Przesiew XRF w elektronice obejmuje teraz dziewięć pierwiastków i związków
EN IEC 62321-3-1:2026 opisuje przesiewowe oznaczanie ołowiu, rtęci, kadmu, chromu, bromu, fosforu, chloru, cyny i antymonu w wyrobach elektrotechnicznych metodą fluorescencji rentgenowskiej.
- Przesiew XRF jest pierwszym krokiem kontroli substancji niebezpiecznych: rozstrzyga, czy próbka wymaga oznaczenia dokładniejszą metodą, czy wynik jest jednoznaczny od razu.
- Metoda jest nieniszcząca i szybka, więc nadaje się do kontroli dostaw i wyrywkowego badania wyrobów gotowych.
- Zakres obejmuje pierwiastki z dyrektywy RoHS oraz dodatkowo całkowity fosfor, chlor, cynę i antymon — to poszerza użycie metody poza samą listę RoHS.
- Dla laboratorium badającego elektronikę nowe wydanie oznacza aktualizację procedury, wzorców i zapisów w zakresie akredytacji.