{"lab":{"_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","address":"Tovární 2053, 250 88 Čelákovice","categories":["metrology"],"city":"Čelákovice","imported_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","lab_kind":"calibration","location":{"type":"Point","coordinates":[14.7403918,50.1626816]},"map_coord":[50.1626816,14.7403918],"map_geo":"cai-mapa","methods_count":8,"name":"SVUM Testing s.r.o.","parse_status":"parsed","parse_version":5,"pdf_files":[],"scope_summary":"Wzorcowanie przyrządów pomiarowych w dziedzinach: długość i temperatura, w zakresie określonym w załączniku do świadectwa.","search_text":"svum testing s.r.o. tovární 2053, 250 88 čelákovice 2427","source_page_url":"https://www.cai.cz/?subjekt=2427-svum-testing-s-r-o","status":"active","updated_at":"2026-10-08T12:00:00.000Z","valid_from":"","valid_until":"28-07-2028","website":"www.svum.cz","certificate_date":"28.07.2025","certificate_no":"393/2025","certificate_replaces":"","en_official":false,"fields_of_testing":[{"codes":"","pl":"Wzorcowanie przyrządów pomiarowych w dziedzinach: długość i temperatura, w zakresie określonym w załączniku do świadectwa.","en":"Calibration of measuring instruments in the field of length and temperature, as specified in the appendix to this certificate.","zh":"长度和温度领域测量仪器的校准，范围见本证书附件。","cs":"Kalibrace měřidel v oboru délka a teplota, vymezené přílohou tohoto osvědčení."}],"flexible_scope":false,"flexible_scope_url":null,"has_en":true,"has_zh":true,"lab_division":"Laboratorium wzorcujące","lab_division_cs":"Kalibrační laboratoř","lab_division_en":"Calibration Laboratory","lab_division_zh":"校准实验室","parse_date":"2026-09-28T12:00:00.000Z","parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3","parsed_at":"2026-09-28T12:00:00.000Z","scope_legend":[{"abbr":"LVDT","pl":"Linear Variable Differential Transformer (liniowy transformator różnicowy)","en":"Linear Variable Differential Transformer","zh":"线性可变差动变压器（Linear Variable Differential Transformer）","cs":"Linear Variable Differential Transformer (lineární rozdílový transformátor)"}],"scope_notes":[],"source_lang":"cs","source_pdf_sha256":"aa74aa54db4da041472e55a3f77db97ad7cb3dfb1c28799a5fcf5ebc83d637f2","source_pdf_url":"https://www.cai.cz/OA/pdf/393_2025_CS.pdf","source_pdf_url_en":null},"methods":[{"_id":"d3cb6e0af968e50d1f52e610","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Mikrometry zewnętrzne cyfrowe","test_object_en":"Digital micrometer callipers","test_object_zh":"数显外径千分尺","test_object_cs":"Třmenové mikrometry digitální","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 150 mm","cmc":"1 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 150 mm","cmc":"1 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 150 mm","cmc":"1 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 150 mm","cmc":"1 µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using gauge blocks","technique_zh":"用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar za pomocą płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using gauge blocks"],"techniques_zh":["用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 150 mm CMC 1 µm\nPomiar za pomocą płytek wzorcowych","reference":"KP 02-01","norm_bases":["KP 02-01"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Mikrometry zewnętrzne cyfrowe Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą płytek wzorcowych od 0 mm do 150 mm CMC 1 µm Třmenové mikrometry digitální Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek 0 mm až 150 mm CMC 1 µm KP 02-01 Mikrometry zewnetrzne cyfrowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca plytek wzorcowych od 0 mm do 150 mm CMC 1 µm Trmenove mikrometry digitalni Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek 0 mm az 150 mm CMC 1 µm KP 02-01","search_en":"Digital micrometer callipers Calibration – length Measurement using gauge blocks 0 mm to 150 mm CMC 1 µm KP 02-01","search_zh":"数显外径千分尺 校准 – 长度 用量块测量 0 mm 至 150 mm CMC 1 µm KP 02-01","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":0,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"968ee7d8987b8c60a01fde27","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Mikrometry zewnętrzne z noniuszem / analogowe","test_object_en":"Vernier / analogue micrometer callipers","test_object_zh":"游标式 / 模拟式外径千分尺","test_object_cs":"Třmenové mikrometry nonické / analogové","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 150 mm","cmc":"6 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 150 mm","cmc":"6 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 150 mm","cmc":"6 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 150 mm","cmc":"6 µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using gauge blocks","technique_zh":"用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar za pomocą płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using gauge blocks"],"techniques_zh":["用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 150 mm CMC 6 µm\nPomiar za pomocą płytek wzorcowych","reference":"KP 02-01","norm_bases":["KP 02-01"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Mikrometry zewnętrzne z noniuszem / analogowe Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą płytek wzorcowych od 0 mm do 150 mm CMC 6 µm Třmenové mikrometry nonické / analogové Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek 0 mm až 150 mm CMC 6 µm KP 02-01 Mikrometry zewnetrzne z noniuszem / analogowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca plytek wzorcowych od 0 mm do 150 mm CMC 6 µm Trmenove mikrometry nonicke / analogove Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek 0 mm az 150 mm CMC 6 µm KP 02-01","search_en":"Vernier / analogue micrometer callipers Calibration – length Measurement using gauge blocks 0 mm to 150 mm CMC 6 µm KP 02-01","search_zh":"游标式 / 模拟式外径千分尺 校准 – 长度 用量块测量 0 mm 至 150 mm CMC 6 µm KP 02-01","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":1,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"5d45843d87d21d6a594c1790","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Przyrządy suwmiarkowe cyfrowe","test_object_en":"Digital calipers","test_object_zh":"数显游标量具","test_object_cs":"Posuvná měřidla digitální","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 300 mm","cmc":"12 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 300 mm","cmc":"12 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 300 mm","cmc":"12 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 300 mm","cmc":"12 µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using gauge blocks","technique_zh":"用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar za pomocą płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using gauge blocks"],"techniques_zh":["用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 300 mm CMC 12 µm\nPomiar za pomocą płytek wzorcowych","reference":"KP 02-02","norm_bases":["KP 02-02"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Przyrządy suwmiarkowe cyfrowe Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą płytek wzorcowych od 0 mm do 300 mm CMC 12 µm Posuvná měřidla digitální Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek 0 mm až 300 mm CMC 12 µm KP 02-02 Przyrzady suwmiarkowe cyfrowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca plytek wzorcowych od 0 mm do 300 mm CMC 12 µm Posuvna meridla digitalni Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek 0 mm az 300 mm CMC 12 µm KP 02-02","search_en":"Digital calipers Calibration – length Measurement using gauge blocks 0 mm to 300 mm CMC 12 µm KP 02-02","search_zh":"数显游标量具 校准 – 长度 用量块测量 0 mm 至 300 mm CMC 12 µm KP 02-02","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":2,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"1b62f53ec90e6f24a1c60980","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"2","test_object":"Przyrządy suwmiarkowe z noniuszem / analogowe","test_object_en":"Vernier / analogue calipers","test_object_zh":"游标式 / 模拟式游标量具","test_object_cs":"Posuvná měřidla nonická / analogová","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 300 mm","cmc":"13 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 300 mm","cmc":"13 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 300 mm","cmc":"13 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 300 mm","cmc":"13 µm"}],"technique":"Pomiar za pomocą płytek wzorcowych","technique_en":"Measurement using gauge blocks","technique_zh":"用量块测量","technique_cs":"Měření pomocí koncových měrek","techniques":["Pomiar za pomocą płytek wzorcowych"],"techniques_en":["Measurement using gauge blocks"],"techniques_zh":["用量块测量"],"techniques_cs":["Měření pomocí koncových měrek"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 300 mm CMC 13 µm\nPomiar za pomocą płytek wzorcowych","reference":"KP 02-02","norm_bases":["KP 02-02"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Przyrządy suwmiarkowe z noniuszem / analogowe Wzorcowanie – długość Pomiar za pomocą płytek wzorcowych od 0 mm do 300 mm CMC 13 µm Posuvná měřidla nonická / analogová Kalibrace – délka Měření pomocí koncových měrek 0 mm až 300 mm CMC 13 µm KP 02-02 Przyrzady suwmiarkowe z noniuszem / analogowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar za pomoca plytek wzorcowych od 0 mm do 300 mm CMC 13 µm Posuvna meridla nonicka / analogova Kalibrace – delka Mereni pomoci koncovych merek 0 mm az 300 mm CMC 13 µm KP 02-02","search_en":"Vernier / analogue calipers Calibration – length Measurement using gauge blocks 0 mm to 300 mm CMC 13 µm KP 02-02","search_zh":"游标式 / 模拟式游标量具 校准 – 长度 用量块测量 0 mm 至 300 mm CMC 13 µm KP 02-02","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":3,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"38302068d5e523f48d09fd1a","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Czujniki cyfrowe","test_object_en":"Digital indicators","test_object_zh":"数显指示表","test_object_cs":"Úchylkoměry digitální","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 12 mm","cmc":"2 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 12 mm","cmc":"2 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 12 mm","cmc":"2 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 12 mm","cmc":"2 µm"}],"technique":"Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna)","technique_en":"Measurement on an indicator calibration device (micrometer head)","technique_zh":"在指示表校准仪（测微头）上测量","technique_cs":"Měření na přístroji pro kalibrace úchylkoměrů (mikrometrická hlavice)","techniques":["Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna)"],"techniques_en":["Measurement on an indicator calibration device (micrometer head)"],"techniques_zh":["在指示表校准仪（测微头）上测量"],"techniques_cs":["Měření na přístroji pro kalibrace úchylkoměrů (mikrometrická hlavice)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 12 mm CMC 2 µm\nPomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna)","reference":"KP 02-03","norm_bases":["KP 02-03"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Czujniki cyfrowe Wzorcowanie – długość Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna) od 0 mm do 12 mm CMC 2 µm Úchylkoměry digitální Kalibrace – délka Měření na přístroji pro kalibrace úchylkoměrů (mikrometrická hlavice) 0 mm až 12 mm CMC 2 µm KP 02-03 Czujniki cyfrowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar na przyrzadzie do wzorcowania czujnikow (glowica mikrometryczna) od 0 mm do 12 mm CMC 2 µm Uchylkomery digitalni Kalibrace – delka Mereni na pristroji pro kalibrace uchylkomeru (mikrometricka hlavice) 0 mm az 12 mm CMC 2 µm KP 02-03","search_en":"Digital indicators Calibration – length Measurement on an indicator calibration device (micrometer head) 0 mm to 12 mm CMC 2 µm KP 02-03","search_zh":"数显指示表 校准 – 长度 在指示表校准仪（测微头）上测量 0 mm 至 12 mm CMC 2 µm KP 02-03","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":4,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"320837f577f5451a826abeee","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"3","test_object":"Czujniki zegarowe","test_object_en":"Dial indicators","test_object_zh":"指针式指示表","test_object_cs":"Úchylkoměry číselníkové","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 10 mm","cmc":"6 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 10 mm","cmc":"6 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 10 mm","cmc":"6 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 10 mm","cmc":"6 µm"}],"technique":"Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna)","technique_en":"Measurement on an indicator calibration device (micrometer head)","technique_zh":"在指示表校准仪（测微头）上测量","technique_cs":"Měření na přístroji pro kalibrace úchylkoměrů (mikrometrická hlavice)","techniques":["Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna)"],"techniques_en":["Measurement on an indicator calibration device (micrometer head)"],"techniques_zh":["在指示表校准仪（测微头）上测量"],"techniques_cs":["Měření na přístroji pro kalibrace úchylkoměrů (mikrometrická hlavice)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 10 mm CMC 6 µm\nPomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna)","reference":"KP 02-03","norm_bases":["KP 02-03"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Czujniki zegarowe Wzorcowanie – długość Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników (głowica mikrometryczna) od 0 mm do 10 mm CMC 6 µm Úchylkoměry číselníkové Kalibrace – délka Měření na přístroji pro kalibrace úchylkoměrů (mikrometrická hlavice) 0 mm až 10 mm CMC 6 µm KP 02-03 Czujniki zegarowe Wzorcowanie – dlugosc Pomiar na przyrzadzie do wzorcowania czujnikow (glowica mikrometryczna) od 0 mm do 10 mm CMC 6 µm Uchylkomery ciselnikove Kalibrace – delka Mereni na pristroji pro kalibrace uchylkomeru (mikrometricka hlavice) 0 mm az 10 mm CMC 6 µm KP 02-03","search_en":"Dial indicators Calibration – length Measurement on an indicator calibration device (micrometer head) 0 mm to 10 mm CMC 6 µm KP 02-03","search_zh":"指针式指示表 校准 – 长度 在指示表校准仪（测微头）上测量 0 mm 至 10 mm CMC 6 µm KP 02-03","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":5,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"65e047ddfa5daaeb90b410f8","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"4","test_object":"Liniowe czujniki przemieszczenia LVDT","test_object_en":"LVDT linear displacement transducers","test_object_zh":"LVDT 线性位移传感器","test_object_cs":"Lineární snímače posuvu LVDT","methodology":"Wzorcowanie – długość","methodology_en":"Calibration – length","methodology_zh":"校准 – 长度","methodology_cs":"Kalibrace – délka","parameters":[{"name":"","range":"od 0 mm do 8 mm","cmc":"10 µm"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"0 mm to 8 mm","cmc":"10 µm"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"0 mm 至 8 mm","cmc":"10 µm"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"0 mm až 8 mm","cmc":"10 µm"}],"technique":"Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników liniowych (głowica mikrometryczna)","technique_en":"Measurement on a linear transducer calibration device (micrometer head)","technique_zh":"在线性传感器校准仪（测微头）上测量","technique_cs":"Měření na přístroji pro kalibrace lineárních snímačů (mikrometrická hlavice)","techniques":["Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników liniowych (głowica mikrometryczna)"],"techniques_en":["Measurement on a linear transducer calibration device (micrometer head)"],"techniques_zh":["在线性传感器校准仪（测微头）上测量"],"techniques_cs":["Měření na přístroji pro kalibrace lineárních snímačů (mikrometrická hlavice)"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – długość\nod 0 mm do 8 mm CMC 10 µm\nPomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników liniowych (głowica mikrometryczna)","reference":"KP 02-06","norm_bases":["KP 02-06"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: długość","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Length","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：长度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Délka","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":true,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Liniowe czujniki przemieszczenia LVDT Wzorcowanie – długość Pomiar na przyrządzie do wzorcowania czujników liniowych (głowica mikrometryczna) od 0 mm do 8 mm CMC 10 µm Lineární snímače posuvu LVDT Kalibrace – délka Měření na přístroji pro kalibrace lineárních snímačů (mikrometrická hlavice) 0 mm až 8 mm CMC 10 µm KP 02-06 Liniowe czujniki przemieszczenia LVDT Wzorcowanie – dlugosc Pomiar na przyrzadzie do wzorcowania czujnikow liniowych (glowica mikrometryczna) od 0 mm do 8 mm CMC 10 µm Linearni snimace posuvu LVDT Kalibrace – delka Mereni na pristroji pro kalibrace linearnich snimacu (mikrometricka hlavice) 0 mm az 8 mm CMC 10 µm KP 02-06","search_en":"LVDT linear displacement transducers Calibration – length Measurement on a linear transducer calibration device (micrometer head) 0 mm to 8 mm CMC 10 µm KP 02-06","search_zh":"LVDT 线性位移传感器 校准 – 长度 在线性传感器校准仪（测微头）上测量 0 mm 至 8 mm CMC 10 µm KP 02-06","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":6,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"},{"_id":"c6f3aa76ceb7eb2a8455edd0","lab_id":"6ade8b5bff06824761708154","country":"CZ","accr_number":"2427","accr_body":"ČIA","row_label":"1","test_object":"Czujnik termoelektryczny typu S","test_object_en":"Type S thermocouple sensor","test_object_zh":"S 型热电式传感器","test_object_cs":"Termoelektrický snímač typu S","methodology":"Wzorcowanie – temperatura","methodology_en":"Calibration – temperature","methodology_zh":"校准 – 温度","methodology_cs":"Kalibrace – teplota","parameters":[{"name":"","range":"od 420 °C do 1000 °C","cmc":"2,6 °C"},{"name":"","range":"od 1000 °C do 1150 °C","cmc":"2,9 °C"}],"parameters_en":[{"name":"","range":"420 °C to 1000 °C","cmc":"2,6 °C"},{"name":"","range":"1000 °C to 1150 °C","cmc":"2,9 °C"}],"parameters_zh":[{"name":"","range":"420 °C 至 1000 °C","cmc":"2,6 °C"},{"name":"","range":"1000 °C 至 1150 °C","cmc":"2,9 °C"}],"parameters_cs":[{"name":"","range":"420 °C až 1000 °C","cmc":"2,6 °C"},{"name":"","range":"1000 °C až 1150 °C","cmc":"2,9 °C"}],"technique":"Pomiar porównawczy z wzorcowym czujnikiem termoelektrycznym typu S w pionowym piecu wzorcującym","technique_en":"Comparative measurement with a reference type S thermocouple in a vertical calibration furnace","technique_zh":"在立式校准炉中与标准 S 型热电式传感器比较测量","technique_cs":"Porovnávací měření s etalonovým termoelektrickým snímačem typu S ve vertikální kalibrační peci","techniques":["Pomiar porównawczy z wzorcowym czujnikiem termoelektrycznym typu S w pionowym piecu wzorcującym"],"techniques_en":["Comparative measurement with a reference type S thermocouple in a vertical calibration furnace"],"techniques_zh":["在立式校准炉中与标准 S 型热电式传感器比较测量"],"techniques_cs":["Porovnávací měření s etalonovým termoelektrickým snímačem typu S ve vertikální kalibrační peci"],"computed":[],"computed_en":[],"computed_zh":[],"computed_cs":[],"activity":"Wzorcowanie – temperatura\nZakres:\nod 420 °C do 1000 °C CMC 2,6 °C\nod 1000 °C do 1150 °C CMC 2,9 °C\nPomiar porównawczy z wzorcowym czujnikiem termoelektrycznym typu S w pionowym piecu wzorcującym","reference":"KP 01-01","norm_bases":["KP 01-01"],"lab_section":null,"lab_section_en":null,"lab_section_zh":null,"lab_section_cs":null,"lab_address":null,"regulatory_area":"CMC dla dziedziny wielkości mierzonej: temperatura","regulatory_area_en":"CMC for the field of measured quantity: Temperature","regulatory_area_zh":"被测量领域的CMC：温度","regulatory_area_cs":"CMC pro obor měřené veličiny: Teplota","flexible":false,"flexibility":null,"outside_premises":false,"note":null,"note_en":null,"note_zh":null,"note_cs":null,"search_text":"Czujnik termoelektryczny typu S Wzorcowanie – temperatura Pomiar porównawczy z wzorcowym czujnikiem termoelektrycznym typu S w pionowym piecu wzorcującym od 420 °C do 1000 °C CMC 2,6 °C od 1000 °C do 1150 °C CMC 2,9 °C Termoelektrický snímač typu S Kalibrace – teplota Porovnávací měření s etalonovým termoelektrickým snímačem typu S ve vertikální kalibrační peci 420 °C až 1000 °C CMC 2,6 °C 1000 °C až 1150 °C CMC 2,9 °C KP 01-01 Czujnik termoelektryczny typu S Wzorcowanie – temperatura Pomiar porownawczy z wzorcowym czujnikiem termoelektrycznym typu S w pionowym piecu wzorcujacym od 420 °C do 1000 °C CMC 2,6 °C od 1000 °C do 1150 °C CMC 2,9 °C Termoelektricky snimac typu S Kalibrace – teplota Porovnavaci mereni s etalonovym termoelektrickym snimacem typu S ve vertikalni kalibracni peci 420 °C az 1000 °C CMC 2,6 °C 1000 °C az 1150 °C CMC 2,9 °C KP 01-01","search_en":"Type S thermocouple sensor Calibration – temperature Comparative measurement with a reference type S thermocouple in a vertical calibration furnace 420 °C to 1000 °C CMC 2,6 °C 1000 °C to 1150 °C CMC 2,9 °C KP 01-01","search_zh":"S 型热电式传感器 校准 – 温度 在立式校准炉中与标准 S 型热电式传感器比较测量 420 °C 至 1000 °C CMC 2,6 °C 1000 °C 至 1150 °C CMC 2,9 °C KP 01-01","categories":["metrology"],"categories_source":"reczne","source_lang":"cs","translation":{"pl":"reczna-analiza-labcoda-3","en":"reczna-analiza-labcoda-3","zh":"reczna-analiza-labcoda-3"},"row_index":7,"parse_version":5,"parse_source":"reczna-analiza-labcoda-3"}],"has_pdf":true}