPrąd AC 5 µA do 100 µA (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,24 µA\nPrąd AC 100 A do 2 A (f = 100 Hz do 999 Hz) (zapis jak w zakresie PCA) — CMC: 0,24 %\nPrąd AC 2 A do 20 A (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,76 %\nPrąd AC 5 µA do 100 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 µA\nPrąd AC 100 µA do 210 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 %\nPrąd AC 210 µA do 2 A (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 0,76 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące multimetr multimetru multimetrów miernik prądu miernika prądu amperomierz amperomierza amperomierzy Mierniki pradu analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Prad AC\nZakres:\nPrad AC 10 µA do 100 µA (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,50 µA\nPrad AC 100 µA do 20 A (f = 30 Hz do 44 Hz) — CMC: 0,46 %\nPrad AC 5 µA do 100 µA (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 µA\nPrad AC 100 µA do 20 A (f = 45 Hz do 99 Hz) — CMC: 0,24 %\nPrad AC 5 µA do 100 µA (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,24 µA\nPrad AC 100 A do 2 A (f = 100 Hz do 999 Hz) (zapis jak w zakresie PCA) — CMC: 0,24 %\nPrad AC 2 A do 20 A (f = 100 Hz do 999 Hz) — CMC: 0,76 %\nPrad AC 5 µA do 100 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 µA\nPrad AC 100 µA do 210 µA (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 1,4 %\nPrad AC 210 µA do 2 A (f = 1 kHz do 5 kHz) — CMC: 0,76 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace multimetr multimetru multimetrow miernik pradu miernika pradu amperomierz amperomierza amperomierzy","search_en":"Analog and digital current meters, multimeters Calibration — AC current AC current 10 µA to 100 µA (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,50 µA AC current 100 µA to 20 A (f = 30 Hz to 44 Hz) — CMC: 0,46 % AC current 5 µA to 100 µA (f = 45 Hz to 99 Hz) — CMC: 0,24 µA AC current 100 µA to 20 A (f = 45 Hz to 99 Hz) — CMC: 0,24 % AC current 5 µA to 100 µA (f = 100 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,24 µA AC current 100 A to 2 A (f = 100 Hz to 999 Hz) (as written in the PCA scope) — CMC: 0,24 % AC current 2 A to 20 A (f = 100 Hz to 999 Hz) — CMC: 0,76 % AC current 5 µA to 100 µA (f = 1 kHz to 5 kHz) — CMC: 1,4 µA AC current 100 µA to 210 µA (f = 1 kHz to 5 kHz) — CMC: 1,4 % AC current 210 µA to 2 A (f = 1 kHz to 5 kHz) — CMC: 0,76 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":91,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6e9","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki cęgowe","test_object_en":"Clamp meters","methodology":"Wzorcowanie — Prąd AC","methodology_en":"Calibration — AC current","parameters":[{"name":"Prąd AC","range":"4 A do 18 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,20 A"},{"name":"Prąd AC","range":"18 A do 160 A (f = 50 Hz) — CMC: 1,1 %"},{"name":"Prąd AC","range":"160 A do 1000 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC current","range":"4 A to 18 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,20 A"},{"name":"AC current","range":"18 A to 160 A (f = 50 Hz) — CMC: 1,1 %"},{"name":"AC current","range":"160 A to 1000 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,8 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd AC\nZakres:\nPrąd AC 4 A do 18 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,20 A\nPrąd AC 18 A do 160 A (f = 50 Hz) — CMC: 1,1 %\nPrąd AC 160 A do 1000 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,8 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki cęgowe Wzorcowanie — Prąd AC\nZakres:\nPrąd AC 4 A do 18 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,20 A\nPrąd AC 18 A do 160 A (f = 50 Hz) — CMC: 1,1 %\nPrąd AC 160 A do 1000 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,8 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik cęgowy cęgi cęgowego Mierniki cegowe Wzorcowanie — Prad AC\nZakres:\nPrad AC 4 A do 18 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,20 A\nPrad AC 18 A do 160 A (f = 50 Hz) — CMC: 1,1 %\nPrad AC 160 A do 1000 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,8 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik cegowy cegi cegowego","search_en":"Clamp meters Calibration — AC current AC current 4 A to 18 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,20 A AC current 18 A to 160 A (f = 50 Hz) — CMC: 1,1 % AC current 160 A to 1000 A (f = 50 Hz) — CMC: 0,8 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter clamp meter","categories":["metrology"],"row_index":92,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ea","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki parametrów sieci energetycznych (prąd testerów RCD), mierniki zabezpieczeń różnicowoprądowych","test_object_en":"Meters of electrical power system parameters (RCD test current), residual current device meters","methodology":"Wzorcowanie — Prąd AC","methodology_en":"Calibration — AC current","parameters":[{"name":"Prąd AC","range":"3 mA do 10 mA (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 0,70 mA"},{"name":"Prąd AC","range":"10 mA do 3 A (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 7,0 %"},{"name":"Prąd AC","range":"3 mA do 10 mA (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 0,18 mA"},{"name":"Prąd AC","range":"10 mA do 3 A (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 1,8 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC current","range":"3 mA to 10 mA (time 20 ms to 190 ms) — CMC: 0,70 mA"},{"name":"AC current","range":"10 mA to 3 A (time 20 ms to 190 ms) — CMC: 7,0 %"},{"name":"AC current","range":"3 mA to 10 mA (time 0,19 s to 1,00 s) — CMC: 0,18 mA"},{"name":"AC current","range":"10 mA to 3 A (time 0,19 s to 1,00 s) — CMC: 1,8 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Prąd AC\nZakres:\nPrąd AC 3 mA do 10 mA (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 0,70 mA\nPrąd AC 10 mA do 3 A (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 7,0 %\nPrąd AC 3 mA do 10 mA (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 0,18 mA\nPrąd AC 10 mA do 3 A (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 1,8 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki parametrów sieci energetycznych (prąd testerów RCD), mierniki zabezpieczeń różnicowoprądowych Wzorcowanie — Prąd AC\nZakres:\nPrąd AC 3 mA do 10 mA (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 0,70 mA\nPrąd AC 10 mA do 3 A (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 7,0 %\nPrąd AC 3 mA do 10 mA (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 0,18 mA\nPrąd AC 10 mA do 3 A (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 1,8 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester RCD wyłącznik różnicowoprądowy miernik RCD wyłącznik różnicowoprądowy RCD Mierniki parametrow sieci energetycznych (prad testerow RCD), mierniki zabezpieczen roznicowopradowych Wzorcowanie — Prad AC\nZakres:\nPrad AC 3 mA do 10 mA (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 0,70 mA\nPrad AC 10 mA do 3 A (czas 20 ms do 190 ms) — CMC: 7,0 %\nPrad AC 3 mA do 10 mA (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 0,18 mA\nPrad AC 10 mA do 3 A (czas 0,19 s do 1,00 s) — CMC: 1,8 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester RCD wylacznik roznicowopradowy miernik RCD wylacznik roznicowopradowy RCD","search_en":"Meters of electrical power system parameters (RCD test current), residual current device meters Calibration — AC current AC current 3 mA to 10 mA (time 20 ms to 190 ms) — CMC: 0,70 mA AC current 10 mA to 3 A (time 20 ms to 190 ms) — CMC: 7,0 % AC current 3 mA to 10 mA (time 0,19 s to 1,00 s) — CMC: 0,18 mA AC current 10 mA to 3 A (time 0,19 s to 1,00 s) — CMC: 1,8 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Meter parameter meter","categories":["metrology"],"row_index":93,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6eb","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki rezystancji analogowe i cyfrowe, multimetry","test_object_en":"Analog and digital resistance meters, multimeters","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja DC","methodology_en":"Calibration — DC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja DC","range":"0 Ω do 30,0 Ω — CMC: 0,020 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"30 Ω do 100 Ω — CMC: 0,026 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"0,1 kΩ do 1 kΩ — CMC: 0,21 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"1 kΩ do 10 kΩ — CMC: 1,7 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"10 kΩ do 100 kΩ — CMC: 17 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"0,1 MΩ do 1 MΩ — CMC: 0,17 kΩ"},{"name":"Rezystancja DC","range":"1 MΩ do 10 MΩ — CMC: 1,7 kΩ"},{"name":"Rezystancja DC","range":"10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 1,3 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"100 MΩ do 1 GΩ — CMC: 2,8 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"1 GΩ do 100 GΩ — CMC: 2,4 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"100 GΩ do 1000 GΩ — CMC: 3,2 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"punkty stałe 0,0 Ω; 0,1 Ω; 1,0 Ω; 10 Ω — CMC: 0,006 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"punkt stały 100 Ω — CMC: 0,007 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"punkty stałe 1 kΩ; 10 kΩ; 100 kΩ — CMC: 0,006 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"punkt stały 1 MΩ — CMC: 0,0001 MΩ"},{"name":"Rezystancja DC","range":"punkt stały 10 MΩ — CMC: 0,002 MΩ"},{"name":"Rezystancja DC","range":"punkt stały 100 MΩ — CMC: 0,5 MΩ"},{"name":"Rezystancja DC","range":"punkt stały 1 GΩ — CMC: 24 MΩ"}],"parameters_en":[{"name":"DC resistance","range":"0 Ω to 30,0 Ω — CMC: 0,020 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"30 Ω to 100 Ω — CMC: 0,026 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"0,1 kΩ to 1 kΩ — CMC: 0,21 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"1 kΩ to 10 kΩ — CMC: 1,7 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"10 kΩ to 100 kΩ — CMC: 17 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"0,1 MΩ to 1 MΩ — CMC: 0,17 kΩ"},{"name":"DC resistance","range":"1 MΩ to 10 MΩ — CMC: 1,7 kΩ"},{"name":"DC resistance","range":"10 MΩ to 100 MΩ — CMC: 1,3 %"},{"name":"DC resistance","range":"100 MΩ to 1 GΩ — CMC: 2,8 %"},{"name":"DC resistance","range":"1 GΩ to 100 GΩ — CMC: 2,4 %"},{"name":"DC resistance","range":"100 GΩ to 1000 GΩ — CMC: 3,2 %"},{"name":"DC resistance","range":"fixed points 0,0 Ω; 0,1 Ω; 1,0 Ω; 10 Ω — CMC: 0,006 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"fixed point 100 Ω — CMC: 0,007 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"fixed points 1 kΩ; 10 kΩ; 100 kΩ — CMC: 0,006 %"},{"name":"DC resistance","range":"fixed point 1 MΩ — CMC: 0,0001 MΩ"},{"name":"DC resistance","range":"fixed point 10 MΩ — CMC: 0,002 MΩ"},{"name":"DC resistance","range":"fixed point 100 MΩ — CMC: 0,5 MΩ"},{"name":"DC resistance","range":"fixed point 1 GΩ — CMC: 24 MΩ"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0 Ω do 30,0 Ω — CMC: 0,020 Ω\nRezystancja DC 30 Ω do 100 Ω — CMC: 0,026 Ω\nRezystancja DC 0,1 kΩ do 1 kΩ — CMC: 0,21 Ω\nRezystancja DC 1 kΩ do 10 kΩ — CMC: 1,7 Ω\nRezystancja DC 10 kΩ do 100 kΩ — CMC: 17 Ω\nRezystancja DC 0,1 MΩ do 1 MΩ — CMC: 0,17 kΩ\nRezystancja DC 1 MΩ do 10 MΩ — CMC: 1,7 kΩ\nRezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ — CMC: 3,2 %\nRezystancja DC punkty stałe 0,0 Ω; 0,1 Ω; 1,0 Ω; 10 Ω — CMC: 0,006 Ω\nRezystancja DC punkt stały 100 Ω — CMC: 0,007 Ω\nRezystancja DC punkty stałe 1 kΩ; 10 kΩ; 100 kΩ — CMC: 0,006 %\nRezystancja DC punkt stały 1 MΩ — CMC: 0,0001 MΩ\nRezystancja DC punkt stały 10 MΩ — CMC: 0,002 MΩ\nRezystancja DC punkt stały 100 MΩ — CMC: 0,5 MΩ\nRezystancja DC punkt stały 1 GΩ — CMC: 24 MΩ\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki rezystancji analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0 Ω do 30,0 Ω — CMC: 0,020 Ω\nRezystancja DC 30 Ω do 100 Ω — CMC: 0,026 Ω\nRezystancja DC 0,1 kΩ do 1 kΩ — CMC: 0,21 Ω\nRezystancja DC 1 kΩ do 10 kΩ — CMC: 1,7 Ω\nRezystancja DC 10 kΩ do 100 kΩ — CMC: 17 Ω\nRezystancja DC 0,1 MΩ do 1 MΩ — CMC: 0,17 kΩ\nRezystancja DC 1 MΩ do 10 MΩ — CMC: 1,7 kΩ\nRezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ — CMC: 3,2 %\nRezystancja DC punkty stałe 0,0 Ω; 0,1 Ω; 1,0 Ω; 10 Ω — CMC: 0,006 Ω\nRezystancja DC punkt stały 100 Ω — CMC: 0,007 Ω\nRezystancja DC punkty stałe 1 kΩ; 10 kΩ; 100 kΩ — CMC: 0,006 %\nRezystancja DC punkt stały 1 MΩ — CMC: 0,0001 MΩ\nRezystancja DC punkt stały 10 MΩ — CMC: 0,002 MΩ\nRezystancja DC punkt stały 100 MΩ — CMC: 0,5 MΩ\nRezystancja DC punkt stały 1 GΩ — CMC: 24 MΩ\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące multimetr multimetru multimetrów miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza Mierniki rezystancji analogowe i cyfrowe, multimetry Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0 Ω do 30,0 Ω — CMC: 0,020 Ω\nRezystancja DC 30 Ω do 100 Ω — CMC: 0,026 Ω\nRezystancja DC 0,1 kΩ do 1 kΩ — CMC: 0,21 Ω\nRezystancja DC 1 kΩ do 10 kΩ — CMC: 1,7 Ω\nRezystancja DC 10 kΩ do 100 kΩ — CMC: 17 Ω\nRezystancja DC 0,1 MΩ do 1 MΩ — CMC: 0,17 kΩ\nRezystancja DC 1 MΩ do 10 MΩ — CMC: 1,7 kΩ\nRezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ — CMC: 3,2 %\nRezystancja DC punkty stale 0,0 Ω; 0,1 Ω; 1,0 Ω; 10 Ω — CMC: 0,006 Ω\nRezystancja DC punkt staly 100 Ω — CMC: 0,007 Ω\nRezystancja DC punkty stale 1 kΩ; 10 kΩ; 100 kΩ — CMC: 0,006 %\nRezystancja DC punkt staly 1 MΩ — CMC: 0,0001 MΩ\nRezystancja DC punkt staly 10 MΩ — CMC: 0,002 MΩ\nRezystancja DC punkt staly 100 MΩ — CMC: 0,5 MΩ\nRezystancja DC punkt staly 1 GΩ — CMC: 24 MΩ\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace multimetr multimetru multimetrow miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza","search_en":"Analog and digital resistance meters, multimeters Calibration — DC resistance DC resistance 0 Ω to 30,0 Ω — CMC: 0,020 Ω DC resistance 30 Ω to 100 Ω — CMC: 0,026 Ω DC resistance 0,1 kΩ to 1 kΩ — CMC: 0,21 Ω DC resistance 1 kΩ to 10 kΩ — CMC: 1,7 Ω DC resistance 10 kΩ to 100 kΩ — CMC: 17 Ω DC resistance 0,1 MΩ to 1 MΩ — CMC: 0,17 kΩ DC resistance 1 MΩ to 10 MΩ — CMC: 1,7 kΩ DC resistance 10 MΩ to 100 MΩ — CMC: 1,3 % DC resistance 100 MΩ to 1 GΩ — CMC: 2,8 % DC resistance 1 GΩ to 100 GΩ — CMC: 2,4 % DC resistance 100 GΩ to 1000 GΩ — CMC: 3,2 % DC resistance fixed points 0,0 Ω; 0,1 Ω; 1,0 Ω; 10 Ω — CMC: 0,006 Ω DC resistance fixed point 100 Ω — CMC: 0,007 Ω DC resistance fixed points 1 kΩ; 10 kΩ; 100 kΩ — CMC: 0,006 % DC resistance fixed point 1 MΩ — CMC: 0,0001 MΩ DC resistance fixed point 10 MΩ — CMC: 0,002 MΩ DC resistance fixed point 100 MΩ — CMC: 0,5 MΩ DC resistance fixed point 1 GΩ — CMC: 24 MΩ Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":94,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ec","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki rezystancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Short-circuit loop resistance meters, meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja DC","methodology_en":"Calibration — DC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja DC","range":"1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC resistance","range":"1 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"DC resistance","range":"10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki rezystancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik pętli zwarcia miernika impedancji pętli Mierniki rezystancji petli zwarcia, mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik petli zwarcia miernika impedancji petli","search_en":"Short-circuit loop resistance meters, meters of electrical system parameters Calibration — DC resistance DC resistance 1 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω DC resistance 6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 % DC resistance 10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter meter parameter","categories":["metrology"],"row_index":95,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ed","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Earth resistance meters, meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja DC","methodology_en":"Calibration — DC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja DC","range":"0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC resistance","range":"0,3 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"DC resistance","range":"10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik uziemień miernik rezystancji uziemienia Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja DC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik uziemien miernik rezystancji uziemienia","search_en":"Earth resistance meters, meters of electrical system parameters Calibration — DC resistance DC resistance 0,3 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω DC resistance 6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 % DC resistance 10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter meter parameter","categories":["metrology"],"row_index":96,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ee","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki parametrów sieci (rezystancja ciągłości obwodu)","test_object_en":"Meters of electrical system parameters (circuit continuity resistance)","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja DC","methodology_en":"Calibration — DC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja DC","range":"0,2 Ω do 10,0 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"10 Ω do 20 Ω — CMC: 0,60 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"100 Ω, 1000 Ω — CMC: 0,35 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC resistance","range":"0,2 Ω to 10,0 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"10 Ω to 20 Ω — CMC: 0,60 %"},{"name":"DC resistance","range":"100 Ω, 1000 Ω — CMC: 0,35 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0,2 Ω do 10,0 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 10 Ω do 20 Ω — CMC: 0,60 %\nRezystancja DC 100 Ω, 1000 Ω — CMC: 0,35 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki parametrów sieci (rezystancja ciągłości obwodu) Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0,2 Ω do 10,0 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 10 Ω do 20 Ω — CMC: 0,60 %\nRezystancja DC 100 Ω, 1000 Ω — CMC: 0,35 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik ciągłości obwodu Mierniki parametrow sieci (rezystancja ciaglosci obwodu) Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0,2 Ω do 10,0 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja DC 10 Ω do 20 Ω — CMC: 0,60 %\nRezystancja DC 100 Ω, 1000 Ω — CMC: 0,35 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik ciaglosci obwodu","search_en":"Meters of electrical system parameters (circuit continuity resistance) Calibration — DC resistance DC resistance 0,2 Ω to 10,0 Ω — CMC: 0,06 Ω DC resistance 10 Ω to 20 Ω — CMC: 0,60 % DC resistance 100 Ω, 1000 Ω — CMC: 0,35 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Meter parameter","categories":["metrology"],"row_index":97,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ef","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki rezystancji izolacji, mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Insulation resistance meters, meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja DC","methodology_en":"Calibration — DC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja DC","range":"10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC resistance","range":"10 kΩ to 5 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 0,2 %"},{"name":"DC resistance","range":"5 MΩ to 100 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 1,3 %"},{"name":"DC resistance","range":"100 MΩ to 1 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,8 %"},{"name":"DC resistance","range":"1 GΩ to 100 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,4 %"},{"name":"DC resistance","range":"100 GΩ to 1000 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 3,2 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %\nRezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki rezystancji izolacji, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %\nRezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik izolacji megaomomierz megaomomierza Mierniki rezystancji izolacji, mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %\nRezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik izolacji megaomomierz megaomomierza","search_en":"Insulation resistance meters, meters of electrical system parameters Calibration — DC resistance DC resistance 10 kΩ to 5 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 0,2 % DC resistance 5 MΩ to 100 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 1,3 % DC resistance 100 MΩ to 1 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,8 % DC resistance 1 GΩ to 100 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,4 % DC resistance 100 GΩ to 1000 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 3,2 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter meter parameter insulation tester megohmmeter","categories":["metrology"],"row_index":98,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f0","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Próbniki przebicia, testery bezpieczeństwa elektrycznego","test_object_en":"Breakdown testers, electrical safety testers","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja DC","methodology_en":"Calibration — DC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja DC","range":"10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC resistance","range":"10 kΩ to 5 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 0,2 %"},{"name":"DC resistance","range":"5 MΩ to 100 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 1,3 %"},{"name":"DC resistance","range":"100 MΩ to 1 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,8 %"},{"name":"DC resistance","range":"1 GΩ to 100 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,4 %"},{"name":"DC resistance","range":"100 GΩ to 1000 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 3,2 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %\nRezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/4","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Próbniki przebicia, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %\nRezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napięcie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące tester bezpieczeństwa elektrycznego testera testerów próbnik przebicia próbnika przebicia Probniki przebicia, testery bezpieczenstwa elektrycznego Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 10 kΩ do 5 MΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 0,2 %\nRezystancja DC 5 MΩ do 100 MΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 1,3 %\nRezystancja DC 100 MΩ do 1 GΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,8 %\nRezystancja DC 1 GΩ do 100 GΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 2,4 %\nRezystancja DC 100 GΩ do 1000 GΩ (napiecie pomiarowe do 5 kV) — CMC: 3,2 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace tester bezpieczenstwa elektrycznego testera testerow probnik przebicia probnika przebicia","search_en":"Breakdown testers, electrical safety testers Calibration — DC resistance DC resistance 10 kΩ to 5 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 0,2 % DC resistance 5 MΩ to 100 MΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 1,3 % DC resistance 100 MΩ to 1 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,8 % DC resistance 1 GΩ to 100 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 2,4 % DC resistance 100 GΩ to 1000 GΩ (measurement voltage to 5 kV) — CMC: 3,2 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/4 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory tester tester","categories":["metrology"],"row_index":99,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f1","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Kalibratory rezystancji, rezystory stałe, rezystory regulowane, wzorce rezystancji","test_object_en":"Resistance calibrators, fixed resistors, adjustable resistors, resistance standards","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja DC","methodology_en":"Calibration — DC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja DC","range":"0 Ω do 10 Ω — CMC: 0,002 Ω"},{"name":"Rezystancja DC","range":"10 Ω do 100 Ω — CMC: 0,02 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"0,1 kΩ do 100,0 kΩ — CMC: 0,01 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"0,1 MΩ do 10,0 MΩ — CMC: 0,04 %"},{"name":"Rezystancja DC","range":"10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 0,1 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC resistance","range":"0 Ω to 10 Ω — CMC: 0,002 Ω"},{"name":"DC resistance","range":"10 Ω to 100 Ω — CMC: 0,02 %"},{"name":"DC resistance","range":"0,1 kΩ to 100,0 kΩ — CMC: 0,01 %"},{"name":"DC resistance","range":"0,1 MΩ to 10,0 MΩ — CMC: 0,04 %"},{"name":"DC resistance","range":"10 MΩ to 100 MΩ — CMC: 0,1 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0 Ω do 10 Ω — CMC: 0,002 Ω\nRezystancja DC 10 Ω do 100 Ω — CMC: 0,02 %\nRezystancja DC 0,1 kΩ do 100,0 kΩ — CMC: 0,01 %\nRezystancja DC 0,1 MΩ do 10,0 MΩ — CMC: 0,04 %\nRezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 0,1 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/3","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Kalibratory rezystancji, rezystory stałe, rezystory regulowane, wzorce rezystancji Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0 Ω do 10 Ω — CMC: 0,002 Ω\nRezystancja DC 10 Ω do 100 Ω — CMC: 0,02 %\nRezystancja DC 0,1 kΩ do 100,0 kΩ — CMC: 0,01 %\nRezystancja DC 0,1 MΩ do 10,0 MΩ — CMC: 0,04 %\nRezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 0,1 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące kalibrator kalibratora kalibratorów rezystor rezystora rezystorów opornik opornika wzorzec rezystancji wzorca rezystancji Kalibratory rezystancji, rezystory stale, rezystory regulowane, wzorce rezystancji Wzorcowanie — Rezystancja DC\nZakres:\nRezystancja DC 0 Ω do 10 Ω — CMC: 0,002 Ω\nRezystancja DC 10 Ω do 100 Ω — CMC: 0,02 %\nRezystancja DC 0,1 kΩ do 100,0 kΩ — CMC: 0,01 %\nRezystancja DC 0,1 MΩ do 10,0 MΩ — CMC: 0,04 %\nRezystancja DC 10 MΩ do 100 MΩ — CMC: 0,1 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/3 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace kalibrator kalibratora kalibratorow rezystor rezystora rezystorow opornik opornika wzorzec rezystancji wzorca rezystancji","search_en":"Resistance calibrators, fixed resistors, adjustable resistors, resistance standards Calibration — DC resistance DC resistance 0 Ω to 10 Ω — CMC: 0,002 Ω DC resistance 10 Ω to 100 Ω — CMC: 0,02 % DC resistance 0,1 kΩ to 100,0 kΩ — CMC: 0,01 % DC resistance 0,1 MΩ to 10,0 MΩ — CMC: 0,04 % DC resistance 10 MΩ to 100 MΩ — CMC: 0,1 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/3 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory calibrator resistor resistor standard","categories":["metrology"],"row_index":100,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f2","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki rezystancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci, testery bezpieczeństwa elektrycznego","test_object_en":"Short-circuit loop resistance meters, meters of electrical system parameters, electrical safety testers","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja AC","methodology_en":"Calibration — AC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja AC","range":"1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"Rezystancja AC","range":"6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"Rezystancja AC","range":"10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC resistance","range":"1 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"AC resistance","range":"6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"AC resistance","range":"10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja AC\nZakres:\nRezystancja AC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki rezystancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Rezystancja AC\nZakres:\nRezystancja AC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester bezpieczeństwa elektrycznego testera testerów miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik pętli zwarcia miernika impedancji pętli Mierniki rezystancji petli zwarcia, mierniki parametrow sieci, testery bezpieczenstwa elektrycznego Wzorcowanie — Rezystancja AC\nZakres:\nRezystancja AC 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester bezpieczenstwa elektrycznego testera testerow miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik petli zwarcia miernika impedancji petli","search_en":"Short-circuit loop resistance meters, meters of electrical system parameters, electrical safety testers Calibration — AC resistance AC resistance 1 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω AC resistance 6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 % AC resistance 10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter meter parameter tester","categories":["metrology"],"row_index":101,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f3","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Earth resistance meters, meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Rezystancja AC","methodology_en":"Calibration — AC resistance","parameters":[{"name":"Rezystancja AC","range":"0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"Rezystancja AC","range":"6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"Rezystancja AC","range":"10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC resistance","range":"0,3 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"AC resistance","range":"6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"AC resistance","range":"10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Rezystancja AC\nZakres:\nRezystancja AC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Rezystancja AC\nZakres:\nRezystancja AC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik uziemień miernik rezystancji uziemienia Mierniki rezystancji uziemienia, mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Rezystancja AC\nZakres:\nRezystancja AC 0,3 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nRezystancja AC 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nRezystancja AC 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik rezystancji miernika rezystancji omomierz omomierza miernik uziemien miernik rezystancji uziemienia","search_en":"Earth resistance meters, meters of electrical system parameters Calibration — AC resistance AC resistance 0,3 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω AC resistance 6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 % AC resistance 10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter meter parameter","categories":["metrology"],"row_index":102,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f4","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki impedancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Short-circuit loop impedance meters, meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Impedancja","methodology_en":"Calibration — Impedance","parameters":[{"name":"Impedancja","range":"1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"Impedancja","range":"6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"Impedancja","range":"10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"parameters_en":[{"name":"Impedance","range":"1 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω"},{"name":"Impedance","range":"6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 %"},{"name":"Impedance","range":"10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Impedancja\nZakres:\nImpedancja 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nImpedancja 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nImpedancja 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki impedancji pętli zwarcia, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Impedancja\nZakres:\nImpedancja 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nImpedancja 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nImpedancja 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik pętli zwarcia miernika impedancji pętli Mierniki impedancji petli zwarcia, mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Impedancja\nZakres:\nImpedancja 1 Ω do 6 Ω — CMC: 0,06 Ω\nImpedancja 6 Ω do 10 Ω — CMC: 1,0 %\nImpedancja 10 Ω do 1000 Ω — CMC: 0,6 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik petli zwarcia miernika impedancji petli","search_en":"Short-circuit loop impedance meters, meters of electrical system parameters Calibration — Impedance Impedance 1 Ω to 6 Ω — CMC: 0,06 Ω Impedance 6 Ω to 10 Ω — CMC: 1,0 % Impedance 10 Ω to 1000 Ω — CMC: 0,6 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter meter parameter","categories":["metrology"],"row_index":103,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f5","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki pojemności, multimetry","test_object_en":"Capacitance meters, multimeters","methodology":"Wzorcowanie — Pojemność","methodology_en":"Calibration — Capacitance","parameters":[{"name":"Pojemność","range":"punkty stałe (1 kHz): 1 nF, 10 nF, 20 nF, 50 nF, 100 nF, 1 μF — CMC: 1,0 %"},{"name":"Pojemność","range":"punkt stały (1 kHz): 10 μF — CMC: 1,1 %"}],"parameters_en":[{"name":"Capacitance","range":"fixed points (1 kHz): 1 nF, 10 nF, 20 nF, 50 nF, 100 nF, 1 μF — CMC: 1,0 %"},{"name":"Capacitance","range":"fixed point (1 kHz): 10 μF — CMC: 1,1 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Pojemność\nZakres:\nPojemność punkty stałe (1 kHz): 1 nF, 10 nF, 20 nF, 50 nF, 100 nF, 1 μF — CMC: 1,0 %\nPojemność punkt stały (1 kHz): 10 μF — CMC: 1,1 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki pojemności, multimetry Wzorcowanie — Pojemność\nZakres:\nPojemność punkty stałe (1 kHz): 1 nF, 10 nF, 20 nF, 50 nF, 100 nF, 1 μF — CMC: 1,0 %\nPojemność punkt stały (1 kHz): 10 μF — CMC: 1,1 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące multimetr multimetru multimetrów miernik pojemności pojemność kondensator Mierniki pojemnosci, multimetry Wzorcowanie — Pojemnosc\nZakres:\nPojemnosc punkty stale (1 kHz): 1 nF, 10 nF, 20 nF, 50 nF, 100 nF, 1 μF — CMC: 1,0 %\nPojemnosc punkt staly (1 kHz): 10 μF — CMC: 1,1 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace multimetr multimetru multimetrow miernik pojemnosci pojemnosc kondensator","search_en":"Capacitance meters, multimeters Calibration — Capacitance Capacitance fixed points (1 kHz): 1 nF, 10 nF, 20 nF, 50 nF, 100 nF, 1 μF — CMC: 1,0 % Capacitance fixed point (1 kHz): 10 μF — CMC: 1,1 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":104,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f6","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Próbniki przebicia, mierniki napięcia przebicia, źródła wzorcowe, zasilacze","test_object_en":"Breakdown testers, breakdown voltage meters, reference sources, power supply units","methodology":"Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd","methodology_en":"Calibration — High voltage and current","parameters":[{"name":"Napięcie DC","range":"0,1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"DC voltage","range":"0,1 kV to 6 kV — CMC: 1,5 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd\nNapięcie DC 0,1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/4","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Próbniki przebicia, mierniki napięcia przebicia, źródła wzorcowe, zasilacze Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd\nNapięcie DC 0,1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik napięcia miernika napięcia woltomierz woltomierza woltomierzy próbnik przebicia próbnika przebicia zasilacz zasilacza zasilaczy źródło wzorcowe źródła wzorcowego źródeł źródło napięcia źródło wzorcowe źródła Probniki przebicia, mierniki napiecia przebicia, zrodla wzorcowe, zasilacze Wzorcowanie — Wysokie napiecie i prad\nNapiecie DC 0,1 kV do 6 kV — CMC: 1,5 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik napiecia miernika napiecia woltomierz woltomierza woltomierzy probnik przebicia probnika przebicia zasilacz zasilacza zasilaczy zrodlo wzorcowe zrodla wzorcowego zrodel zrodlo napiecia zrodlo wzorcowe zrodla","search_en":"Breakdown testers, breakdown voltage meters, reference sources, power supply units Calibration — High voltage and current DC voltage 0,1 kV to 6 kV — CMC: 1,5 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/4 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory tester meter source unit","categories":["metrology"],"row_index":105,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f7","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Próbniki przebicia, mierniki parametrów sieci, źródła napięcia, testery bezpieczeństwa elektrycznego","test_object_en":"Breakdown testers, meters of electrical system parameters, voltage sources, electrical safety testers","methodology":"Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd","methodology_en":"Calibration — High voltage and current","parameters":[{"name":"Napięcie AC","range":"0,1 kV do 6 kV (f = 50 Hz) — CMC: 1,5 %"}],"parameters_en":[{"name":"AC voltage","range":"0,1 kV to 6 kV (f = 50 Hz) — CMC: 1,5 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd\nNapięcie AC 0,1 kV do 6 kV (f = 50 Hz) — CMC: 1,5 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/4","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Próbniki przebicia, mierniki parametrów sieci, źródła napięcia, testery bezpieczeństwa elektrycznego Wzorcowanie — Wysokie napięcie i prąd\nNapięcie AC 0,1 kV do 6 kV (f = 50 Hz) — CMC: 1,5 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester bezpieczeństwa elektrycznego testera testerów próbnik przebicia próbnika przebicia źródło wzorcowe źródła wzorcowego źródeł źródło napięcia źródło wzorcowe źródła Probniki przebicia, mierniki parametrow sieci, zrodla napiecia, testery bezpieczenstwa elektrycznego Wzorcowanie — Wysokie napiecie i prad\nNapiecie AC 0,1 kV do 6 kV (f = 50 Hz) — CMC: 1,5 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji tester bezpieczenstwa elektrycznego testera testerow probnik przebicia probnika przebicia zrodlo wzorcowe zrodla wzorcowego zrodel zrodlo napiecia zrodlo wzorcowe zrodla","search_en":"Breakdown testers, meters of electrical system parameters, voltage sources, electrical safety testers Calibration — High voltage and current AC voltage 0,1 kV to 6 kV (f = 50 Hz) — CMC: 1,5 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/4 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory tester meter parameter source tester","categories":["metrology"],"row_index":106,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f8","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wskaźniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — współpracujące z czujnikami termoelektrycznymi","test_object_en":"Temperature indicators (meters) including temperature controllers, temperature transducers, temperature simulators — compatible with thermoelectric sensors","methodology":"Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości","methodology_en":"Calibration — Electrical simulation of quantities","parameters":[{"name":"Temperatura (symulacja elektryczna)","range":"-270 °C do 1760 °C (w laboratorium) — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Temperatura (symulacja elektryczna)","range":"-270 °C do 1760 °C (u klienta) — CMC: 0,3 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical simulation)","range":"-270 °C to 1760 °C (at the laboratory) — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Temperature (electrical simulation)","range":"-270 °C to 1760 °C (on site) — CMC: 0,3 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości\nZakres:\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (w laboratorium) — CMC: 0,16 °C\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (u klienta) — CMC: 0,3 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"EURAMET cg-11 v.2.0","norm_bases":["EURAMET cg-11 v.2.0"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wskaźniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — współpracujące z czujnikami termoelektrycznymi Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości\nZakres:\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (w laboratorium) — CMC: 0,16 °C\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (u klienta) — CMC: 0,3 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-11 v.2.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące wskaźnik temperatury regulator temperatury przetwornik temperatury symulator temperatury termopara Pt100 Wskazniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — wspolpracujace z czujnikami termoelektrycznymi Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkosci\nZakres:\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (w laboratorium) — CMC: 0,16 °C\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 1760 °C (u klienta) — CMC: 0,3 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-11 v.2.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace wskaznik temperatury regulator temperatury przetwornik temperatury symulator temperatury termopara Pt100","search_en":"Temperature indicators (meters) including temperature controllers, temperature transducers, temperature simulators — compatible with thermoelectric sensors Calibration — Electrical simulation of quantities Temperature (electrical simulation) -270 °C to 1760 °C (at the laboratory) — CMC: 0,16 °C Temperature (electrical simulation) -270 °C to 1760 °C (on site) — CMC: 0,3 °C Calibration at the laboratory and on site EURAMET cg-11 v.2.0 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory indicator meter controller transducer simulator sensor","categories":["metrology"],"row_index":107,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6f9","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wskaźniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — współpracujące z czujnikami rezystancyjnymi","test_object_en":"Temperature indicators (meters) including temperature controllers, temperature transducers, temperature simulators — compatible with resistance sensors","methodology":"Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości","methodology_en":"Calibration — Electrical simulation of quantities","parameters":[{"name":"Temperatura (symulacja elektryczna)","range":"-270 °C do 850 °C (w laboratorium) — CMC: 0,06 °C"},{"name":"Temperatura (symulacja elektryczna)","range":"-270 °C do 850 °C (u klienta) — CMC: 0,2 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical simulation)","range":"-270 °C to 850 °C (at the laboratory) — CMC: 0,06 °C"},{"name":"Temperature (electrical simulation)","range":"-270 °C to 850 °C (on site) — CMC: 0,2 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości\nZakres:\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (w laboratorium) — CMC: 0,06 °C\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (u klienta) — CMC: 0,2 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"EURAMET cg-11 v.2.0","norm_bases":["EURAMET cg-11 v.2.0"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wskaźniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — współpracujące z czujnikami rezystancyjnymi Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkości\nZakres:\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (w laboratorium) — CMC: 0,06 °C\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (u klienta) — CMC: 0,2 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-11 v.2.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące wskaźnik temperatury regulator temperatury przetwornik temperatury symulator temperatury termopara Pt100 Wskazniki (mierniki) temperatury, w tym regulatory temperatury, przetworniki temperatury, symulatory temperatury — wspolpracujace z czujnikami rezystancyjnymi Wzorcowanie — Elektryczna symulacja wielkosci\nZakres:\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (w laboratorium) — CMC: 0,06 °C\nTemperatura (symulacja elektryczna) -270 °C do 850 °C (u klienta) — CMC: 0,2 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-11 v.2.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace wskaznik temperatury regulator temperatury przetwornik temperatury symulator temperatury termopara Pt100","search_en":"Temperature indicators (meters) including temperature controllers, temperature transducers, temperature simulators — compatible with resistance sensors Calibration — Electrical simulation of quantities Temperature (electrical simulation) -270 °C to 850 °C (at the laboratory) — CMC: 0,06 °C Temperature (electrical simulation) -270 °C to 850 °C (on site) — CMC: 0,2 °C Calibration at the laboratory and on site EURAMET cg-11 v.2.0 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory indicator meter controller transducer simulator sensor","categories":["metrology"],"row_index":108,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6fa","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Czas (przedział czasu)","methodology_en":"Calibration — Time (time interval)","parameters":[{"name":"Czas (przedział czasu)","range":"20 ms do 390 ms — CMC: 1,2 ms"},{"name":"Czas (przedział czasu)","range":"390 ms do 1000 ms — CMC: 9,0 ms"}],"parameters_en":[{"name":"Time (time interval)","range":"20 ms to 390 ms — CMC: 1,2 ms"},{"name":"Time (time interval)","range":"390 ms to 1000 ms — CMC: 9,0 ms"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Czas (przedział czasu)\nZakres:\nCzas (przedział czasu) 20 ms do 390 ms — CMC: 1,2 ms\nCzas (przedział czasu) 390 ms do 1000 ms — CMC: 9,0 ms\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Czas (przedział czasu)\nZakres:\nCzas (przedział czasu) 20 ms do 390 ms — CMC: 1,2 ms\nCzas (przedział czasu) 390 ms do 1000 ms — CMC: 9,0 ms\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji Mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Czas (przedzial czasu)\nZakres:\nCzas (przedzial czasu) 20 ms do 390 ms — CMC: 1,2 ms\nCzas (przedzial czasu) 390 ms do 1000 ms — CMC: 9,0 ms\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji","search_en":"Meters of electrical system parameters Calibration — Time (time interval) Time (time interval) 20 ms to 390 ms — CMC: 1,2 ms Time (time interval) 390 ms to 1000 ms — CMC: 9,0 ms Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Meter parameter","categories":["metrology"],"row_index":109,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6fb","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Mierniki częstotliwości cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci","test_object_en":"Digital frequency meters, multimeters, meters of electrical system parameters","methodology":"Wzorcowanie — Częstotliwość","methodology_en":"Calibration — Frequency","parameters":[{"name":"Częstotliwość","range":"3 Hz do 30 Hz — CMC: 0,05 %"},{"name":"Częstotliwość","range":"30 Hz do 1 MHz — CMC: 0,01 %"}],"parameters_en":[{"name":"Frequency","range":"3 Hz to 30 Hz — CMC: 0,05 %"},{"name":"Frequency","range":"30 Hz to 1 MHz — CMC: 0,01 %"}],"technique":"Metoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Direct method; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Częstotliwość\nZakres:\nCzęstotliwość 3 Hz do 30 Hz — CMC: 0,05 %\nCzęstotliwość 30 Hz do 1 MHz — CMC: 0,01 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/E/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Mierniki częstotliwości cyfrowe, multimetry, mierniki parametrów sieci Wzorcowanie — Częstotliwość\nZakres:\nCzęstotliwość 3 Hz do 30 Hz — CMC: 0,05 %\nCzęstotliwość 30 Hz do 1 MHz — CMC: 0,01 %\nMetoda bezpośrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące multimetr multimetru multimetrów miernik parametrów sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik częstotliwości częstościomierz Mierniki czestotliwosci cyfrowe, multimetry, mierniki parametrow sieci Wzorcowanie — Czestotliwosc\nZakres:\nCzestotliwosc 3 Hz do 30 Hz — CMC: 0,05 %\nCzestotliwosc 30 Hz do 1 MHz — CMC: 0,01 %\nMetoda bezposrednia; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/E/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace multimetr multimetru multimetrow miernik parametrow sieci miernika instalacji elektrycznych miernik instalacji miernik czestotliwosci czestosciomierz","search_en":"Digital frequency meters, multimeters, meters of electrical system parameters Calibration — Frequency Frequency 3 Hz to 30 Hz — CMC: 0,05 % Frequency 30 Hz to 1 MHz — CMC: 0,01 % Direct method; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/E/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter multimeter meter parameter multimeter","categories":["metrology"],"row_index":110,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6fc","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Ekstensometry (zamontowane w maszynach wytrzymałościowych do prób statycznych)","test_object_en":"Extensometers (mounted in static testing machines)","methodology":"Wzorcowanie — Siła","methodology_en":"Calibration — Force","parameters":[{"name":"Wydłużenie","range":"0 µm do 300 µm — CMC: 0,4 µm"},{"name":"Wydłużenie","range":"300 µm do 20000 µm — CMC: 1,3 µm"},{"name":"Wydłużenie","range":"20 mm do 1300 mm — CMC: 0,42 %"}],"parameters_en":[{"name":"Extension","range":"0 µm to 300 µm — CMC: 0,4 µm"},{"name":"Extension","range":"300 µm to 20000 µm — CMC: 1,3 µm"},{"name":"Extension","range":"20 mm to 1300 mm — CMC: 0,42 %"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nWydłużenie 0 µm do 300 µm — CMC: 0,4 µm\nWydłużenie 300 µm do 20000 µm — CMC: 1,3 µm\nWydłużenie 20 mm do 1300 mm — CMC: 0,42 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/5 w oparciu o PN-EN ISO 9513:2013-06","norm_bases":["PN-EN ISO 9513:2013-06"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Ekstensometry (zamontowane w maszynach wytrzymałościowych do prób statycznych) Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nWydłużenie 0 µm do 300 µm — CMC: 0,4 µm\nWydłużenie 300 µm do 20000 µm — CMC: 1,3 µm\nWydłużenie 20 mm do 1300 mm — CMC: 0,42 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/5 w oparciu o PN-EN ISO 9513:2013-06 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące ekstensometr ekstensometru ekstensometrów Ekstensometry (zamontowane w maszynach wytrzymalosciowych do prob statycznych) Wzorcowanie — Sila\nZakres:\nWydluzenie 0 µm do 300 µm — CMC: 0,4 µm\nWydluzenie 300 µm do 20000 µm — CMC: 1,3 µm\nWydluzenie 20 mm do 1300 mm — CMC: 0,42 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/5 w oparciu o PN-EN ISO 9513:2013-06 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace ekstensometr ekstensometru ekstensometrow","search_en":"Extensometers (mounted in static testing machines) Calibration — Force Extension 0 µm to 300 µm — CMC: 0,4 µm Extension 300 µm to 20000 µm — CMC: 1,3 µm Extension 20 mm to 1300 mm — CMC: 0,42 % Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/5 w oparciu o PN-EN ISO 9513:2013-06 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Extensometer machine","categories":["metrology"],"row_index":111,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6fd","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił ściskających i rozciągających","test_object_en":"Static testing machines for compressive and tensile forces","methodology":"Wzorcowanie — Siła","methodology_en":"Calibration — Force","parameters":[{"name":"Siła","range":"0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,051 %"},{"name":"Siła","range":"0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %"}],"parameters_en":[{"name":"Force","range":"0,1 N to 1100 N (at the laboratory) — CMC: 0,051 %"},{"name":"Force","range":"0,1 N to 1100 N (on site) — CMC: 0,1 %"}],"technique":"Przy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Using reference weights; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nSiła 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,051 %\nSiła 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %\nPrzy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05","norm_bases":["PN-EN ISO 7500-1:2018-05"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił ściskających i rozciągających Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nSiła 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,051 %\nSiła 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %\nPrzy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące maszyna wytrzymałościowa maszyny wytrzymałościowej maszyn wytrzymałościowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymałościowa Maszyny wytrzymalosciowe do prob statycznych, do sil sciskajacych i rozciagajacych Wzorcowanie — Sila\nZakres:\nSila 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,051 %\nSila 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %\nPrzy uzyciu obciaznikow wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace maszyna wytrzymalosciowa maszyny wytrzymalosciowej maszyn wytrzymalosciowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymalosciowa","search_en":"Static testing machines for compressive and tensile forces Calibration — Force Force 0,1 N to 1100 N (at the laboratory) — CMC: 0,051 % Force 0,1 N to 1100 N (on site) — CMC: 0,1 % Using reference weights; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory machine force","categories":["metrology"],"row_index":112,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6fe","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił ściskających","test_object_en":"Static testing machines for compressive forces","methodology":"Wzorcowanie — Siła","methodology_en":"Calibration — Force","parameters":[{"name":"Siła","range":"0,002 kN do 500 kN — CMC: 0,12 %"},{"name":"Siła","range":"500 kN do 1600 kN — CMC: 0,24 %"}],"parameters_en":[{"name":"Force","range":"0,002 kN to 500 kN — CMC: 0,12 %"},{"name":"Force","range":"500 kN to 1600 kN — CMC: 0,24 %"}],"technique":"Przy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5 (do 500 kN) i klasy 1 (500 kN do 1600 kN); wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Using reference force gauges class 0,5 (up to 500 kN) and class 1 (500 kN to 1600 kN); calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nSiła 0,002 kN do 500 kN — CMC: 0,12 %\nSiła 500 kN do 1600 kN — CMC: 0,24 %\nPrzy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5 (do 500 kN) i klasy 1 (500 kN do 1600 kN); wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05","norm_bases":["PN-EN ISO 7500-1:2018-05"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił ściskających Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nSiła 0,002 kN do 500 kN — CMC: 0,12 %\nSiła 500 kN do 1600 kN — CMC: 0,24 %\nPrzy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5 (do 500 kN) i klasy 1 (500 kN do 1600 kN); wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące maszyna wytrzymałościowa maszyny wytrzymałościowej maszyn wytrzymałościowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymałościowa Maszyny wytrzymalosciowe do prob statycznych, do sil sciskajacych Wzorcowanie — Sila\nZakres:\nSila 0,002 kN do 500 kN — CMC: 0,12 %\nSila 500 kN do 1600 kN — CMC: 0,24 %\nPrzy uzyciu silomierzy wzorcowych klasy 0,5 (do 500 kN) i klasy 1 (500 kN do 1600 kN); wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace maszyna wytrzymalosciowa maszyny wytrzymalosciowej maszyn wytrzymalosciowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymalosciowa","search_en":"Static testing machines for compressive forces Calibration — Force Force 0,002 kN to 500 kN — CMC: 0,12 % Force 500 kN to 1600 kN — CMC: 0,24 % Using reference force gauges class 0,5 (up to 500 kN) and class 1 (500 kN to 1600 kN); calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory machine force","categories":["metrology"],"row_index":113,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb6ff","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił rozciągających","test_object_en":"Static testing machines for tensile forces","methodology":"Wzorcowanie — Siła","methodology_en":"Calibration — Force","parameters":[{"name":"Siła","range":"0,002 kN do 600 kN — CMC: 0,12 %"}],"parameters_en":[{"name":"Force","range":"0,002 kN to 600 kN — CMC: 0,12 %"}],"technique":"Przy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Using reference force gauges class 0,5; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Siła\nSiła 0,002 kN do 600 kN — CMC: 0,12 %\nPrzy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05","norm_bases":["PN-EN ISO 7500-1:2018-05"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych, do sił rozciągających Wzorcowanie — Siła\nSiła 0,002 kN do 600 kN — CMC: 0,12 %\nPrzy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące maszyna wytrzymałościowa maszyny wytrzymałościowej maszyn wytrzymałościowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymałościowa Maszyny wytrzymalosciowe do prob statycznych, do sil rozciagajacych Wzorcowanie — Sila\nSila 0,002 kN do 600 kN — CMC: 0,12 %\nPrzy uzyciu silomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace maszyna wytrzymalosciowa maszyny wytrzymalosciowej maszyn wytrzymalosciowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymalosciowa","search_en":"Static testing machines for tensile forces Calibration — Force Force 0,002 kN to 600 kN — CMC: 0,12 % Using reference force gauges class 0,5; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/2 w oparciu o PN-EN ISO 7500-1:2018-05 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory machine force","categories":["metrology"],"row_index":114,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb700","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych (do sił ściskających i rozciągających), urządzenia technologiczne do sił rozciągających i ściskających","test_object_en":"Static testing machines (compressive and tensile forces), technological equipment for tensile and compressive forces","methodology":"Wzorcowanie — Siła","methodology_en":"Calibration — Force","parameters":[{"name":"Prędkość przemieszczenia trawersy","range":"0,05 mm/min do 2500 mm/min — CMC: 0,1 %"}],"parameters_en":[{"name":"Crosshead displacement speed","range":"0,05 mm/min to 2500 mm/min — CMC: 0,1 %"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Siła\nPrędkość przemieszczenia trawersy 0,05 mm/min do 2500 mm/min — CMC: 0,1 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/9 w oparciu o ASTM E2658-15","norm_bases":["ASTM E2658-15"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Maszyny wytrzymałościowe do prób statycznych (do sił ściskających i rozciągających), urządzenia technologiczne do sił rozciągających i ściskających Wzorcowanie — Siła\nPrędkość przemieszczenia trawersy 0,05 mm/min do 2500 mm/min — CMC: 0,1 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/9 w oparciu o ASTM E2658-15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące maszyna wytrzymałościowa maszyny wytrzymałościowej maszyn wytrzymałościowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymałościowa urządzenie technologiczne prasa Maszyny wytrzymalosciowe do prob statycznych (do sil sciskajacych i rozciagajacych), urzadzenia technologiczne do sil rozciagajacych i sciskajacych Wzorcowanie — Sila\nPredkosc przemieszczenia trawersy 0,05 mm/min do 2500 mm/min — CMC: 0,1 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/9 w oparciu o ASTM E2658-15 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace maszyna wytrzymalosciowa maszyny wytrzymalosciowej maszyn wytrzymalosciowych zrywarka zrywarki prasa wytrzymalosciowa urzadzenie technologiczne prasa","search_en":"Static testing machines (compressive and tensile forces), technological equipment for tensile and compressive forces Calibration — Force Crosshead displacement speed 0,05 mm/min to 2500 mm/min — CMC: 0,1 % Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/9 w oparciu o ASTM E2658-15 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory machine force force","categories":["metrology"],"row_index":115,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb701","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Siłomierze, przetworniki","test_object_en":"Force gauges, transducers","methodology":"Wzorcowanie — Siła","methodology_en":"Calibration — Force","parameters":[{"name":"Siła","range":"0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,05 %"},{"name":"Siła","range":"0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %"}],"parameters_en":[{"name":"Force","range":"0,1 N to 1100 N (at the laboratory) — CMC: 0,05 %"},{"name":"Force","range":"0,1 N to 1100 N (on site) — CMC: 0,1 %"}],"technique":"Przy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Using reference weights; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nSiła 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,05 %\nSiła 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %\nPrzy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011","norm_bases":["PN-EN ISO 376:2011"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Siłomierze, przetworniki Wzorcowanie — Siła\nZakres:\nSiła 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,05 %\nSiła 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %\nPrzy użyciu obciążników wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące siłomierz siłomierza siłomierzy dynamometr Silomierze, przetworniki Wzorcowanie — Sila\nZakres:\nSila 0,1 N do 1100 N (w laboratorium) — CMC: 0,05 %\nSila 0,1 N do 1100 N (u klienta) — CMC: 0,1 %\nPrzy uzyciu obciaznikow wzorcowych; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace silomierz silomierza silomierzy dynamometr","search_en":"Force gauges, transducers Calibration — Force Force 0,1 N to 1100 N (at the laboratory) — CMC: 0,05 % Force 0,1 N to 1100 N (on site) — CMC: 0,1 % Using reference weights; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge transducer force gauge load cell","categories":["metrology"],"row_index":116,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb702","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Siłomierze, przetworniki, urządzenia technologiczne do sił rozciągających i ściskających","test_object_en":"Force gauges, transducers, technical devices for tensile and compressive forces","methodology":"Wzorcowanie — Siła","methodology_en":"Calibration — Force","parameters":[{"name":"Siła","range":"0,002 kN do 300 kN — CMC: 0,12 %"}],"parameters_en":[{"name":"Force","range":"0,002 kN to 300 kN — CMC: 0,12 %"}],"technique":"Przy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Using reference force gauges class 0,5; calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Siła\nSiła 0,002 kN do 300 kN — CMC: 0,12 %\nPrzy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011","norm_bases":["PN-EN ISO 376:2011"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Siłomierze, przetworniki, urządzenia technologiczne do sił rozciągających i ściskających Wzorcowanie — Siła\nSiła 0,002 kN do 300 kN — CMC: 0,12 %\nPrzy użyciu siłomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące urządzenie technologiczne prasa siłomierz siłomierza siłomierzy dynamometr Silomierze, przetworniki, urzadzenia technologiczne do sil rozciagajacych i sciskajacych Wzorcowanie — Sila\nSila 0,002 kN do 300 kN — CMC: 0,12 %\nPrzy uzyciu silomierzy wzorcowych klasy 0,5; wzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace urzadzenie technologiczne prasa silomierz silomierza silomierzy dynamometr","search_en":"Force gauges, transducers, technical devices for tensile and compressive forces Calibration — Force Force 0,002 kN to 300 kN — CMC: 0,12 % Using reference force gauges class 0,5; calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/4 w oparciu o PN-EN ISO 376:2011 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory gauge transducer device force force gauge load cell","categories":["metrology"],"row_index":117,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb703","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Klucze dynamometryczne","test_object_en":"Torque wrenches","methodology":"Wzorcowanie — Moment siły","methodology_en":"Calibration — Torque","parameters":[{"name":"Moment siły","range":"0,2 N·m do 2000 N·m — CMC: 0,3 %"}],"parameters_en":[{"name":"Torque","range":"0,2 N·m to 2000 N·m — CMC: 0,3 %"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Moment siły\nMoment siły 0,2 N·m do 2000 N·m — CMC: 0,3 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"PN-EN ISO 6789-1:2017-03; PN-EN ISO 6789-2:2017-03","norm_bases":["PN-EN ISO 6789-1:2017-03","PN-EN ISO 6789-2:2017-03"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Klucze dynamometryczne Wzorcowanie — Moment siły\nMoment siły 0,2 N·m do 2000 N·m — CMC: 0,3 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6789-1:2017-03; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące klucz dynamometryczny klucza dynamometrycznego kluczy dynamometrycznych Klucze dynamometryczne Wzorcowanie — Moment sily\nMoment sily 0,2 N·m do 2000 N·m — CMC: 0,3 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6789-1:2017-03; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace klucz dynamometryczny klucza dynamometrycznego kluczy dynamometrycznych","search_en":"Torque wrenches Calibration — Torque Torque 0,2 N·m to 2000 N·m — CMC: 0,3 % Calibration at the laboratory and on site PN-EN ISO 6789-1:2017-03; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory wrenche torque wrench","categories":["metrology"],"row_index":118,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb704","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Momentomierze, przetworniki momentu siły","test_object_en":"Torque meters, torque transducers","methodology":"Wzorcowanie — Moment siły","methodology_en":"Calibration — Torque","parameters":[{"name":"Moment siły","range":"0,2 N·m do 0,5 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,2 %"},{"name":"Moment siły","range":"0,5 N·m do 1000 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,1 %"},{"name":"Moment siły","range":"0,2 N·m do 0,5 N·m (u klienta) — CMC: 0,2 %"},{"name":"Moment siły","range":"0,5 N·m do 1000 N·m (u klienta) — CMC: 0,15 %"}],"parameters_en":[{"name":"Torque","range":"0,2 N·m to 0,5 N·m (at the laboratory) — CMC: 0,2 %"},{"name":"Torque","range":"0,5 N·m to 1000 N·m (at the laboratory) — CMC: 0,1 %"},{"name":"Torque","range":"0,2 N·m to 0,5 N·m (on site) — CMC: 0,2 %"},{"name":"Torque","range":"0,5 N·m to 1000 N·m (on site) — CMC: 0,15 %"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Moment siły\nZakres:\nMoment siły 0,2 N·m do 0,5 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,2 %\nMoment siły 0,5 N·m do 1000 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,1 %\nMoment siły 0,2 N·m do 0,5 N·m (u klienta) — CMC: 0,2 %\nMoment siły 0,5 N·m do 1000 N·m (u klienta) — CMC: 0,15 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"EURAMET cg-14 v.2.0; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 zał. C; BS 7882:2017","norm_bases":["EURAMET cg-14 v.2.0","PN-EN ISO 6789-2:2017-03","BS 7882:2017"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Momentomierze, przetworniki momentu siły Wzorcowanie — Moment siły\nZakres:\nMoment siły 0,2 N·m do 0,5 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,2 %\nMoment siły 0,5 N·m do 1000 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,1 %\nMoment siły 0,2 N·m do 0,5 N·m (u klienta) — CMC: 0,2 %\nMoment siły 0,5 N·m do 1000 N·m (u klienta) — CMC: 0,15 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-14 v.2.0; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 zał. C; BS 7882:2017 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące momentomierz momentomierza momentomierzy Momentomierze, przetworniki momentu sily Wzorcowanie — Moment sily\nZakres:\nMoment sily 0,2 N·m do 0,5 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,2 %\nMoment sily 0,5 N·m do 1000 N·m (w laboratorium) — CMC: 0,1 %\nMoment sily 0,2 N·m do 0,5 N·m (u klienta) — CMC: 0,2 %\nMoment sily 0,5 N·m do 1000 N·m (u klienta) — CMC: 0,15 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-14 v.2.0; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 zal. C; BS 7882:2017 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace momentomierz momentomierza momentomierzy","search_en":"Torque meters, torque transducers Calibration — Torque Torque 0,2 N·m to 0,5 N·m (at the laboratory) — CMC: 0,2 % Torque 0,5 N·m to 1000 N·m (at the laboratory) — CMC: 0,1 % Torque 0,2 N·m to 0,5 N·m (on site) — CMC: 0,2 % Torque 0,5 N·m to 1000 N·m (on site) — CMC: 0,15 % Calibration at the laboratory and on site EURAMET cg-14 v.2.0; PN-EN ISO 6789-2:2017-03 zał. C; BS 7882:2017 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory meter transducer","categories":["metrology"],"row_index":119,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb705","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wkrętarki dynamometryczne","test_object_en":"Torque screwdrivers","methodology":"Wzorcowanie — Moment siły","methodology_en":"Calibration — Torque","parameters":[{"name":"Moment siły","range":"0,2 N·m do 160 N·m — CMC: 0,6 %"}],"parameters_en":[{"name":"Torque","range":"0,2 N·m to 160 N·m — CMC: 0,6 %"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Moment siły\nMoment siły 0,2 N·m do 160 N·m — CMC: 0,6 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/S/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wkrętarki dynamometryczne Wzorcowanie — Moment siły\nMoment siły 0,2 N·m do 160 N·m — CMC: 0,6 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/S/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące wkrętarka dynamometryczna wkrętarki dynamometrycznej śrubokręt dynamometryczny wkrętak dynamometryczny Wkretarki dynamometryczne Wzorcowanie — Moment sily\nMoment sily 0,2 N·m do 160 N·m — CMC: 0,6 %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/S/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace wkretarka dynamometryczna wkretarki dynamometrycznej srubokret dynamometryczny wkretak dynamometryczny","search_en":"Torque screwdrivers Calibration — Torque Torque 0,2 N·m to 160 N·m — CMC: 0,6 % Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/S/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory screwdriver","categories":["metrology"],"row_index":120,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb706","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Twardościomierze Brinella","test_object_en":"Brinell hardness testers","methodology":"Wzorcowanie — Twardość","methodology_en":"Calibration — Hardness","parameters":[{"name":"Twardość","range":"90 HBW 2.5/31.25 do 400 HBW 2.5/31.25 — CMC: 1,4 %"},{"name":"Twardość","range":"85 HBW 2.5/62.5 do 400 HBW 2.5/62.5 — CMC: 1,1 %"},{"name":"Twardość","range":"90 HBW 2.5/187.5 do 700 HBW 2.5/187.5 — CMC: 0,94 %"},{"name":"Twardość","range":"90 HBW 5/750 do 700 HBW 5/750 — CMC: 0,94 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HBW 10/3000 do 700 HBW 10/3000 — CMC: 0,90 %"},{"name":"Siła","range":"306,5 N do 29420 N — CMC: 0,12 %"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 10 mm — CMC: 0,5 µm"},{"name":"Czas cyklu","range":"1 s do 20 s — CMC: 0,1 s"}],"parameters_en":[{"name":"Hardness","range":"90 HBW 2.5/31.25 to 400 HBW 2.5/31.25 — CMC: 1,4 %"},{"name":"Hardness","range":"85 HBW 2.5/62.5 to 400 HBW 2.5/62.5 — CMC: 1,1 %"},{"name":"Hardness","range":"90 HBW 2.5/187.5 to 700 HBW 2.5/187.5 — CMC: 0,94 %"},{"name":"Hardness","range":"90 HBW 5/750 to 700 HBW 5/750 — CMC: 0,94 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HBW 10/3000 to 700 HBW 10/3000 — CMC: 0,90 %"},{"name":"Force","range":"306,5 N to 29420 N — CMC: 0,12 %"},{"name":"Length","range":"0 mm to 10 mm — CMC: 0,5 µm"},{"name":"Cycle time","range":"1 s to 20 s — CMC: 0,1 s"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nTwardość 90 HBW 2.5/31.25 do 400 HBW 2.5/31.25 — CMC: 1,4 %\nTwardość 85 HBW 2.5/62.5 do 400 HBW 2.5/62.5 — CMC: 1,1 %\nTwardość 90 HBW 2.5/187.5 do 700 HBW 2.5/187.5 — CMC: 0,94 %\nTwardość 90 HBW 5/750 do 700 HBW 5/750 — CMC: 0,94 %\nTwardość 100 HBW 10/3000 do 700 HBW 10/3000 — CMC: 0,90 %\nSiła 306,5 N do 29420 N — CMC: 0,12 %\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 0,5 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"PN-EN ISO 6506-2:2019-10; ASTM E10-23","norm_bases":["PN-EN ISO 6506-2:2019-10","ASTM E10-23"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Twardościomierze Brinella Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nTwardość 90 HBW 2.5/31.25 do 400 HBW 2.5/31.25 — CMC: 1,4 %\nTwardość 85 HBW 2.5/62.5 do 400 HBW 2.5/62.5 — CMC: 1,1 %\nTwardość 90 HBW 2.5/187.5 do 700 HBW 2.5/187.5 — CMC: 0,94 %\nTwardość 90 HBW 5/750 do 700 HBW 5/750 — CMC: 0,94 %\nTwardość 100 HBW 10/3000 do 700 HBW 10/3000 — CMC: 0,90 %\nSiła 306,5 N do 29420 N — CMC: 0,12 %\nDługość 0 mm do 10 mm — CMC: 0,5 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6506-2:2019-10; ASTM E10-23 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące twardościomierz twardościomierza twardościomierzy Twardosciomierze Brinella Wzorcowanie — Twardosc\nZakres:\nTwardosc 90 HBW 2.5/31.25 do 400 HBW 2.5/31.25 — CMC: 1,4 %\nTwardosc 85 HBW 2.5/62.5 do 400 HBW 2.5/62.5 — CMC: 1,1 %\nTwardosc 90 HBW 2.5/187.5 do 700 HBW 2.5/187.5 — CMC: 0,94 %\nTwardosc 90 HBW 5/750 do 700 HBW 5/750 — CMC: 0,94 %\nTwardosc 100 HBW 10/3000 do 700 HBW 10/3000 — CMC: 0,90 %\nSila 306,5 N do 29420 N — CMC: 0,12 %\nDlugosc 0 mm do 10 mm — CMC: 0,5 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6506-2:2019-10; ASTM E10-23 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace twardosciomierz twardosciomierza twardosciomierzy","search_en":"Brinell hardness testers Calibration — Hardness Hardness 90 HBW 2.5/31.25 to 400 HBW 2.5/31.25 — CMC: 1,4 % Hardness 85 HBW 2.5/62.5 to 400 HBW 2.5/62.5 — CMC: 1,1 % Hardness 90 HBW 2.5/187.5 to 700 HBW 2.5/187.5 — CMC: 0,94 % Hardness 90 HBW 5/750 to 700 HBW 5/750 — CMC: 0,94 % Hardness 100 HBW 10/3000 to 700 HBW 10/3000 — CMC: 0,90 % Force 306,5 N to 29420 N — CMC: 0,12 % Length 0 mm to 10 mm — CMC: 0,5 µm Cycle time 1 s to 20 s — CMC: 0,1 s Calibration at the laboratory and on site PN-EN ISO 6506-2:2019-10; ASTM E10-23 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory hardnes tester hardness tester","categories":["metrology"],"row_index":121,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb707","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Twardościomierze Rockwella","test_object_en":"Rockwell hardness testers","methodology":"Wzorcowanie — Twardość","methodology_en":"Calibration — Hardness","parameters":[{"name":"Twardość","range":"20 HRA do 95 HRA — CMC: 0,4 HRA"},{"name":"Twardość","range":"20 HRBW do 100 HRBW — CMC: 0,5 HRBW"},{"name":"Twardość","range":"20 HRC do 70 HRC — CMC: 0,4 HRC"},{"name":"Siła","range":"98,07 N do 1471 N — CMC: 0,12 %"},{"name":"Długość","range":"0 µm do 260 µm — CMC: 0,15 µm"},{"name":"Czas cyklu","range":"1 s do 20 s — CMC: 0,1 s"}],"parameters_en":[{"name":"Hardness","range":"20 HRA to 95 HRA — CMC: 0,4 HRA"},{"name":"Hardness","range":"20 HRBW to 100 HRBW — CMC: 0,5 HRBW"},{"name":"Hardness","range":"20 HRC to 70 HRC — CMC: 0,4 HRC"},{"name":"Force","range":"98,07 N to 1471 N — CMC: 0,12 %"},{"name":"Length","range":"0 µm to 260 µm — CMC: 0,15 µm"},{"name":"Cycle time","range":"1 s to 20 s — CMC: 0,1 s"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nTwardość 20 HRA do 95 HRA — CMC: 0,4 HRA\nTwardość 20 HRBW do 100 HRBW — CMC: 0,5 HRBW\nTwardość 20 HRC do 70 HRC — CMC: 0,4 HRC\nSiła 98,07 N do 1471 N — CMC: 0,12 %\nDługość 0 µm do 260 µm — CMC: 0,15 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"PN-EN ISO 6508-2:2024-06; ASTM E18-25","norm_bases":["PN-EN ISO 6508-2:2024-06","ASTM E18-25"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Twardościomierze Rockwella Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nTwardość 20 HRA do 95 HRA — CMC: 0,4 HRA\nTwardość 20 HRBW do 100 HRBW — CMC: 0,5 HRBW\nTwardość 20 HRC do 70 HRC — CMC: 0,4 HRC\nSiła 98,07 N do 1471 N — CMC: 0,12 %\nDługość 0 µm do 260 µm — CMC: 0,15 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6508-2:2024-06; ASTM E18-25 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące twardościomierz twardościomierza twardościomierzy Twardosciomierze Rockwella Wzorcowanie — Twardosc\nZakres:\nTwardosc 20 HRA do 95 HRA — CMC: 0,4 HRA\nTwardosc 20 HRBW do 100 HRBW — CMC: 0,5 HRBW\nTwardosc 20 HRC do 70 HRC — CMC: 0,4 HRC\nSila 98,07 N do 1471 N — CMC: 0,12 %\nDlugosc 0 µm do 260 µm — CMC: 0,15 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6508-2:2024-06; ASTM E18-25 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace twardosciomierz twardosciomierza twardosciomierzy","search_en":"Rockwell hardness testers Calibration — Hardness Hardness 20 HRA to 95 HRA — CMC: 0,4 HRA Hardness 20 HRBW to 100 HRBW — CMC: 0,5 HRBW Hardness 20 HRC to 70 HRC — CMC: 0,4 HRC Force 98,07 N to 1471 N — CMC: 0,12 % Length 0 µm to 260 µm — CMC: 0,15 µm Cycle time 1 s to 20 s — CMC: 0,1 s Calibration at the laboratory and on site PN-EN ISO 6508-2:2024-06; ASTM E18-25 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory hardnes tester hardness tester","categories":["metrology"],"row_index":122,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb708","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Twardościomierze Vickersa","test_object_en":"Vickers hardness testers","methodology":"Wzorcowanie — Twardość","methodology_en":"Calibration — Hardness","parameters":[{"name":"Twardość","range":"100 HV 0,05 do 1000 HV 0,05 — CMC: 5,1 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 0,1 do 1000 HV 0,1 — CMC: 4,1 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 0,2 do 1000 HV 0,2 — CMC: 3,2 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 0,3 do 1000 HV 0,3 — CMC: 3,8 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 0,5 do 1000 HV 0,5 — CMC: 3,1 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 1 do 1000 HV 1 — CMC: 1,6 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 5 do 1000 HV 5 — CMC: 1,5 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 10 do 1000 HV 10 — CMC: 1,4 %"},{"name":"Twardość","range":"100 HV 30 do 1000 HV 30 — CMC: 2,1 %"},{"name":"Siła","range":"2,94 N do 980,7 N — CMC: 0,12 %"},{"name":"Długość","range":"0 mm do 2 mm — CMC: 0,5 µm"},{"name":"Czas cyklu","range":"1 s do 20 s — CMC: 0,1 s"}],"parameters_en":[{"name":"Hardness","range":"100 HV 0,05 to 1000 HV 0,05 — CMC: 5,1 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 0,1 to 1000 HV 0,1 — CMC: 4,1 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 0,2 to 1000 HV 0,2 — CMC: 3,2 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 0,3 to 1000 HV 0,3 — CMC: 3,8 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 0,5 to 1000 HV 0,5 — CMC: 3,1 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 1 to 1000 HV 1 — CMC: 1,6 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 5 to 1000 HV 5 — CMC: 1,5 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 10 to 1000 HV 10 — CMC: 1,4 %"},{"name":"Hardness","range":"100 HV 30 to 1000 HV 30 — CMC: 2,1 %"},{"name":"Force","range":"2,94 N to 980,7 N — CMC: 0,12 %"},{"name":"Length","range":"0 mm to 2 mm — CMC: 0,5 µm"},{"name":"Cycle time","range":"1 s to 20 s — CMC: 0,1 s"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nTwardość 100 HV 0,05 do 1000 HV 0,05 — CMC: 5,1 %\nTwardość 100 HV 0,1 do 1000 HV 0,1 — CMC: 4,1 %\nTwardość 100 HV 0,2 do 1000 HV 0,2 — CMC: 3,2 %\nTwardość 100 HV 0,3 do 1000 HV 0,3 — CMC: 3,8 %\nTwardość 100 HV 0,5 do 1000 HV 0,5 — CMC: 3,1 %\nTwardość 100 HV 1 do 1000 HV 1 — CMC: 1,6 %\nTwardość 100 HV 5 do 1000 HV 5 — CMC: 1,5 %\nTwardość 100 HV 10 do 1000 HV 10 — CMC: 1,4 %\nTwardość 100 HV 30 do 1000 HV 30 — CMC: 2,1 %\nSiła 2,94 N do 980,7 N — CMC: 0,12 %\nDługość 0 mm do 2 mm — CMC: 0,5 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"PN-EN ISO 6507-2:2018-05; ASTM E92-23; ASTM E384-22","norm_bases":["PN-EN ISO 6507-2:2018-05","ASTM E92-23","ASTM E384-22"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Twardościomierze Vickersa Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nTwardość 100 HV 0,05 do 1000 HV 0,05 — CMC: 5,1 %\nTwardość 100 HV 0,1 do 1000 HV 0,1 — CMC: 4,1 %\nTwardość 100 HV 0,2 do 1000 HV 0,2 — CMC: 3,2 %\nTwardość 100 HV 0,3 do 1000 HV 0,3 — CMC: 3,8 %\nTwardość 100 HV 0,5 do 1000 HV 0,5 — CMC: 3,1 %\nTwardość 100 HV 1 do 1000 HV 1 — CMC: 1,6 %\nTwardość 100 HV 5 do 1000 HV 5 — CMC: 1,5 %\nTwardość 100 HV 10 do 1000 HV 10 — CMC: 1,4 %\nTwardość 100 HV 30 do 1000 HV 30 — CMC: 2,1 %\nSiła 2,94 N do 980,7 N — CMC: 0,12 %\nDługość 0 mm do 2 mm — CMC: 0,5 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6507-2:2018-05; ASTM E92-23; ASTM E384-22 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące twardościomierz twardościomierza twardościomierzy Twardosciomierze Vickersa Wzorcowanie — Twardosc\nZakres:\nTwardosc 100 HV 0,05 do 1000 HV 0,05 — CMC: 5,1 %\nTwardosc 100 HV 0,1 do 1000 HV 0,1 — CMC: 4,1 %\nTwardosc 100 HV 0,2 do 1000 HV 0,2 — CMC: 3,2 %\nTwardosc 100 HV 0,3 do 1000 HV 0,3 — CMC: 3,8 %\nTwardosc 100 HV 0,5 do 1000 HV 0,5 — CMC: 3,1 %\nTwardosc 100 HV 1 do 1000 HV 1 — CMC: 1,6 %\nTwardosc 100 HV 5 do 1000 HV 5 — CMC: 1,5 %\nTwardosc 100 HV 10 do 1000 HV 10 — CMC: 1,4 %\nTwardosc 100 HV 30 do 1000 HV 30 — CMC: 2,1 %\nSila 2,94 N do 980,7 N — CMC: 0,12 %\nDlugosc 0 mm do 2 mm — CMC: 0,5 µm\nCzas cyklu 1 s do 20 s — CMC: 0,1 s\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta PN-EN ISO 6507-2:2018-05; ASTM E92-23; ASTM E384-22 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace twardosciomierz twardosciomierza twardosciomierzy","search_en":"Vickers hardness testers Calibration — Hardness Hardness 100 HV 0,05 to 1000 HV 0,05 — CMC: 5,1 % Hardness 100 HV 0,1 to 1000 HV 0,1 — CMC: 4,1 % Hardness 100 HV 0,2 to 1000 HV 0,2 — CMC: 3,2 % Hardness 100 HV 0,3 to 1000 HV 0,3 — CMC: 3,8 % Hardness 100 HV 0,5 to 1000 HV 0,5 — CMC: 3,1 % Hardness 100 HV 1 to 1000 HV 1 — CMC: 1,6 % Hardness 100 HV 5 to 1000 HV 5 — CMC: 1,5 % Hardness 100 HV 10 to 1000 HV 10 — CMC: 1,4 % Hardness 100 HV 30 to 1000 HV 30 — CMC: 2,1 % Force 2,94 N to 980,7 N — CMC: 0,12 % Length 0 mm to 2 mm — CMC: 0,5 µm Cycle time 1 s to 20 s — CMC: 0,1 s Calibration at the laboratory and on site PN-EN ISO 6507-2:2018-05; ASTM E92-23; ASTM E384-22 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Vicker hardnes tester hardness tester","categories":["metrology"],"row_index":123,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb709","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Twardościomierze Shore'a typu A","test_object_en":"Shore A hardness testers","methodology":"Wzorcowanie — Twardość","methodology_en":"Calibration — Hardness","parameters":[{"name":"Siła","range":"550 mN do 8050 mN — CMC: 7,5 mN"},{"name":"Przemieszczenie wgłębnika","range":"0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Średnica wgłębnika","range":"1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Średnica ściętego stożka wgłębnika","range":"0,78 mm do 0,80 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Kąt stożka wgłębnika","range":"34,75° do 35,25° — CMC: 5ʹ"},{"name":"Średnica stopki dociskowej","range":"0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Średnica otworu stopki dociskowej","range":"0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)"}],"parameters_en":[{"name":"Force","range":"550 mN to 8050 mN — CMC: 7,5 mN"},{"name":"Indenter displacement","range":"0 mm to 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Indenter diameter","range":"1,1 mm to 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Diameter of the cut cone of the indenter","range":"0,78 mm to 0,80 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Indenter cone angle","range":"34,75° to 35,25° — CMC: 5ʹ"},{"name":"Pressure foot diameter","range":"0 mm to 20 mm — CMC: 26 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Pressure foot hole diameter","range":"0 mm to 4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope)"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nSiła 550 mN do 8050 mN — CMC: 7,5 mN\nPrzemieszczenie wgłębnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica wgłębnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica ściętego stożka wgłębnika 0,78 mm do 0,80 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nKąt stożka wgłębnika 34,75° do 35,25° — CMC: 5ʹ\nŚrednica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"ISO 48-9:2018","norm_bases":["ISO 48-9:2018"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Twardościomierze Shore'a typu A Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nSiła 550 mN do 8050 mN — CMC: 7,5 mN\nPrzemieszczenie wgłębnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica wgłębnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica ściętego stożka wgłębnika 0,78 mm do 0,80 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nKąt stożka wgłębnika 34,75° do 35,25° — CMC: 5ʹ\nŚrednica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta ISO 48-9:2018 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące twardościomierz twardościomierza twardościomierzy Twardosciomierze Shore'a typu A Wzorcowanie — Twardosc\nZakres:\nSila 550 mN do 8050 mN — CMC: 7,5 mN\nPrzemieszczenie wglebnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nSrednica wglebnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nSrednica scietego stozka wglebnika 0,78 mm do 0,80 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nKat stozka wglebnika 34,75° do 35,25° — CMC: 5ʹ\nSrednica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nSrednica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta ISO 48-9:2018 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace twardosciomierz twardosciomierza twardosciomierzy","search_en":"Shore A hardness testers Calibration — Hardness Force 550 mN to 8050 mN — CMC: 7,5 mN Indenter displacement 0 mm to 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (as written in the PCA scope) Indenter diameter 1,1 mm to 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope) Diameter of the cut cone of the indenter 0,78 mm to 0,80 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope) Indenter cone angle 34,75° to 35,25° — CMC: 5ʹ Pressure foot diameter 0 mm to 20 mm — CMC: 26 mm (as written in the PCA scope) Pressure foot hole diameter 0 mm to 4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope) Calibration at the laboratory and on site ISO 48-9:2018 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory hardnes tester hardness tester","categories":["metrology"],"row_index":124,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb70a","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Twardościomierze Shore'a typu D","test_object_en":"Shore D hardness testers","methodology":"Wzorcowanie — Twardość","methodology_en":"Calibration — Hardness","parameters":[{"name":"Siła","range":"0 mN do 44500 mN — CMC: 35 mN"},{"name":"Przemieszczenie wgłębnika","range":"0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Średnica wgłębnika","range":"1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Promień wgłębnika","range":"0,09 mm do 0,11 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Kąt stożka wgłębnika","range":"29,75° do 30,25° — CMC: 5ʹ"},{"name":"Średnica stopki dociskowej","range":"0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)"},{"name":"Średnica otworu stopki dociskowej","range":"0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)"}],"parameters_en":[{"name":"Force","range":"0 mN to 44500 mN — CMC: 35 mN"},{"name":"Indenter displacement","range":"0 mm to 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Indenter diameter","range":"1,1 mm to 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Indenter radius","range":"0,09 mm to 0,11 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Indenter cone angle","range":"29,75° to 30,25° — CMC: 5ʹ"},{"name":"Pressure foot diameter","range":"0 mm to 20 mm — CMC: 26 mm (as written in the PCA scope)"},{"name":"Pressure foot hole diameter","range":"0 mm to 4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope)"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nSiła 0 mN do 44500 mN — CMC: 35 mN\nPrzemieszczenie wgłębnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica wgłębnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nPromień wgłębnika 0,09 mm do 0,11 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nKąt stożka wgłębnika 29,75° do 30,25° — CMC: 5ʹ\nŚrednica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"ISO 48-9:2018","norm_bases":["ISO 48-9:2018"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Twardościomierze Shore'a typu D Wzorcowanie — Twardość\nZakres:\nSiła 0 mN do 44500 mN — CMC: 35 mN\nPrzemieszczenie wgłębnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica wgłębnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nPromień wgłębnika 0,09 mm do 0,11 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nKąt stożka wgłębnika 29,75° do 30,25° — CMC: 5ʹ\nŚrednica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nŚrednica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta ISO 48-9:2018 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące twardościomierz twardościomierza twardościomierzy Twardosciomierze Shore'a typu D Wzorcowanie — Twardosc\nZakres:\nSila 0 mN do 44500 mN — CMC: 35 mN\nPrzemieszczenie wglebnika 0 mm do 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nSrednica wglebnika 1,1 mm do 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nPromien wglebnika 0,09 mm do 0,11 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nKat stozka wglebnika 29,75° do 30,25° — CMC: 5ʹ\nSrednica stopki dociskowej 0 mm do 20 mm — CMC: 26 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nSrednica otworu stopki dociskowej 0 mm do 4 mm — CMC: 5,4 mm (zapis jak w zakresie PCA)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta ISO 48-9:2018 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace twardosciomierz twardosciomierza twardosciomierzy","search_en":"Shore D hardness testers Calibration — Hardness Force 0 mN to 44500 mN — CMC: 35 mN Indenter displacement 0 mm to 2,5 mm — CMC: 3,8 mm (as written in the PCA scope) Indenter diameter 1,1 mm to 1,4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope) Indenter radius 0,09 mm to 0,11 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope) Indenter cone angle 29,75° to 30,25° — CMC: 5ʹ Pressure foot diameter 0 mm to 20 mm — CMC: 26 mm (as written in the PCA scope) Pressure foot hole diameter 0 mm to 4 mm — CMC: 5,4 mm (as written in the PCA scope) Calibration at the laboratory and on site ISO 48-9:2018 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory hardnes tester hardness tester","categories":["metrology"],"row_index":125,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb70b","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Higrometry, termohigrometry","test_object_en":"Hygrometers, thermohygrometers","methodology":"Wzorcowanie — Wilgotność względna","methodology_en":"Calibration — Relative humidity","parameters":[{"name":"Temperatura","range":"5 °C do 10 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Wilgotność względna","range":"70 %rh (przy 5 °C do 10 °C) — CMC: 1,9 %rh"},{"name":"Temperatura","range":"10 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Wilgotność względna","range":"70 %rh (przy 10 °C) — CMC: 1,8 %rh"},{"name":"Temperatura","range":"22 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Wilgotność względna","range":"30 %rh do 85 %rh (przy 22 °C) — CMC: 1,3 %rh"},{"name":"Temperatura","range":"42 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Wilgotność względna","range":"57 %rh (przy 42 °C) — CMC: 1,3 %rh"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature","range":"5 °C to 10 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Relative humidity","range":"70 %rh (at 5 °C to 10 °C) — CMC: 1,9 %rh"},{"name":"Temperature","range":"10 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Relative humidity","range":"70 %rh (at 10 °C) — CMC: 1,8 %rh"},{"name":"Temperature","range":"22 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Relative humidity","range":"30 %rh to 85 %rh (at 22 °C) — CMC: 1,3 %rh"},{"name":"Temperature","range":"42 °C — CMC: 0,16 °C"},{"name":"Relative humidity","range":"57 %rh (at 42 °C) — CMC: 1,3 %rh"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Wilgotność względna\nZakres:\nTemperatura 5 °C do 10 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 70 %rh (przy 5 °C do 10 °C) — CMC: 1,9 %rh\nTemperatura 10 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 70 %rh (przy 10 °C) — CMC: 1,8 %rh\nTemperatura 22 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 30 %rh do 85 %rh (przy 22 °C) — CMC: 1,3 %rh\nTemperatura 42 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 57 %rh (przy 42 °C) — CMC: 1,3 %rh\nWzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/W/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Higrometry, termohigrometry Wzorcowanie — Wilgotność względna\nZakres:\nTemperatura 5 °C do 10 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 70 %rh (przy 5 °C do 10 °C) — CMC: 1,9 %rh\nTemperatura 10 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 70 %rh (przy 10 °C) — CMC: 1,8 %rh\nTemperatura 22 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 30 %rh do 85 %rh (przy 22 °C) — CMC: 1,3 %rh\nTemperatura 42 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotność względna 57 %rh (przy 42 °C) — CMC: 1,3 %rh\nWzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/W/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące higrometr higrometru higrometrów termohigrometr termohigrometru wilgotnościomierz powietrza Higrometry, termohigrometry Wzorcowanie — Wilgotnosc wzgledna\nZakres:\nTemperatura 5 °C do 10 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotnosc wzgledna 70 %rh (przy 5 °C do 10 °C) — CMC: 1,9 %rh\nTemperatura 10 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotnosc wzgledna 70 %rh (przy 10 °C) — CMC: 1,8 %rh\nTemperatura 22 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotnosc wzgledna 30 %rh do 85 %rh (przy 22 °C) — CMC: 1,3 %rh\nTemperatura 42 °C — CMC: 0,16 °C\nWilgotnosc wzgledna 57 %rh (przy 42 °C) — CMC: 1,3 %rh\nWzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/W/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace higrometr higrometru higrometrow termohigrometr termohigrometru wilgotnosciomierz powietrza","search_en":"Hygrometers, thermohygrometers Calibration — Relative humidity Temperature 5 °C to 10 °C — CMC: 0,16 °C Relative humidity 70 %rh (at 5 °C to 10 °C) — CMC: 1,9 %rh Temperature 10 °C — CMC: 0,16 °C Relative humidity 70 %rh (at 10 °C) — CMC: 1,8 %rh Temperature 22 °C — CMC: 0,16 °C Relative humidity 30 %rh to 85 %rh (at 22 °C) — CMC: 1,3 %rh Temperature 42 °C — CMC: 0,16 °C Relative humidity 57 %rh (at 42 °C) — CMC: 1,3 %rh Calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/W/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Hygrometer thermohygrometer hygrometer thermohygrometer","categories":["metrology"],"row_index":126,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb70c","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Komory klimatyczne","test_object_en":"Climate chambers","methodology":"Wzorcowanie — Wilgotność względna","methodology_en":"Calibration — Relative humidity","parameters":[{"name":"Wilgotność względna","range":"70 %rh do 95 %rh (zakres temperatur 10 °C do 20 °C) — CMC: 2,0 %rh"},{"name":"Wilgotność względna","range":"35 %rh do 97 %rh (zakres temperatur 20 °C do 40 °C) — CMC: 2,0 %rh"},{"name":"Wilgotność względna","range":"20 %rh do 80 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 2,0 %rh"},{"name":"Wilgotność względna","range":"95 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 3,5 %rh"}],"parameters_en":[{"name":"Relative humidity","range":"70 %rh to 95 %rh (temperature range 10 °C to 20 °C) — CMC: 2,0 %rh"},{"name":"Relative humidity","range":"35 %rh to 97 %rh (temperature range 20 °C to 40 °C) — CMC: 2,0 %rh"},{"name":"Relative humidity","range":"20 %rh to 80 %rh (at temperature 40 °C) — CMC: 2,0 %rh"},{"name":"Relative humidity","range":"95 %rh (at temperature 40 °C) — CMC: 3,5 %rh"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Wilgotność względna\nZakres:\nWilgotność względna 70 %rh do 95 %rh (zakres temperatur 10 °C do 20 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotność względna 35 %rh do 97 %rh (zakres temperatur 20 °C do 40 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotność względna 20 %rh do 80 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotność względna 95 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 3,5 %rh\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"EURAMET cg-20 v.5.0","norm_bases":["EURAMET cg-20 v.5.0"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Komory klimatyczne Wzorcowanie — Wilgotność względna\nZakres:\nWilgotność względna 70 %rh do 95 %rh (zakres temperatur 10 °C do 20 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotność względna 35 %rh do 97 %rh (zakres temperatur 20 °C do 40 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotność względna 20 %rh do 80 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotność względna 95 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 3,5 %rh\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-20 v.5.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące komora klimatyczna komory klimatycznej komór klimatycznych Komory klimatyczne Wzorcowanie — Wilgotnosc wzgledna\nZakres:\nWilgotnosc wzgledna 70 %rh do 95 %rh (zakres temperatur 10 °C do 20 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotnosc wzgledna 35 %rh do 97 %rh (zakres temperatur 20 °C do 40 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotnosc wzgledna 20 %rh do 80 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 2,0 %rh\nWilgotnosc wzgledna 95 %rh (w temperaturze 40 °C) — CMC: 3,5 %rh\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-20 v.5.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace komora klimatyczna komory klimatycznej komor klimatycznych","search_en":"Climate chambers Calibration — Relative humidity Relative humidity 70 %rh to 95 %rh (temperature range 10 °C to 20 °C) — CMC: 2,0 %rh Relative humidity 35 %rh to 97 %rh (temperature range 20 °C to 40 °C) — CMC: 2,0 %rh Relative humidity 20 %rh to 80 %rh (at temperature 40 °C) — CMC: 2,0 %rh Relative humidity 95 %rh (at temperature 40 °C) — CMC: 3,5 %rh Calibration at the laboratory and on site EURAMET cg-20 v.5.0 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory chamber climatic chamber","categories":["metrology"],"row_index":127,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb70d","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Wagi nieautomatyczne","test_object_en":"Non-automatic scales","methodology":"Wzorcowanie — Masa (wagi)","methodology_en":"Calibration — Mass (scales)","parameters":[{"name":"Masa (wagi)","range":"do 1 g — CMC: 2,6·10⁻³ %"},{"name":"Masa (wagi)","range":"1 g do 200 g — CMC: 5·10⁻⁴ %"},{"name":"Masa (wagi)","range":"200 g do 16000 g — CMC: 1,6·10⁻³ %"},{"name":"Masa (wagi)","range":"16 kg do 100 kg — CMC: 10,5·10⁻³ %"},{"name":"Masa (wagi)","range":"100 kg do 1500 kg — CMC: 13·10⁻³ %"}],"parameters_en":[{"name":"Mass (scales)","range":"up to 1 g — CMC: 2,6·10⁻³ %"},{"name":"Mass (scales)","range":"1 g to 200 g — CMC: 5·10⁻⁴ %"},{"name":"Mass (scales)","range":"200 g to 16000 g — CMC: 1,6·10⁻³ %"},{"name":"Mass (scales)","range":"16 kg to 100 kg — CMC: 10,5·10⁻³ %"},{"name":"Mass (scales)","range":"100 kg to 1500 kg — CMC: 13·10⁻³ %"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Masa (wagi)\nZakres:\nMasa (wagi) do 1 g — CMC: 2,6·10⁻³ %\nMasa (wagi) 1 g do 200 g — CMC: 5·10⁻⁴ %\nMasa (wagi) 200 g do 16000 g — CMC: 1,6·10⁻³ %\nMasa (wagi) 16 kg do 100 kg — CMC: 10,5·10⁻³ %\nMasa (wagi) 100 kg do 1500 kg — CMC: 13·10⁻³ %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/M/1 w oparciu o EURAMET cg-18 v.4.0","norm_bases":["EURAMET cg-18 v.4.0"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Wagi nieautomatyczne Wzorcowanie — Masa (wagi)\nZakres:\nMasa (wagi) do 1 g — CMC: 2,6·10⁻³ %\nMasa (wagi) 1 g do 200 g — CMC: 5·10⁻⁴ %\nMasa (wagi) 200 g do 16000 g — CMC: 1,6·10⁻³ %\nMasa (wagi) 16 kg do 100 kg — CMC: 10,5·10⁻³ %\nMasa (wagi) 100 kg do 1500 kg — CMC: 13·10⁻³ %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/M/1 w oparciu o EURAMET cg-18 v.4.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące waga wagi wag wagę waga laboratoryjna waga przemysłowa Wagi nieautomatyczne Wzorcowanie — Masa (wagi)\nZakres:\nMasa (wagi) do 1 g — CMC: 2,6·10⁻³ %\nMasa (wagi) 1 g do 200 g — CMC: 5·10⁻⁴ %\nMasa (wagi) 200 g do 16000 g — CMC: 1,6·10⁻³ %\nMasa (wagi) 16 kg do 100 kg — CMC: 10,5·10⁻³ %\nMasa (wagi) 100 kg do 1500 kg — CMC: 13·10⁻³ %\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/M/1 w oparciu o EURAMET cg-18 v.4.0 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace waga wagi wag wage waga laboratoryjna waga przemyslowa","search_en":"Non-automatic scales Calibration — Mass (scales) Mass (scales) up to 1 g — CMC: 2,6·10⁻³ % Mass (scales) 1 g to 200 g — CMC: 5·10⁻⁴ % Mass (scales) 200 g to 16000 g — CMC: 1,6·10⁻³ % Mass (scales) 16 kg to 100 kg — CMC: 10,5·10⁻³ % Mass (scales) 100 kg to 1500 kg — CMC: 13·10⁻³ % Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/M/1 w oparciu o EURAMET cg-18 v.4.0 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory scale scale balance weighing","categories":["metrology"],"row_index":128,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb70e","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Barometry, ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe","test_object_en":"Barometers, digital manometers, pressure gauges","methodology":"Wzorcowanie — Ciśnienie","methodology_en":"Calibration — Pressure","parameters":[{"name":"Ciśnienie absolutne (gaz)","range":"500 hPa do 1100 hPa — CMC: 0,23 hPa"}],"parameters_en":[{"name":"Absolute pressure (gas)","range":"500 hPa to 1100 hPa — CMC: 0,23 hPa"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Ciśnienie\nCiśnienie absolutne (gaz) 500 hPa do 1100 hPa — CMC: 0,23 hPa\nWzorcowanie w laboratorium","reference":"EURAMET cg-17 v.4.1","norm_bases":["EURAMET cg-17 v.4.1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Barometry, ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe Wzorcowanie — Ciśnienie\nCiśnienie absolutne (gaz) 500 hPa do 1100 hPa — CMC: 0,23 hPa\nWzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-17 v.4.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące barometr barometru barometrów ciśnieniomierz ciśnieniomierza manometr manometru manometrów Barometry, cisnieniomierze elektroniczne, cisnieniomierze sprezynowe Wzorcowanie — Cisnienie\nCisnienie absolutne (gaz) 500 hPa do 1100 hPa — CMC: 0,23 hPa\nWzorcowanie w laboratorium EURAMET cg-17 v.4.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace barometr barometru barometrow cisnieniomierz cisnieniomierza manometr manometru manometrow","search_en":"Barometers, digital manometers, pressure gauges Calibration — Pressure Absolute pressure (gas) 500 hPa to 1100 hPa — CMC: 0,23 hPa Calibration at the laboratory EURAMET cg-17 v.4.1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Barometer manometer gauge pressure gauge manometer manometer","categories":["metrology"],"row_index":129,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb70f","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe, przetworniki ciśnienia","test_object_en":"Digital manometers, pressure gauges, pressure transmitters","methodology":"Wzorcowanie — Ciśnienie","methodology_en":"Calibration — Pressure","parameters":[{"name":"Ciśnienie względne (gaz)","range":"-2450 Pa do 2450 Pa (w laboratorium) — CMC: 0,001·P, P – wielkość mierzona w Pa"},{"name":"Ciśnienie względne (gaz)","range":"-0,1 MPa do -0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (gaz)","range":"-0,01 MPa do -0,0015 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (gaz)","range":"0,0015 MPa do 0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (gaz)","range":"0,01 MPa do 0,1 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (gaz)","range":"0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (gaz)","range":"-0,1 MPa do 2 MPa (u klienta) — CMC: 0,0017·P, P – wielkość mierzona w MPa"}],"parameters_en":[{"name":"Relative pressure (gas)","range":"-2450 Pa to 2450 Pa (at the laboratory) — CMC: 0,001·P, P – measured value in Pa"},{"name":"Relative pressure (gas)","range":"-0,1 MPa to -0,01 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,000059·P, P – measured value in MPa"},{"name":"Relative pressure (gas)","range":"-0,01 MPa to -0,0015 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00000059 MPa"},{"name":"Relative pressure (gas)","range":"0,0015 MPa to 0,01 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00000059 MPa"},{"name":"Relative pressure (gas)","range":"0,01 MPa to 0,1 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,000059·P, P – measured value in MPa"},{"name":"Relative pressure (gas)","range":"0,1 MPa to 0,6 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00024·P, P – measured value in MPa"},{"name":"Relative pressure (gas)","range":"-0,1 MPa to 2 MPa (on site) — CMC: 0,0017·P, P – measured value in MPa"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Ciśnienie\nZakres:\nCiśnienie względne (gaz) -2450 Pa do 2450 Pa (w laboratorium) — CMC: 0,001·P, P – wielkość mierzona w Pa\nCiśnienie względne (gaz) -0,1 MPa do -0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (gaz) -0,01 MPa do -0,0015 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa\nCiśnienie względne (gaz) 0,0015 MPa do 0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa\nCiśnienie względne (gaz) 0,01 MPa do 0,1 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (gaz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (gaz) -0,1 MPa do 2 MPa (u klienta) — CMC: 0,0017·P, P – wielkość mierzona w MPa\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"EURAMET cg-17 v.4.1","norm_bases":["EURAMET cg-17 v.4.1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe, przetworniki ciśnienia Wzorcowanie — Ciśnienie\nZakres:\nCiśnienie względne (gaz) -2450 Pa do 2450 Pa (w laboratorium) — CMC: 0,001·P, P – wielkość mierzona w Pa\nCiśnienie względne (gaz) -0,1 MPa do -0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (gaz) -0,01 MPa do -0,0015 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa\nCiśnienie względne (gaz) 0,0015 MPa do 0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa\nCiśnienie względne (gaz) 0,01 MPa do 0,1 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (gaz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (gaz) -0,1 MPa do 2 MPa (u klienta) — CMC: 0,0017·P, P – wielkość mierzona w MPa\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-17 v.4.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące ciśnieniomierz ciśnieniomierza manometr manometru manometrów przetwornik ciśnienia przetwornika ciśnienia Cisnieniomierze elektroniczne, cisnieniomierze sprezynowe, przetworniki cisnienia Wzorcowanie — Cisnienie\nZakres:\nCisnienie wzgledne (gaz) -2450 Pa do 2450 Pa (w laboratorium) — CMC: 0,001·P, P – wielkosc mierzona w Pa\nCisnienie wzgledne (gaz) -0,1 MPa do -0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkosc mierzona w MPa\nCisnienie wzgledne (gaz) -0,01 MPa do -0,0015 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa\nCisnienie wzgledne (gaz) 0,0015 MPa do 0,01 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00000059 MPa\nCisnienie wzgledne (gaz) 0,01 MPa do 0,1 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,000059·P, P – wielkosc mierzona w MPa\nCisnienie wzgledne (gaz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkosc mierzona w MPa\nCisnienie wzgledne (gaz) -0,1 MPa do 2 MPa (u klienta) — CMC: 0,0017·P, P – wielkosc mierzona w MPa\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-17 v.4.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace cisnieniomierz cisnieniomierza manometr manometru manometrow przetwornik cisnienia przetwornika cisnienia","search_en":"Digital manometers, pressure gauges, pressure transmitters Calibration — Pressure Relative pressure (gas) -2450 Pa to 2450 Pa (at the laboratory) — CMC: 0,001·P, P – measured value in Pa Relative pressure (gas) -0,1 MPa to -0,01 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,000059·P, P – measured value in MPa Relative pressure (gas) -0,01 MPa to -0,0015 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00000059 MPa Relative pressure (gas) 0,0015 MPa to 0,01 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00000059 MPa Relative pressure (gas) 0,01 MPa to 0,1 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,000059·P, P – measured value in MPa Relative pressure (gas) 0,1 MPa to 0,6 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00024·P, P – measured value in MPa Relative pressure (gas) -0,1 MPa to 2 MPa (on site) — CMC: 0,0017·P, P – measured value in MPa Calibration at the laboratory and on site EURAMET cg-17 v.4.1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory manometer gauge transmitter pressure gauge manometer manometer","categories":["metrology"],"row_index":130,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb710","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe, przetworniki ciśnienia","test_object_en":"Digital manometers, pressure gauges, pressure transmitters","methodology":"Wzorcowanie — Ciśnienie","methodology_en":"Calibration — Pressure","parameters":[{"name":"Ciśnienie względne (ciecz)","range":"0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00016 MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (ciecz)","range":"0,6 MPa do 6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (ciecz)","range":"6 MPa do 7 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,0017 MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (ciecz)","range":"7 MPa do 70 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa"},{"name":"Ciśnienie względne (ciecz)","range":"2 MPa do 70 MPa (u klienta) — CMC: 0,0025·P, P – wielkość mierzona w MPa"}],"parameters_en":[{"name":"Relative pressure (liquid)","range":"0,1 MPa to 0,6 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00016 MPa"},{"name":"Relative pressure (liquid)","range":"0,6 MPa to 6 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00024·P, P – measured value in MPa"},{"name":"Relative pressure (liquid)","range":"6 MPa to 7 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,0017 MPa"},{"name":"Relative pressure (liquid)","range":"7 MPa to 70 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00024·P, P – measured value in MPa"},{"name":"Relative pressure (liquid)","range":"2 MPa to 70 MPa (on site) — CMC: 0,0025·P, P – measured value in MPa"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Ciśnienie\nZakres:\nCiśnienie względne (ciecz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00016 MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 0,6 MPa do 6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 6 MPa do 7 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,0017 MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 7 MPa do 70 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 2 MPa do 70 MPa (u klienta) — CMC: 0,0025·P, P – wielkość mierzona w MPa\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"EURAMET cg-17 v.4.1","norm_bases":["EURAMET cg-17 v.4.1"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Ciśnieniomierze elektroniczne, ciśnieniomierze sprężynowe, przetworniki ciśnienia Wzorcowanie — Ciśnienie\nZakres:\nCiśnienie względne (ciecz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00016 MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 0,6 MPa do 6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 6 MPa do 7 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,0017 MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 7 MPa do 70 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkość mierzona w MPa\nCiśnienie względne (ciecz) 2 MPa do 70 MPa (u klienta) — CMC: 0,0025·P, P – wielkość mierzona w MPa\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-17 v.4.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące ciśnieniomierz ciśnieniomierza manometr manometru manometrów przetwornik ciśnienia przetwornika ciśnienia Cisnieniomierze elektroniczne, cisnieniomierze sprezynowe, przetworniki cisnienia Wzorcowanie — Cisnienie\nZakres:\nCisnienie wzgledne (ciecz) 0,1 MPa do 0,6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00016 MPa\nCisnienie wzgledne (ciecz) 0,6 MPa do 6 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkosc mierzona w MPa\nCisnienie wzgledne (ciecz) 6 MPa do 7 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,0017 MPa\nCisnienie wzgledne (ciecz) 7 MPa do 70 MPa (w laboratorium) — CMC: 0,00024·P, P – wielkosc mierzona w MPa\nCisnienie wzgledne (ciecz) 2 MPa do 70 MPa (u klienta) — CMC: 0,0025·P, P – wielkosc mierzona w MPa\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta EURAMET cg-17 v.4.1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace cisnieniomierz cisnieniomierza manometr manometru manometrow przetwornik cisnienia przetwornika cisnienia","search_en":"Digital manometers, pressure gauges, pressure transmitters Calibration — Pressure Relative pressure (liquid) 0,1 MPa to 0,6 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00016 MPa Relative pressure (liquid) 0,6 MPa to 6 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00024·P, P – measured value in MPa Relative pressure (liquid) 6 MPa to 7 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,0017 MPa Relative pressure (liquid) 7 MPa to 70 MPa (at the laboratory) — CMC: 0,00024·P, P – measured value in MPa Relative pressure (liquid) 2 MPa to 70 MPa (on site) — CMC: 0,0025·P, P – measured value in MPa Calibration at the laboratory and on site EURAMET cg-17 v.4.1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory manometer gauge transmitter pressure gauge manometer manometer","categories":["metrology"],"row_index":131,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb711","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Termometry elektryczne (w tym elektroniczne)","test_object_en":"Electrical thermometers (including electronic)","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (electrical thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"-70 °C do 0 °C — CMC: 0,4 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"0 °C do 50 °C — CMC: 0,3 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"50 °C do 100 °C — CMC: 0,4 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"-70 °C to 0 °C — CMC: 0,4 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"0 °C to 50 °C — CMC: 0,3 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"50 °C to 100 °C — CMC: 0,4 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w komorze klimatycznej; wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Calibration in a climatic chamber; calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) -70 °C do 0 °C — CMC: 0,4 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 50 °C — CMC: 0,3 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 50 °C do 100 °C — CMC: 0,4 °C\nWzorcowanie w komorze klimatycznej; wzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) -70 °C do 0 °C — CMC: 0,4 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 50 °C — CMC: 0,3 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 50 °C do 100 °C — CMC: 0,4 °C\nWzorcowanie w komorze klimatycznej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/T/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące termometr termometru termometrów termometr elektroniczny Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) -70 °C do 0 °C — CMC: 0,4 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 50 °C — CMC: 0,3 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 50 °C do 100 °C — CMC: 0,4 °C\nWzorcowanie w komorze klimatycznej; wzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/T/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace termometr termometru termometrow termometr elektroniczny","search_en":"Electrical thermometers (including electronic) Calibration — Temperature (electrical thermometry) Temperature (electrical thermometry) -70 °C to 0 °C — CMC: 0,4 °C Temperature (electrical thermometry) 0 °C to 50 °C — CMC: 0,3 °C Temperature (electrical thermometry) 50 °C to 100 °C — CMC: 0,4 °C Calibration in a climatic chamber; calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/T/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thermometer thermometer","categories":["metrology"],"row_index":132,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb712","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Termometry elektryczne (w tym elektroniczne)","test_object_en":"Electrical thermometers (including electronic)","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (electrical thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"0 °C (w laboratorium) — CMC: 0,05 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"30 °C do 250 °C (w laboratorium) — CMC: 0,09 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"250 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 0,9 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"1085 °C do 1290 °C (w laboratorium) — CMC: 1,6 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"0 °C (u klienta) — CMC: 0,05 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"30 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 0,9 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"200 °C do 650 °C (u klienta) — CMC: 1,1 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"0 °C (at the laboratory) — CMC: 0,05 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"30 °C to 250 °C (at the laboratory) — CMC: 0,09 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"250 °C to 1085 °C (at the laboratory) — CMC: 0,9 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"1085 °C to 1290 °C (at the laboratory) — CMC: 1,6 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"0 °C (on site) — CMC: 0,05 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"30 °C to 200 °C (on site) — CMC: 0,9 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"200 °C to 650 °C (on site) — CMC: 1,1 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C (w laboratorium) — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C (w laboratorium) — CMC: 0,09 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C (w laboratorium) — CMC: 1,6 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C (u klienta) — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 650 °C (u klienta) — CMC: 1,1 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/2","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C (w laboratorium) — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C (w laboratorium) — CMC: 0,09 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C (w laboratorium) — CMC: 1,6 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C (u klienta) — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 650 °C (u klienta) — CMC: 1,1 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące termometr termometru termometrów termometr elektroniczny Termometry elektryczne (w tym elektroniczne) Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C (w laboratorium) — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C (w laboratorium) — CMC: 0,09 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C (w laboratorium) — CMC: 1,6 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C (u klienta) — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 650 °C (u klienta) — CMC: 1,1 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/T/2 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace termometr termometru termometrow termometr elektroniczny","search_en":"Electrical thermometers (including electronic) Calibration — Temperature (electrical thermometry) Temperature (electrical thermometry) 0 °C (at the laboratory) — CMC: 0,05 °C Temperature (electrical thermometry) 30 °C to 250 °C (at the laboratory) — CMC: 0,09 °C Temperature (electrical thermometry) 250 °C to 1085 °C (at the laboratory) — CMC: 0,9 °C Temperature (electrical thermometry) 1085 °C to 1290 °C (at the laboratory) — CMC: 1,6 °C Temperature (electrical thermometry) 0 °C (on site) — CMC: 0,05 °C Temperature (electrical thermometry) 30 °C to 200 °C (on site) — CMC: 0,9 °C Temperature (electrical thermometry) 200 °C to 650 °C (on site) — CMC: 1,1 °C Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/T/2 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory thermometer thermometer","categories":["metrology"],"row_index":133,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb713","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Komory termostatyczne, komory klimatyczne","test_object_en":"Thermostatic chambers, climatic chambers","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (electrical thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"-40 °C do 0 °C — CMC: 0,6 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"0 °C do 200 °C — CMC: 0,5 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"-40 °C to 0 °C — CMC: 0,6 °C (CMC for a single point in the measurement space of the object)"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"0 °C to 200 °C — CMC: 0,5 °C (CMC for a single point in the measurement space of the object)"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) -40 °C do 0 °C — CMC: 0,6 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 200 °C — CMC: 0,5 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/4","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Komory termostatyczne, komory klimatyczne Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) -40 °C do 0 °C — CMC: 0,6 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 200 °C — CMC: 0,5 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące komora klimatyczna komory klimatycznej komór klimatycznych komora termostatyczna komory termostatycznej cieplarka cieplarki inkubator suszarka suszarki laboratoryjnej Komory termostatyczne, komory klimatyczne Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) -40 °C do 0 °C — CMC: 0,6 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C do 200 °C — CMC: 0,5 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/T/4 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace komora klimatyczna komory klimatycznej komor klimatycznych komora termostatyczna komory termostatycznej cieplarka cieplarki inkubator suszarka suszarki laboratoryjnej","search_en":"Thermostatic chambers, climatic chambers Calibration — Temperature (electrical thermometry) Temperature (electrical thermometry) -40 °C to 0 °C — CMC: 0,6 °C (CMC for a single point in the measurement space of the object) Temperature (electrical thermometry) 0 °C to 200 °C — CMC: 0,5 °C (CMC for a single point in the measurement space of the object) Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/T/4 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory chamber chamber","categories":["metrology"],"row_index":134,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb714","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Termostaty cieczowe","test_object_en":"Liquid baths","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (electrical thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"30 °C do 200 °C — CMC: 0,32 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"200 °C do 250 °C — CMC: 0,72 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"30 °C to 200 °C — CMC: 0,32 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"200 °C to 250 °C — CMC: 0,72 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C — CMC: 0,32 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 250 °C — CMC: 0,72 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/8","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Termostaty cieczowe Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C — CMC: 0,32 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 250 °C — CMC: 0,72 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/8 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące termostat cieczowy łaźnia termostatyczna łaźni Termostaty cieczowe Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 200 °C — CMC: 0,32 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 200 °C do 250 °C — CMC: 0,72 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/T/8 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace termostat cieczowy laznia termostatyczna lazni","search_en":"Liquid baths Calibration — Temperature (electrical thermometry) Temperature (electrical thermometry) 30 °C to 200 °C — CMC: 0,32 °C Temperature (electrical thermometry) 200 °C to 250 °C — CMC: 0,72 °C Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/T/8 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory bath liquid bath","categories":["metrology"],"row_index":135,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb715","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Piece","test_object_en":"Furnaces","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (electrical thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"30 °C do 1100 °C — CMC: 1,3 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"30 °C to 1100 °C — CMC: 1,3 °C (CMC for a single point in the measurement space of the object)"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 1100 °C — CMC: 1,3 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/7","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Piece Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 1100 °C — CMC: 1,3 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/7 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące piec pieca pieców piec laboratoryjny Piece Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 1100 °C — CMC: 1,3 °C (CMC dla pojedynczego punktu w przestrzeni pomiarowej obiektu)\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/T/7 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace piec pieca piecow piec laboratoryjny","search_en":"Furnaces Calibration — Temperature (electrical thermometry) Temperature (electrical thermometry) 30 °C to 1100 °C — CMC: 1,3 °C (CMC for a single point in the measurement space of the object) Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/T/7 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Furnace furnace","categories":["metrology"],"row_index":136,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb716","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki termoelektryczne z metali szlachetnych i nieszlachetnych typu J, K, S","test_object_en":"Thermocouples made of noble and base metals types J, K, S","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (electrical thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"0 °C — CMC: 0,3 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"30 °C do 250 °C — CMC: 0,4 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"250 °C do 1085 °C — CMC: 0,9 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"1085 °C do 1290 °C — CMC: 1,6 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"0 °C — CMC: 0,3 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"30 °C to 250 °C — CMC: 0,4 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"250 °C to 1085 °C — CMC: 0,9 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"1085 °C to 1290 °C — CMC: 1,6 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,3 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,4 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C — CMC: 1,6 °C\nWzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/1","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki termoelektryczne z metali szlachetnych i nieszlachetnych typu J, K, S Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,3 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,4 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C — CMC: 1,6 °C\nWzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/T/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego termopara termopary termopar termoelement czujnik termoelektryczny Czujniki termoelektryczne z metali szlachetnych i nieszlachetnych typu J, K, S Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,3 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,4 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 250 °C do 1085 °C — CMC: 0,9 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 1085 °C do 1290 °C — CMC: 1,6 °C\nWzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/T/1 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego termopara termopary termopar termoelement czujnik termoelektryczny","search_en":"Thermocouples made of noble and base metals types J, K, S Calibration — Temperature (electrical thermometry) Temperature (electrical thermometry) 0 °C — CMC: 0,3 °C Temperature (electrical thermometry) 30 °C to 250 °C — CMC: 0,4 °C Temperature (electrical thermometry) 250 °C to 1085 °C — CMC: 0,9 °C Temperature (electrical thermometry) 1085 °C to 1290 °C — CMC: 1,6 °C Calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/T/1 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Thermocouple metal type thermocouple","categories":["metrology"],"row_index":137,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb717","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Czujniki termometrów rezystancyjnych","test_object_en":"Resistance thermometer sensors","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (electrical thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"0 °C — CMC: 0,05 °C"},{"name":"Temperatura (termometria elektryczna)","range":"30 °C do 250 °C — CMC: 0,09 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"0 °C — CMC: 0,05 °C"},{"name":"Temperature (electrical thermometry)","range":"30 °C to 250 °C — CMC: 0,09 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium","technique_en":"Calibration at the laboratory","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,09 °C\nWzorcowanie w laboratorium","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/5","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Czujniki termometrów rezystancyjnych Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,09 °C\nWzorcowanie w laboratorium Procedura wewnętrzna I/T/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące czujnik czujnika czujników czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego czujnik Pt100 Pt100 termometr rezystancyjny Czujniki termometrow rezystancyjnych Wzorcowanie — Temperatura (termometria elektryczna)\nZakres:\nTemperatura (termometria elektryczna) 0 °C — CMC: 0,05 °C\nTemperatura (termometria elektryczna) 30 °C do 250 °C — CMC: 0,09 °C\nWzorcowanie w laboratorium Procedura wewnetrzna I/T/5 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace czujnik czujnika czujnikow czujnik zegarowy czujniki zegarowe czujnika zegarowego czujnik Pt100 Pt100 termometr rezystancyjny","search_en":"Resistance thermometer sensors Calibration — Temperature (electrical thermometry) Temperature (electrical thermometry) 0 °C — CMC: 0,05 °C Temperature (electrical thermometry) 30 °C to 250 °C — CMC: 0,09 °C Calibration at the laboratory Procedura wewnętrzna I/T/5 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory sensor","categories":["metrology"],"row_index":138,"parse_version":3},{"_id":"6acde56d47dfd5cfbf5cb718","lab_id":"6acde2afff068247617058fa","country":"PL","accr_number":"AP 045","accr_body":"PCA","test_object":"Pirometry (radiacyjne, fotoelektryczne, wielopasmowe), kamery termowizyjne, bezstykowe układy pomiaru temperatury","test_object_en":"Pyrometers (radiation, photoelectric, multiband), thermal imaging cameras, non-contact temperature measurement systems","methodology":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria radiacyjna)","methodology_en":"Calibration — Temperature (radiation thermometry)","parameters":[{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"-30 °C do -10 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"-10 °C do 35 °C (w laboratorium) — CMC: 1,4 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"35 °C do 100 °C (w laboratorium) — CMC: 1,3 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"100 °C do 700 °C (w laboratorium) — CMC: 1,9 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"700 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"1085 °C do 1265 °C (w laboratorium) — CMC: 2,6 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"-30 °C do -10 °C (u klienta) — CMC: 2,9 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"-10 °C do 35 °C (u klienta) — CMC: 1,9 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"35 °C do 100 °C (u klienta) — CMC: 1,7 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"100 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 2,1 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"200 °C do 300 °C (u klienta) — CMC: 3,1 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"300 °C do 400 °C (u klienta) — CMC: 3,9 °C"},{"name":"Temperatura (termometria radiacyjna)","range":"400 °C do 1100 °C (u klienta) — CMC: 4,4 °C"}],"parameters_en":[{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"-30 °C to -10 °C (at the laboratory) — CMC: 2,1 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"-10 °C to 35 °C (at the laboratory) — CMC: 1,4 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"35 °C to 100 °C (at the laboratory) — CMC: 1,3 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"100 °C to 700 °C (at the laboratory) — CMC: 1,9 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"700 °C to 1085 °C (at the laboratory) — CMC: 2,1 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"1085 °C to 1265 °C (at the laboratory) — CMC: 2,6 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"-30 °C to -10 °C (on site) — CMC: 2,9 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"-10 °C to 35 °C (on site) — CMC: 1,9 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"35 °C to 100 °C (on site) — CMC: 1,7 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"100 °C to 200 °C (on site) — CMC: 2,1 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"200 °C to 300 °C (on site) — CMC: 3,1 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"300 °C to 400 °C (on site) — CMC: 3,9 °C"},{"name":"Temperature (radiation thermometry)","range":"400 °C to 1100 °C (on site) — CMC: 4,4 °C"}],"technique":"Wzorcowanie w laboratorium i u klienta","technique_en":"Calibration at the laboratory and on site","computed":[],"computed_en":[],"activity":"Wzorcowanie — Temperatura (termometria radiacyjna)\nZakres:\nTemperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (w laboratorium) — CMC: 1,4 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (w laboratorium) — CMC: 1,3 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 700 °C (w laboratorium) — CMC: 1,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 700 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 1085 °C do 1265 °C (w laboratorium) — CMC: 2,6 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (u klienta) — CMC: 2,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (u klienta) — CMC: 1,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (u klienta) — CMC: 1,7 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 200 °C do 300 °C (u klienta) — CMC: 3,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 300 °C do 400 °C (u klienta) — CMC: 3,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 400 °C do 1100 °C (u klienta) — CMC: 4,4 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta","reference":"Procedura wewnętrzna I/T/6","norm_bases":[],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_address":null,"regulatory_area":null,"regulatory_area_en":null,"search_text":"Pirometry (radiacyjne, fotoelektryczne, wielopasmowe), kamery termowizyjne, bezstykowe układy pomiaru temperatury Wzorcowanie — Temperatura (termometria radiacyjna)\nZakres:\nTemperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (w laboratorium) — CMC: 1,4 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (w laboratorium) — CMC: 1,3 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 700 °C (w laboratorium) — CMC: 1,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 700 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 1085 °C do 1265 °C (w laboratorium) — CMC: 2,6 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (u klienta) — CMC: 2,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (u klienta) — CMC: 1,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (u klienta) — CMC: 1,7 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 200 °C do 300 °C (u klienta) — CMC: 3,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 300 °C do 400 °C (u klienta) — CMC: 3,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 400 °C do 1100 °C (u klienta) — CMC: 4,4 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnętrzna I/T/6 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie świadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujące pirometr pirometru pirometrów kamera termowizyjna kamery termowizyjnej kamer termowizyjnych termowizja Pirometry (radiacyjne, fotoelektryczne, wielopasmowe), kamery termowizyjne, bezstykowe uklady pomiaru temperatury Wzorcowanie — Temperatura (termometria radiacyjna)\nZakres:\nTemperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (w laboratorium) — CMC: 1,4 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (w laboratorium) — CMC: 1,3 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 700 °C (w laboratorium) — CMC: 1,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 700 °C do 1085 °C (w laboratorium) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 1085 °C do 1265 °C (w laboratorium) — CMC: 2,6 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -30 °C do -10 °C (u klienta) — CMC: 2,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) -10 °C do 35 °C (u klienta) — CMC: 1,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 35 °C do 100 °C (u klienta) — CMC: 1,7 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 100 °C do 200 °C (u klienta) — CMC: 2,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 200 °C do 300 °C (u klienta) — CMC: 3,1 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 300 °C do 400 °C (u klienta) — CMC: 3,9 °C\nTemperatura (termometria radiacyjna) 400 °C do 1100 °C (u klienta) — CMC: 4,4 °C\nWzorcowanie w laboratorium i u klienta Procedura wewnetrzna I/T/6 wzorcowanie wzorcowania kalibracja kalibracji kalibrowanie swiadectwo wzorcowania laboratorium wzorcujace pirometr pirometru pirometrow kamera termowizyjna kamery termowizyjnej kamer termowizyjnych termowizja","search_en":"Pyrometers (radiation, photoelectric, multiband), thermal imaging cameras, non-contact temperature measurement systems Calibration — Temperature (radiation thermometry) Temperature (radiation thermometry) -30 °C to -10 °C (at the laboratory) — CMC: 2,1 °C Temperature (radiation thermometry) -10 °C to 35 °C (at the laboratory) — CMC: 1,4 °C Temperature (radiation thermometry) 35 °C to 100 °C (at the laboratory) — CMC: 1,3 °C Temperature (radiation thermometry) 100 °C to 700 °C (at the laboratory) — CMC: 1,9 °C Temperature (radiation thermometry) 700 °C to 1085 °C (at the laboratory) — CMC: 2,1 °C Temperature (radiation thermometry) 1085 °C to 1265 °C (at the laboratory) — CMC: 2,6 °C Temperature (radiation thermometry) -30 °C to -10 °C (on site) — CMC: 2,9 °C Temperature (radiation thermometry) -10 °C to 35 °C (on site) — CMC: 1,9 °C Temperature (radiation thermometry) 35 °C to 100 °C (on site) — CMC: 1,7 °C Temperature (radiation thermometry) 100 °C to 200 °C (on site) — CMC: 2,1 °C Temperature (radiation thermometry) 200 °C to 300 °C (on site) — CMC: 3,1 °C Temperature (radiation thermometry) 300 °C to 400 °C (on site) — CMC: 3,9 °C Temperature (radiation thermometry) 400 °C to 1100 °C (on site) — CMC: 4,4 °C Calibration at the laboratory and on site Procedura wewnętrzna I/T/6 calibration calibrating calibration certificate calibration laboratory Pyrometer camera system pyrometer thermal camera infrared camera","categories":["metrology"],"row_index":139,"parse_version":3}],"has_pdf":true}