🏗️ Elementy murowe — płaskość powierzchni: pomiar długości obu przekątnych liniałem z podziałką (0,5 mm) i największej odległości powierzchni od liniału na każdej przekątnej szczelinomierzem (0,05 mm), powierzchnie wklęsłe i wypukłe; co najmniej 6 elementów (3 przy płaskości powierzchni wspornych); PN-EN 772-20
Krótko: o co chodzi
Oznaczanie płaskości powierzchni elementów murowych liniałem z podziałką i szczelinomierzem, przykładanymi kolejno do obu przekątnych każdej powierzchni określonej jako płaska. Badanie wykonuje się według normy PN-EN 772-20:2002 (wersja polska; wprowadza EN 772-20:2000 [IDT]) ze zmianą PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska; wprowadza EN 772-20:2000/A1:2005 [IDT]); Zasięg w zakresach akredytacji (baza i zakładka, odczyt 10.11.2026): 5 polskich laboratoriów, 7 rekordów; zakładka „Laboratoria” — 11 (5 PL, 6 CZ), 17 pozycji. Procedura obejmuje 5 kroków; stosuje się je m.in. do: Elementy murowe — powierzchnie określone jako płaskie (EN 772-20:2000/A1:2005, zmiana zakresu), Powierzchnie wsporne elementów przeznaczonych do murowania na cienkie spoiny (A1, 5.1 i 6.2.2), Metoda badania elementów objętych specyfikacjami EN 771 (powołania normatywne).
W skrócie
- Norma: PN-EN 772-20:2002 (wersja polska; wprowadza EN 772-20:2000 [IDT]) ze zmianą PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska; wprowadza EN 772-20:2000/A1:2005 [IDT])
- Kategoria: Budownictwo
- Kroków procedury: 5
- STATUS (stan kart PKN na 10.11.2026): PN-EN 772-20:2002 aktualna (wersja polska) ze zmianą PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska)
- Liczba próbek — warunek (4.1 po A1): co najmniej 6 elementów; przy płaskości powierzchni wspornych — 3; większa liczba, gdy wymaga jej specyfikacja wyrobu
- Przyrządy — warunek (rozdz. 3): liniał z podziałką dłuższy niż przekątne dłuższych powierzchni; szczelinomierze z dokładnością do 0,05 mm
Przegląd
CO TA NORMA OPISUJE. Według rozdziału 1 EN 772-20:2000 norma określała metodę oznaczania płaskości powierzchni licowych elementów murowych z betonu kruszywowego, z kamienia sztucznego i z kamienia naturalnego; zmiana EN 772-20:2000/A1:2005 skreśliła z tytułu i zakresu wymienione rodzaje elementów — zakres brzmi po zmianie: metoda oznaczania płaskości powierzchni elementów murowych. Pole „Zakres” karty PKN PN-EN 772-20:2002 (wersja polska): „Określono metodę oznaczania płaskości powierzchni licowych elementów murowych z betonu kruszywowego, z kamienia sztucznego i z kamienia naturalnego. Określono aparaturę, podano sposób przygotowania próbek, wykonania badania i obliczenia wyników”. Karta PKN zmiany PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska) — „Zakres”: zmiana w tytule oraz w zakresie, powołaniach normatywnych, w punktach 4.1, 5, 6.1, 6.2 i 7.
WEDŁUG TEKSTU EN 772-20:2000 I ZMIANY A1:2005 — APARATURA, PRÓBKI, PRZEBIEG, WYNIKI (przedmowy, rozdz. 1–7, zmiany 1–8). Normę przygotował komitet CEN/TC 125 (Konstrukcje murowe; sekretariat BSI); wprowadzenie do norm krajowych najpóźniej we wrześniu 2000 r.; zmianę A1 — najpóźniej w sierpniu 2005 r. Powołania normatywne (po A1): EN 771-1, 771-2 i 771-4 bez daty oraz EN 771-3, 771-5 i 771-6 (specyfikacje elementów murowych). Aparatura (rozdz. 3): liniał z podziałką dłuższy niż przekątne dłuższych powierzchni badanego elementu; komplet szczelinomierzy mierzących z dokładnością do 0,05 mm. Pobieranie (4.1): sposób pobierania podaje się w sprawozdaniu; najmniejsza liczba próbek — sześć, z wyjątkiem oznaczania płaskości powierzchni wspornych, gdzie trzy (A1); specyfikacja wyrobu może wymagać większej liczby i wtedy stosuje się większą. Przygotowanie (4.2): przed pomiarem usuwa się materiał przylegający do elementu po produkcji. Przebieg (rozdz. 5 w brzmieniu A1): 5.1 — element ustawia się stabilnie; dla każdej powierzchni określonej jako płaska postępuje się według 5.2 i 5.3, a w elementach przeznaczonych do murowania na cienkie spoiny — według 5.3 na każdej powierzchni wspornej; 5.2 — dla każdej powierzchni płaskiej mierzy się liniałem długość obu przekątnych z dokładnością do 0,5 mm; 5.3 — liniał przykłada się kolejno do każdej przekątnej i szczelinomierzem mierzy odległość powierzchni od liniału; przy powierzchni wklęsłej — największą odległość z dokładnością do 0,05 mm; przy wypukłej liniał kładzie się tak, by największe odległości po obu stronach punktu styku były w przybliżeniu równe, i mierzy obie z dokładnością do 0,05 mm. Obliczenia (6.1 po A1): dla każdej powierzchni płaskiej oblicza się średnią długość przekątnej; przy powierzchni wklęsłej średnia odchyłka od płaskości to średnia z największych odległości na obu przekątnych; przy wypukłej — oblicza się średnią z największych odległości dla każdej przekątnej, a potem średnią z tych dwóch wyników. Wyrażanie (6.2 po A1): 6.2.1 — dla powierzchni płaskich średnią długość przekątnej do 1 mm, średnią największą odchyłkę od płaskości do 0,1 mm; 6.2.2 — dla powierzchni wspornych największą odchyłkę od płaskości do 0,1 mm i średnią największą odchyłkę do 0,1 mm. Sprawozdanie (rozdz. 7 po A1): m.in. rodzaj, pochodzenie i oznaczenie elementu przez odniesienie do właściwej części EN 771; liczba próbek; długości poszczególnych przekątnych i średnia (do 1 mm) dla każdej powierzchni płaskiej; największa odległość od liniału na każdej przekątnej i średnia odchyłka (do 0,1 mm); dla powierzchni wspornych elementów do cienkich spoin — największe odległości na każdej przekątnej, a płaskość powierzchni wspornych to największa pojedyncza wartość z próbki (do 0,1 mm); czy powierzchnia jest wklęsła, wypukła albo innego kształtu.
STATUS (stan kart PKN na 10.11.2026). Karta PN-EN 772-20:2002 (wersja polska) bez etykiety wycofania: publikacja 19-08-2002, 7 stron, KT 233 Konstrukcji Murowanych, „Wprowadza: EN 772-20:2000 [IDT]”, ICS 91.080.30, 91.100.15, 91.100.30. Karta PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska) bez etykiety wycofania: publikacja 15-11-2005, 5 stron, „Wprowadza: EN 772-20:2000/A1:2005 [IDT]”. W wyszukiwarce PKN (hasło „PN-EN 772-20”, 10.11.2026) są tylko te karty i karta zmiany w wersji niemieckiej — polskiej wersji zmiany A1 nie ma. Katalog iTeh (odczyt 10.11.2026): EN 772-20:2000/A1:2005 — CEN/TC 125, opublikowana 09.02.2005, etap 6060.
ILE LABORATORIÓW I W JAKIEJ POSTACI (baza zakresów akredytacji serwisu i zakładka „Laboratoria” na labcoda.pl, odczyt 10.11.2026). Zapis 772-20 stoi w 7 rekordach u 5 polskich laboratoriów: AB 251 (2 — elementy murowe silikatowe i ceramiczne: „PN-EN 772-20:2002 | PN-EN 772-20:2002/A1:2005”), AB 054 (2 — elementy murowe z betonu kruszywowego, prefabrykaty z autoklawizowanego betonu komórkowego: „PN-EN 772-20:2002+A1:2005”), AB 011 (1 — elementy murowe), AB 687 (1 — elementy murowe ceramiczne) i AB 023 (1 — elementy murowe, w tym z autoklawizowanego betonu komórkowego, silikatowe i ceramiczne: „PN-EN 772-20”). Poza polskimi — 10 rekordów u 6 czeskich laboratoriów (1007.1, 1018.3 — 4 rekordy, 1046, 1234 — 2, 1396, 1778: „ČSN EN 772-20”, w 1778 także „STN EN 772-20”). Zakładka „Laboratoria” („PN-EN 772-20”) pokazuje 11 laboratoriów (5 PL, 6 CZ) i 17 pozycji. Aktualnych dokumentów zakresu PCA tych laboratoriów nie porównywaliśmy z bazą.
CO BADAJĄ LABORATORIA (baza zakresów, całe pozycje — 7 polskich). AB 011 — elementy murowe: płaskość powierzchni licowych. AB 687 — elementy murowe ceramiczne: płaskość powierzchni licowych. AB 251 — elementy murowe silikatowe i ceramiczne: płaskość powierzchni. AB 054 — elementy murowe z betonu kruszywowego (wygląd zewnętrzny) i prefabrykaty z autoklawizowanego betonu komórkowego (płaskość powierzchni). AB 023 — elementy murowe, w tym z autoklawizowanego betonu komórkowego, silikatowe i ceramiczne: płaskość powierzchni licowych. Elementów ceramicznych, silikatowych i z betonu komórkowego tekst EN 772-20:2000 nie wymieniał — po zmianie A1 zakres obejmuje elementy murowe bez wyliczenia rodzajów.
GDZIE ŁATWO O WYNIK POZORNIE POPRAWNY. Próbka: mniej niż 6 elementów (albo mniej niż 3 przy powierzchniach wspornych) lub mniej niż wymaga specyfikacja wyrobu; pomiar bez usunięcia materiału przylegającego po produkcji; element ustawiony niestabilnie. Pomiar: liniał krótszy niż przekątna; przy powierzchni wypukłej liniał trzeba ustawić tak, by odległości po obu stronach punktu styku były w przybliżeniu równe, i zmierzyć obie — jeden pomiar przy przechylonym liniale daje inną odchyłkę; dokładność szczelinomierza 0,05 mm, długości przekątnej 0,5 mm. Obliczenie: dla powierzchni płaskich podaje się ŚREDNIĄ odchyłkę (z dwóch przekątnych, przy wypukłej — z czterech odczytów w dwóch krokach), a dla powierzchni wspornych elementów do cienkich spoin — największą pojedynczą wartość z próbki; zaokrąglenie do 0,1 mm i długości przekątnej do 1 mm. Wydanie: tekst sprzed A1 nie przewidywał oznaczania płaskości powierzchni wspornych i wymagał zawsze 6 próbek — porównanie wyników bez wskazania, czy zastosowano A1, miesza dwa przepisy.
CZEGO NIE PODAJEMY. Przeczytane fragmenty: próbka iTeh SIST EN 772-20:2000 (EN 772-20:2000, pełny tekst — skan odczytany z obrazów stron) i próbka iTeh SIST EN 772-20:2000/A1:2005 (pełny tekst zmiany A1). Nie podajemy wymagań płaskości dla elementów murowych ani kategorii odchyłek — podają je części EN 771, których nie czytaliśmy. Statusów norm EN 771 nie sprawdzaliśmy. Oznaczenia „PN-EN 772-20:2002+A1:2005” użytego w zakresach PKN nie wydał jako osobnej normy (w wyszukiwarce są osobno norma i zmiana).
Zasada metody
Na każdej powierzchni określonej jako płaska elementu murowego mierzy się liniałem z podziałką długość obu przekątnych (0,5 mm), a następnie, przykładając liniał kolejno do każdej przekątnej, szczelinomierzem największą odległość powierzchni od liniału (0,05 mm) — przy wypukłej po obu stronach punktu styku; wynikiem jest średnia długość przekątnej (1 mm) i średnia największa odchyłka od płaskości (0,1 mm), a dla powierzchni wspornych elementów do cienkich spoin — największa odchyłka (EN 772-20:2000 z A1:2005, rozdz. 3–6).
Zastosowania
- Elementy murowe — powierzchnie określone jako płaskie (EN 772-20:2000/A1:2005, zmiana zakresu)
- Powierzchnie wsporne elementów przeznaczonych do murowania na cienkie spoiny (A1, 5.1 i 6.2.2)
- Metoda badania elementów objętych specyfikacjami EN 771 (powołania normatywne)
- W zakresach akredytacji: 5 polskich laboratoriów — elementy murowe ceramiczne, silikatowe, z betonu kruszywowego i z autoklawizowanego betonu komórkowego
Kluczowe parametry
| Parametr | Wartość |
|---|---|
| STATUS (stan kart PKN na 10.11.2026) | PN-EN 772-20:2002 aktualna (wersja polska) ze zmianą PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska) |
| Liczba próbek — warunek (4.1 po A1) | co najmniej 6 elementów; przy płaskości powierzchni wspornych — 3; większa liczba, gdy wymaga jej specyfikacja wyrobu |
| Przyrządy — warunek (rozdz. 3) | liniał z podziałką dłuższy niż przekątne dłuższych powierzchni; szczelinomierze z dokładnością do 0,05 mm |
| Długość przekątnych — pomiar (5.2 po A1) | obie przekątne każdej powierzchni płaskiej, do 0,5 mm |
| Odchyłka — pomiar (5.3 po A1) | wklęsła: największa odległość do 0,05 mm; wypukła: obie największe odległości po stronach punktu styku, w przybliżeniu równe, do 0,05 mm |
| Wynik — powierzchnie płaskie (6.1, 6.2.1 po A1) | średnia długość przekątnej do 1 mm; średnia największa odchyłka od płaskości do 0,1 mm |
| Wynik — powierzchnie wsporne (6.2.2 i rozdz. 7 i) po A1) | największa odchyłka od płaskości do 0,1 mm; płaskość = największa pojedyncza wartość z próbki |
| Zasięg w zakresach akredytacji (baza i zakładka, odczyt 10.11.2026) | 5 polskich laboratoriów, 7 rekordów; zakładka „Laboratoria” — 11 (5 PL, 6 CZ), 17 pozycji |
Norma
- Numer normy
- PN-EN 772-20:2002 (wersja polska; wprowadza EN 772-20:2000 [IDT]) ze zmianą PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska; wprowadza EN 772-20:2000/A1:2005 [IDT])
- Tytuł (PL)
- Metody badań elementów murowych — Część 20: Oznaczanie płaskości powierzchni licowych elementów murowych
- Title (EN)
- Methods of test for masonry units — Part 20: Determination of flatness of faces of masonry units
Procedura krok po kroku
-
Próbki
Co najmniej 6 elementów (3 przy płaskości powierzchni wspornych), sposób pobierania w sprawozdaniu; usunięcie materiału przylegającego po produkcji (4.1–4.2 po A1).
-
Ustawienie
Element ustawiony stabilnie; wskazanie powierzchni określonych jako płaskie i — przy elementach do cienkich spoin — powierzchni wspornych (5.1 po A1).
-
Przekątne
Długość obu przekątnych każdej powierzchni płaskiej liniałem z podziałką, do 0,5 mm (5.2 po A1).
-
Odchyłka od płaskości
Liniał kolejno na każdej przekątnej, szczelinomierzem odległość od powierzchni: wklęsła — największa; wypukła — obie po stronach punktu styku przy równowadze liniału; do 0,05 mm (5.3 po A1).
-
Wynik i sprawozdanie
Średnia długość przekątnej (1 mm) i średnia największa odchyłka (0,1 mm); powierzchnie wsporne — największa odchyłka (0,1 mm); kształt powierzchni w sprawozdaniu (6.1–7 po A1). PN-EN 772-20:2002 z A1:2005 — aktualna (stan kart PKN na 10.11.2026).
Wymagany sprzęt i aparatura
| Sprzęt | Przykład | Orientacyjna cena |
|---|---|---|
| Liniał z podziałką (3.1) | Dłuższy niż przekątne dłuższych powierzchni badanego elementu; odczyt długości przekątnej do 0,5 mm | — |
| Komplet szczelinomierzy (3.2) | Pomiar z dokładnością do 0,05 mm | — |
Bezpieczeństwo i higiena pracy (BHP)
- Przenoszenie i ustawianie ciężkich elementów murowych — stabilne podłoże, ochrona rąk i stóp
- Norma nie podaje zagrożeń badania — NIE PODAJEMY
- UWAGA MERYTORYCZNA: wymagania płaskości podają części EN 771, nie EN 772-20; wyniki z tekstu sprzed A1 i po A1 nie są wprost porównywalne
Najczęstsze pytania
Jaka norma opisuje to badanie?
Badanie wykonuje się według normy PN-EN 772-20:2002 (wersja polska; wprowadza EN 772-20:2000 [IDT]) ze zmianą PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska; wprowadza EN 772-20:2000/A1:2005 [IDT]) — „Metody badań elementów murowych — Część 20: Oznaczanie płaskości powierzchni licowych elementów murowych”. Tytuł angielski: „Methods of test for masonry units — Part 20: Determination of flatness of faces of masonry units”.
Na czym polega ta metoda?
Na każdej powierzchni określonej jako płaska elementu murowego mierzy się liniałem z podziałką długość obu przekątnych (0,5 mm), a następnie, przykładając liniał kolejno do każdej przekątnej, szczelinomierzem największą odległość powierzchni od liniału (0,05 mm) — przy wypukłej po obu stronach punktu styku; wynikiem jest średnia długość przekątnej (1 mm) i średnia największa odchyłka od płaskości (0,1 mm), a dla powierzchni wspornych elementów do cienkich spoin — największa odchyłka (EN 772-20:2000 z A1:2005, rozdz. 3–6).
Jaki jest zakres pomiarowy i dokładność?
STATUS (stan kart PKN na 10.11.2026): PN-EN 772-20:2002 aktualna (wersja polska) ze zmianą PN-EN 772-20:2002/A1:2005 (wersja angielska); Liczba próbek — warunek (4.1 po A1): co najmniej 6 elementów; przy płaskości powierzchni wspornych — 3; większa liczba, gdy wymaga jej specyfikacja wyrobu; Przyrządy — warunek (rozdz. 3): liniał z podziałką dłuższy niż przekątne dłuższych powierzchni; szczelinomierze z dokładnością do 0,05 mm; Długość przekątnych — pomiar (5.2 po A1): obie przekątne każdej powierzchni płaskiej, do 0,5 mm.
Ile trwa wykonanie badania?
Procedura obejmuje 5 kroków. Norma nie podaje czasu trwania dla wszystkich etapów — decyduje procedura laboratorium.
Jaki sprzęt jest potrzebny?
Liniał z podziałką (3.1), Komplet szczelinomierzy (3.2).
Gdzie stosuje się to badanie?
Elementy murowe — powierzchnie określone jako płaskie (EN 772-20:2000/A1:2005, zmiana zakresu); Powierzchnie wsporne elementów przeznaczonych do murowania na cienkie spoiny (A1, 5.1 i 6.2.2); Metoda badania elementów objętych specyfikacjami EN 771 (powołania normatywne); W zakresach akredytacji: 5 polskich laboratoriów — elementy murowe ceramiczne, silikatowe, z betonu kruszywowego i z autoklawizowanego betonu komórkowego.
Jakie środki ostrożności obowiązują?
Przenoszenie i ustawianie ciężkich elementów murowych — stabilne podłoże, ochrona rąk i stóp; Norma nie podaje zagrożeń badania — NIE PODAJEMY; UWAGA MERYTORYCZNA: wymagania płaskości podają części EN 771, nie EN 772-20; wyniki z tekstu sprzed A1 i po A1 nie są wprost porównywalne.
Które laboratorium wykona to badanie?
Badanie wykonują laboratoria akredytowane według ISO/IEC 17025. Na LabCoda wyszukasz je po numerze normy PN-EN 772-20.