⚡ Pomiar grubości powłok niemetalowych kabli i przewodów elektrycznych oraz światłowodowych (powłok oddzielających i zewnętrznych) dla najczęstszych mieszanek (usieciowanych, PVC, PE, PP) — plasterek pod mikroskopem pomiarowym lub projektorem profili (co najmniej 10×) albo optycznym cyfrowym analizatorem obrazu, mikrometr z końcówką kulistą przy powłokach na powierzchniach nieregularnych, cztery pomiary na grzbietach i dolinach powłoki falowanej, odczyt 0,01 mm, PN-EN 60811-202
Krótko: o co chodzi
Część 202 serii IEC 60811 podaje metody pomiaru grubości powłok niemetalowych kabli — oddzielających i zewnętrznych: cienki plasterek mierzony pod mikroskopem pomiarowym, projektorem profili lub optycznym cyfrowym analizatorem obrazu, a przy powłokach nałożonych na powierzchnie podłużnie nieregularne (np. Badanie wykonuje się według normy PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska; EN 60811-202:2012 i IEC 60811-202:2012 IDT) ze zmianami PN-EN 60811-202:2012/A1:2018-02 (wersja polska) i PN-EN 60811-202:2012/A2:2024-03 (wersja angielska); Zasięg w zakresach akredytacji (odczyt 02.10.2026): 7 laboratoriów, 7 rekordów w kopii bazy; zakładka „Laboratoria”: „PN-EN 60811-202” — 3, „IEC 60811-202” — 5 laboratoriów na serwerze produkcyjnym (02.10.2026). Procedura obejmuje 5 kroków; stosuje się je m.in. do: Powłoki zewnętrzne i oddzielające kabli i przewodów elektroenergetycznych, także średniego i wysokiego napięcia (do 500 kV); 7 laboratoriów w zakresach PCA, Kable z powłoką na powłoce metalowej falowanej lub na taśmie — pomiar mikrometrem z końcówką kulistą albo na plasterkach podłużnych (4.3.2, 4.3.3), Krok innych badań materiałów powłokowych (np. właściwości mechanicznych), w których potrzebna jest grubość powłoki (4.1).
W skrócie
- Norma: PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska; EN 60811-202:2012 i IEC 60811-202:2012 IDT) ze zmianami PN-EN 60811-202:2012/A1:2018-02 (wersja polska) i PN-EN 60811-202:2012/A2:2024-03 (wersja angielska)
- Kategoria: Elektronika i EMC
- Kroków procedury: 5
- STATUS (stan kart na 02.10.2026): PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska) ze zmianami A1:2018-02 (wersja polska) i A2:2024-03 (wersja angielska) — wszystkie bez nagłówka „Wycofana”
- Wydanie (z karty PKN): PN-EN 60811-202:2012, 16 stron, KT 53 Kabli i Przewodów, ICS 29.060.20, 29.035.01; wprowadza EN 60811-202:2012 i IEC 60811-202:2012 [IDT]; częściowo zastępuje PN-EN 60811-1-1:1999
- Przyrządy optyczne (4.2): mikroskop pomiarowy lub projektor profili ≥ 10× albo optyczny cyfrowy analizator obrazu; odczyt 0,01 mm; metoda odniesienia — mikroskop pomiarowy
Przegląd
CO TA NORMA OPISUJE. Karta PKN PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska) podaje zakres: „W niniejszej części 202 IEC 60811 podano metody pomiaru grubości powłok niemetalowych, które odnoszą się do najbardziej powszechnych typów mieszanek powłokowych (usieciowanych, PVC, PE, PP, itp.)”. Tekst czytamy w próbce IEC 60811-202:2012+AMD1:2017+AMD2:2023 CSV (wydanie 1.2, 2023-11, wersja redline: dodatki zielone, skreślenia czerwone) — próbka obejmuje cały tekst normy, rozdziały 1–5 i rysunki; zmiany odczytaliśmy z obrazów stron 6–8. Dla porównania przeczytaliśmy też próbkę IEC 60811-202:2012 (wydanie 1.0). Norma odsyła do IEC 60811-100:2012 (wymagania ogólne serii), której tu nie czytaliśmy.
WEDŁUG TEKSTU IEC 60811-202:2012+AMD1:2017+AMD2:2023 (przedmowa, wprowadzenie, rozdziały 1–5, rysunki). Wydanie 1.2 łączy wydanie pierwsze (2012-03) ze zmianą 1 (2017-07) i zmianą 2 (2023-11); normę przygotował IEC TC 20 „Kable elektryczne”; według przedmowy nie ma szczególnych zmian technicznych wobec poprzedniego wydania — odsyła ona do przedmowy IEC 60811-100:2012; część 202 stosuje się razem z IEC 60811-100. Wprowadzenie: seria IEC 60811 podaje metody badań materiałów niemetalowych wszystkich kabli (izolacje, powłoki, wypełnienia, obwoje), opracowane dla kabli energetycznych i szeroko stosowane także dla kabli światłowodowych, telekomunikacyjnych, sterowniczych, okrętowych i offshore. Zakres (1): metody pomiaru grubości powłok niemetalowych dla najczęstszych mieszanek (usieciowanych, PVC, PE, PP itd.). Powołanie (2): IEC 60811-100:2012; terminy (3) z IEC 60811-100. Postanowienia ogólne (4.1): stosować razem z IEC 60811-100; zdanie o badaniu w temperaturze pokojowej zostało zmianami skreślone; pomiar bywa badaniem samodzielnym albo krokiem innych badań (np. właściwości mechanicznych); metoda dotyczy wszystkich powłok, dla których określono granice grubości — np. powłok oddzielających i zewnętrznych; dobór próbek według normy kabla. Przyrządy (4.2): mikroskop pomiarowy lub projektor profili o powiększeniu co najmniej 10× albo optyczny cyfrowy analizator obrazu z odczytem 0,01 mm; przy powłoce o grubości wymaganej mniejszej niż 0,5 mm odczyt szacuje się do trzeciego miejsca po przecinku (zmiana zastąpiła tu słowo „izolacja” słowem „powłoka”); przy powłokach na powierzchniach podłużnie nieregularnych (np. na powłokach metalowych falowanych) można użyć mikrometru z końcówką kulistą o promieniu 1 mm i odczycie 0,01 mm — tylko gdy promień fałd przekracza 1 mm; dodane zmianą: gdy podłoże nie jest nieregularne, można mierzyć mikrometrem z końcówką kulistą o promieniu 2,5–3 mm, a przy grubościach powyżej 5 mm i dla powłok zewnętrznych z materiałów ST1, ST2, ST3, ST7, ST8 i ST12 — dowolnym z wymienionych przyrządów; w razie wątpliwości metodą odniesienia jest mikroskop pomiarowy; dodane zmianą: przyrząd nie powinien odkształcać powłoki zewnętrznej. Próbki (4.3): przy powierzchniach podłużnie regularnych (4.3.1) — po usunięciu materiałów wewnątrz i na zewnątrz powłoki cienki plasterek cięty prostopadle do osi kabla, z oznakowaniem wgłębnym, jeśli jest; przy powierzchniach nieregularnych (4.3.2) — krótki odcinek powłoki obejmujący co najmniej jeden pełny skok lub zwój taśmy pod spodem, pozostawiony w całości przy mikrometrze, a przy mikroskopie lub projektorze — sześć cienkich plasterków podłużnych (równoległych do osi kabla); przy powłoce na powłoce metalowej falowanej (4.3.3) — próbka całego kabla pobrana 500 mm od końca bębna, długości obejmującej dwa grzbiety i dwie doliny, z linią odniesienia równoległą do osi; położenie grubości minimalnej wyznacza się na pierścieniu z końca próbki i w tym miejscu wycina pasek równoległy do osi. Pomiar (4.4): a) przy kołowym profilu wewnętrznym sześć pomiarów promieniowych co około 60° (rysunek 1); b) gdy zasadniczo kołowa powierzchnia wewnętrzna nie jest regularna lub gładka — sześć pomiarów w miejscach, gdzie powłoka jest najcieńsza (rysunek 2); c) przy głębokich rowkach od żył — na dnie każdego rowka (rysunek 3), a przy więcej niż sześciu rowkach jak w b); d) przy nieregularnościach zewnętrznych (taśma gumowana, powłoka żebrowana) — według rysunku 4; e) kable płaskie w powłoce — na liniach w przybliżeniu równoległych do krótszej osi przekroju i na dłuższej osi przy każdej żyle, z jednym pomiarem w najcieńszym miejscu (rysunek 5); f) kable płaskie z najwyżej sześciu żył — na obu zaokrąglonych bokach wzdłuż dłuższej osi oraz na obu płaskich bokach przy pierwszej i ostatniej żyle i w najcieńszym miejscu (z grubością przeciwległą), a przy więcej niż sześciu żyłach także przy żyle środkowej (rysunek 6); g) powłoka na powierzchni nieregularnej — odcinek z 4.3.2 mierzony mikrometrem kulistym albo sześć plasterków podłużnych mierzonych optycznie, w obu przypadkach dla grubości minimalnej; h) powłoka na powłoce falowanej — cztery pomiary na pasku z 4.3.3: na dwóch grzbietach i dwóch dolinach. Oznakowania wgłębnego nie włącza się do pomiarów do średniej; dodane zmianą: w takim przypadku pobiera się inny plasterek i mierzy w miejscach bez oznakowania. Odczyty w milimetrach do dwóch miejsc po przecinku; we wszystkich przypadkach grubość w miejscu oznakowania ma spełniać minimum normy kabla. Ocena (4.5): według normy kabla. Sprawozdanie (5): według IEC 60811-100.
STATUS (stan kart na 02.10.2026). Karta PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska, publikacja 15-11-2021, 16 stron, grupa cenowa H) nie ma nagłówka „Wycofana”: Sektor Elektrotechniki, KT 53 Kabli i Przewodów, ICS 29.060.20 i 29.035.01, „Wprowadza: EN 60811-202:2012 [IDT], IEC 60811-202:2012 [IDT]”, „Zastępuje: PN-EN 60811-1-1:1999/A1:2002 – wersja polska, PN-EN 60811-1-1:1999 – wersja polska”; w informacjach dodatkowych: norma częściowo zastępuje PN-EN 60811-1-1:1999 w zakresie pomiarów grubości powłok niemetalowych, a łącznie z PN-EN 60811-100:2012, -201:2012, -203:2012 i -501:2012 zastępuje ją całkowicie. Zmiany: PN-EN 60811-202:2012/A1:2018-02 (wersja polska, publikacja 17-12-2021, 5 stron; zmienia 4.1, 4.2, 4.4 i 5; wprowadza EN 60811-202:2012/A1:2017 i IEC 60811-202:2012/AMD1:2017) i PN-EN 60811-202:2012/A2:2024-03 (wersja angielska, publikacja 08-03-2024, 10 stron; zmienia 4.2; wprowadza EN 60811-202:2012/A2:2023 i IEC 60811-202:2012/AMD2:2023) — obie bez nagłówka „Wycofana”.
ILE LABORATORIÓW I W JAKIEJ POSTACI (kopia bazy zakresów akredytacji, wsad do 17.09.2026, odczyt 02.10.2026). Numer 60811-202 stoi w 7 rekordach u 7 laboratoriów: AB 044, AB 207, AB 261, AB 1776, AB 1814, AB 1917, AB 1974 — tych samych, które mają część 201, zwykle w tej samej pozycji zakresu. W aktualnych zakresach na stronach PCA (odczyt 02.10.2026, wydania od 10.10.2025 do 18.08.2026) wszystkie siedem laboratoriów podaje wydanie 2012 z obiema zmianami: zapisem polskim (AB 261 — PN-EN 60811-202:2012, /A1:2018-02, /A2:2024-03; AB 207 — z numerami EN i IEC w nawiasach; AB 044 — PN-EN, EN i IEC w postaci „+A1+A2”) albo IEC (AB 1776, AB 1974 — 2012, 2012-03/AMD1:2017-07, 2012-03/AMD2:2023-11; AB 1917; AB 1814 — „IEC 60811-202:2012+AMD1:2017+AMD2:2023” rozbite w dokumencie PCA na dwa wiersze, dlatego wyszukiwanie numeru w tekście tego dokumentu go nie znajduje). W żadnym z tych zakresów wiersze nie są oznaczone jako zawieszone. Zakładka „Laboratoria” pokazuje pod „PN-EN 60811-202” 3 laboratoria (AB 044, AB 207, AB 261), a pod „IEC 60811-202” 5 (AB 044, AB 1776, AB 1814, AB 1917, AB 1974) — sprawdzone zapytaniem zakładki na serwerze produkcyjnym labcoda.pl 02.10.2026.
CO BADAJĄ LABORATORIA (pozycje w PCA). AB 044 — elektroenergetyczne kable i przewody: grubość powłoki (obok PN-EN 50396 punkty 4.2 i 4.3 oraz PN-HD 605 punkt 2.1.2). AB 207 — kable i przewody o napięciu znamionowym do 18/30 kV i średnicy zewnętrznej do 100 mm: grubość powłok niemetalowych (0–50) mm w ramach wymiarów liniowych. AB 261 — kable i przewody o tych samych granicach: sprawdzenie budowy i wymiarów elementów. AB 1776 i AB 1974 — kable: grubość izolacji i powłoki (0,01–40) mm. AB 1814 — kable: grubość izolacji i powłoki (0,01–25) mm. AB 1917 — kable i osprzęt kablowy o Un = (3,6–500) kV: sprawdzenia konstrukcji i wymiarów, w tym grubość materiału izolacyjnego i powłokowego.
GDZIE ŁATWO O WYNIK POZORNIE POPRAWNY. Przy przyrządzie: mikrometr z końcówką kulistą o promieniu 1 mm nadaje się tylko do fałd o promieniu większym niż 1 mm (4.2); przyrząd nie powinien odkształcać powłoki zewnętrznej (4.2, dodane zmianą); w razie wątpliwości metodą odniesienia jest mikroskop pomiarowy. Przy przekroju z rowkami od żył: pomiar na dnie każdego rowka, ale przy więcej niż sześciu rowkach — sześć pomiarów w najcieńszych miejscach (4.4 c, b). Przy kablach płaskich: liczba i miejsca pomiarów zależą od tego, czy żył jest najwyżej sześć, czy więcej (4.4 f). Przy powłoce falowanej: próbka 500 mm od końca bębna, pasek w miejscu grubości minimalnej, cztery pomiary — dwa grzbiety i dwie doliny (4.3.3, 4.4 h). Przy oznakowaniu wgłębnym: nie wchodzi do średniej — według zmiany trzeba pobrać inny plasterek, a grubość w miejscu oznakowania sprawdza się osobno (4.4). Przy odczycie: punkt 4.2 każe szacować trzecie miejsce po przecinku dla powłok cieńszych niż 0,5 mm, a punkt 4.4 mówi o odczytach do dwóch miejsc — w tekście tych dwóch zdań nie uzgodniono.
CZEGO NIE PODAJEMY. Nie czytaliśmy IEC 60811-100 — nie podajemy ogólnych wymagań serii (kondycjonowanie, temperatura badania, liczba próbek). Nie podajemy wymaganych grubości powłok ani sposobu liczenia wyniku — według 4.5 wynikają one z normy kabla. Nie wyjaśniamy oznaczeń materiałów ST1–ST12 — tekst części 202 ich nie definiuje. Nie przypisujemy poszczególnych poprawek tekstu do zmiany A1 albo A2 ponad to, co podają karty PKN (A1: 4.1, 4.2, 4.4, 5; A2: 4.2).
Zasada metody
Grubość powłoki niemetalowej mierzy się na cienkim plasterku ciętym prostopadle do osi kabla, pod mikroskopem pomiarowym, projektorem profili (co najmniej 10×) albo optycznym cyfrowym analizatorem obrazu z odczytem 0,01 mm, w miejscach zależnych od kształtu przekroju; przy powłokach nałożonych na powierzchnie podłużnie nieregularne stosuje się mikrometr z końcówką kulistą lub podłużne plasterki, a przy powłokach na powłokach metalowych falowanych — pasek z miejsca grubości minimalnej mierzony na grzbietach i dolinach; wynik ocenia się według normy kabla.
Zastosowania
- Powłoki zewnętrzne i oddzielające kabli i przewodów elektroenergetycznych, także średniego i wysokiego napięcia (do 500 kV); 7 laboratoriów w zakresach PCA
- Kable z powłoką na powłoce metalowej falowanej lub na taśmie — pomiar mikrometrem z końcówką kulistą albo na plasterkach podłużnych (4.3.2, 4.3.3)
- Krok innych badań materiałów powłokowych (np. właściwości mechanicznych), w których potrzebna jest grubość powłoki (4.1)
Kluczowe parametry
| Parametr | Wartość |
|---|---|
| STATUS (stan kart na 02.10.2026) | PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska) ze zmianami A1:2018-02 (wersja polska) i A2:2024-03 (wersja angielska) — wszystkie bez nagłówka „Wycofana” |
| Wydanie (z karty PKN) | PN-EN 60811-202:2012, 16 stron, KT 53 Kabli i Przewodów, ICS 29.060.20, 29.035.01; wprowadza EN 60811-202:2012 i IEC 60811-202:2012 [IDT]; częściowo zastępuje PN-EN 60811-1-1:1999 |
| Przyrządy optyczne (4.2) | mikroskop pomiarowy lub projektor profili ≥ 10× albo optyczny cyfrowy analizator obrazu; odczyt 0,01 mm; metoda odniesienia — mikroskop pomiarowy |
| Mikrometry (4.2) | końcówka kulista 1 mm na powierzchniach nieregularnych (fałdy o promieniu > 1 mm); 2,5–3 mm, gdy podłoże nie jest nieregularne |
| Liczba pomiarów (4.4) | sześć co około 60° przy profilu kołowym; na dnie każdego rowka (do sześciu); powłoka falowana — 2 grzbiety i 2 doliny |
| Próbka z powłoki falowanej (4.3.3) | cały kabel, 500 mm od końca bębna, długość obejmująca dwa grzbiety i dwie doliny |
| Zasięg w zakresach akredytacji (odczyt 02.10.2026) | 7 laboratoriów, 7 rekordów w kopii bazy; zakładka „Laboratoria”: „PN-EN 60811-202” — 3, „IEC 60811-202” — 5 laboratoriów na serwerze produkcyjnym (02.10.2026) |
Norma
- Numer normy
- PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska; EN 60811-202:2012 i IEC 60811-202:2012 IDT) ze zmianami PN-EN 60811-202:2012/A1:2018-02 (wersja polska) i PN-EN 60811-202:2012/A2:2024-03 (wersja angielska)
- Tytuł (PL)
- Kable i przewody elektryczne oraz światłowodowe — Metody badań materiałów niemetalowych — Część 202: Badania ogólne — Pomiar grubości powłok niemetalowych
- Title (EN)
- Electric and optical fibre cables — Test methods for non-metallic materials — Part 202: General tests — Measurement of thickness of non-metallic sheath
Procedura krok po kroku
-
Próbki
Dobór według normy kabla; przy powierzchniach regularnych plasterek poprzeczny, przy nieregularnych odcinek z pełnym skokiem taśmy, przy powłoce falowanej próbka 500 mm od końca bębna (4.1, 4.3). PN-EN 60811-202:2012 z A1 i A2 aktualna (stan kart na 02.10.2026).
-
Przyrząd
Mikroskop, projektor lub analizator obrazu; na powierzchniach nieregularnych mikrometr z końcówką kulistą; przyrząd nie powinien odkształcać powłoki (4.2).
-
Pomiar
Miejsca według kształtu przekroju (rysunki 1–6): profil kołowy, nieregularny, z rowkami, z taśmą lub żebrowaniem, kable płaskie; na powłoce falowanej grzbiety i doliny (4.4).
-
Odczyty
W milimetrach do dwóch miejsc po przecinku; oznakowanie wgłębne poza średnią — pobrać inny plasterek; grubość w miejscu oznakowania sprawdzić względem minimum (4.4).
-
Ocena i sprawozdanie
Ocena według normy kabla (4.5); sprawozdanie według IEC 60811-100 (5).
Wymagany sprzęt i aparatura
| Sprzęt | Przykład | Orientacyjna cena |
|---|---|---|
| Mikroskop pomiarowy | Metoda odniesienia w razie wątpliwości (4.2) | — |
| Projektor profili lub optyczny cyfrowy analizator obrazu | Powiększenie co najmniej 10× (projektor), odczyt 0,01 mm (4.2) | — |
| Mikrometr z końcówką kulistą | Promień 1 mm (powierzchnie nieregularne) albo 2,5–3 mm (podłoże regularne), odczyt 0,01 mm (4.2) | — |
| Narzędzie do cięcia plasterków i pasków | Plasterki poprzeczne i podłużne, pasek z miejsca grubości minimalnej (4.3) | — |
Bezpieczeństwo i higiena pracy (BHP)
- W tekście części 202 norma nie podaje wymagań bezpieczeństwa
Najczęstsze pytania
Jaka norma opisuje to badanie?
Badanie wykonuje się według normy PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska; EN 60811-202:2012 i IEC 60811-202:2012 IDT) ze zmianami PN-EN 60811-202:2012/A1:2018-02 (wersja polska) i PN-EN 60811-202:2012/A2:2024-03 (wersja angielska) — „Kable i przewody elektryczne oraz światłowodowe — Metody badań materiałów niemetalowych — Część 202: Badania ogólne — Pomiar grubości powłok niemetalowych”. Tytuł angielski: „Electric and optical fibre cables — Test methods for non-metallic materials — Part 202: General tests — Measurement of thickness of non-metallic sheath”.
Na czym polega ta metoda?
Grubość powłoki niemetalowej mierzy się na cienkim plasterku ciętym prostopadle do osi kabla, pod mikroskopem pomiarowym, projektorem profili (co najmniej 10×) albo optycznym cyfrowym analizatorem obrazu z odczytem 0,01 mm, w miejscach zależnych od kształtu przekroju; przy powłokach nałożonych na powierzchnie podłużnie nieregularne stosuje się mikrometr z końcówką kulistą lub podłużne plasterki, a przy powłokach na powłokach metalowych falowanych — pasek z miejsca grubości minimalnej mierzony na grzbietach i dolinach; wynik ocenia się według normy kabla.
Jaki jest zakres pomiarowy i dokładność?
STATUS (stan kart na 02.10.2026): PN-EN 60811-202:2012 (wersja polska) ze zmianami A1:2018-02 (wersja polska) i A2:2024-03 (wersja angielska) — wszystkie bez nagłówka „Wycofana”; Wydanie (z karty PKN): PN-EN 60811-202:2012, 16 stron, KT 53 Kabli i Przewodów, ICS 29.060.20, 29.035.01; wprowadza EN 60811-202:2012 i IEC 60811-202:2012 [IDT]; częściowo zastępuje PN-EN 60811-1-1:1999; Przyrządy optyczne (4.2): mikroskop pomiarowy lub projektor profili ≥ 10× albo optyczny cyfrowy analizator obrazu; odczyt 0,01 mm; metoda odniesienia — mikroskop pomiarowy; Mikrometry (4.2): końcówka kulista 1 mm na powierzchniach nieregularnych (fałdy o promieniu > 1 mm); 2,5–3 mm, gdy podłoże nie jest nieregularne.
Ile trwa wykonanie badania?
Procedura obejmuje 5 kroków. Norma nie podaje czasu trwania dla wszystkich etapów — decyduje procedura laboratorium.
Jaki sprzęt jest potrzebny?
Mikroskop pomiarowy, Projektor profili lub optyczny cyfrowy analizator obrazu, Mikrometr z końcówką kulistą, Narzędzie do cięcia plasterków i pasków.
Gdzie stosuje się to badanie?
Powłoki zewnętrzne i oddzielające kabli i przewodów elektroenergetycznych, także średniego i wysokiego napięcia (do 500 kV); 7 laboratoriów w zakresach PCA; Kable z powłoką na powłoce metalowej falowanej lub na taśmie — pomiar mikrometrem z końcówką kulistą albo na plasterkach podłużnych (4.3.2, 4.3.3); Krok innych badań materiałów powłokowych (np. właściwości mechanicznych), w których potrzebna jest grubość powłoki (4.1).
Jakie środki ostrożności obowiązują?
W tekście części 202 norma nie podaje wymagań bezpieczeństwa.
Które laboratorium wykona to badanie?
Badanie wykonują laboratoria akredytowane według ISO/IEC 17025. Na LabCoda wyszukasz je po numerze normy PN-EN 60811-202.