🇨🇿 PTS Josef Solnař, s.r.o. EN
Metrologia
PTS Josef Solnař, s.r.o. to laboratorium wzorcujące akredytowane przez ČIA pod numerem 2355 (Ostrava, Czechy). Zakres akredytacji obejmuje 19 pozycji wzorcowania w obszarach: Metrologia. Wzorcowane są m.in.: Defektoskopy ultradźwiękowe, Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe, Defektoskopy wiroprądowe, Grubościomierze ultradźwiękowe. Najczęściej stosowane zasady wzorcowania: Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem, Generowanie sygnału wzorcowym generatorem, Porównanie z wzorcowym tłumikiem.
W skrócie
- Numer akredytacji: ČIA 2355
- Liczba pozycji wzorcowania: 19
- Rodzajów wzorcowanych przedmiotów: 8
- Zasad wzorcowania: 10
- Miasto: Ostrava, Czechy
- Ważność do: 29-11-2027
- Numer akredytacji
- 2355
- Jednostka akredytująca
- ČIA
- Adres
- U Hrůbků 170/18, Nová Ves, 709 00 Ostrava
- Miasto
- Ostrava, Czechy
- Dział
- Laboratorium wzorcujące
- Ważność do
- 29-11-2027
Co wzorcuje to laboratorium (8)
- Defektoskopy ultradźwiękowe — 4 pozycje wzorcowania
- Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe — 4 pozycje wzorcowania
- Defektoskopy wiroprądowe — 3 pozycje wzorcowania
- Grubościomierze ultradźwiękowe — 3 pozycje wzorcowania
- Stacjonarne urządzenia magnesujące — 2 pozycje wzorcowania
- Mierniki natężenia pola magnetycznego (teslomierze, gaussomierze, magnetometry) — 1 pozycja wzorcowania
- Prąd AC / Generatory prądowe — 1 pozycja wzorcowania
- Styczne pole magnetyczne / Magnesy ręczne — 1 pozycja wzorcowania
Zasady wzorcowania (10)
- Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem — 3 pozycje wzorcowania
- Generowanie sygnału wzorcowym generatorem — 3 pozycje wzorcowania
- Porównanie z wzorcowym tłumikiem — 3 pozycje wzorcowania
- Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem, porównanie z wzorcowym tłumikiem — 2 pozycje wzorcowania
- Pomiar teslomierzem — 2 pozycje wzorcowania
- Porównanie z cęgowym przetwornikiem prądu — 2 pozycje wzorcowania
- Bezpośredni pomiar napięcia i prądu wzorcowym multimetrem — 1 pozycja wzorcowania
- Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym licznikiem częstotliwości — 1 pozycja wzorcowania
- Porównanie z cewkowym wzorcem indukcji magnetycznej — 1 pozycja wzorcowania
- Porównanie z wzorcem długości — 1 pozycja wzorcowania
Informacje o certyfikacie
- Data certyfikatu
- 29.09.2026
Zakres akredytacji — pozycje wzorcowania (19)
| Lp. | Wielkość wzorcowana / przedmiot wzorcowania | Zakres nominalny / parametry / CMC | Zasada wzorcowania | Procedura wzorcowania | |
|---|---|---|---|---|---|
| Pozycje wzorcowania | |||||
| 1 | Defektoskopy ultradźwiękowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Stabilność – pomiar amplitudy — od 0 % SH do 100 % SH · CMC 1,4 % SH Stabilność – pomiar położenia — od 0 % SW do 100 % SW · CMC 1,1 % SW Odbiornik – fₗₘ, dolna częstotliwość graniczna — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 3,3 % Odbiornik – fᵤₘ, górna częstotliwość graniczna — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 3,3 % Odbiornik – f₀, częstotliwość środkowa — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 3,5 % Odbiornik – Δf, szerokość pasma — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 4,7 % Liniowość podstawy czasu dla przyrządów cyfrowych — od 0,5 µs do 2000 µs · CMC 1,1 % + 0,05 µs CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Generowanie sygnału wzorcowym generatorem | A 04-55/31 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 2 | Defektoskopy ultradźwiękowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Nadajnik – amplituda napięcia impulsu — od 1 V do 400 V · CMC 3,2 % Nadajnik – amplituda zaniku impulsu — od 1 V do 400 V · CMC 3,2 % Nadajnik – czas narastania impulsu — od 0 ns do 500 ns · CMC 2,7 % + 2,4 ns Nadajnik – czas trwania impulsu — od 0 ns do 500 ns · CMC 2,7 % + 2,4 ns CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem | A 04-55/31 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 3 | Defektoskopy ultradźwiękowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odbiornik – równoważny poziom szumów na wejściu — od 10⁻¹² V/√Hz do 10⁻⁶ V/√Hz · CMC 2,7·10⁻⁹ V/√Hz CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem, porównanie z wzorcowym tłumikiem | A 04-55/31 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 4 | Defektoskopy ultradźwiękowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odbiornik – dokładność tłumika — od 0 dB do 70 dB · CMC 2,8 % + 0,2 dB Odbiornik – liniowość pionowa — od 0 dB do 70 dB · CMC 2,8 % + 0,2 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem | A 04-55/31 (ČSN EN 12668-1:2010) | |
| 5 | Grubościomierze ultradźwiękowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Ostrzeżenie o rozładowaniu baterii — od 1 V do 20 V · CMC 0,85 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Bezpośredni pomiar napięcia i prądu wzorcowym multimetrem | A 04-55/01 (ČSN EN ISO 16831) | |
| 6 | Grubościomierze ultradźwiękowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Nadajnik – częstotliwość powtarzania impulsów — od 0,1 ms do 10 ms · CMC 0,65 % Nadajnik – amplituda napięcia impulsu — od 1 V do 400 V · CMC 3,3 % Nadajnik – czas narastania impulsu — od 0 ns do 500 ns · CMC 2,7 % + 2,4 ns Nadajnik – czas trwania impulsu — od 0 ns do 500 ns · CMC 2,7 % + 2,4 ns CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem | A 04-55/01 (ČSN EN ISO 16831) | |
| 7 | Grubościomierze ultradźwiękowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Min. i maks. mierzalna grubość — od 1 mm do 100 mm · CMC 0,04 mm Rozdzielczość grubości; gr. (9,4 do 9,8) mm — 0,1 mm · CMC 0,04 mm CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcem długości | A 04-55/01 (ČSN EN ISO 16831) | |
| 8 | Styczne pole magnetyczne / Magnesy ręczne | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów 50 Hz — od 1,5 kA/m do 15 kA/m · CMC 7,7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar teslomierzem | A 04-53/41a (ČSN EN ISO 9934-3) | |
| 9 | Prąd AC / Generatory prądowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów 50 Hz — od 0 A do 300 A · CMC 3,0 % + 2,9 A 50 Hz — od 300 A do 3000 A · CMC 3,0 % + 29 A CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z cęgowym przetwornikiem prądu | A 04-53/51a (ČSN EN ISO 9934-3) | |
| 10 | Stacjonarne urządzenia magnesujące | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Styczne pole magnetyczne; 50 Hz — od 2 kA/m do 6 kA/m · CMC 7,7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Pomiar teslomierzem | A 04-53/61a (ČSN EN ISO 9934-3) | |
| 11 | Stacjonarne urządzenia magnesujące | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Prąd AC; 50 Hz — od 0 A do 300 A · CMC 3,0 % + 2,9 A Prąd AC; 50 Hz — od 300 A do 3000 A · CMC 3,0 % + 29 A CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z cęgowym przetwornikiem prądu | A 04-53/61a (ČSN EN ISO 9934-3) | |
| 12 | Mierniki natężenia pola magnetycznego (teslomierze, gaussomierze, magnetometry) | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Styczne pole magnetyczne DC — od 0,5 kA/m do 1,5 kA/m · CMC 2,0 % Styczne pole magnetyczne AC; 50 Hz — od 0,5 kA/m do 1,5 kA/m · CMC 3,0 % Styczne pole magnetyczne DC — od 1,5 kA/m do 30 kA/m · CMC 0,8 % Styczne pole magnetyczne AC; 50 Hz — od 1,5 kA/m do 30 kA/m · CMC 1,2 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z cewkowym wzorcem indukcji magnetycznej | A 04-53/32 (ČSN EN ISO 9934-3) | |
| 13 | Defektoskopy wiroprądowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Częstotliwość generatora — od 0,1 kHz do 1000 kHz · CMC 0,011 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym licznikiem częstotliwości | A 04-51/29 (ČSN EN ISO 15548-1) | |
| 14 | Defektoskopy wiroprądowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odbiornik – fₗₘ, dolna częstotliwość graniczna — od 1 kHz do 100 kHz · CMC 2,4 % Odbiornik – fᵤₘ, górna częstotliwość graniczna — od 1 kHz do 100 kHz · CMC 2,4 % Odbiornik – f₀, częstotliwość środkowa — od 1 kHz do 100 kHz · CMC 2,5 % Odbiornik – Δf, szerokość pasma — od 1 kHz do 100 kHz · CMC 5,7 % CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Generowanie sygnału wzorcowym generatorem | A 04-51/29 (ČSN EN ISO 15548-1) | |
| 15 | Defektoskopy wiroprądowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odbiornik – dokładność tłumika; 1 kHz do 100 kHz — od 0 dB do 30 dB · CMC 0,43 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem | A 04-51/29 (ČSN EN ISO 15548-1) | |
| 16 | Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Nadajnik – amplituda napięcia impulsu — od 1 V do 400 V · CMC 3,2 % Nadajnik – czas narastania impulsu — od 0 ns do 500 ns · CMC 2,7 % + 2,4 ns Nadajnik – czas trwania impulsu — od 0 ns do 500 ns · CMC 2,7 % + 2,4 ns CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem | A 04-55/21 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 17 | Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odbiornik – fₗₘ, dolna częstotliwość graniczna — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 3,3 % Odbiornik – fᵤₘ, górna częstotliwość graniczna — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 3,3 % Odbiornik – f₀, częstotliwość środkowa — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 3,5 % Odbiornik – Δf, szerokość pasma — od 0,1 MHz do 25 MHz · CMC 4,7 % Odchyłka podstawy czasu — od 0,5 µs do 2000 µs · CMC 1,1 % + 0,05 µs CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Generowanie sygnału wzorcowym generatorem | A 04-55/21 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 18 | Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odbiornik – poziom szumów — od 10⁻¹² V/√Hz do 10⁻⁶ V/√Hz · CMC 2,7·10⁻⁹ V/√Hz CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Bezpośredni pomiar sygnału wzorcowym oscyloskopem, porównanie z wzorcowym tłumikiem | A 04-55/21 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
| 19 | Defektoskopy ultradźwiękowe cyfrowe | Wzorcowanie – badania właściwości i wad materiałów Odbiornik – liniowość wzmocnienia — od 0 dB do 70 dB · CMC 2,8 % + 0,2 dB Odbiornik – liniowość pionowa zobrazowania — od 0 dB do 70 dB · CMC 2,8 % + 0,2 dB CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: badania właściwości i wad materiałów |
Porównanie z wzorcowym tłumikiem | A 04-55/21 (ČSN EN ISO 22232-1) | |
Normy referencyjne (13)
A 04-51/29
A 04-53/32
A 04-53/41a
A 04-53/51a
A 04-53/61a
A 04-55/01
A 04-55/21
A 04-55/31
ČSN EN 12668-1:2010
ČSN EN ISO 15548-1
ČSN EN ISO 16831
ČSN EN ISO 22232-1
ČSN EN ISO 9934-3